「testing terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a connector testing device enabled to correctly detect the alignment of a connector terminal even if it is delicately out of order.例文帳に追加

コネクタの端子のアライメント（整列状態）が微妙に不良であっても、正確に検出できるようにしたコネクタの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of reducing an external load while ensuring excellent contact state between an external terminal and a conductive contact.例文帳に追加

外部端子と導電性接触子との良好な接触を取りつつ外部荷重を軽減できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The acceleration testing machine also has a rotation preventing mechanism for suppressing the rotation of the upper pressurization terminal and the spring and a bending quantity measuring mechanism for reading the bending quantity of the spring.例文帳に追加

上加圧端子及びばねの回転を抑止する回転防止機構、ばねの撓み量を読み取るための撓み量測定機構を有する。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第２および第３のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

In an actual operation state of the low-voltage wiring 1, an imaginary load testing device 13 is connected between an output terminal 1at of the first line 1a and an output terminal 1bt of a neutral line 1b.例文帳に追加

低圧配線１の実稼動状況において、第１線１ａの出力端子１ａｔと中性線１ｂの出力端子１ｂｔとの間に虚負荷試験装置１３を接続する。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a semiconductor testing method capable of bringing all measurement terminals into contact with the terminal of a semiconductor device with a uniform contact pressure and capable of achieving reliable contact.例文帳に追加

本発明は、全ての測定端子を均一な接触圧で半導体装置の端子に接触させることができ、確実なコンタクトをとることのできる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device for accurately and efficiently achieving a test accompanied by the extension of the terminal of a monitoring control system.例文帳に追加

監視制御システムの端末を増設する場合に、その増設に伴う試験を確実かつ高い効率で行なうことができる試験装置を提供することにある。 - 特許庁

In testing a reference memory cell MC_REF, the cell current of the reference memory cell MC_REF is directly measured from an external terminal 3 via a write driver 31.例文帳に追加

リファレンスメモリセルＭＣ＿ＲＥＦのテスト時において、外部端子３からライトドライバ３１を介してリファレンスメモリセルＭＣ＿ＲＥＦのセル電流を直接測定する。 - 特許庁

To provide a terminal structure for testing a power cable for 22 kV or lower which has an effect for alleviating an electric field, and does not cause the complication of a constitution.例文帳に追加

電界緩和効果があり、かつ構成の複雑化を招くことのない２２ｋＶ以下用電力ケーブルの試験用端末構造を提供する。 - 特許庁

A withstand voltage test is executed by applying testing voltages between the respective transmission lines 5, 6 and the second frame ground terminal 12 in a single body of the printed wiring board 10.例文帳に追加

絶縁耐圧試験は、プリント回路板１０単体で各伝送ライン５，６と第２フレームグランド端子１２との間に試験用電圧を印加して行う。 - 特許庁

The benefit is that alternative modes of operation can be selected for testing, trimming parameters of the integrated circuit, or any other purpose without the cost of an additional terminal.例文帳に追加

特典は追加の端子の犠牲なしに集積回路の試験、トリミング・パラメータ、または他の目的で代替動作モードを選択することができることである。 - 特許庁

To provide a probe in which a desired contact area with a terminal can be obtained, a tool with the same, and a testing apparatus with the same.例文帳に追加

端子との所望の接触面積を得ることができるプローブおよびそれを備えた治工具ならびにそれらを備えた試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device realizing a good test in both of a terminal mode and a high resistance mode of driver.例文帳に追加

本発明の目的は、ドライバが終端モード、高抵抗モードのどちらであっても、良好な試験を実現する半導体試験装置を提供することにある。 - 特許庁

This electronic component testing device 10 has a detecting unit 18 for taking out the signal from a terminal 16 of a semi-conductor device 14 mounted on a printed circuit board 12.例文帳に追加

電子部品試験装置１０は、プリント基板１２に実装された半導体装置１４の端子１６から信号を取り出す検出ユニット１８を有する。 - 特許庁

To provide a trunked system capable of testing a radio terminal device by switching the device to a test mode remotely from a base station device.例文帳に追加

本願発明は、基地局装置から遠隔で無線端末装置をテストモードに切り替えてテストをすることのできるトランクドシステムの提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an output circuit and a testing method that can diagnose a drive capability of an output buffer even if a capacitive load is connected to an external terminal.例文帳に追加

容量性負荷が外部端子に接続されている場合でも、出力バッファのドライブ能力の診断が可能な出力回路とテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

To provide a game machine and its inspection method for making accurate inspection by acquiring correct inspection information in a testing terminal in inspecting the game machine.例文帳に追加

遊技機の検査の際に、試験端子に正確な検査情報を得ることができ、正確な検査ができる遊技機およびその検査方法の提供。 - 特許庁

A closed circuit from a testing power source to loads (various kinds of circuit components) is stably formed through the clip 25 and the terminal pin 13.例文帳に追加

鰐口クリップ２５及び端子ピン１３を通じての試験用電源からプリント基板２３上の負荷（各種の回路部品）への閉回路が安定的に形成される。 - 特許庁

After the test, only a region of a wiring sheet section 20 excluding the terminal 25 for testing is separated, thus obtaining the sheet mount chip 60 as KGD.例文帳に追加

このテストののち、テスト用端子２５を含まない配線シート部２０の領域のみ切り離すことにより、ＫＧＤとしてのシートマウントチップ６０を得ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is not easily placed in test mode even when high voltage noise is input to a terminal also used for testing.例文帳に追加

この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which enables mask/ disable operation only with control of only one mask/disable terminal during the testing time.例文帳に追加

試験の際に１つのマスク／ディセーブル端子の制御のみでマスク／ディセーブル動作をおこなうことができる半導体記憶装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a filtering device for filtering data transmitted from a terminal to a server.例文帳に追加

試験装置９００は、端末からサーバへ送信されるデータをフィルタリングするフィルタリング装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A display control device 102 of the game machine being one example of this invention has a CPU 10, and the trial shoot testing terminal 22 of a third person inspection institute.例文帳に追加

本発明の一例である遊技機の表示制御装置１０２は、ＣＰＵ１０と、第三者検査機関の試射試験用端子２２とを備える。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

An intermediary computer 10 acquires personal data and test data from a user's terminal 20 and from a testing institution's terminal 40, and selects, based on the thus collected data, a medical institution suitable for the user.例文帳に追加

仲介者のコンピュータ装置１０は、利用者および検査機関の端末装置２０，４０から個人情報および検査情報を取得し、これらの情報に基づいて利用者に適した診療機関を選定する。 - 特許庁

Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.例文帳に追加

従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁

The testing circuit also comprises a flip-flop 6 inputting at its data input terminal the output signal from the gate 5 and inputting at its clock signal input terminal the signal frequency divided by 1/n by the divider 2.例文帳に追加

更に、ＡＮＤ回路５からの出力信号がデータ入力端子に入力され分周器２により１／ｎ分周された信号がクロック入力端子に入力されるフリップフロップ６が設けられている。 - 特許庁

To provide a microcomputer for controlling a vehicle, dedicated to post-installation operation check, without the need for a terminal for the external connection nor the need for inclusion of a special testing function.例文帳に追加

動作チェック専用の外部接続用端子が不要で、特別の試験機能を組み込まずに搭載後の動作チェックが可能な車両制御用マイコンを提供する。 - 特許庁

A PDP driver module 100, which is a testing object is loaded with an LSI 110 for driving the PDP and a circuit wiring 111, is connected to its terminal.例文帳に追加

被検査対象であるＰＤＰドライバモジュール１００は、ＰＤＰ駆動用のＬＳＩ１１０を搭載しており、回路配線１１１は、その端子に接続されている。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a wireless connection confirmation testing device that discriminates whether or not a communication opposite party is a terminal to be tested, so as to reduce interference on other communication.例文帳に追加

通信相手が試験をされるべき端末であるかを判断することで他の通信への干渉を低減させることのできる無線接続確認試験装置を得ること。 - 特許庁

The test circuit for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, whereby the taking a terminal for testing the SDRAM 101 outside of the SIP101 is dispensed with.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００内に、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路を設けることにより、ＳＤＲＡＭ１０１のテストのための端子をＳＩＰ１０２の外部に出す必要がなくなる。 - 特許庁

The element substrate 91 has a plurality of testing terminals 80, 81, 82, source lines 6, gate lines 3, the connection terminal 7, TFT elements, pixel electrodes and a driver IC 40, etc.例文帳に追加

素子基板９１は、複数の検査用端子８０，８１，８２、ソース線６、ゲート線３、接続用端子７、ＴＦＴ素子、画素電極、ドライバＩＣ４０等を有している。 - 特許庁

To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加

テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁

An applying means 11b in the testing mode of a first circuit part 11 applies binary logic level voltage to a specific terminal of a first connector 11a alternately multiple times.例文帳に追加

第１の回路部１１の試験モード時印加手段１１ｂは、第１のコネクタ１１ａの特定の端子に２値の論理レベルの電圧を交互に複数回印加する。 - 特許庁

A facility central station 12 executes the testing processing of the IG server 10 by receiving the processing result of the IG server 10 corresponding to the simulation processing of the simulation terminal 20.例文帳に追加

施設中央局１２は、模擬端末２０の模擬処理に応じたＩＧサーバ１０の処理結果を受信することで、ＩＧサーバ１０の試験処理を実行する。 - 特許庁

The control unit outputs an optical signal for testing the dummy signal transmission unit, according to a fault search instruction outputted from a monitoring terminal and confirms the reception of the optical signal for testing via the signal monitoring unit, thereby verifying the alarm information stored in the log memory unit.例文帳に追加

制御部は、監視端末が出力する障害探索指令に応じて、ダミー信号送信部の試験用光信号を出力し、信号モニタ部で試験用光信号の受信を確認することでログ記憶部に記憶されている警報情報を検証する。 - 特許庁

To aim at the density increase and cost reduction of a semiconductor testing device to be used for testing a semiconductor chip having a spherical connecting terminal and a semiconductor device (in general terms as a hereafter referred to semiconductor device).例文帳に追加

本発明は球状接続端子を有する半導体チップ及び半導体装置（以下、総称して半導体装置という）に対し試験を行なう際に用いる半導体試験装置に関し、高密度化及び低コスト化を共に実現することを課題とする。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device allowing suppression of influence imparted to an inspection result of a function of an internal circuit even if variation is present in a resistance value of an internal resistance while sharing a testing terminal with another terminal.例文帳に追加

本発明は、テスト用端子を他の端子と共用しつつ、内部抵抗の抵抗値にばらつきがあっても、内部回路の機能の検査結果に与える影響を抑えることができる、半導体装置の提供を目的とする。 - 特許庁