「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To achieve the alignment of different types of patterns formed on a sample to be inspected in a short period of time in a manufacturing apparatus or inspecting device for the sample to be inspected such as wafers or the like.例文帳に追加

ウエハ等の被検査試料の製造装置や検査装置において、被検査試料に形成された各種パターンの位置合わせを短時間で容易にできるようにする。 - 特許庁

An analysis device 20 for the sample includes a radiation source 26, constituted so as to guide the radiation beam 27 along a beam axis and hit it on the target region of the surface of the sample.例文帳に追加

試料の分析装置20は、放射線ビーム27を、ビーム軸に沿って導き、試料の表面上の目標領域に当てるように構成されている放射線源26を含む。 - 特許庁

To provide a microscope system including an aiming detection device focusing on a sample quickly, and applicable also to a liquid sample.例文帳に追加

迅速に試料に合焦することができ、液体試料に対しても適用することのできる照準検出装置を備えた顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an automatic apparatus attached with a controlling device, for performing a polymerase chain reaction in at least one sample tube housing a prescribed amount of a liquid sample mixture.例文帳に追加

所定量の液体試料混合物を収容した少なくとも１つの試料管内におけるポリメラーゼ連鎖反応の、制御装置付自動遂行装置の提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for using a white continuous spectral light pulse obtained from a ultrashort light pulse for analyzing a sample, especially a biological sample, in a simple way.例文帳に追加

超短光パルスから得られる白色連続スペクトル光パルスを、単純な方法で試料（特に生体試料）の分析に利用する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The inside of at least the flow cell 9a is set to a negative pressure by a suction device 27 and a sample solution in the sample pan 23 is filled into the flow cell 9a due to the pressure difference with the atmosphere.例文帳に追加

吸引装置により少なくともフローセル内を負圧にして大気との圧力差により試料パン内の試料溶液をフローセル内に充満させる。 - 特許庁

A device for dialysis of a sample includes a gasket and a sample chamber formed by a gasket and dialysis membranes affixed to each side of the gasket in facing relationship.例文帳に追加

試料を透析するための装置が、ガスケット、およびガスケットの両面に対向する関係で固定された透析膜によって形成された試料チャンバを備える。 - 特許庁

To provide a device for cooling a cassette magazine containing a tissue sample capable of simultaneously performing the systematic keeping and cooling of the cassette magazine containing the tissue sample by a simple way.例文帳に追加

簡単なやり方で組織試料を含むカセットマガジンの体系的な保管と同時に冷却を可能とする、組織試料を含むカセットマガジンの冷却装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample detection device capable of detecting optically a sample easily and accurately without requiring optical auto-focusing operation, and a specimen analyzer including it.例文帳に追加

光学的オートフォーカス動作を必要とせず、容易に精度よくサンプルを光学的に検出可能なサンプル検出装置と、それを含む検体分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam dimension measuring device and an electron beam dimension measuring means which can keep potential on a sample surface constant to measure the sample with greater accuracy.例文帳に追加

試料表面の電位を一定にして精度よく試料を測定することのできる電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide the merchandise sample display device of a vending machine with satisfactory handleability for stably holding a sheet-shaped merchandise sample, and for easily performing its attachment/detachment operation.例文帳に追加

シート状商品見本を安定に保持し、しかもその着脱作業を簡易に行い得る取り扱い性の良い自動販売機の商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid sample monitoring device, concretely a method for manufacturing and designing a test sensor for use in the measurement of an object to be analyzed in a liquid sample.例文帳に追加

液体試料モニタリング装置に関し、より具体的には、液体試料中の分析対象物の測定に使用するための試験センサの製造及び設計に関する。 - 特許庁

To provide a measuring device for physical property of sample by optically detecting the response from a sample to the irradiation with an ultra short optical pulse.例文帳に追加

超短光パルスの照射に対する試料からの応答を光学的に検出することにより、試料の物理的性質の測定装置を提供することである。 - 特許庁

Since charges on the sample 7 move in the direction of the device via the conductive plate 19 and the microprobe 12, charge-up on the surface of the sample 7 can be prevented.例文帳に追加

このとき、試料７上の電荷は、導電板１９及びマイクロプローブ１２を介して装置方向に移動するため、試料７の表面がチャージアップすることが防止される。 - 特許庁

To realize a charged particle beam device in which, even if the slanting angle of the sample and the conditions of charged particle beam radiated on the sample are altered, image quality will hardly change.例文帳に追加

試料の傾斜角や試料に照射される荷電粒子ビームの条件が変わっても像質がほとんど変化しない荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and a device for analyzing a three-dimensional internal structure allowing sequential observation of sample sectional images formed by continuously sectioning a sample without any influence of transparency of the sample and throughout observation of the sample under the substantially same condition even in a sample colored with a fluorescent dye for reconstructing the internal structure of the sample with high precision from the respective sectional images.例文帳に追加

試料の透けの影響を受けることなく、試料を連続的に切断してその断面画像を連続して観察でき、かつ試料を蛍光染料で着色した場合でも試料全体をほぼ同一の条件で観察することができ、これにより各断面画像から試料の内部構造を高精密に再構築することができる３次元内部構造の解析方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The sampling device includes a board for placing the sample of minute article, a probe for moving the sample of minute article, and electron beam radiating means for charging the sample of minute article.例文帳に追加

前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample processing method and a sample processing device capable of carrying out processing of a circumference or a circle with any position on the sample as a center by using luster scan function or the like without relying on a vector scan system.例文帳に追加

試料上における任意の位置を中心とする円周もしくは円形の加工を、ベクタースキャン方式によらず、ラスタースキャン機能等を用いて実施することができる試料加工方法及び試料加工装置を提供する。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

A confocal microscope includes a light source that emits excitation light that excites a sample, and a confocal optical system that guides fluorescent light generated from the sample by focusing the excitation light to the sample to an image pickup device.例文帳に追加

試料を励起する励起光を射出する光源と、試料に前記励起光を集光させることにより試料から発生した蛍光を撮像装置に導く共焦点光学系と、を備えた共焦点顕微鏡に関する。 - 特許庁

A piston 15 is pressed by a loading device 30 while heating the sample SP charged into a cylinder 15 and the molten sample SP is allowed to flow out of the capillary hole 13a provided to the bottom part of the cylinder to measure the fluidizing characteristics of the sample SP.例文帳に追加

シリンダ１５内に充填した試料ＳＰを加熱しつつ負荷装置３０によりピストン１５で押圧し、溶融した試料ＳＰをシリンダ底部の細管孔１３ａから流出させて試料ＳＰの流動特性を計測する。 - 特許庁

To provide a sampling device causing no clogging in sample gas line nor abnormal analyzer reading.例文帳に追加

サンプルガスラインを詰まらせたり、分析計の指示異常を引き起こすことのないサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING IMAGE OF TEST SAMPLE OF BIOLOGICAL ORIGIN USING OPTICAL IMAGING MEANS例文帳に追加

生物由来の被験試料の画像を、光学的結像手段を用いて取得する方法及び装置 - 特許庁

To provide a viscosity measuring device capable of measuring the viscosity of a fluid sample under a high pressure simply without error.例文帳に追加

流体試料の高圧下での粘度を誤差なく簡単に測定できる粘度測定装置を得る。 - 特許庁

The measuring container 2 has a liquid holder 2a for holding a liquid sample and is used in an analyzing optical device.例文帳に追加

液体試料を保持する液体保持部２ａを有し、分析光学装置で使用される測定容器２。 - 特許庁

To provide a reflection characteristic measuring device which measures accurately the gloss of a measuring sample.例文帳に追加

測定試料の光沢を正確に測定することのできる反射特性測定装置を提供する。 - 特許庁

After a prescribed amount of time, the detection device can sample air continuously by switching the function.例文帳に追加

所定時間後、検出デバイスは機能が切り替わることにより、連続的な空気のサンプリングが可能となる。 - 特許庁

ROTATION CENTER SEARCH METHOD AND ROTATION CENTER SEARCH SYSTEM OF SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料ホルダの回転中心探索方法及び回転中心探索システム - 特許庁

IMPRINT METHOD, IMPRINT DEVICE, SAMPLE SHOT EXTRACTION METHOD, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

インプリント方法及びインプリント装置、サンプルショット抽出方法、並びにそれを用いた物品の製造方法 - 特許庁

The work for fitting a sample piece cut out from a measured object to the device is not required.例文帳に追加

しかも、被測定物から切り取ったサンプル片を装置に取り付けるといった作業が不要とされる。 - 特許庁

MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION METHOD, MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION DEVICE USED THEREFOR, AND SAMPLE PLATE例文帳に追加

分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート - 特許庁

To provide a charged particle beam device with less resolution deterioration even if a beam has inclination to a sample.例文帳に追加

試料に対してビームを傾斜しても分解能低下の少ない荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

A sample collecting device 15 is inserted into a tube through the use of flanges 28 and 29.例文帳に追加

試料採取装置（１５）は、管（１４）に挿入されて、空気の試料を汚染モニター（１６）に供給する。 - 特許庁

To provide a device capable of accurately measuring a dielectric property of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の誘電特性を的確に測定できる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The temperature of the sample block (36) can be changed exclusively by a thermoelectric device (39) controlled by the computer.例文帳に追加

サンプルブロック（３６）の温度は、コンピュータにより制御される熱電装置（３９）によってのみ変えられる。 - 特許庁

To provide a surface evaluation device capable of accurately evaluating a painted surface, and a painting sample.例文帳に追加

塗装表面を正確に評価することができる表面評価装置及び塗装標本を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma processing device capable of improving processing efficiency by reducing contamination of a sample.例文帳に追加

試料の汚染を低減して処理の効率を向上することのできるプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for executing measurement and (or) for collecting a sample of fused metal by a sub-lance.例文帳に追加

測定を実施し且つ（又は）溶融金属の試料をサブランスで採取するための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device with little deterioration of resolution even tilting the beams against a sample.例文帳に追加

試料に対してビームを傾斜しても分解能低下の少ない荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

The method and device (110) for the detection of the existence of the color dye within a water sample (132) is described.例文帳に追加

水サンプル（１３２）内の色染料の存在を検出する方法および装置（１１０）を述べる。 - 特許庁

Water to be detected is sampled by a water-sampling device 100 to be introduced into a sample water tank 4.例文帳に追加

検出対象の水を採水装置１００で採水し、試料水槽４に試料水として導入する。 - 特許庁

To provide a method for optically analyzing an analyte in a sample and an associated equipment/device.例文帳に追加

試料中の分析対象物の光学的分析方法および関連器具／装置を提供すること。 - 特許庁

A photometric device is arranged at a side opposite to the objective 103 with a sample 121 as reference.例文帳に追加

標本１２１を基準にして対物レンズ１０３の反対側に測光装置が配置されている。 - 特許庁

To provide an observation device that is suitable to observe the wide range of a sample in detail and in a short period of time.例文帳に追加

試料の広範囲を短時間かつ詳細に観察するのに適した観察装置を提供する。 - 特許庁