「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE FOR DETERMINING FIBER LENGTH AND FIBER LENGTH DISTRIBUTION BASED ON FIBER MATERIAL SAMPLE ESPECIALLY IN SPINNING PREPARATION例文帳に追加

特に紡績準備にて、繊維材料サンプルから繊維長及び繊維長分布を定める装置 - 特許庁

To provide a sample measuring device capable of performing easily retrieval of measurement information and its result display.例文帳に追加

測定情報の検索とその結果表示を容易に行える試料測定装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE HOLD TIMING DETERMINATION DEVICE, METHOD, PROGRAM AND DIGITAL CAMERA例文帳に追加

サンプルホールドタイミング決定装置、サンプルホールドタイミング決定方法、サンプルホールドタイミング決定プログラム、及びデジタルカメラ - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE PROCESSING METHOD AND PROGRAM USING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法及び試料加工プログラム - 特許庁

To provide a sample evaluation method and an electron beam device using electron beams of a high throughput.例文帳に追加

高スループットの電子線を用いた試料評価方法及び電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a separation device that separates a specified molecule from a liquid sample according to the size of a molecule.例文帳に追加

液体サンプルから分子のサイズによって特定の分子を分離する分離装置の提供。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EXAMINATION OF SAMPLE IN NON-VACUUM ENVIRONMENT USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法 - 特許庁

To enable the enhancement of sensitivity and microminiaturization while keeping the natural performance of a sample gasification device.例文帳に追加

試料ガス化装置本来の性能を維持したまま、高感度化，超小型化を可能にする。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

A single-crystal substrate 10 is fixed on a sample fixing stand 1 by using an inclination correcting device 20.例文帳に追加

単結晶基板１０を傾斜補正治具２０を用いて試料固定台１に固定する。 - 特許庁

To provide a light quantity measuring device capable of efficiently detecting fluorescence generated from a sample.例文帳に追加

試料から発生する蛍光を効率良く検出できる光量測定装置を提供する。 - 特許庁

In this cylindrical body visual inspection device, a rotation part 6 rotates a cylindrical body inspection sample 1.例文帳に追加

円筒体外観検査装置において、回転部６は、円筒体被検査試料１を回転させる。 - 特許庁

To prepare a thin sample for testing internal structure of a manufactured device to form an image.例文帳に追加

製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する。 - 特許庁

Reaction of the sample inside the reaction chamber 104 through heating is generated by the thermoelectric conversion device 126.例文帳に追加

熱電変換デバイス１２６による加熱で、反応チャンバ１０４内でサンプルの反応が生じる。 - 特許庁

To provide a measuring device for measuring flow characteristics from the oscillation frequency of a sample cavity.例文帳に追加

流体特性をサンプル・キャビティの振動周波数から測定する測定デバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide an optical device obtaining information in a sample with high resolution.例文帳に追加

標本内部の情報を高分解能に取得することが可能な光学装置を提供すること。 - 特許庁

This sample preparation device includes: a storage chamber capable of storing a liquid sample containing an analyte which is an analysis object; a concentrated sample storage chamber disposed in communication with the storage chamber, for storing a liquid sample having a higher concentration of the analyte which is the analysis object than the liquid sample; and an analyte moving part for moving the analyte contained in the liquid sample stored in the storage chamber into the concentrated sample storage chamber.例文帳に追加

分析対象となる分析物を含む液体試料を収容可能な収容室と、前記収容室に連通して配設され、前記液体試料よりも分析対象となる分析物の濃度が高い液体試料を収容する濃縮試料収容室と、前記収容室に収容された液体試料に含まれる分析物を前記濃縮試料収容室に移動させる分析物移動部と、を備えた試料調製装置。 - 特許庁

In this electron beam application device, the sample holding mechanism to hold the sample by applying a negative voltage to the sample has a support pedestal where the negative voltage is applied and which supports the sample from its lower part and a pressing part to press the sample from its upper part while the negative voltage is applied to the sample, and the pressing part is formed along the fringe part of the sample.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、電子線応用装置内にて、試料に負電圧を印加して試料を保持する試料保持機構において、負電圧が印加されると共に前記試料を下部から支持する支持台と、前記試料を上部から押圧する押圧部を有し、当該押圧部は前記試料の縁部に沿って形成されていると共に、前記負の電圧が印加されることを特徴とする試料保持機構を提案する。 - 特許庁

The analysis system of ordered category data comprises an input device 1 for inputting sample data, a data processing device 2 for processing the sample data, and an output device 3 for outputting the processing result of the data processing device.例文帳に追加

順序カテゴリーデータに対する解析システムは、標本データを入力するための入力装置１と、前記標本データを処理するためのデータ処理装置２と、該データ処理装置の処理結果を出力するための出力装置３とを備える。 - 特許庁

A vibration-testing apparatus 1 includes a waveform generating device 6, a hydraulic vibration exciting device 3, a sample 2, a measuring device 5, and a control device 4 for controlling the movement of the hydraulic vibration exciter 3.例文帳に追加

振動試験装置１は、波形発生装置６、油圧加振機３、供試体２、計測装置５、油圧加振機３の動きを制御する制御装置４を備える。 - 特許庁

To prevent that an observation sample or a structure part in a sample room are damaged since the observation sample is contacted with the structure part in the sample room by an economic and simple constitution and system in which a large structural change of a charged particle beam device provided with an existing retarding function is suppressed.例文帳に追加

既存のリターディング機能を備えた荷電粒子線装置の大幅な構造変更を極力抑えた経済的かつシンプルな構成及びシステムで、観察試料が試料室内の構造部に接触して観察試料又は試料室内の構造部が破損してしまうのを防止する。 - 特許庁

To provide a product sample display device of a vending machine, which uses no sample board to uniformly irradiate a product sample with high luminance, improves work efficiency in displaying the product sample, and reduces power cost and replacement maintenance of a light source.例文帳に追加

サンプル台を用いないことにより、商品見本を高輝度にかつ均一に照射させるとともに、商品見本の展示作業性を向上させ、さらには電力コストや光源の交換メンテナンスを少なくすることができる自動販売機の商品見本の表示装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample inspection method for detecting the damage of a film caused by the irradiation of the film with a primary beam when a sample is inspected by irradiating the sample with the primary beam such as an electron beam or the like through the film to prevent the destruction of the film caused by a pressure difference, and a sample inspection device.例文帳に追加

膜を介して試料に電子線等の一次線を照射して試料検査を行う際に、該一次線の膜への照射による膜の損傷を検知し、これにより圧力差による膜の破壊を防止することのできる試料検査方法及び試料検査装置を提供する。 - 特許庁

A sound generating device 10 comprises: a sample acquisition unit 12 for acquiring a sample signal; reverse reproduction means for acquiring an additional signal indicating sound when the sample signal is reverse reproduced; a connection part 14 for generating an expansion sound signal by connecting the sample signal and the additional signal.例文帳に追加

音生成装置１０は、サンプル信号を取得するサンプル取得部１２と、サンプル信号を逆再生した場合の音を示す付加信号を取得する逆再生手段と、サンプル信号と付加信号とを連結することで伸長音信号を生成する連結部１４とを備える。 - 特許庁

The observation device 100 includes a sample holder 8 for holding a sample P, a blade 7 for cutting the sample P and sequentially forming a new cross-section, an optical system 3 having a first objective 11 and a second objective 12, and an electronic camera 2 for capturing an image of the cross sections of the sample P.例文帳に追加

観察装置１００は、サンプルＰを保持するサンプルホルダー８と、サンプルＰを切断し、順次新たな切断面を形成するブレード７と、第１の対物レンズ１１及び第２の対物レンズ１２を有する光学系３と、サンプルＰの切断面を撮像する電子カメラ２とを有する。 - 特許庁

After an arbitrary device process is completed, one portion of a wafer 108 is extracted as a minute sample 110 exceeding one repetition pattern by a probe by using a finite sample extracting apparatus 102, transferred on a minute sample storage tool 109, and thus stored into a minute sample storage apparatus 103.例文帳に追加

任意のデバイスプロセス完了後に、微小試料摘出装置１０２でウェーハ１０８の一部を、１繰返しパターン以上のサイズの微小試料１１０として、プローブで摘出して微小試料保管具１０９に載せ替え、微小試料保管装置１０３に保管される。 - 特許庁

When image pickup techniques are supplied from a server 32 to a medical image pickup device 34, sample data corresponding to image pickup data obtained by the techniques, or a sample data originating program and original data, are added to the techniques supplied, or sample images picked up by the techniques, or a sample image generating program and original images, are added to the techniques supplied.例文帳に追加

サーバー３２から医用画像撮像装置３４に撮像テクニックを供給するに当たり、同テクニックで得た撮像データに相当するサンプルデータもしくはサンプルデータ生成プログラムと元データ、または、同テクニック撮像したサンプル画像もしくはサンプル画像生成プログラムと元画像を添付する。 - 特許庁

To prevent a determination mistake of an organism sample in a quantitative determination part, in an organism sample determination device determining quantitatively the organism sample charged in the second flow passage after injecting a buffer agent into the first flow passage, and subjecting the determined organism sample to electrophoresis in the first flow passage.例文帳に追加

第１の流路に緩衝剤を注入した後に、第２の流路に充填した生体サンプルを定量し、定量した生体サンプルを第１の流路で電気泳動させる生体サンプル判別装置において、定量部での生体サンプルの定量ミスを未然に検出する。 - 特許庁

To control a distance between a sample and a magnetic sensor to be kept constant for preventing a change in the distance between the sample mounted on a sample mounting stand and the magnetic sensor due to a change of temperature in a cooling unit, and the damage of the magnetic sensor or sample, in a measuring device using superconducting quantum interference elements.例文帳に追加

超伝導量子干渉素子を用いた計測装置において、冷却ユニット内の温度変化が原因となる試料設置台に設置された試料と磁気センサ間の距離の変動や、磁気センサ又は試料の破損を防止する為、試料と磁気センサ間の距離を制御する。 - 特許庁

When detecting a target selected from pathogens and/or allergy associated components in a body fluid, the method includes the steps of (a) non-invasively collecting a body fluid sample with a swab member, (b) transferring the sample to an application zone on a sample analysis device and (c) analyzing the sample.例文帳に追加

本発明では、体液中の病原体および/またはアレルギーに関連する成分から選択されるターゲットを検出するに際し、（ａ）体液試料を綿棒部材で非侵襲的に捕集し、（ｂ）この試料を試料分析デバイス上の塗布帯域に移し、（ｃ）この試料を分析する。 - 特許庁

This head space sampling device contains a sample receiver 2 capable of housing a waste water sample 4; a sparger chamber steam column 12; a sample receiver cover assembly sparger tube 5 for connecting the sparger chamber steam column to the sample receiver; one or more detecting devices 275; and one or more analytical devices 20.例文帳に追加

ヘッドスペース試料採取装置は、廃水試料（４）の収容可能な試料受け器（２）、スパージャ室蒸気カラム（１２）、スパージャ室蒸気カラムを試料受け器に連結する試料受け器カバーアセンブリ、スパージャチューブ（５）、１以上の感知装置（２７５）及び１以上の分析装置（２０）を含む。 - 特許庁

A ratio Sp=Gi/Go between a coarse aggregate mass ratio Gi of a sample sampled from an interior of the barrier device and a coarse aggregate mass ratio Go of a sample sampled from an exterior of the barrier device is used as an index value of the segregation resistance of the concrete sample.例文帳に追加

バリア装置の内部から採取した採取試料の粗骨材質量比Ｇｉと、バリア装置の外部から採取した採取試料の粗骨材質量比Ｇｏとの比率Ｓｐ＝Ｇｉ／Ｇｏをもって、コンクリート試料の材料分離抵抗性の指標値とする。 - 特許庁

The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system 31 and an electron beam optical system 41 in an identical vacuum device, and a probe 72 that separates a minute sample containing a desired area of the wafer 21 by a charged particle beam type molding process and takes out the separated minute sample.例文帳に追加

同一真空装置に集束イオンビーム光学系３１と電子ビーム光学系４１を備え、ウェーハ２１の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブ７２を備えた。 - 特許庁

The fluorescent X-ray analyzer is provided with a Peltier device 3 for cooling the sample 12 during detection and a control means 6 for controlling the Peltier device 3 in such a way as to maintain the temperature of the sample 12 equal to a predetermined temperature or less during detection.例文帳に追加

検出中に試料12を冷却するペルチェ素子３と、検出中の試料12の温度を所定の温度以下に維持するように、ペルチェ素子３を制御する制御手段６とを備える。 - 特許庁

To prevent the damage of a sample handling device caused by the peeling of the adhesion surface between first and second members in the sample handling device, where the first and second members are joined.例文帳に追加

第１部材と第２部材を接合してなる試料取扱装置において、第１部材と第２部材の接着面の剥がれに起因する試料取扱装置の破損の防止を目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus, capable of measuring the temperature properties of a semiconductor sample, without limiting the movement ranges of a sample stage, and to provide a probe device with a temperature control device.例文帳に追加

試料ステージ及びプローブ装置の移動範囲が温度制御装置によって制限されることなく半導体試料の温度特性測定を行うことができる不良検査装置を提供する。 - 特許庁

A simulation system includes: an X-ray CT device 11 for acquiring a tomographic image of a porous sample; and a device 14 for simulating a mercury intrusion technique by processing multilayer tomographic images of the sample.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、多孔質の試料の断層画像を取得するＸ線ＣＴ装置１１と、試料の断層積層画像を処理して水銀圧入法をシミュレーションする装置１４とを備える。 - 特許庁

To provide a low-cost and miniaturized imaging device for a low-light sample capable of performing fluorescence observation and emission observation, without changing the position of a sample using a single device and using a general cooled CCD.例文帳に追加

一台の装置で標本の位置を変えずに蛍光観察と発光観察を行うことが出来、一般的な冷却ＣＣＤを用いて安価、且つ小型な微弱光標本撮像装置を提供する。 - 特許庁

A sample holder-electrode holder integrated unit enabled to be removed from a device body is used in a device for processing or analysis by applying an electric field on a held sample through an electrode.例文帳に追加

保持した試料に電極を介して電界をかけて加工または分析する装置に用いられ、かつ、装置本体から取り外し可能とされた試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニットを用いる。 - 特許庁

A signal generator 1 outputs a signal of frequency slightly shifted from frequency of electromagnetic noise generated in a sample device 100, and injects the signal into the sample device 100 by an injection probe 3.例文帳に追加

信号発生器１は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数から僅かにずらした周波数の信号を出力し、注入プローブ３によって供試機器１００に注入する。 - 特許庁

A detection probe 4 scans on the sample device 100 by a moving part 7, detects electromagnetic field distribution of the sample device 100, and measures distribution of electromagnetic field strength by an electromagnetic field strength meter 6.例文帳に追加

検出プローブ４は可動部７により供試機器１００上を走査し、供試機器１００の電磁界分布を検出し、電磁界強度計６によって電磁界強度の分布を測定する。 - 特許庁

The additional ϕ rotary device 7 is driven by the ϕ rotary device 8 to be rotated centering around the ϕ axial line and can rotate the sample S centering around the ϕ' axial line passing the sample position.例文帳に追加

付加φ回転装置７は、φ回転装置８によって駆動されてφ軸線を中心として回転でき、試料位置を通るφ’軸線を中心として試料Ｓを回転させることができる。 - 特許庁

The imaging system has an illumination device 5 illuminating a sample by pulse-like illumination light including at least the wavelength component of infrared region, an imaging device 6 for imaging the light from the sample illuminated by the illumination device 5, and a timing control device 9 for controlling the image timing of the imaging device 6.例文帳に追加

少なくとも赤外域の波長成分を含むパルス状の照明光で試料を照明する照明装置５と、照明装置５で照明された試料からの光を撮像する撮像装置６と、撮像装置６の撮像タイミングを制御するタイミング制御装置９とを設ける。 - 特許庁

The device and the holder permit analysis of the sample, wherein the device is substantially sealed during testing and detection of results.例文帳に追加

装置及びホルダによってサンプルの分析が可能となり、装置は、試験及び結果の検出中は実質的に封止される。 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE EQUIPPED WITH FUNCTION OF DETAILED OBSERVATION AND INSPECTION AS WELL AS OBSERVATION METHOD OF SAMPLE BY THE DEVICE例文帳に追加

詳細観察の機能を備えた電子線装置、及びその電子線装置による試料の検査並びに試料観察方法 - 特許庁