「testing terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor integrated circuit is constituted by combining circuit blocks 102 each of which includes a basic circuit 30 of a flip-flop and a selector circuit 32 exclusively connecting an input of an actually operating clock and an input of a scan testing clock to an output terminal and in which a circuit having an output terminal of the selector circuit 32 connected to a clock terminal CKin of the basic circuit 30 can not be divided.例文帳に追加

フリップフロップの基本回路３０と、実働クロックの入力とスキャンテスト用クロックの入力とを排他的に出力端子に接続するセレクタ回路３２とを含み、基本回路３０のクロック端子ＣＫｉｎにセレクタ回路３２の出力端子が接続されている回路を分割できない回路ブロック１０２として、回路ブロック１０２を組み合わせることによって半導体集積回路を構成する。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

In the case of testing the functions of an IP core 32, test signals outputted by a signal generator 44 are supplied for a normal signal input terminal of the IP core 32 via a selector 40, and its output signals are transferred to a signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２の機能試験を行う場合は、信号発生器４４が出力する試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２の通常信号入力端子に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

To enable the operation timing in connection to inside to be guaranteed without addition of an extra terminal and function to a macro cell itself by enabling the testing precise timing relation between a clock signal and an input/output data signal or the other control signal to be performed.例文帳に追加

マクロセル自身に余分な端子や機能を付加することなくクロック信号と入出力データ信号や他の制御信号との正確なタイミング関係をテスト可能とすることにより、内部との接続における動作タイミングの保証可能とする。 - 特許庁

In testing whether or not all the taps of variable resistors 11, 12 of an analog circuit 9 are normal, a DC signal with a prescribed voltage is received from a terminal Vin, and a voltage Vout is observed while the taps are sequentially switched by using volume setting data.例文帳に追加

アナログ回路９の可変抵抗器１１、１２の全てのタップが正常であるか否かをテストするとき、Ｖｉｎから所定電圧のＤＣ信号を入力し、ボリューム設定データでタップを順次切り換えながら、Ｖｏｕｔを観察する。 - 特許庁

Output of the write data DO 1 to 8 to the flash memory 1 is performed by using the input/output terminals IO 1 to 8 of the testing equipment 2, and the completion signal BUSY outputted from the flash memory 1 is monitored at the input/output terminal IO 9.例文帳に追加

フラッシュメモリ１に対する書込みデータＤＯ１〜８の出力は、試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜８を使って行い、入出力端子ＩＯ９ではフラッシュメモリ１から出力される完了信号ＢＵＳＹを監視する。 - 特許庁

To obtain testing equipment for a radio terminal and a base station which can realize improvement in the accuracy of reproduction of a radio environment in a real field, by enabling reduction of an error in the direction of arrival of a path and increase of the total electric power of the path being reproduced.例文帳に追加

パス到来方向の誤差の減少および再現するパスの総電力の増大を可能とすることにより、実フィールドにおける電波環境の再現精度向上を実現可能な、無線端末および基地局用の試験装置を得ること。 - 特許庁

Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.例文帳に追加

そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁

When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.例文帳に追加

建築現場の担当者が検収用端末装置５の入力部５２を操作してＩＣタグの読み取り操作を行うと、制御部５１は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたＩＣタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

In the case of the display test, a testing operator makes a voltage to be outputted to a terminal of the remote monitoring controller TC using the voltage output device 2, and confirms the voltage state of the terminal of the remote monitoring controller TC displayed on the master station simulator TCT as the voice output and display by the voltage output device 2 being a trigger.例文帳に追加

表示試験の際に、試験作業員は、電圧出力装置２を用いて遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を出力し、電圧出力装置２による音声出力及び表示をトリガとして、親局模擬装置ＴＣＴに表示された、遠隔監視制御装置ＴＣの当該端子の電圧状態を確認する。 - 特許庁

This insert 16 is an insert which is arranged slightly movably on a tray which mounts an electronic component IC to be tested and is transferred in electronic component testing equipment, and equipped with a guide hole 1612 which comes in contact with a ball terminal of the electronic component IC and positions the terminal, and a guide core 161 which is arranged slightly movably to an insert main body.例文帳に追加

被試験電子部品ＩＣを搭載して電子部品試験装置１内を取り廻すトレイＴＳＴに、微動可能に設けられるインサート１６であって、被試験電子部品のボール端子ＨＢに接触してこれを位置決めするガイド孔１６１２を有し、インサート本体に対して微動可能に設けられたガイドコア１６１を有する。 - 特許庁

The system detects states of overcurrent protective means 132a, 132b, ... by a read back device 135 and transmits the states to a control terminal unit 3, stops the testing if the read back device detects interruption of power supplies 133a, 133b, ... by the overcurrent protective means 132a, 132b, ..., and displays a position of a power supply interrupted by the control terminal unit 3.例文帳に追加

リードバック装置１３５により過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・の状態を検出して制御端末装置３に送信し、リードバック装置が過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・による電源１３３ａ，１３３ｂ，・・・の遮断を検出したとき試験を停止し、制御端末装置３に遮断された電源の位置を表示する。 - 特許庁

The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁

Communication which is established based on data communication between a mobile terminal and a mobile electric communication network is audited passively, so that precisely accurate correction can be realized, and an information signal being the base of the communication is at least partially sampled and evaluated by a testing device, and it is proposed that a reference frequency unit integrated into the testing device should be corrected based on this evaluation.例文帳に追加

きわめて正確な較正を実現するために、本発明は、移動端末と移動電気通信網との間のデータ通信に基づいて確立された通信を受動的に聴取し、通信の基礎となる情報信号を、試験装置によって少なくとも部分的にサンプリングして評価し、この評価に基づいて、試験装置に組み込まれた基準周波数ユニットを較正することを提案する。 - 特許庁

An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加

ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加

被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁

When the testing device 100 transmits the signal to be measured, a mobile terminal RLC control part 109 notifies an RLC part 152 of the transmission stop of a signaling signal, and on the basis of the notice, the RLC part 152 stops transmitting the signaling signal and transmits only the signal to be measured.例文帳に追加

被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁

The measuring electrode 19d is positioned between the insertion hole on the housing 1 and each of a plurality of clip pieces in the terminal fitting 19, so that end of the core wire 35 in the lead 33 can enter therein, but the measuring electrode 19d is made to contact the end of a continuity testing conductor.例文帳に追加

測定用電極１９ｄを、ケース１に設けた挿入孔２７と端子金具１９の複数の挟持片との間に、リード線３３の芯線３５の端部の進入を許容するが、導通試験用導体の端部と接触するように配置する。 - 特許庁

To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加

更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.例文帳に追加

半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁

An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加

車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁

To provide a voice quality evaluation system capable of excluding a connection from a non-permitted terminal device without changing specifications of conventional devices or networks, and performing voice quality testing without changing the network configuration or setting of an audio communication system.例文帳に追加

従来からある装置やネットワークの仕様を変更することをなく許可されない端末装置からの接続を排除し、かつ音声通信システムのネットワークの構成や設定を変更することなく通話音質試験を行うことが可能な通話音質評価システムを提供する。 - 特許庁

In the pitch converting jig for connecting a semiconductor or a socket having narrow-pitch contacts to a terminal of the testing device having wider-pitch contacts, the conversion from the narrow pitch into an enlarged pitch is performed by connecting with flexible electric wires.例文帳に追加

接点のピッチが狭小な半導体又はソケットを、接点のピッチがより広い試験装置の端末に接続するためのピッチ変換治具において、狭小なピッチから拡大されたピッチへの変換が、可撓性を有する電線で接続することにより行われることを特徴とするピッチ変換治具。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁

To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.例文帳に追加

半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁

Then a terminal 21 for testing as well as grounding and the movable conductor 13 at the side of grounding contact is connected electrically with a secondary flexible conductor 22 within the insulated barrier 20.例文帳に追加

そして、接地兼試験用端子２１がその一端を絶縁バリア２０内に延出させ、かつ、他端を絶縁性樹脂５外に延出させるように配設され、接地兼試験用端子２１と接地接点側可動導体１３とが絶縁バリア２０内で第２のフレキシブル導体２２により電気的に接続されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing equipment with a contact for electrically connecting to a terminal part of an electronic device, and a manufacturing method capable of arranging with a small pitch by improving work precision and lessening plastic deformation and capable of mass production at low cost.例文帳に追加

本発明は、電子装置の端子部と電気的に接続されるコンタクトを備えた半導体検査装置及びコンタクトの製造方法に関し、加工精度を向上させて狭いピッチで配置することができ、かつ塑性変形の小さくして、低コストで大量生産することを課題とする。 - 特許庁

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Ｖｍを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔＶを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a voltage detecting device which is used for checking or evaluating a property in a process of charging or discharging a sample such as a battery, a capacitor or the like, and measures a terminal voltage of the sample, and also to provide a testing apparatus equipped with the two or more voltage detecting devices, so that terminal voltages of all samples are detected precisely and inexpensively in charging and discharging processes.例文帳に追加

本発明は、電池、コンデンサ等の試料の充電または放電の過程における特性の確認あるいは評価のために、その試料の端子電圧を計測する電圧検出装置と、その電圧検出装置が複数個備えられて構成された試験装置とに関し、充放電の過程における全ての試料の端子電圧を安価に精度よく検出できることを目的とする。 - 特許庁

A server computer 110 is provided with a receiving means receiving information produced in the testing institution 3 from the terminal computer 110, a storage means registering the received information from the client 2 of the test in a perusal incapable state, and a disclosure means storing the information in a perusal capable state from the client 2 of the test based on a disclosure instruction of the terminal computer 31 specifying the information.例文帳に追加

サーバコンピュータ１１０は、端末コンピュータ３１から、試験機関３で発生する情報を受信する受信手段と、受信した情報を試験の依頼者２から閲覧不可能な状態で登録する記憶手段と、情報を指定した端末コンピュータ３１からの開示指令に基き、この情報を試験の依頼者２から閲覧可能な状態で記憶手段に格納する開示手段を備える。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.例文帳に追加

複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁

The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.例文帳に追加

本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁

Therefore, it is possible to determine whether the four memory cells are correct or not and four output buffers 4 corresponding to the data input/output terminals DQ0 to DQ3 are correct or not, only by connecting the data input/output terminal DQ0 to a tester, thereby reducing the testing cost.例文帳に追加

したがって、データ入出力端子ＤＱ０のみをテスタに接続した状態で、４つのメモリセルが正常か否かを判定するとともに、データ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱ３に対応する４つの出力バッファ４が正常か否かを判定することができ、テストコストの低減化を図ることができる。 - 特許庁

A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.例文帳に追加

２００μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁

On the front side of the flowing water detecting valve 4, a housing box 13 housing a timer part 5 and a terminal board part 7 are provided, On a side of the detecting valve 4 a valve cap 9 and a handle 11 of a control valve 10 are arranged and on the other side of the detecting valve 4 a discharge water testing valve part 12 is arranged.例文帳に追加

流水検知弁本体４の正面側に、タイマー部５と端子台部７を収納した収納ボックス１３を、流水検知弁本体４の一側面側に弁キャップ９及び制御弁１０のハンドル１１を、流水検知弁本体４の他側面側に排水試験弁部１２をそれぞれ配置する。 - 特許庁

The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.例文帳に追加

予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁

In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁

The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.例文帳に追加

運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁