| 例文 |
sample ofの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20718件
By virtue of this structure, the drop of the sample holder in transferring it is effectively prevented, and the sample holder can easily be attached and detached to/from the sample changing rod.例文帳に追加
このような構成によれば、移送中の試料ホルダの落下を効果的に防止し、試料交換棒への試料ホルダの脱着が容易となる。 - 特許庁
To provide a sample excavating method which enables the excavation of the side surface of a columnar or rod-shaped sample by utilizing glow discharge, and to provide a sample excavating apparatus.例文帳に追加
グロー放電を利用した円柱状又は棒状の試料の側面の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。 - 特許庁
The first vacuum container 11 can house at least the sample cartridge attaching and detaching part 25 of a sample holder 24 to which each of the sample cartridges is arranged in a detachable manner.例文帳に追加
第1真空容器11は、試料カートリッジが着脱可能な試料ホルダー24の少なくとも試料カートリッジ着脱部25が収納可能に成っている。 - 特許庁
To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation for observing the cross section of a sample by placing the focus on the desired region of the sample.例文帳に追加
試料の所望の領域に焦点をあてて断面観察することが可能となる断面観察用試料片の作製方法を提供すること。 - 特許庁
if the utility model comprises the deposit of a sample of biological material, information concerning the institution at which the sample has been deposited and the number which the deposited sample has been accorded by the institution 例文帳に追加
実用新案が微生物素材の試料の寄託を伴っているときは,試料を寄託した機関及びその機関が試料に与えた番号 - 特許庁
To provide a sample measuring method which utilizes SPR phenomenon, capable of accurately evaluating the aspects of a measuring sample, and a sample measuring instrument.例文帳に追加
測定試料の性状を正確に評価することが可能なSPR現象を利用した試料測定方法及び試料測定装置を提供する。 - 特許庁
According to this, the change in the sample temperature in the radiation of light to the sample can be measured to determine the absorption coefficient or absorptivity of the sample.例文帳に追加
これにより、試料に光が照射されたときの試料温度の変化を測定し、試料の吸収係数或いは吸収率を決定できる。 - 特許庁
The thickness of the sample fixing plate 110 is thinner than that of the sample mounting table 120 by one space for adhering the TEM sample 140.例文帳に追加
試料固定板110の厚みは、TEM試料140を接着させるための空間の分だけ、試料装着台120の厚みより小さい。 - 特許庁
To provide a sample holder for X-ray analysis capable of shortening a sample mounting time and capable of accurately positioning the sample.例文帳に追加
本発明の目的は、試料の装着時間を短くするとともに、試料を正確に位置決めできるX線分析用の試料ホルダを提供することにある。 - 特許庁
When receiving an instruction of sample printing for the form from a user, a form sample printing part 321 of a printer driver 320 transmits a form sample printing command to the printer 10.例文帳に追加
プリンタドライバ320のフォームサンプル印刷部321が、ユーザからフォームサンプル印刷の指示を受け付けると、フォームサンプル印刷コマンドをプリンタ10に送信する。 - 特許庁
A low pass filter 32 is connected to the memory 20 to produce a sample representing a luminance component in response to the stored sample of the maximum value and sample of the minimum value.例文帳に追加
ロウパス・フィルタ32は、メモリ20に結合し、蓄積された最大値サンプル及び最小値サンプルに応答して、ルミナンス成分を表すサンプルを発生する。 - 特許庁
To provide an analyzing sample forming method which enables the formation of an analyzable sample by reducing the damage applied to the film of an analysis sample.例文帳に追加
分析試料の膜に与えるダメージを少なくして分析可能な試料を形成することができる分析試料の形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid sample holder that prevents the removal of liquid or vapor portions of a sample material when gas is desorbed from the sample material.例文帳に追加
ガスが材料サンプルから脱着するとき、材料サンプルの液体部分又は蒸気部分が取り除かれることを防止する液体サンプルホルダを提供する。 - 特許庁
The sample holding unit 200 has a plurality of sample holding circuits, which sample and hold the output voltage VQA of the selecting circuit 100.例文帳に追加
サンプルホールド部200は、複数のサンプルホールド回路を有し、各サンプルホールド回路が選択回路100の出力電圧VQAをサンプリングしてホールドする。 - 特許庁
To observe a sample regardless of combination between a probe and the observation sample, and to execute various measurements without exerting an influence of a noise or the like on the sample.例文帳に追加
プローブと観察試料との組み合わせによらずに試料を観察するとともに、試料にノイズ等の影響を与えることなく種々の測定を行う。 - 特許庁
If the user is permitted to make the request of sample print, a sample print instruction screen is displayed (step S57) to accept the request of sample print (step S58).例文帳に追加
サンプルプリントの要求が許可された使用者であったときは、サンプルプリント指示画面を表示して(ステップS57)、サンプルプリントの要求を受付ける(ステップS58)。 - 特許庁
A sample piece, taken out from the specified part of the original sample 7, is fixed on a tip part of the observation sample holder supported by the side entry stage 3.例文帳に追加
サイドエントリーステージ3に支持された観察用試料ホルダーの先端部に元試料7の特定箇所から取り出された試料片が固定される。 - 特許庁
The sample water is introduced from the sample water inlet into the container, the sample water is discharged from the sample water outlet to an outside of the container, and the sample water is thereby brought into contact with the substrate fixed to the substrate fixing part.例文帳に追加
そして、試料水入口から容器内に試料水を導入し、この試料水を試料水出口から容器外に排出することにより、基板固定部に固定された基板に試料水を接触させる。 - 特許庁
The sample stage is used to be placed on with a sample base 9 and has a sample stage driving mechanism for adjusting the position of the sample base 9 by moving the sample base 9 to a horizontal direction.例文帳に追加
本発明にかかる試料ステージは、試料台9を載せる試料ステージであって、試料台9を水平方向に移動させて、当該試料台の位置を調整する試料ステージ駆動機構を備えている。 - 特許庁
At least one of the sample holding parts 2Aa to 2Ad includes a plurality of sample holding circuits of different time constants.例文帳に追加
サンプルホールド部2Aa〜2Adの少なくとも1つは、時定数の異なる複数のサンプルホールド回路で構成されている。 - 特許庁
To provide a microscope capable of improving the visibility of a sample when the position of the sample is visually confirmed.例文帳に追加
試料の位置を目視で確認する際の試料の視認性を向上させることのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
Three-dimensional observation of the sample from all directions is ensured, irrespective of the shape of the sample, observing magnification and inclination angle.例文帳に追加
そして試料形状や観察倍率、傾斜角度によらず試料の全方向からの3次元観察が可能になる。 - 特許庁
To provide a sample observation method capable of a detailed observation of a sample with the use of an identical electron beam device.例文帳に追加
同一の電子線装置を使用して試料の詳細観察をすることができる試料観察方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for processing a minute sample, capable of effectively reducing the load of a user, at processing of the minute sample.例文帳に追加
微小試料を加工する際のユーザの負担を効果的に低減できる微小試料の加工方法を提供する。 - 特許庁
To provide a density measuring method capable of calculating the density of a sample even if the mass and volume of the sample are not measured.例文帳に追加
質量と体積を測定しなくても試料の密度を求めることができる密度測定方法を提供する。 - 特許庁
A CCD camera 19 for picking up the image of the cutting surface of the sample is installed at the front of the sample 10.例文帳に追加
試料10の正面には、試料の切断面の画像を撮影するためのCCDカメラ19が配置されている。 - 特許庁
A guide 41a that is an index of the arranging position of a sample 60 is formed on an upper surface of the sample holder 41.例文帳に追加
試料ホルダ41の上面には、試料60の配置位置の指標となるガイド41aが形成されている。 - 特許庁
The sample injecting system for the chromatograph analyzer, capable of coping with a wide range of the injection amount of 0.1 μL to several mL of a microsample is realized, by switching a sample injector for injecting several μL to several mL of the sample and a sample injector for injecting the sample in an amount of several μL or below corresponding to the injection amount of the sample.例文帳に追加
数μLから数mLの試料を注入するための試料注入装置と、数μL以下の微量試料を注入するための試料注入装置とを、試料注入量に応じて切り替えることで、0.1μLから数mLの幅広い試料注入量に対応可能なクロマトグラフ分析装置用試料注入システムを実現した。 - 特許庁
The detachable sample retention container 20 is provided at one end of the sample holder 10, thus easily exchanging the sample simply by removing the sample retention container 20 from the sample holder 10 after the protection pipe 40 is retracted from the outer periphery of the sample holder 10.例文帳に追加
試料ホルダ10の一端に着脱自在な試料保持容器20を備えたことから、保護管40を試料ホルダ10の外周から退避させた後、試料ホルダ10から試料保持容器20を取り外すだけで、容易に試料の交換作業を行うことができる。 - 特許庁
(a) HA renders a primitive stream to a sample, (b) HA stores the sample to the sample memory region, (c) HA reads the sample from the sample memory region on the basis of sample programmable density for generating a pixel to be filtered, and (d) HA stores the pixel to a first buffer of the display region.例文帳に追加
HAは、(a)プリミティブのストリームをサンプルにレンダリングし、(b)サンプルをサンプル記憶域に格納し、(c)ピクセルを生成するためにプログラム可能サンプル密度に基づいてサンプル記憶域からサンプルを読み取ってフィルタリングし、(d)表示領域の第1のバッファにピクセルを格納する。 - 特許庁
The original sample of a digital signal is converted into a high-frequency output sample and a low frequency output sample by continuous calculation steps and an arbitrary sample calculated in a prescribed step is calculated by a prescribed function of the original sample and/or the calculated sample.例文帳に追加
デジタル信号の原サンプルを、連続した計算ステップによって高周波数出力サンプルおよび低周波数出力サンプルに変換し、所与のステップで算出される任意のサンプルを、原サンプルおよび/または算出されたサンプルの所定の関数によって算出する。 - 特許庁
The sample supplying apparatus is equipped with valves 18 for opening/closing a gap between the sample outflow part side of the sample servers 4 and the sample introducing part side of the microchip 1 and a pressure apparatus 15 which applies pressure when the valves 18 are open to the samples in the sample servers 4 to push out the samples to the sample introducing part 14.例文帳に追加
試料供給装置は、試料サーバ4の試料流出部側とマイクロチップ1の試料導入部側との間を開閉する弁18と、弁18が開いた状態で試料サーバ4の試料を加圧して試料導入部14へ押し出す加圧装置15とを備える。 - 特許庁
FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD OF LEAD IN POWDER SAMPLE例文帳に追加
粉末試料中の鉛の蛍光X線分析法 - 特許庁
To provide a sample collector capable of collecting easily a sample without drilling a hole in a container, even in the granular sample located in the vicinity of a bottom of the container.例文帳に追加
容器の底近くにある粉粒状サンプルであっても、容器に穴を空けることなく、容易に採取することができるサンプル採取装置を提供することである。 - 特許庁
To provide an electron beam system and a datum sample therefor, capable of carrying out a precise image measurement of a sample, without depending on the tilt angle nor the height of the sample.例文帳に追加
試料の傾斜角や高さに依存することなく、精度のよい試料の画像計測が行なえる電子線装置と電子線装置用基準試料を提供する。 - 特許庁
The perturbation processing is a processing that separates the additional object sample a determined proportion apart from a center of gravity on a straight line connecting the center of gravity of the neighborhood sample and each additional object sample.例文帳に追加
摂動処理は近傍サンプルの重心と各追加対象サンプルとを結ぶ直線上で重心から追加対象サンプルを所定割合遠ざける処理である。 - 特許庁
(Step B) a step of bringing the sample into contact with a probe.例文帳に追加
(工程B) 試料とプローブとを接触させる工程。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加
試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INTRODUCTION OF SAMPLE TO LIQUID CHROMATOGRAPH例文帳に追加
液体クロマトグラフィーの試料導入方法及び装置 - 特許庁
INSPECTION OF SAMPLE, MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
試料の検査,測定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁
To adjust the attitude of a sample block with high precision relative to the traveling level of a cutter when a sample block is sliced with a microtome for preparation of a thin sample.例文帳に追加
ミクロトームを用いて試料ブロックをスライスして薄片状の試料を作成する際、カッタ走行面に対する試料ブロックの姿勢を高い精度で調整する。 - 特許庁
A data volume of a sample distribution is thereby reduced when using a training method with a teacher for generating the sample distribution of the features of the character styles from a training data sample.例文帳に追加
したがってトレーニングデータサンプルから字体の特徴の見本分布を生成する教師付きトレーニング法を使用した場合、見本分布のデータ量を小さくすることができる。 - 特許庁
CELL AND METHOD FOR ELECTRO CHEMICAL ANALYSIS OF SAMPLE例文帳に追加
サンプルの電気化学的分析のためのセルおよび方法。 - 特許庁
By this sample analysis method, even if the observation surface of the sample is not coated with the conductive film, the occurrence of an abnormal analysis results associated with the charge of the sample can be avoided.例文帳に追加
この分析方法によれば、導電膜を試料の観察面にコーティングしなくても、試料の帯電に伴う異常な分析結果の発生を回避することができる。 - 特許庁
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