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step testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 486件
The recorded test pattern is reproduced (step S3), and based on plural of reproducing signals captured, the recording conditions capable of forming the first test mark and the second test mark favorably are selected, respectively (step S4).例文帳に追加
記録されたテストパターンを再生し(ステップS3)、得られた複数の再生信号に基づいて、第1テストマーク及び第2テストマークを良好に形成できる記録条件をそれぞれ選定する(ステップS4)。 - 特許庁
The power level of the reduced power beam is increased up to a maximum test power level in step units.例文帳に追加
減パワービームのパワーレベルを、ステップ単位で、最大テストパワーレベルまで増加する。 - 特許庁
At the step S5, the electronic document template is temporarily registered as a test template.例文帳に追加
ステップS5において、電子帳票テンプレートをテストテンプレートとして仮登録する。 - 特許庁
The step for deriving temporary pulse condition includes performing test recording on a test recording layer and derives the temporary pulse condition.例文帳に追加
暫定パルス条件導出ステップは、テスト記録層においてテスト記録を行い、暫定パルス条件を導出する。 - 特許庁
Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加
一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁
In an obtained semiconductor chip, the risk of damages, in the successive pickup step and/or test step and at the time of conveyance, etc., is reduced.例文帳に追加
得られた半導体チップは、その後のピックアップ工程やテスト工程、搬送時などに破壊する危険が低減する。 - 特許庁
State confirmation of a step S7 is performed, and if the end processing is successful, an advance is made to a step S8 to end the test.例文帳に追加
ステップS7で状態確認を行い、終了処理に成功していればステップS8に進みテストを終了する。 - 特許庁
A wireless hand set 7 transmits a test signal to the wireless base unit 6 (step 31).例文帳に追加
無線子機7は、無線親機6に対して試験信号を送信する(ステップ31)。 - 特許庁
In a step S4 the continuity test is conducted on each of the pressure contact connector and pressure contact distribution board.例文帳に追加
ステップS4で圧接コネクタと圧接配線盤毎に導通検査が施される。 - 特許庁
In step S804, a communication test is conducted between the management server and the image forming apparatus 100.例文帳に追加
そして、S804で、画像形成装置100との通信テストが実行される。 - 特許庁
For this purpose, an ultrasonic motor 200 for holding a test tube 1 by insertion is disposed in a step section inside a test tube guide pipe 101.例文帳に追加
このため、試験管1を挿入して保持する超音波モータ200を、試験管ガイドパイプ101内側の段差部に設ける。 - 特許庁
The computer transmits the generated test receiving message 8 as a response to the test transmitting message 6 (step S7).例文帳に追加
そして、コンピュータは、生成されたテスト用受信メッセージ8を、テスト用送信メッセージ6に対する応答として送信する(ステップS7)。 - 特許庁
In a step S20, either an impact test or a test for left standing at a low temperature or both are carried out, with respect to the low quality product.例文帳に追加
ステップS20では、低特性品に対して、衝撃試験や低温放置試験のいずれか、又はその両方を実施する。 - 特許庁
In the step S10, the test of a wafer under test is terminated in midstream, and the wafer is stored in an output cassette OC1.例文帳に追加
ステップS10では、現在試験中のウェハの試験が途中終了され、当該ウェハをアウトプットカセットOC1に格納する。 - 特許庁
To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加
高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁
A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加
前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および/または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁
A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加
ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう(ステップSP4)。 - 特許庁
First, data being different from test data are written as background data (step 21).例文帳に追加
検査の初めにバックグラウンドデータとして検査データと相違するデータを書き込む(ステップ21)。 - 特許庁
When abnormality is discovered as a result of a test, reception of all commands is refused (step S3).例文帳に追加
テストの結果、異状が発見された場合はコマンドの受付を全て拒否する(ステップS3)。 - 特許庁
The next step is to test the existing configuration to verify that Xorg can work with the graphics hardware on the target system. 例文帳に追加
次のステップは、作成した設定ファイルで XFree86が動くことを確認することです。 - FreeBSD
Then at a step 406, the test pattern is printed on the printed pale-blue ground.例文帳に追加
そして、ステップ406で、印字した薄青色の下地の上にテストパターンを印字させる。 - 特許庁
to test the reform in a part of an enterprise as a primary step in economic reform 例文帳に追加
経済改革の前段階として,一部の企業に実験的に改革を試みること - EDR日英対訳辞書
At step S2, test patches are printed on a print sheet in different dot recording modes.例文帳に追加
ステップS2で、それぞれ異なるドット記録モードで印刷用紙上にテストパッチを印刷する。 - 特許庁
When one step is completed, the result of the step initial test, training 1-14, and step final test stored in the computer 1 is transmitted via the communication channel 3 to a computer 2 which carries out the result analysis B.例文帳に追加
1つのステップが終了すると、コンピュータ1に保存されていた、ステップ初期テスト,トレーニング1〜14,ステップ最終テストの結果は、通信回線3を介してコンピュータ2に送信されてここで結果分析Bが行われる。 - 特許庁
The method includes (A) a step of inserting a test point into an object node in a designed circuit, (B) a step of specifying a delay time for a path (test point path) connecting with the test point, and (C) a step of laying out the designed circuit so that the delay time of the test point path is the specified delay time.例文帳に追加
その設計方法は、(A)設計回路中の対象ノードに対してテストポイントを挿入するステップと、(B)そのテストポイントにつながるパス(テストポイントパス)に対して遅延時間を指定するステップと、(C)そのテストポイントパスの遅延時間が上記指定された遅延時間になるように、設計回路のレイアウトを行なうステップと、を有する。 - 特許庁
Until entirely covered with a test pattern with effective test patterns mapped to the state transition (step 5), the operation of determining a state transition series having a predetermined length for covering the test patterns according to a predetermined standard, and of adding them to the test series (step 7) and performing X-extraction (step) is repeated.例文帳に追加
状態遷移にマッピングされた有効テストパターンが生成されたテスト系列にすべて被覆されるまで(step5)、所定の基準に従ってテストパターンを被覆する所定長の状態遷移系列を決定してテスト系列に追加し(step7)X抽出する操作(step)を繰り返す。 - 特許庁
The method for deciding the write current for the magnetic memory cell includes a step for supplying test write current for the test magnetic memory cell, a step for determining the response to the switching for the test magnetic memory cell by detecting a magnetization state for the test magnetic memory cell and a step for generating the write current having the quantity dependent on the switching response.例文帳に追加
磁気メモリセルのための書込み電流を決定するための方法は、テスト磁気メモリセルにテスト書込み電流を供給するステップと、テスト磁気メモリセルの磁気状態を検知してテスト磁気メモリセルの切替え応答を判定するステップと、切替え応答に依存する量を有する書込み電流を生成するステップを含む。 - 特許庁
A combination circuit is extracted from a logically composed controller (step 1), and test patterns for it are generated (step 2).例文帳に追加
論理合成したコントローラから組み合わせ回路を抽出し(step1)、それに対するテストパターンを生成する(step2)。 - 特許庁
After completion, test run processing is performed (step S3) and when registration is applied for from the user computer, registering processing is performed (step S7).例文帳に追加
完成後、テストラン処理が行われ(ステップS3)、ユーザコンピュータから登録申し込みがあれば、登録処理を行う(ステップS7)。 - 特許庁
For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加
半導体デバイス20の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード10をソケット50に装着するステップと、ドライバ76により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード10に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁
Then the measured value of the test color is corrected according to the measured value of the correction colors which are indicated in the proximity of the test color in a step S205.例文帳に追加
そしてステップS205で、試験色の測色値を、該試験色近傍に表示された補正色の測色値に基づいて補正する。 - 特許庁
Alternatively, the color distribution of the test pattern is automatically discriminated on the basis of image data (step S7), and calculation methods and parameters are changed in accordance with the discriminated color distribution of the test pattern (step S8).例文帳に追加
或いは、画像データに基づいてテストパターンの色分布を自動的に判別し(ステップS7)、判別されたテストパターンの色分布に応じて計算方法及びパラメータを変更する(ステップS8)。 - 特許庁
When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加
ステップS1のテストを開始すると、ステップS2の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁
Reading is started (step 10), the line sensor is moved as shown by an arrow Y (step 108) to make a first scan (step 110), and a read signal of a test pattern is analyzed to set reference (step 112).例文帳に追加
読み取りを開始し(ステップ100)、ラインセンサを矢印Y方向に移動し(ステップ108)、第1のスキャンを行い(ステップ110)、テストパターンの読取信号を解析し、基準を設定する(ステップ112)。 - 特許庁
The client, by using a computer 1, carries out a step consisting of a step initial test, training 1-14, and result analysis A of each training from the step 1 to the step 6 while gradually raising the level.例文帳に追加
クライアントは、コンピュータ1を使用して、ステップ初期テスト、トレーニング1〜14、それぞれのトレーニングに対する結果分析Aからなるステップを、ステップ1から徐々にレベルアップしてステップ6まで行う。 - 特許庁
The next step after creating your unit test classes is to create test suites.See Creating JUnit 3 Test Suites to see how to run specified tests as a group so you do not have to run each test individually.例文帳に追加
単体テストクラス作成後の次の手順は、テストスイートの作成です。 指定されたテストをグループとして実行し、各テストを個々に実行しなくて済むようにする方法については、「JUnit 3 テストスイートの作成」を参照してください。 - NetBeans
A control unit 51 has a test marking means, and a test marking step for performing the test marking on a preset test marking area is performed before the formal marking in an official marking area on an object 2 to be printed.例文帳に追加
制御部51は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物2上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。 - 特許庁
The method includes a test temperature detection step for detecting a test temperature in testing temperature characteristics, an error measurement step for measuring an amount of an error in the detection result of the test temperature, and a compensation step for compensating for a temperature detecting part for detecting the predetermined temperature based on the measured amount of the error.例文帳に追加
温度特性試験時に、試験温度の検出を行なう試験温度検出工程と、試験温度に対する検出結果の誤差量を測定する誤差測定工程と、測定された誤差量に基づき、所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう補正工程とを含む。 - 特許庁
The degradation promotion testing method comprises steps of: (step 101) leaving the tire in a high-temperature room; (step 102) performing a travel test in a room of high ozone concentration; and (step 103) performing a traveling test of low air pressure.例文帳に追加
劣化促進試験方法は、高温の室内にタイヤを放置するステップ(ステップ101)と、高オゾン濃度の室内で走行試験を行うステップ(ステップ102)と、低空気圧のタイヤの走行試験を行うステップ(ステップ103)とを備える。 - 特許庁
In the air sealing gas releasing step, the refrigerant communication pipes 6, 7 are depressurized by releasing air sealing gas therefrom to the air after the air sealing gas test step.例文帳に追加
気密ガス放出ステップは、気密試験ステップ後に、冷媒連絡配管6、7内の気密ガスを大気放出して減圧する。 - 特許庁
An instruction execution part 121 selects an input variable combination 193, and executes a test object program 191 step by step.例文帳に追加
命令実行部121は入力変数値組み合わせ193を選択し、試験対象プログラム191を一ステップずつ実行する。 - 特許庁
Specifically, the defect detection step further includes a step for providing automatic test generation to a presentation layer associated with the software application.例文帳に追加
具体的には、欠陥検出段階は、ソフトウェアアプリケーションと関連するプレゼンテーション層に自動テスト生成を与える段階を更に有する。 - 特許庁
The test die can be designed according to a design methodology for a test die and a product die that includes a step of concurrently designing test circuitry and product circuitry in a unified design.例文帳に追加
該テストダイは、テスト回路及び製品回路を統合化された設計に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論に従って設計可能である。 - 特許庁
The rotational direction is reversed at an appropriate place in step 150, and the test is continued therein.例文帳に追加
回転方向が、段階150において適切な場所で反転されて、試験が継続される。 - 特許庁
A discriminating step S106 is provided for discriminating whether or not a node needs value fixation in scan test design.例文帳に追加
スキャンテスト設計に値固定が必要なノードか否かの判別ステップS106が設けられる。 - 特許庁
Retrieving operation is performed (step 28), and it is discriminated whether the test address coincides with the retrieving address.例文帳に追加
検索操作を行って(ステップ28)、検査アドレスと検索アドレスとの一致を判断する(ステップ29)。 - 特許庁
The test data iA and iB are used to be compared with d(iA, NNtrain(iA)) and d(i, B, NNtest(iB)) and the smaller data is made to be iC (Step 3).例文帳に追加
テストデータi_Aとi_Bで、d(i_A, N Ntrain(i_A))とd(i_B, N Ntest(i_B))を比較し小さい方のデータをi_Cとする(ステップ4)。 - 特許庁
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