「projection microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE ADAPTER UNIT FOR CONNECTING IMAGING APPARATUS USING SAME例文帳に追加

投影光学系及びそれを用いた撮像装置接続用顕微鏡アダプタユニット - 特許庁

The surgical microscope 1 has a viewing optical system, viewing means, display means, and a projection optical system.例文帳に追加

手術顕微鏡１は、観察光学系と、観察手段と、表示手段と、投影光学系とを有している。 - 特許庁

This optical deflection unit 5 is insertably and removably disposed within the optical paths of the vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope, by which the inexpensive vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope capable of making the sharp color observation can be achieved without providing the space and mechanical structure for arranging the phase plate 2, such as the sharp color plate.例文帳に追加

この光偏向ユニット５を落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡の光路内外に挿脱可能に備えることで、安価で、鋭敏色板等の位相射板を配置するスペースやメカ構造を設けることなく鋭敏色観察を行うことが可能な落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡を達成することができる。 - 特許庁

A light irradiation section 1 irradiates a mask M with exposure light, and an alignment microscope 10 receives a projection image of a mask mark MAM, and position coordinates of the projection image are found and stored.例文帳に追加

光照射部１からマスクＭに露光光を照射し、アライメント顕微鏡１０でマスクマークＭＡＭの投影像を受像し、その位置座標を求め記憶する。 - 特許庁

A body case 11 has a dovetail part 11a connected to the microscope, and a projection optical system 12 is fixed inside the case 11.例文帳に追加

本体ケース１１は、顕微鏡に接続するアリ部１１ａを有し、内部に投影光学系１２を固定している。 - 特許庁

To provide a light ray coupling device which is simply and versatilly applicable to a projection lighting optical path of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の投射照明光路に対して、簡単に、そして多面的に適用できる光線連結装置の提供である。 - 特許庁

To realize a biaxial stage for microscope with thin shape, low vibration, corresponding to speed up of a stage and in which the floor projection area does not change even when it is arranged in a chamber.例文帳に追加

薄型で低振動及びステージ高速化に対応し、チャンバ内に配置しても床投影面積の変化しない顕微鏡用２軸ステージを実現する。 - 特許庁

Light from a light source section 1 is introduced in a primary microscope body 3 through a single-fiber unit 2 having a single fiber and an image at an exit end of the fiber unit 2 is projected on the pupil of an objective 33 through a projection lens 31 in the primary microscope body 3.例文帳に追加

光源部１からの光を単芯のコアを有するファイバ単芯２により顕微鏡本体３に導入し、顕微鏡本体３内の投影レンズ３１によりファイバ２の出射端の像を対物レンズ３３の瞳に投影する。 - 特許庁

The transmission electron microscope having a sample arranged in a sample surface 9b includes an objective lens 11b, a first projection lens system 61b having a plurality of lenses, a second projection lens system 63b having a plurality of lenses, and the analysis system.例文帳に追加

試料面内９ｂに試料を配置した透過電子顕微鏡は、対物レンズ１１ｂ、複数のレンズを有する第１投影レンズ系６１ｂ、複数のレンズを有する第２投影レンズ系６３ｂ、および分析系を備える。 - 特許庁

A projection aligner 10 is provided with an atomic force microscope(AFM) for measuring a latent image formed on a wafer W with a surface-reaction type resist subjected to silylation as a photosensitive layer.例文帳に追加

露光装置１０に、表面反応型のシリル化レジストを感光層としたウエハＷに形成される潜像を計測するため、原子間力顕微鏡ＡＦＭを備える構成とした。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a deflection unit for a microscope with which sharp color observation can be easily and inexpensively performed with simple constitution without separately disposing a space and mechanism for arranging a phase plate, such as a sharp color plate and a vertical illuminating light projection tube or microscope using the same.例文帳に追加

鋭敏色板などの位相板を配置するためのスペースや機構を別途設けることなく、簡単な構成で、簡単かつ安価に鋭敏色観察を行なうことが可能な顕微鏡用偏向ユニット及びそれを用いた落射投光管又は顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope comprises an observatory optical system 10 composed of an objective lens 11, an imaging lens 12 and an eyepiece 13, an index image projection section 30 projecting two index images and a half mirror 26 connecting an optical path of the index image projection section 30 with an optical path of the observatory optical system 10.例文帳に追加

顕微鏡は、対物レンズ１１と結像レンズ１２と接眼レンズ１３からなる観察光学系１０と、二つの指標像を投射する指標像投射部３０と、指標像投射部３０の光路を観察光学系１０の光路に結合するハーフミラー２６とを有している。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.例文帳に追加

投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁

Herewith, a CdTe-system semiconductor substrate will be realized in which a projection with a height of ≥5 nm is not observed within the visual field of 10 μm×10 μm when the surface of the substrate is observed by an atomic force microscope.例文帳に追加

これにより、原子間力顕微鏡で基板表面を観察したときに１０μｍ×１０μｍの視野範囲内に高さ５ｎｍ以上の突起が観察されないＣｄＴｅ系半導体基板が実現される。 - 特許庁

The positions relative to the developed images of both marks Mip and Mop are detected by a wafer alignment microscope and the image formation characteristics including various aberrations of the projection optical system are measured on the basis of the result of the detection.例文帳に追加

そして、現像された両マークＭｉｐ，Ｍｏｐの像の相対位置をウエハアライメント顕微鏡で検出し、その検出結果に基づいて投影光学系の諸収差を含む結像特性を計測する。 - 特許庁

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.例文帳に追加

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁

The computing unit 8 analyzes an image imaged by a microscope 6, it finds the peripheral length and the area on the projection image of each spherical particle 22, and a surface index S_i which affects the acoustic radiating force of each particle is computed by using them.例文帳に追加

さらに、演算装置８は、マイクロスコープ６で撮像された画像を解析し、球形状の各粒子２２の投影像の周長や面積を求め、これらを用いて個々の粒子の音響放射力に影響を与える表面指数Ｓ_iを演算する。 - 特許庁

This microscope is equipped with image-forming optical systems 4 and 11 forming a primary image O' of a sample, the projection optical system 15 projecting the primary image O' to the electronic imaging device 17, and a diaphragm 20 having a light-transmitting area where light is transmitted and a light-shielding area, where light is intercepted and controlling the irregular brightness.例文帳に追加

標本の一次像Ｏ’を形成する結像光学系４、１１と、一次像Ｏ’を電子撮像素子１７に投影する投影光学系１５と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り２０とを備えた顕微鏡。 - 特許庁

In this electron microscope with a magnetic image forming energy filter, the energy filter is provided with direction change systems 11-14 arranged symmetrically with one center plane M and a hexapol provided between the direction change systems 11-14 and a projection system succeeding the energy filter in the beam direction.例文帳に追加

磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡において、前記エネルギフィルタは、１つの中心平面（Ｍ）に対して対称的に配置された方向変換系（１１−１４）を有し、方向変換系と、ビーム方向でエネルギフィルタに後続する投影系との間に設けられたヘクサポール（Hexapol） を有すること。 - 特許庁

By providing a bar-like projection on the illumination system, the vibrating direction of rotating polarized light not made visible ordinarily is easily detected in the visual field of the microscope and rotating speed is read from a rotation driving control system.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入しこのレーザ光の照明方向を回転可能にした照明光学系において、常に対物レンズ光軸中心からの放射状方向と直角方向の横波成分のみを持つエバネセント場で照明する回転式輪帯偏光全反射照明光学系とした。 - 特許庁

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope.例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。 - 特許庁

Diamond powder 3 that has a slower ion sputter speed than a probe material is allowed to adhere to the material of a probe for a scanning probe microscope, and the material of the probe is subjected to ion sputtering while the diamond powder 3 adheres until the least the diamond powder 3 disappears, thus forming a needle-shaped projection 6.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の材料に、この探針材料よりイオンスパッタ速度が遅いダイアモンド粉末３を付着させ、このダイアモンド粉末３が付着した状態で、このダイアモンド粉末３が無くなるまで、或いはそれ以上に、前記探針材料をイオンスパッタすることにより、針状突起６を形成する。 - 特許庁

The steel material satisfies a prescribed chemical component composition, and in the steel material, when the size of each inclusion is defined as the length of the widest portion in the direction perpendicular to the maximum length of the projection of the inclusion as observed with a microscope, inclusions each characterized in that the size is ≥2 μm are dispersed.例文帳に追加

鋼材は、所定の化学成分組成を満足し、且つ顕微鏡観察したときの介在物の最大投影長さに垂直な方向で最も幅の大きい長さを介在物の大きさとしたときに、その大きさが２μｍ以上である介在物が分散したものであると共に、該介在物は下記（１）式および（２）式の関係を満足するものである。 - 特許庁

When illumination light from the illumination module attached to the incident section 101A enters, spreading luminous flux thereof, the illumination light which passes through lenses 271 through 274 and exits from a projection section 101C forms an image on the image-side focal plane of the objective lens of the microscope.例文帳に追加

入射部１０１Ａに装着された照明モジュールからの照明光が光束が広がりながら入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面において結像し、照明モジュールからの照明光が平行光束として入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面に平行光束として入射する。 - 特許庁