「sample D」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new pipeline type A/D converter not requiring a sample-and-hold circuit: and to provide a control method thereof.例文帳に追加

サンプルホールド回路を必要としない新規なパイプライン型のＡ／Ｄ変換器およびその制御方法の提供。 - 特許庁

A timing detecting circuit is constituted with two-stage matched filter since the sample rate of an A/D conversion output is high.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換出力のサンプル・レートは高いので、２段のマッチドフィルタでタイミング検出回路を構成する。 - 特許庁

A focus F of the radiation source 20, the sample origin S and the detector origin D are arranged on a straight line.例文帳に追加

放射線源２０の焦点Ｆ、試料原点Ｓおよび検出器原点Ｄは一本の直線上にある。 - 特許庁

Then NO_2 is supplied to a sample to form a second surface layer 5 on the first surface layer 2 (Fig.1(d)).例文帳に追加

試料にＮＯ_２を供給し、第１の表面層２上に第２の表面層５を形成する（図１（ｄ））。 - 特許庁

A signal of the vibration detecting sensor is subjected to an A/D conversion, then a correlation value between two waveforms is derived for each sample.例文帳に追加

振動検出センサの信号をＡ／Ｄ変換した後、サンプル毎に二つの波形の相関値を導き出す。 - 特許庁

The sample hold circuit 31 temporarily stores output of the amplifier 26 and outputs it to an A/D converter of the following stage.例文帳に追加

サンプルホールド回路３１は、増幅器２６の出力を一時記憶して次段のＡ／Ｄコンバータへ出力する。 - 特許庁

When a sample is made to be a film or flake-shaped powders, a torque gradient dT/dHex to an outside magnetic field Hex becomes a linear function in which an origin of a dimension ratio L/D of those is set to zero.例文帳に追加

外部磁界Hexに対するトルク勾配dT/dHexは、試料を膜またはフレーク状粉末としたとき、それらの寸法比L/Dの原点をゼロとした一次関数となる。 - 特許庁

The grinding sample preparation jig 1 for holding a sample S comprises a sample bonding recess 3 formed on the surface of a holding base 2 and a groove 4 formed in a bottom periphery of the recess 3, wherein the recess 3 has a larger outer dimension than a plan view outer dimension of the sample S and a depth d corresponding to a thickness of the sample S at completion of grinding.例文帳に追加

保持台２の表面に試料Ｓの平面視外形より大きい外形で、かつ試料Ｓの研磨完了時厚み相当の深さｄを有する試料接着用凹部３を形成すると共に、この凹部３の底面外周域に溝４を形成して、試料Ｓを保持する研磨試料作成治具１とする。 - 特許庁

A/D conversion sections 103-1 to 103-3 sample analog data with a first cycle to convert them into digital data.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換部１０３−１〜１０３−３は、アナログデータを第１の周期でサンプリングしてデジタルデータに変換する。 - 特許庁

The sample bonding face 10 is positioned at a place lowered by D=40μm from the shielding material guide face 13.例文帳に追加

試料貼付け面１０は遮蔽材ガイド面１３より所定量Ｄ＝４０μｍだけ下がった所に位置している。 - 特許庁

The A/D converter 15 converts the continuous load signal output from the sample hold circuit 13 into a digital signal.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器１５は、サンプルホールド回路１３から出力される連続的な荷重信号をデジタル信号に変換する。 - 特許庁

A comparative determination device 24 calculates a distance d(h_k, g_p) between the sample image I_k and a non-target image J_p.例文帳に追加

比較判定装置２４は、サンプル画像Ｉ_kと対象外画像Ｊ_pとの距離である距離ｄ（ｈ_k、ｇ_p）を計算する。 - 特許庁

This method comprises steps of receiving a signal, processing the symbol sample in the received signal by using N and L, and calculating the correlation function γ(d) regarding a first column of the L sample and a second column of the L sample, subsequent to the N samples after the first column.例文帳に追加

本方法は、信号を受信し、受信した信号中のシンボルサンプルをＮ，Ｌを用いて処理し、Ｌサンプルの第１列と第１列後のＮサンプルに続くＬサンプルの第２列とについての相関関数γ（ｄ）を求める。 - 特許庁

When the sample rod 23 and the gas spraying direction D of the nozzle 26 form an acute angle between them, the gas suction device 28 suctions the gas so as to bend the flow path of the gas hitting the sample rod 23.例文帳に追加

ガス吸引装置２８は、試料棒２３とノズル２６のガス吹付方向Ｄとが鋭角を成すときに、試料棒２３に当ったガスをその流路を曲げるように吸引する。 - 特許庁

A differential amplifier 4 amplifies, with a predetermined gain G, a difference between an analog value resulting from converting an analog value that becomes the object of A/D conversion processing, into a digital value by an A/D converter 2 and then D/A-converting the digital value by a D/A converter 3 and an analog value sampled/held by a sample/hold circuit 1.例文帳に追加

差動増幅器４は、Ａ／Ｄ変換処理の対象となるアナログ値がＡ／Ｄコンバータ２によってデジタル値に変換された後、Ｄ／Ａコンバータ３によってＤ／Ａ変換されたアナログ値と、サンプルホールド回路１でサンプルホールドされているアナログ値との差分を所定のゲインＧで増幅する。 - 特許庁

An A/D conversion is applied to the sample voltage in each voltage detecting IC, and an error ratio caused by the variation in the A/D conversion-use voltage is detected on the basis of the digitized voltage signal.例文帳に追加

そして、各電圧検出用ＩＣでサンプル電圧をＡ／Ｄ変換し、デジタル化された電圧信号に基づいて、Ａ／Ｄ変換用電源の変動に起因する誤差比率を検出する。 - 特許庁

An X-ray source irradiates the sample held between the X-ray source and an image recording device with X rays of 15 keV whose focal diameter D(μm) satisfies the relation: 1≤D≤30.例文帳に追加

Ｘ線源は、撮影時にＸ線源と画像記録装置間に保持された検体に対し、焦点径Ｄ（μｍ）が１≦Ｄ≦３０で、かつ１５ｋｅＶのＸ線を照射する。 - 特許庁

To provide an A/D converter equipped with a comparator whose skew is very slightly different from that of the sampling timing of a sample-and-hold circuit.例文帳に追加

サンプリングホールド回路のサンプリングタイミングとのスキュー差が極めて少ない比較器を有してなるＡ／Ｄ変換器を提供する。 - 特許庁

To accurately and rapidly assay the lysophospholipase D activity in a sample.例文帳に追加

正確且つ迅速な試料中のリゾホスホリパーゼＤ活性の測定方法およびそのような測定を可能にする測定用試薬の提供。 - 特許庁

Thereafter, the press member 6 is removed to obtain the rolled sample 1 in the form arranged in the recess 5 of the window material 2 (d).例文帳に追加

その後、押圧部材６を除去することで、圧延された試料１を窓材２の凹部５内に配置した形態で得る（ｄ）。 - 特許庁

To provide a waveform measuring instrument capable of reading memory data at the same sample rate as A/D conversion and also displaying them with high resolution.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換と同じサンプルレートでメモリへデータを取込むと共に高解像度表示も可能な波形測定器を提供する。 - 特許庁

The interface is digitized by an A/D converter 5, and is then detected by a CPU 6, enabling the measurement of a refractive index of the sample.例文帳に追加

この境界をＡ／Ｄコンバータ５によりデジタル化し、ＣＰＵ６にて検出することにより、サンプルの屈折率を測定できる。 - 特許庁

A reproduction RF signal of each of sample data in a sample data memory 17 is presumed on the basis of this impulse response h(t), and data of sample value which the reproduction RF signal is subjected to A/D conversion, are transmitted to a comparison circuit 14 from a presumed pattern producing circuit 16.例文帳に追加

かかるインパルス応答ｈ（ｔ）をもとにサンプルデータメモリ１７内の各サンプルデータの再生ＲＦ信号を想定し、当該再生ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換した標本値データを想定パターン生成回路１６から比較回路１４に送る。 - 特許庁

Thus, whichever sample on the sample plate 2 is analyzed, distance (d) between the upper surface of the sample and an ion extraction electrode 9 is maintained fixedly, thus dispensing with variations in flight distance and making the operation of an ion extraction electric field equal.例文帳に追加

これにより、サンプルプレート２上のどのサンプルを分析する場合にも、サンプル上面とイオン引き出し用電極９との間の距離ｄが一定に保たれ、飛行距離のばらつきがなくなるとともにイオン引き出し電場の作用も同じになる。 - 特許庁

D/A conversion is performed on a digital output signal of the sub A/D converter by a sub D/A converter, a difference signal from the input signal is generated by a subtractor and amplified by a sample/hold amplifier to form an analog signal to be transported to the next stage.例文帳に追加

上記サブＡ／Ｄ変換器のデジタル出力信号をサブＤ／Ａ変換器でＤ／Ａ変換を行い、上記入力信号との差信号を減算器で生成し、サンプルホールドアンプで増幅して次段に伝えられるアナログ信号を形成する。 - 特許庁

The A/D converter performs plural hold operations with respect to a one-time sample operation in at least one stage within cascade-connected stages.例文帳に追加

縦列接続されたステージのうち、少なくとも１つのステージにおいて、１回のサンプル動作に対して、ホールド動作を複数回行う。 - 特許庁

An A/D converter 1 consists of a sample hold circuit 2, the circuits 3-6 of 1st-4th steps, a latch circuit 7 and an output circuit 8.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータ１は、サンプルホールド回路２、１段目〜４段目の回路３〜６、ラッチ回路７、出力回路８から構成されている。 - 特許庁

For at least one past sample, for example, the A/D converter system estimates a reference value or reference point like a reference amplitude.例文帳に追加

例えば、Ａ／Ｄシステムは、少なくとも１つの過去のサンプルに対して、基準振幅のような基準値または基準点を推定する。 - 特許庁

An analog input signal f(t) is read (S1), which is subjected to A/D conversion to obtain N sample numbers of digital data f(n) (S2).例文帳に追加

アナログ入力信号ｆ（ｔ）を読み込み（Ｓ１）、これにＡ／Ｄ変換を行なってサンプル数Ｎ個のデジタルデータｆ（ｎ）を得る（Ｓ２）。 - 特許庁

The 1st speech data and 3rd speech data which are held in the RAM 304 are read out, sample by sample, and mixed to generate and supply mixing data to a D/A conversion part 307.例文帳に追加

ＲＡＭ３０４に保持されている第１音声データと第３音声データを１サンプル毎に読み出して混合することによりミキシングデータを生成してＤ／Ａ変換部３０７に供給する。 - 特許庁

A sample and an acid are charged in a sample injector 2 to conduct an aeration treatment so as to remove an IC in the sample, the IC in the sample is converted thereby into carbon dioxide to be isolated and guided into an IC measuring flow passage (d), and it flows into a non-dispersion type infrared gas analyzer 7 through a dehumidifying gas-treatment part 6.例文帳に追加

本発明では、試料中のＩＣを除去するため、試料注入器２に試料および酸を入れ、通気処理すると、試料中のＩＣが二酸化炭素の形となって遊離して、ＩＣ測定流路ｄに入り、除湿ガス処理部６を通して非分散型赤外線ガス分析計７に流通する。 - 特許庁

The method for producing the sample piece for cross-sectional observation includes the step (A) for housing the sample in the container, the step (B) for fixing the sample to the container by a fixing member, the step (C) for injecting the filler in the container, and the step (D) for cutting the obtained sample and the filler.例文帳に追加

本発明の断面観察用試料片の作製方法は、試料を容器に収容する工程（Ａ）、該試料を固定部材によって該容器に固定する工程（Ｂ）、該容器に充填剤を注入する工程（Ｃ）、および得られた試料と充填剤とを切削する工程（Ｄ）を含むことを特徴とする。 - 特許庁

Since the sample bonding face 10 is formed in the position lowered by 40μm from the shielding material guide face 13 by this manner, the sample 7 is brought into a state projected frontwards by 60μm from the shielding material guide face 13 as shown in Fig.(d), when the sample 7 with 100μm of thickness is attached onto the sample bonding face 10.例文帳に追加

このように試料貼付け面１０が遮蔽材ガイド面１３より４０μｍだけ下がった位置に形成されているため、厚さ１００μｍの試料７を試料貼付け面１０に取り付けると、図２（ｄ）に示すように、試料７が遮蔽材ガイド面１３より６０μｍだけ前に出た状態となる。 - 特許庁

A conversion operation B is performed with respect to a sample value R at an A/D conversion stage 101 to generate a conversion result D3, and a sampling operation A is performed with respect to the conversion result D3 at an A/D conversion stage 103.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換ステージ１０１でのサンプル値Ｒに変換操作Ｂを施して変換結果Ｄ３を生成しこの変換結果Ｄ３にＡ／Ｄ変換ステージ１０３でサンプリング操作Ａを施す。 - 特許庁

The equation 1: DH=α×P/D^2, wherein P: load (2 mN), D: push-in depth to a sample by an indenter (μm), α: constant corresponding to indenter shape (α=3.8584 for a triangular pyramid indenter (a ridge line angle of 115 degrees) used in this application).例文帳に追加

ＤＨ＝α×Ｐ／Ｄ^２ （式１）Ｐ：荷重（２ｍＮ）Ｄ：圧子の試料への押し込み深さ(μｍ)α：圧子形状による定数（本願で用いた三角錐圧子（稜線角１１５°）ではα＝3.8584） - 特許庁

To provide a sequential comparison type A/D converter which comprises a sample/hold amplifying circuit and is capable of inputting and A/D converting a signal of which a signal amplitude is equal with a power supply voltage.例文帳に追加

本発明は、サンプルホールドアンプ回路を備え、電源電圧と等しい信号振幅の信号を入力してＡＤ変換することが可能な逐次比較型ＡＤ変換器を提供するを目的とする。 - 特許庁

The processing circuitry 82 is provided with an analog/digital(A/D) converter 88 and this A/D converter 88 samples the radio frequency(RF) signal on the frequency band of operation and converts it to a digital sample value.例文帳に追加

処理回路８２は、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ８８を含み、このアナログ／デジタルコンバータ８８は、動作の周波数帯域上の無線周波数（ＲＦ）信号をサンプリングしてデジタルサンプル値に変換する。 - 特許庁

The conversion operation B is performed with respect to a sample value at the A/D conversion stage 107 to generate a conversion result D5, and the sampling operation A is performed with respect to the conversion result D5 at the A/D conversion stage 101.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換ステージ１０７でのサンプル値に変換操作Ｂを施して変換結果Ｄ５を生成しこの変換結果Ｄ５にＡ／Ｄ変換ステージ１０１でサンプリング操作Ａを施す。 - 特許庁

The conversion operation B is performed with respect to a sample value at the A/D conversion stage 103 to generate a conversion result D6, and the sampling operation A is performed with respect to the conversion result D6 at the A/D conversion stage 105.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換ステージ１０３でのサンプル値に変換操作Ｂを施して変換結果Ｄ６を生成しこの変換結果Ｄ６にＡ／Ｄ変換ステージ１０５でサンプリング操作Ａを施す。 - 特許庁

The conversion operation B is performed with respect to a sample value at an A/D conversion stage 105 to generate a conversion result D4, and the sampling operation A is performed with respect to the conversion result D4 at an A/D conversion stage 107.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換ステージ１０５でのサンプル値に変換操作Ｂを施して変換結果Ｄ４を生成しこの変換結果Ｄ４にＡ／Ｄ変換ステージ１０７でサンプリング操作Ａを施す。 - 特許庁

The thin-film hardness measurement method comprises a step 2 for measuring a film thickness (d) in a film-formed sample 1, a step 3 for performing Raman spectral measurement to the sample 1, and an operation step 4 to be made by the film thickness (d) thus obtained, G peak intensity Ig, and exposure time (t) in the Raman spectral measurement.例文帳に追加

成膜したサンプル１の膜厚ｄを測定するステップ２と、同サンプル１につきラマン分光測定するステップ３と、これらで得た膜厚ｄとＧピーク強度Ｉｇおよびラマン分光測定の際の露光時間ｔを用いて行う演算ステップ４とを備える。 - 特許庁

When the display sample 1 displayed on a display surface Ab of a sample display part Aa is horizontally rotated, the display of the display sample is changed so that a display label C or D with a radius of curvature corresponding to a commodity to be sold by the vending machine A is turned to the front.例文帳に追加

また、見本陳列部Ａａの陳列面Ａｂに陳列された展示見本１を水平回転して、自動販売機Ａが販売する商品と対応する曲率半径の表示ラベルＣ又はＤが正面向きとなるように表示変更する。 - 特許庁

A number of sample control part 13 extracts sample data corresponding to the chip rate that is the sampling rate for interference cancelation, from sample data sampled by an A/D conversion part 11, when the number of taps of the multi-path interference canceler is equal to or larger than a prescribed threshold.例文帳に追加

サンプル数制御部１３は、マルチパス干渉除去装置のタップ数が所定の閾値以上である場合に、Ａ／Ｄ変換部１１によってサンプリングされたサンプルデータから、干渉除去用のサンプリングレートであるチップレートに対応するサンプルデータを抽出する。 - 特許庁

By a micro-display, with quick response time for a sample, the 3-D object is made possible with high solution.例文帳に追加

資料の速い反応物を持っているミクロディスプレイが非常に急速に、そして高い解決で産物に３つの次元のオブジェクトを可能にします。 - 特許庁

To provide a sample-and-hold circuit, a circuit device, an A/D conversion circuit and an electronic apparatus that suppress a signal error due to charge injection.例文帳に追加

チャージインジェクションによる信号誤差を抑制できるサンプル・ホールド回路、回路装置、Ａ／Ｄ変換回路及び電子機器を提供すること。 - 特許庁