「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical analysis method and a related instrument/device for an analysis object in a sample.例文帳に追加

試料中の分析対象物の光学的分析方法および関連器具／装置を提供すること。 - 特許庁

The sample image is stored in a storage device 16 with a position of the image as an image for designating an observation position.例文帳に追加

その試料像は観察位置指定用像として該像の位置と共に記憶装置１６に記憶される。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of avoiding charge-up without reducing the amount of dose to a sample.例文帳に追加

試料へのドーズ量を減らすことなくチャージアップを回避できる荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis device capable of simply and speedily measuring many analysis items by a small amount of sample.例文帳に追加

少量の検体で多数の分析項目を簡便かつ迅速に測定できる分析具を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DARK STATE IN SPECTROSCOPIC OR MICROSCOPIC INSPECTION FOR FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加

蛍光試料の分光学的又は顕微鏡的検査の際の暗状態の検出方法及び装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SOLDER COMPONENT, ANALYZER USED IN MEASUREMENT OF SOLDER COMPONENT AND SOLDER SAMPLE MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

ハンダ成分の測定方法、およびハンダ成分の測定に使用する分析装置およびハンダ試料製作器 - 特許庁

The optical device may therefore be realized with the sample structure without requiring any change at all for the light emitting element array 4 itself.例文帳に追加

このために、発光素子アレイ４自体には何ら変更を要せず簡単な構造で実現できる。 - 特許庁

To provide a measuring device capable of accurately measuring a sample with application of heat with simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で、試料を加熱しつつ正確に計測することが可能な計測装置を提供する。 - 特許庁

The movable stage is provided with a fixing device for fixing at least a pair of sample containers.例文帳に追加

移動ステージには、少なくとも１対の試料容器を固定するための固定装置が設けられている。 - 特許庁

An identifier of the image or a portion of the image of the sample captured with the charged particle beam device is created.例文帳に追加

荷電粒子線装置で撮像された試料の画像又はその一部画像の識別子を生成する。 - 特許庁

WAVE MOTION SENSOR DEVICE WITH GAS REMOVAL UNIT AND METHOD FOR DETECTING TARGET SUBSTANCE IN LIQUID SAMPLE例文帳に追加

ガス除去ユニットを備える波動センサー装置及び液体試料中の標的物質を検出する方法 - 特許庁

To provide a low-cost buff device for a cut sample of a tire for use in a heavy cargo vehicle, and capable of being automated.例文帳に追加

低コストで、自動化が可能な、重荷重車両用タイヤのカットサンプルのバフ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-resolution inclined sample image by ion beam inclination in a focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム装置においてイオンビーム傾斜による高分解能試料傾斜像をえるようにする。 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD USING THE SAME, AND COMPUTER PROGRAM FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム装置、それを用いた試料の加工方法、及び集束イオンビーム加工用コンピュータプログラム - 特許庁

This device contains an individual enclosure 1 that houses a sample 3 to separate from the outside.例文帳に追加

本発明による装置は、サンプル３を収容して外部から隔離するための個別のエンクロージャ１を含む。 - 特許庁

To provide a method and a device for use in the determination of the concentration of analyte in a sample.例文帳に追加

サンプル中の分析物濃度の決定において使用するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

A device and a system for depressurizing the vial (220) containing the gas sample at a predetermined rate are also disclosed.例文帳に追加

ガスサンプルを収納するバイアル（２２０）を、所定の率で減圧するための装置およびシステムも開示される。 - 特許庁

This dispensing device for the liquid sample has a plurality of ink tanks 13, an injection means and a pressure reduction means.例文帳に追加

液体試料の分注装置は、複数のインクタンク１３と、注入手段と、減圧手段とを有する。 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH WRITING FUNCTION BY CODING RELEVANT INFORMATION例文帳に追加

関連情報をコード化して書き込む機能を備えたＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置 - 特許庁

An analyte-manipulation device is used to move a polarizable analyte of interest with respect to a sample holder.例文帳に追加

さらに、サンプルまたは分析物の少なくとも一部の位置を制御するための方法などの提供。 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHUCK TYPE SAMPLE FIXING TOOL, CUTTING DEVICE FOR OBSERVATION SURFACE EXPOSURE, AND SURFACE LAYER PHYSICAL PROPERTY ANALYZER例文帳に追加

静電チャック式試料固定治具、観察面露出用切削装置および表層物性解析装置 - 特許庁

ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS DEVICE OF ELEMENT IN SAMPLE MELTED AND TREATED IN INERT GAS ATMOSPHERE例文帳に追加

不活性ガス雰囲気で融解処理された試料中の元素分析方法および元素分析装置 - 特許庁

To provide a test sample preparation device capable of simply performing pretreatment in a hermetically closed state.例文帳に追加

密閉状態で且つ簡便に前処理を行うことができる試験試料調製装置の提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING REAL TIME COMPOSITION OF SOLID-STATE SAMPLE AS FUNCTION OF DEPTH IN IT例文帳に追加

試料内の深さの関数として固体試料の組成を実時間決定するための方法および装置 - 特許庁

To provide a plasma processing device with improved accuracy or reliability of a temperature of a sample to be processed.例文帳に追加

処理される試料の温度の精度あるいは信頼性を向上させたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe holding device acquiring a necessary microscopic piece from a sample.例文帳に追加

試料から必要な微小片を取得することのできる好適なプローブ保持装置装置を提供すること。 - 特許庁

The device 1 performs measurement by filling or flowing down the sample S including the object substance that has electrophoresis or is previously adjusted so as to have electrophoresis, in the sample cell 10; and includes a voltage applying unit 50 for electrophoresing the object substance in the sample S to the sample contacting surface 20s of the device 20, via the sample cell 10.例文帳に追加

ラマン分光装置１は、試料セル１０内に、電気泳動性を有する、若しくは電気泳動性を有するようあらかじめ調整された被測定物質を含む試料Ｓが充填又は流下されて、測定が行われるものであり、試料セル１０に、試料Ｓ中の被測定物質をラマン散乱デバイス２０の試料接触面２０ｓ側に電気泳動させる電圧印加手段５０が備えられたものである。 - 特許庁

To enable high accuracy analysis in a simple device structure, in a sensor having, in a sample cell, a light reflection type sensor device for detecting a sample in contact with a measuring light incident surface by making the sample emit the incoming measuring light as outgoing light having different physical characteristics.例文帳に追加

測定光入射面上に接触させた試料によって、入射した測定光を異なる物理特性を呈する出射光として出射させて検出する光反射型センサデバイスを試料セル内に有するセンサにおいて、簡単な装置構成で、高精度分析を可能にする。 - 特許庁

To provide a detecting method of a compensation value of changes of device requirements to be changed by potential measurement on the surface of a sample with the use of charged particle beams or sample charging, with potential changes restrained of the sample induced by irradiation of the charged particle beams, and a device.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁

This device includes a focus ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and also includes a probe for separating the microscopic sample containing the desired region of the sample by a charged particle beam type molding process to take out the separated microscopic sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

This device is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and a probe separating a trace sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated trace sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

The analytical device of the biological sample comprises a container holding the biological sample, an identification tag attached to the container and the analytical device for analyzing the biological sample including a reading machine for proving correctness of the identification tag.例文帳に追加

本発明の１つの見地によれば、生物学的標本を保持する容器と、容器に取り付けられた識別タグと、識別タグの真正さを証明する読み取り機を含む生物学的標本を分析するための分析装置とを含む生物学的標本の分析装置が提供される。 - 特許庁

The device is equipped with a focused ion-beam optical system and an electro-optical system in the same vacuum device, as well as a probe for separating a minute sample including a desired area of the sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

To provide a method and a device each detecting a compensation value of changes of device condition to be changed by potential measurement on a surface of a sample by using charged particle beams or sample charging, while suppressing potential changes of the sample induced by irradiation of the charged particle beams.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁

To provide a wafer holder capable of simultaneously transporting a wafer and a cross-sectional sample made from the wafer, and reduced in size and weight; and to provide a sample preparation device capable of simultaneously transporting a wafer and a cross-sectional sample by the wafer holder, and reduced in the size of the whole device.例文帳に追加

ウエハ及びウエハから作製された断面試料を同時に搬送することが可能であるとともに、小型化、軽量化が図られたウエハホルダ及びこのウエハホルダによってウエハ及び断面試料を同時に搬送可能で、装置全体の小型化が図られた試料作製装置を提供する。 - 特許庁

This device is provided with a focused ion beam optical system and an electronic optical system in the same vacuum device, and also provided with a probe for separating a minute sample including a desired area of a sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

To provide a sample treatment device for ion chromatograph that collects, in an absorbing liquid, sulfur and/or halogen which are components to be analyzed in a sample gas obtained by heat-decomposing a sample, that can be simplified in its device configuration, and that allows more highly accurate analysis by ion chromatograph.例文帳に追加

試料を加熱分解して得られた試料ガス中の分析対象成分である硫黄および／またはハロゲンを吸収液に回収するイオンクロマトグラフ用試料処理装置であって、装置構成を簡素化でき、イオンクロマトグラフによる一層高精度な分析が可能な試料処理装置を提供する。 - 特許庁

This laser ionization mass spectrometry includes a process for supplying a sample gas to a pretreatment device provided with a cold trap, a process for heating the cold trap, and a process for analyzing the sample gas supplied from the pretreatment device by means of gas inert to the sample gas.例文帳に追加

レーザイオン化質量分析方法が、冷却トラップを備えた前処理装置に試料ガスを供給する工程と、冷却トラップを昇温する工程と、試料ガスに対して不活性なガスを用いて前処理装置から供給された試料ガスを分析する工程とを包含する。 - 特許庁

A heating means arranged inside the measurement room 30 for heating the sample arranged on the sample receiving device 60 comprises a first radiation source 31 and a second radiation source 32, and the sample receiving device is arranged between the first radiation source and the second radiation source.例文帳に追加

試料受け取り装置（６０）上に配置された試料の加熱のための測定室（３０）内に配置された加熱手段は、第一の放射線源（３１）と第二の放射線源（３２）とを備えており、前記試料受け取り装置は、第一の放射線源と第二の放射線源との間に配置されている。 - 特許庁

This living body observation apparatus includes: an objective unit disposed close to a sample; an imaging device for imaging the sample; an objective unit driving device for driving the objective unit in the direction of correcting displacement of the sample; and a control device for the imaging device, which sets a frame rate of the imaging device according to a magnifying power of a lens provided in the objective unit.例文帳に追加

試料に近接配置される対物ユニットと、試料を撮像する撮像装置と、前記試料の変位を補正する方向に前記対物ユニットを駆動する対物ユニット駆動装置と、前記撮像装置のフレームレートを、前記対物ユニットに備えられたレンズの倍率に応じて設定する、撮像装置のための制御装置とを備える生体観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample analysis device capable of miniaturizing the device, and heightening the speed of analysis treatment sufficiently.例文帳に追加

装置の小型化を図ることができるとともに、分析処理を十分に迅速化することが可能な試料分析装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE INJECTION TOOL FOR TWO-DIMENSIONAL CATAPHORESIS METHOD, DEVICE FOR TWO-DIMENSIONAL CATAPHORESIS, AND TWO-DIMENSIONAL CATAPHORESIS METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

二次元電気泳動法用試料注入器具及びそれを含む二次元電気泳動用装置並びに該装置を用いた二次元電気泳動法 - 特許庁

To provide a simple low cost pretreatment device of an analyzing sample, which is constituted so as to analyze a very small amount of a component element in an iron-containing sample with high sensitivity and high precision, and also to provide a pretreatment method using the device.例文帳に追加

鉄含有試料中の微量成分元素を高感度、高精度に分析するための分析試料の前処理装置及び前処理方法を、簡便且つ低コストな装置及び方法により提供する。 - 特許庁

To provide a drying device and drying method for soil sample, capable of drying the soil sample in a short time without scattering and deteriorating contaminated materials and the like, with the device of a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成の装置により、汚染物質等を飛散させたり変質させたりすることなく短時間で土壌試料を乾燥させることができる、土壌試料の乾燥装置及び乾燥方法を提供する。 - 特許庁

The electron beam device comprises a stage device 10, a primary optical system which irradiates a sample 20 with a plurality of electron beams, a secondary optical system which controls the electron beams emitted from the sample 20, and a plurality of detectors.例文帳に追加

電子線装置はステージ装置１０と、試料２０を複数の電子線で照射する一次光学系と、試料２０から放出された電子線を制御する二次光学系と、複数の検出器とを備える。 - 特許庁