testを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 32511件
The server 304 receives user's application for test before the test reservation terminating date and time, and makes a reservation for test.例文帳に追加
サーバ304は、ユーザによる試験予約終了日時以前の試験の申込みを受け、試験予約を行う。 - 特許庁
Furthermore, a clinical test, an animal experiment, and in-vitro test are employed as the pharmacological test system. 例文帳に追加
また、用いられる薬理試験系としては、臨床試験、動物実験あるいは試験管内実験が挙げられる。 - 特許庁
A test is performed on the basis of the test specification file 23 and a test recording file 24 is generated (step S4).例文帳に追加
さらに、テスト仕様書ファイル23に基づいてテストが実行され、テスト記録ファイル24が生成される(ステップS4)。 - 特許庁
To reduce the number of timing sets in a test pattern for a tester without lowering test accuracy of a function test by a tester.例文帳に追加
テスタによる機能テストのテスト精度を低下させずに、テスタ用テストパタンにおけるタイミングセット数を削減する。 - 特許庁
Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).例文帳に追加
テストパターン(A)を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する(第1のテストパターン出力)。 - 特許庁
By performing a heating test, the performance of the toner is evaluated based on the ratio of the electrified amount of the toner obtained before the heating test to that obtained after the heating test.例文帳に追加
加熱試験を行って、加熱試験前後のトナー帯電量の比でトナーの性能を評価する。 - 特許庁
After replacement, the gas stopper is removed from the test tee 4, and an ignition test instrument is mounted on the test tee 4.例文帳に追加
交換後,ガスストッパが試験用チー4から取り除かれ,試験用チー4に点火試験器具が取り付けられる。 - 特許庁
The new technology is applicable for a full-function test system, a low-cost test circuit, and an on-chip test circuit.例文帳に追加
この新規な技術は、フル機能のテストシステム、低コストのテスト回路、及び、オンチップテスト回路に適用可能である。 - 特許庁
The reception test and the assembly test are performed by the same program, then the same test is applied to the ECU 10.例文帳に追加
受入検査とアッセンブリ検査は、同一のプログラムにより行われ、ECU10に対して同じ検査を行う。 - 特許庁
A test specification generation supporting device comprises a test factor classification table generating part 12 and a test specification generating part 28.例文帳に追加
テスト仕様生成支援装置は、テスト因子分類表生成部12とテスト仕様生成部28で構成される。 - 特許庁
A fourth process acquires the test pattern closest to the test conditions in the third process among the prescribed test patterns.例文帳に追加
第4の工程は、所定のテストパターンのうち第3の工程のテスト条件に最も近いテストパターンを求める。 - 特許庁
Test video means displays a test projection video image on the screen using, for example, a rectangle as a test video image.例文帳に追加
テスト映像手段は、例えば長方形をテスト映像とし、スクリーン上にテスト投射映像を表示する。 - 特許庁
A test result characteristic f0 is displayed on the test result screen 100 of a display monitor 12 according to test result data.例文帳に追加
試験結果データに基づき、表示モニタ12の試験結果画面100に試験結果特性f0を表示する。 - 特許庁
To provide a management method of a load test in which the number of test participants can be limited for each load test.例文帳に追加
個々の負荷テスト毎に、テスト参加者の数を制限することができる負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁
To provide a program test device for raising readability in a test scenario which is used in the test of a program to be tested.例文帳に追加
被テストプログラムのテストに使用されるテストシナリオの可読性を向上したプログラムテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test weight conveying device capable of collectively conveying a plurality of test weights while reducing labor for conveying the test weights.例文帳に追加
テストウェイトを運搬する労力を軽減しながら複数のテストウェイトをまとめて運搬することである。 - 特許庁
Test results are shown in the JUnit test results window, which opens automatically when you run a test case. 例文帳に追加
テスト結果は、「JUnit テスト結果」ウィンドウに表示されます。 このウィンドウは、テストケースを実行すると自動的に開きます。 - NetBeans
To provide selective test data log method and selective test data log system for selectively logging to test data.例文帳に追加
テストデータに選択的にログするための選択的テストデータログ方法および選択的テストデータログシステムを提供する。 - 特許庁
Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加
各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁
This method of constructing a test section was followed by the Oyama test line of Tohoku Shinkansen line and the maglev test line as well. 例文帳に追加
この手法は後続の東北新幹線の小山実験線や、リニア実験線にも踏襲されている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加
起動試験プログラム格納手段22は、試験プログラムを試験装置群4の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁
The control part inputs the test data to the scan input terminals when the burn-in test is started through the test substrate.例文帳に追加
制御部は、バーンインテストを開始するときに試験基板を介してテストデータをスキャン入力端子に供給する。 - 特許庁
To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit.例文帳に追加
デコード回路を利用した組込みテストにおいて,テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。 - 特許庁
To improve test workability, and to improve test accuracy, concerning a thermal test device for a heater element.例文帳に追加
発熱素子の熱試験装置に関し、試験作業性を良好にし、かつ、試験精度を高めることを目的とする。 - 特許庁
To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加
本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁
The WWW server 20 for a test decides the acceptance/ rejection of a test for a security hole test object, on the basis test contents from the terminal 1, performs a security hole test, when there is a system where a security hole test can be performed and generates security hole test results.例文帳に追加
検査用WWWサーバ20は、端末1からの検査内容に基づいて、セキュリティホール検査対象に対する検査の可否を判断し、セキュリティホール検査が実施可能なシステムであれば、セキュリティホール検査を実施し、セキュリティホール検査結果を生成する。 - 特許庁
The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.例文帳に追加
電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁
A person in charge of the test conducting server 304 previously sets test reservation terminating date and time which is the last date and time for a user to make a reservation for the test, test questions distribution start date and time, test questions distribution terminating date and time, test time, and test answer transmitting time.例文帳に追加
試験実施サーバ304の担当者は、ユーザが試験の予約を行う最後の日時である試験予約終了日時と、試験問題配布開始日時と、試験問題配布終了日時と、試験時間と、試験解答送信時間とを予め設定する。 - 特許庁
Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test.例文帳に追加
この後、CPUは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。 - 特許庁
The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test.例文帳に追加
本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.例文帳に追加
変換テストパターン選択部5は、機能検証用テストパターン記憶部1に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁
To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加
ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.例文帳に追加
折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁
To provide a partition cover for test plugs, which can prevent an operation error from the start of a test to the finish of the test by improving the work efficiency in the test.例文帳に追加
試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用仕切カバーを提供すること。 - 特許庁
This mobile test apparatus for medical application predicts the amount of test data on the basis of test order information and determines whether or not the storage capacity for storing the test data remains.例文帳に追加
検査オーダー情報をもとに検査データ量を予測して、検査データを保存する容量が残っているか、判断する医療用の移動型検査装置。 - 特許庁
To test a memory in a short test time without increasing a circuit scale.例文帳に追加
回路規模を増加させることなく、短いテスト時間でメモリのテストを行う。 - 特許庁
To provide a material testing machine that allows easy attachment or detachment of a test piece, prevents the dead weight of the test piece from acting on a test, and performs an accurate test.例文帳に追加
試験片の取付、取外しが容易でかつ試験に試験片の自重が作用せず精度よい試験ができる材料試験機を提供する。 - 特許庁
A self-test controller 10 is responsive to scanned in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that are specified by the self-test instruction.例文帳に追加
自己テスト・コントローラ10は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁
A test signal is transmitted and received between transmitting and receiving circuits 17 and 27 for a test.例文帳に追加
テスト用送受信回路17,27の間でテスト信号が授受される。 - 特許庁
To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加
LSIに内蔵されたRAM等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁
The semiconductor device 10 is provided with a test terminal 16 for outputting a signal (TEST) for prestarting a test of the memory interface 11 differently from the command signal.例文帳に追加
半導体装置10は、コマンド信号とは別に、予めメモリインターフェイス11の試験を開始させる信号(TEST)を出力するテスト端子16を備える。 - 特許庁
The test table generation part 14 acquires a test table of the similar equipment to generate a test table of the target equipment based on the test table.例文帳に追加
試験テーブル生成部14は、当該類似機器の試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて対象機器の試験テーブルを生成する。 - 特許庁
The test execution part 14 tests the software using the test data in the list prepared by the list preparation part 18 among the test data stored in the test data storage part 11.例文帳に追加
テスト実行部14は、テストデータ記憶部11に記憶されたテストデータのうち、リスト作成部18が作成したリストのテストデータを用いてソフトウェアをテストする。 - 特許庁
To improve a test efficiency by executing only a refresh operation necessary for the test.例文帳に追加
テストに必要なリフレッシュ動作のみを実行し、テスト効率を向上する。 - 特許庁
The test piece 10 is mounted on the under surface 6a of a test piece holding member.例文帳に追加
試験片保持部材の下面6aに試験片10が取り付けられる。 - 特許庁
The signal of the boundary scan test of a circuit board or test result is transmitted.例文帳に追加
回路基板のバウンダリスキャンテストの信号またはテスト結果を送信する。 - 特許庁
When assigning again, the same valid test condition is assigned to multiple test patterns, the possible largest number of test patterns, and thereafter, the invalid test condition is assigned again.例文帳に追加
状態再割当にあたって、まず、可能な限り多数のテストパターンへ同一の有効テスト状態を割り当てた後、無効テスト状態への割り当てを行なう。 - 特許庁
The secondary accelerated test is finished before reaching the life time of the test body.例文帳に追加
試験体の寿命時点に達する前で二次加速試験を終了する。 - 特許庁
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