「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

Sample water is pumped up by the pump 14 via a strainer 16 and a pipe 15 from a sewerage facility 11, and the sample water is measured by a liquid flow type water quality measuring device 12.例文帳に追加

下水道施設１１から、ストレーナ１６及び配管１５を介してポンプ１４により試料水を汲み上げ、この試料水を流液型の水質計測装置１２で計測する。 - 特許庁

To provide an ion milling device and method capable of directly cooling a surface of a sample irradiated with an ion beam at the time of milling by irradiating the sample with the ion beam.例文帳に追加

イオンビームを試料に照射してミリングを行う際、試料におけるイオンビームの照射面を直接冷却することができるイオンミリング装置とイオンミリング方法とを提供する。 - 特許庁

The ionization device which is an ion source used for ionizing a sample is equipped with (a) a laser and (b) a surface holding the sample and including a carbon nanotube material.例文帳に追加

本発明のイオン化装置は、サンプルをイオン化するために使用されるイオン源であって、ａ）レーザと、ｂ）前記サンプルを保持し、カーボンナノチューブ材を含む面とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁

The operator is made to operate an input device 103 to judge whether the injection of the solution into the sample has been successful from data showing whether the injection of the solution into the sample has been successful and to input the judgment result.例文帳に追加

作業者には、入力装置１０３を操作させて、標本への溶液の注入が成功したか否かを示すデータを表示させた画像から判定させて入力させる。 - 特許庁

To provide a sludge sample-sampling device for sampling a fixed amount of sludge sample regardless of the fluctuation of sludge property when measuring the water content of sludge and the amount of ignition loss.例文帳に追加

汚泥の含水率や強熱減量を計測する際に、汚泥性状の変動にかかわらず一定量の汚泥試料を採取できる汚泥試料採取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mercury-measuring device that operates automatically from the sampling and injection of a sample, based on hydrocarbon to the measurement of the sample and is capable of measuring mercury, in a short time with high reliability.例文帳に追加

炭化水素を主成分とする試料の採取・注入から測定まで自動で動作し、短時間で信頼性の高い測定ができる水銀測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample adjusting device and a method for removing filtrate droplets from the under side of a membrane.例文帳に追加

メンブレンの下側から濾過液液滴を除去するための試料調整装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The sample receiving device 60 is arranged inside the measurement room 30 when being set at a position for measurement.例文帳に追加

試料受け取り装置（６０）は、測定を行う位置に設定されているときに測定室（３０）内に配置される。 - 特許庁

To provide a sample observing device and its correcting method easily reducing distortion of an observed image.例文帳に追加

観察像の歪みを簡単に低減することができる試料観察装置とその補正方法を提供すること。 - 特許庁

In accordance with embodiments, a device is calibrated by data from a reference sample of which the concentration or density is known.例文帳に追加

実施形態によっては、装置は濃度や密度が既知である参照サンプルからのデータによって較正される。 - 特許庁

To provide a questionnaire survey device capable of obtaining answers from users when they use a product sample.例文帳に追加

商品サンプルを利用した時点におけるユーザの回答を得ることができるアンケート調査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for separating a heavy phase of a sample fluid from a light one.例文帳に追加

流体試料の重い相と軽い相とを分離する装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a concentration calculating device clearly indicating a reliability degree of a calculated value of a standard sample concentration.例文帳に追加

標準試料の濃度の計算値の信頼性の度合いを明確に表示する濃度計算装置を提供する。 - 特許庁

To provide a characteristic measuring device capable of accurately measuring the dynamic characteristics of a high speed S/H(sample hold) circuit.例文帳に追加

高速Ｓ／Ｈ回路のダイナミック特性を高精度に測定することができる特性測定装置を提供する。 - 特許庁

To reduce measurement errors caused by air heated above a sample table, in a material characteristics evaluating device.例文帳に追加

材料特性評価装置において、試料台の上方で加熱された空気による測定誤差を低減すること。 - 特許庁

To provide an electron beam inspection device capable of preventing the attachment of a foreign substance on a sample surface.例文帳に追加

試料表面に異物が付着することを極力防止することができる電子線検査装置を提供する。 - 特許庁

To remove a foreign substance lying in a recess of a sample that is observed by an SPM device.例文帳に追加

ＳＰＭ装置で観察する試料において、試料凹部にある物質を凹部外へ除去することを課題とする。 - 特許庁

To provide an immuno-chromatographic sample assay device that prevents increase in the background, without increase in the size.例文帳に追加

大型化することなく、バックグラウンドの上昇が防止されたイムノクロマトグラフ検体分析用具を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation device capable of widely evaluating the interaction of a sample and oxygen, and to provide an evaluation method.例文帳に追加

試料と酸素との相互作用を幅広く評価できる評価装置及び評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an excitation device capable of loading a sample having a heavy weight, and exciting it up to a high frequency domain.例文帳に追加

加振装置において、重量の大きな供試体を搭載して高い周波数領域まで加振可能とする。 - 特許庁

To acquire an image of good image quality regardless of the positions and performance of an imaging device or the shapes of a sample.例文帳に追加

撮像装置の位置や性能、あるいは試料の形状に関わらず良質な画質の画像を取得する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING OPERATION OF CRUSHER, METHOD FOR MANAGING ACCURACY OF PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING GENE, AND SAMPLE ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システム - 特許庁

To provide a measuring method and device which can accurately and quickly measure an arsenic concentration in a sample containing a phosphoric acid.例文帳に追加

リン酸を含む試料中のヒ素濃度を迅速かつ正確に測定する方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provided a programmed-temperature desorption analyzing device where the temperature of a sample surface and a control temperature in a thermocouple are equal to each other.例文帳に追加

試料表面温度と熱電対での制御温度が等しい昇温脱離分析装置を提供する。 - 特許庁

The problem is solved by using a standard sample prepared in the TOF-SIMS device.例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳ装置内にて作製した標準試料を用いることにより、上記の問題を解決した。 - 特許庁

This sample manipulating device for analyzer includes a movable holding arm 4 for a holder 17 of samplers 7, 16.例文帳に追加

分析機器用サンプル操作装置は、サンプラ（７、１６）のホルダ（１７）のための可動式保持アーム（４）を備えている。 - 特許庁

To provide a light source device for a microscope capable of irradiating a sample with high-intensity illuminating light.例文帳に追加

標本に強度の大きな照明光を照射することの可能な顕微鏡用光源装置を提供する。 - 特許庁

In the electron beam inspection device constructed in this way, a residual gas eliminating mechanism 25 is arranged in the sample chamber 3.例文帳に追加

このような構成の電子ビーム検査装置において、試料室３に残留ガス除去機構２５を設ける。 - 特許庁

To provide a sample heating device capable of ensuring high heat insulation properties even without using any thick heat-insulating materials.例文帳に追加

厚い断熱材を用いなくても高い断熱性を確保することができる試料加熱装置を提供する。 - 特許庁

The measurement device includes a light source 10, and a light receiver 42 which receives light having passed through a sample 30 via an aperture 22.例文帳に追加

光源１０と、試料３０を透過した光をアパーチャ２２を介して受光する受光部４２とを含む。 - 特許庁

A sample is injected in a device, and the preliminary study is executed, and the chromatogram is formed by a chromatogram forming part 3.例文帳に追加

試料を装置に注入して予備検討を行ない、クロマトグラム作成部３によりクロマトグラムを作成する。 - 特許庁

To provide a protein chip holding device capable of reducing a protein sample to be an extremely small quantity, and preventing denaturation and deactivation thereof.例文帳に追加

蛋白質試料の極微量化とその変性・失活を防止した蛋白質チップ保持装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CONFIRMING STATE AND OPERATION OF PIPETTE DEVICE HANDLING LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料を扱うピペット装置の状態および動作に不備のないことを確認するためのシステムおよび方法 - 特許庁

The sample gradation level of a 2nd set is generated by the 2nd marking device (step 104).例文帳に追加

それから第２のセットのサンプル階調レベルは、前記第２のマーキング装置を使用して生成される（ステップ１０４）。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

To provide a sample preparation device which prevents a driving mechanism for a cassette conveying member from getting complicated.例文帳に追加

カセット搬送部材の駆動機構が複雑になるのを防止することが可能な標本作製装置を提供する。 - 特許庁

A substrate used in this sample adjusting device can be formed in a probe 50 shape or as a standard pipette chip.例文帳に追加

試料調製装置に用いる基体は、プローブ５０の形状としたり、標準ピペットチップとすることができる。 - 特許庁

SAMPLE HOLDING CIRCUIT, PIT LEVEL DETECTION CIRCUIT USING THE SAME, AND OPTICAL DISK RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

サンプルホールド回路及び同サンプルホールド回路を用いたピットレベル検出回路並びに光ディスク記録再生装置 - 特許庁

To provide an optical device that can compare a photographed image with a sample image on the spot.例文帳に追加

撮影画像を、その場でサンプル画像と対比することが可能な光学機器を提供することを目的とする。 - 特許庁

In one embodiment, the device is a flushing immunologic assay type for a blood sample under test.例文帳に追加

１つの実施形態において、そのデバイスは、試験する血液サンプルのために流水式免疫アッセイ様式である。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND METHOD AND DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS USING THE SAME例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置 - 特許庁

To provide a device and a method for mass spectrometric analysis for the cross section of cut sample, immediately and with high sensitivity.例文帳に追加

試料を切断した断面を、直ちに、かつ、高感度に、質量分析する装置および方法の提供。 - 特許庁

SAMPLE SURFACE OBSERVING DEVICE WITH X RAY AND METHOD OF EVALUATING CRYSTALLIZED STATE OF METAL WITH X RAY例文帳に追加

Ｘ線による試料表面観察装置ならびにＸ線による金属の結晶状態評価方法 - 特許庁

Whether the device for the operation area is a portable type recording medium is checked in this sample (step S3).例文帳に追加

本例には、当該作業領域用デバイスが可搬型の記録媒体であるか否かをチェックする（ステップＳ３）。 - 特許庁

CHANGE MEASURING DEVICE FOR MULTI-COMPONENTS IN SMALL AMOUNT OF SAMPLE, AND MULTI-COMPONENT CHANGE MEASURING METHOD USING SAME例文帳に追加

少量試料中に於ける多成分の変化測定装置及びそれを用 いる多成分変化測定方法 - 特許庁