「scale testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing the Internet permitting to carry out impartial testing without necessitating large scale communication facilities.例文帳に追加

大規模な通信設備を必要とせず、公平な試験を実施することを可能とするインターネット試験実施方法を提供する。 - 特許庁

full-scale working model of something built for study or testing or display 例文帳に追加

研究、検査または展示のために建てられた何かの実物大のワーキングモデル - 日本語WordNet

The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1）..., 2）, .....例文帳に追加

プロセス排気テストの調査，そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1）…，2）… - 英語論文検索例文集

The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1）....., 2）, .....例文帳に追加

プロセス排気テストの調査，そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1）…，2），… である。 - 英語論文検索例文集

The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1）..., 2）, .....例文帳に追加

プロセス排気テストの調査，そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1）…，2），…である。 - 英語論文検索例文集

To provide a semiconductor testing apparatus capable of creating summary data with a small-scale constitution.例文帳に追加

小規模な構成でサマリデータを作成することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide measuring method and system for testing a plurality of electron devices on a large-scale substrate.例文帳に追加

大面積基板上の複数の電子デバイスをテストするための測定方法及び装置が記載される。 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING EFFECTS OF SCALE DEPOSITION PREVENTION例文帳に追加

スケール付着防止効果評価用試験装置及びスケール付着防止効果を評価する方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening testing time of scan test without increasing circuit scale of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce chip occupied area by contracting a circuit scale and to reduce testing time.例文帳に追加

回路規模を縮小してチップ占有面積を削減し、さらに試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an explosibility testing method for concrete of high strength capable of evaluating easily explosibility in a testing object of large actual scale, using a simple testing object.例文帳に追加

簡易な試験体を用いて、実大規模の試験体における爆裂性を容易に評価することが可能な、高強度コンクリートの爆裂性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device flexibly stopping application and determination of test signals without drastically increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路規模の大幅な増大を招くことなく、試験信号の印加や判定を柔軟に停止させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a digital circuit capable of testing a particular digital circuit module in a short time with a simple and small scale structure.例文帳に追加

簡単かつ小規模な構成で、特定のデジタル回路モジュールのテストを短時間で行えるデジタル回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To generate higher-speed clock edges than the period of testing rate generation continuously even in a simple hardware scale.例文帳に追加

簡易なハードウェア規模であっても、テストレイト発生周期よりも高速なクロックエッジを連続発生させる。 - 特許庁

To provide a mechanical power transmission system assembly for testing a full-scale compressor rig and a gas turbine.例文帳に追加

フルスケールの圧縮機リグ及びガスタービンを試験するための機械式動力伝達系組立体を提供すること。 - 特許庁

To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.例文帳に追加

本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To enhance accuracy and reduce the scale of installation of a zero gravity simulation testing device by reducing the effect of a component force in the horizontal direction.例文帳に追加

水平方向からの分力の影響を小さくし、これにより無重力模擬試験の高精度化および設備の小規模化を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which can regenerate exhaust energy without using such a large-scale device as to cover the entire factory.例文帳に追加

工場全体に亘るような大掛かりな装置を用いなくても、排出エネルギーを回生できるようにした半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for CSP(chip-scale package), capable of avoiding the dislocation of solder to contact pins also facilitating the handling of the CSP.例文帳に追加

ハンドリングを容易に行なうことができるようにすると共に、半田のコンタクトピンへの転位を防止できるＣＳＰのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI-testing adaptor, which can reduce costs for the test by suppressing an increase in the circuit scale of an LSI device.例文帳に追加

ＬＳＩデバイスの回路規模の増大を抑えたままテスト費用を削減することができるＬＳＩテスト用アダプタを提供する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing device capable of easily testing the immunity in a short time superior in operability and reproducibility by facilitating and automating an immunity testing system which is large in scale and requires time and effort.例文帳に追加

本発明の目的は、規模が大がかりで時間と手間のかかるイミュニティ試験系を簡易化および自動化することにより、イミュニティ試験が容易かつ短時間に行え、操作性および再現性にもすぐれた試験器を提供することにある。 - 特許庁

Consequently, a circuit scale for testing of the memory core can be miniaturized and also the number of pins for testing of memory can be reduced, and an inexpensive tester can be used and the cost required for testing of the memory core can be reduced.例文帳に追加

したがって、メモリコアのテストのための回路規模を小さくできるとともに、メモリコアのテストのためのピン数を少なくすることができるので、安価なテスタを使用することができ、メモリコアのテストに要するコストを削減することが可能となる。 - 特許庁

To provide a measuring method in which the thickness of a scale stuck to the inner surface of a tube to be measured is measured with satisfactory accuracy by an ultrasonic testing system by taking into consideration the shape and the property of the scale.例文帳に追加

被測定管の内面に付着したスケールの厚さを、超音波探傷試験方式により、スケールの形状や性状も考慮して極めて精度よく測定する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a coupling, testing the performance of a coupling in accordance with use conditions (the amount of axial displacement, the amount of surface displacement, the number of revolutions, load torque, etc.) of actual equipment without the use of actual equipment or large scale test equipment.例文帳に追加

実機や大掛かりな試験設備を用いることなく、実機の使用条件（芯振れ量、面振れ量、回転数、負荷トルク、等）に合わせて、カップリングの性能を試験することができるカップリング試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The government set up the "Council on Studying Public Testing/Research Organizations' Possible Roles for Pushing Ahead with Regional Innovations" in July 2010 in order to examine what kind of roles public testing/research organizations should play from the viewpoint of pushing ahead with regional innovation on the nationwide scale.例文帳に追加

また、我が国全体として地域イノベーションを推進する観点から、公設試験研究機関がどのような役割を果たしていくべきかについて検討するため、2010年７月に「地域イノベーション推進のために公設試験研究機関が果たすべき役割に関する検討会」を設置し、報告書をとりまとめた。 - 経済産業省

To remove scale adhering on the inner wall of piping and to prevent the adhesion of scale on the inner wall of the piping by letting the optimum Lorentz force act on a liquid to be treated passing through the piping without requiring a laboratory testing and continuously changing the frequency of a current for exciting a solenoid coil.例文帳に追加

ラボテストを必要とせず、ソレノイドコイルに励磁する電流の周波数を連続的に変化させずに、配管内を通流する被処理液体に対し最適なローレンツ力を作用させ、配管の内壁に付着したスケールの除去および付着の防止する。 - 特許庁

The map information generation device 1 generates the map information to be used when testing an application program on the geographic information system (GIS), and generates large-scale map information akin to actual data from small-scale map information used as a base.例文帳に追加

この地図情報作成装置１は、 地理情報システム（ＧＩＳ）に関するアプリケーションプログラムをテストする際に用いられる地図情報を作成するものであり、基となる小規模の地図情報から大規模かつ実データに近い地図情報を作成する装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced.例文帳に追加

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus device capable of enhancing test efficiency by enabling free allocation of logic pins and test pins, and reducing circuit scale.例文帳に追加

論理ピンとテスタピンとの自由な割り付けを可能にすることで試験効率を高めることができ、また、回路規模を削減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce consumption power by reducing the number of uses and thereby lessening the circuit scale as a whole, when a timing pulse generator is applied to an apparatus for testing semiconductors.例文帳に追加

半導体試験装置に適用した場合に、その使用個数を減少でき、これにより全体の回路規模を小さくでき、しかも消費電力の低減化を図ること。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.例文帳に追加

人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an initialization method of a fuel cell stack capable of optimizing wettedness of an electrode without using a large-scale power generation testing device, without involving consumption of fuel.例文帳に追加

燃料の消費を伴わず、大掛かりな発電試験装置を用いずに電極の濡れ性を最適化することができる燃料電池スタックの初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.例文帳に追加

ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device, the adjustable range of which is wide and capable of precise skew adjustment without inviting a large circuit scale.例文帳に追加

大幅な回路規模の増大を招くことなく、調整可能範囲が広く且つ高精度にスキュー調整を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, an address of a memory IC can be directly made in one-dimension, at the time of testing a high speed memory IC, the circuit delay and expansion of circuit scale can be prevented.例文帳に追加

そのため、メモリＩＣのアドレスを直接的に一次元化でき、高速のメモリＩＣ試験の際、回路遅延、回路規模の拡大を防ぐことができる。 - 特許庁

Visual measurement is performed with reference to a scale M previously installed near the seal edge portion, or the area where the wettability testing liquid is repelled can be calculated with the processing of the photographed image of the seal edge portion.例文帳に追加

測定においては、予めシールエッジ部近傍に設置したスケールＭを参照して目視により測定、あるいは、シールエッジ部を撮影した画像を画像処理して、濡れ性試験液をはじいた面積を算出してもよい。 - 特許庁

To detect short-circuiting between even bits and between odd bits and prevent increase in the testing time without making the circuit scale larger when checking the memory by using a self-test circuit.例文帳に追加

自己テスト回路を用いてメモリのテストを行う際に、回路規模の増大を抑制しつつ、偶数ビット同士や奇数ビット同士のショート不良を検出するとともに、テスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

To provide a system and method for testing a scale model of a steam system of a boiling water reactor (BWR) to determine an acoustic load of a main steam system of the BWR.例文帳に追加

ＢＷＲの主蒸気システムの音響負荷を決定するために、ＢＷＲの蒸気システムの縮尺模型に試験を行うシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

In this insulation performance testing method of a wafer-level CSP (Chip Scale Package) using a TEG pattern, a spiral TEG pattern is used.例文帳に追加

本発明の第１の態様は、ＴＥＧパターンを用いたウエハレベルＣＳＰの絶縁性テスト方法において、渦巻き状のＴＥＧパターンを用いたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a power supply device capable of suppressing maximumly increase of a circuit scale and cost, and to provide a semiconductor testing device capable of reducing cost by including the power supply device.例文帳に追加

回路規模及びコストの増大を極力抑えることができる電源装置、及び当該電源装置を備えることによりコストの低減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁