「waveform simulation」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

In generating a simulation model expressed in a description form by variable resistance and load capacity, such a method is employed that values of the variable resistance and load capacity are obtained based on a change in current waveform flowing between power supply terminals of a semiconductor integrated circuit, and a simulation model can be made extremely easily and accurately.例文帳に追加

可変抵抗と負荷容量による記述形式で表現されたシミュレーションモデルの作成において、半導体集積回路の電源端子間に流れる電流波形の変化に基づいて可変抵抗と負荷容量の値を求めるという方法を用いることにより、非常に容易かつ正確にシミュレーションモデルを作成することができる。 - 特許庁

To correct certain specific IBIS data for a power supply voltage V0 into desired IBIS data for a power supply voltage V1 with higher precision than a conventional manner in an IBIS correction tool which can be integrated into a waveform simulation device so as to be used.例文帳に追加

例えば波形シミュレーション装置に組み込んで使用することのできるＩＢＩＳ補正ツールであって、ある特定の電源電圧Ｖ０用のＩＢＩＳデータを、従来よりも高い精度で、所望の電源電圧Ｖ１用のＩＢＩＳデータに補正する。 - 特許庁

To make it possible to evaluate a synchronization correction function of a digital circuit by artificially generating a sampling value reflecting a shift of an analog waveform sampling point caused by frequency variation of a synchronization signal generation device in logic simulation.例文帳に追加

論理シミュレーションにおいて、同期信号発生器の周波数偏差によって起きるアナログ波形のサンプル位置のずれを反映したサンプリング値を擬似的に発生させ、デジタル回路の同期補正機能の検証を可能にすることを課題とする。 - 特許庁

In the permittivity measuring method, an electromagnetic field simulation is executed from each shape data of the sample 1 and a cavity resonator 2 and the waveform data of an input signal 3 to create the permittivity conversion curve in a step S1.例文帳に追加

本発明の誘電率測定方法では、ステップＳ１において、試料１と空洞共振器２の各々の形状データ、及び入力信号３の波形データを基に、電磁界シミュレーションを実行して誘電率換算曲線を作成する。 - 特許庁

This device is equipped with a wire model information extraction part 4 which generates wire model information D4 for each wire of the circuit, a circuit simulation part 5 which analyzes the waveform propagation characteristics for each piece of the wire model information D4 extracted by the extraction part 4, a spectrum characteristic information calculation part 6, a linear simulation part 7, and an S-parameter information calculation part 8.例文帳に追加

回路の各配線ごとの配線モデル情報Ｄ４を生成する配線モデル情報抽出部４と、配線モデル情報抽出部４が抽出した各配線モデル情報Ｄ４ごとに波形伝播特性を解析する回路シミュレーション部５，スペクトラム特性情報算出部６，線形シミュレーション部７およびＳパラメータ情報算出部８とを備えている。 - 特許庁

For synthesizing a circuit on the basis of circuit design data (A) generated by the use of the hardware descriptive language from the data (A) and a command file D for specifying timing, an automatic conversion processing unit 10 automatically analyzes waveform data (C) obtained as a simulation result of a function simulation executed for the data (A) (step S3) to automatically generate the file D.例文帳に追加

ハードウェア記述言語を用いて作成された回路設計データＡとタイミング指定のコマンドファイルＤとから回路設計データＡに基づく回路の合成を行うに際し、回路設計データＡに対して実行した機能シミュレーション（ステップＳ３）のシミュレーション結果として得られる波形データＣを自動変換処理部１０が自動的に解析しコマンドファイルＤを自動生成する。 - 特許庁

The CPU 1 finds an electric power source current waveform, by a simulation operation based on a design data of the analysis-object semiconductor chip input from a data take-in part 3, estimates an internal impedance of the semiconductor chip 80, based on the power source current waveform, and analyzes electromagnetic noise emission including the substrate 7 mounted with the semiconductor chip 80, based on the internal impedance.例文帳に追加

このＣＰＵ１は、データ取込部３から入力された解析対象の半導体チップの設計データに基づく模擬動作によって電源電流波形を求め、この電源電流波形から半導体チップ８０の内部インピーダンスを推定し、この内部インピーダンスに基づいて半導体チップ８０が実装される基板７を含む電磁ノイズ放射の解析を行う。 - 特許庁

Based on the error between the circuit simulation result 1012 and cell delay information 1013 of gate level calculated by the approximate function thereof, delay error correction information 1015 depending on the input signal waveform rounding and output load capacity of a cell is calculated.例文帳に追加

回路シミュレーション結果１０１２とその近似関数により算出したゲートレベルのセル遅延情報１０１３との誤差を元にして、セルの入力信号波形なまりと出力負荷容量とに依存した遅延誤差補正情報１０１５を算出しておく。 - 特許庁

To secure logic simulation precision by previously detecting a decrease in delay verification information due to an increase in delay due to waveform rounding and malfunction of a hardware macro under the influence of an output load when an output signal is fed back to the inside of the hardware macro itself.例文帳に追加

波形鈍りに起因する遅延増加による遅延検証精度の低下と、出力信号がハードマクロ自身の内部へフィードバックする場合の出力負荷の影響によるハードマクロの誤動作とを事前に検出し、論理シミュレーション精度を確保する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SIMULATING AND ANALYZING VISCOELASTIC FLUID FLOWING THROUGH AND EJECTING FROM CHANNEL HAVING BOUNDARY BETWEEN FIRST FLUID FLOWING THROUGH CHANNEL AND SECOND FLUID, AND MEDIUM OR WAVEFORM CONTAINING SET OF INSTRUCTIONS FOR DIRECTING SIMULATION AND ANALYSIS TO INSTRUCTION-EXECUTING DEVICE例文帳に追加

チャンネルを通る第１の流体および第２の流体との境界を有するチャンネルを通って流れ、そこから射出される粘弾性流体のシミュレーションおよび分析を行なう方法、装置、および同シミュレーションおよび分析を命令実行装置に指示するための命令の組を含む媒体または波形 - 特許庁

This device comprises a node judgment waveform number reducing step S4 for reducing the number of waveforms used as an input for an electric power consumption library F4 by deleting input signal waveforms, when a redundant input and consuming power are almost not present, based on the results of an executed logic simulation step S3.例文帳に追加

実行した論理シミュレーションステップＳ３の結果から冗長な入力や消費する電力が殆どない場合の入力信号波形を削除し消費電力ライブラリＦ４の入力とする波形数の低減を行うノード判定波形数低減ステップＳ４を有する。 - 特許庁

This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.例文帳に追加

複数ピンのピングループを１つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁

During circuit designing of the analog circuit, circuit simulation using the evaluation input waveform of the analog circuit specified by the evaluation circuit information and the model parameter of the circuit element is carried on the analog circuit specified by the circuit connection information for optimizing a circuit element constant.例文帳に追加

アナログ回路の回路設計を行う時は、回路接続情報によって規定されるアナログ回路に対し、評価回路情報で特定されるアナログ回路の評価用入力波形と回路素子のモデルパラメータとを用いた回路シミュレーションを行って回路素子定数を最適化する。 - 特許庁

The circuit design information includes circuit connection information 2 defining connection of a circuit element constituting the predetermined analog circuit, a model parameter 5 of the circuit element used for circuit simulation, and evaluation information 6 defining an evaluation input waveform of the analog circuit by circuit description, for example.例文帳に追加

回路設計情報は、所定のアナログ回路を構成する回路素子の接続を定義する回路接続情報（２）、回路シミュレーションに利用される回路素子のモデルパラメータ（５）、及びアナログ回路の評価用入力波形を例えば回路記述によって定義する評価回路情報（６）を含む。 - 特許庁

To provide an abnormality diagnostic system and method in which an abnormality can be detected easily by determining a mother wavelet which can easily extract the features of an abnormality to be diagnosed automatically and subjecting the measured waveform of the object or the simulation results to wavelet conversion using the determined mother wavelet.例文帳に追加

診断対象の異常の特徴を抽出し易いマザーウェーブレットを自動的に決定し、決定されたマザーウェーブレットを用いて診断対象の計測波形やシミュレーション結果にウェーブレット変換を行なうことにより、異常を容易に検出できる異常診断装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁

A simulation apparatus includes an aggregation energy calculating section for calculating aggregation energy of the material, an internal energy difference calculating section for calculating the difference in internal energy of the material before and after the material is irradiated with the pulse laser having a predetermined waveform and an intensity, and a determination section for determining whether the material can be decomposed by irradiation with the pulse laser, based on the difference in the internal energy and the aggregation energy.例文帳に追加

シミュレーション装置は、物質の凝集エネルギーを計算する凝集エネルギー計算部と、物質に所定の波形と強度を有するパルスレーザを照射する前後における物質の内部エネルギーの差を計算する内部エネルギー差計算部と、内部エネルギーの差と凝集エネルギーに基づいて、パルスレーザの照射による物質の分解の可否を判定する判定部と、を備えている。 - 特許庁

A device characteristic parameter of each length measurement SEM is measured beforehand, a cross-sectional shape of a dimension measurement object is estimated in an MBL (model base library matching) system, a signal waveform is generated and dimension measurement is performed by SEM simulation with the estimated cross-sectional shape and the device characteristic parameter as input, and the difference of dimension measurement results is registered as the machine difference.例文帳に追加

予め，各測長ＳＥＭの装置特性パラメタを計測しておき，ＭＢＬ（モデル・ベース・ライブラリマッチング）システムにて寸法計対象の断面形状を推定し，前記推定した断面形状と前記装置特性パラメタを入力としてＳＥＭシミュレーションにより信号波形を生成して寸法計測を行って，寸法計測結果の差を機差として登録しておく。 - 特許庁

The control model 19 holds a control model in a discrete time system, on the basis of the response characteristics to all the preliminarily measured inputs of a scanner unit 11 as the control object and outputs the difference between a mirror position signal as the drive result of simulation based on the drive waveform signal inputted from the inverse arithmetic control model 18 and the desired mirror position change signal to the inverse arithmetic control model 18.例文帳に追加

制御モデル１９は制御対象のスキャナユニット１１の予め測定した全ての入力に対する応答特性に基づいて離散時間系での制御モデルを保持し、逆演算制御モデル１８から入力される駆動波形信号によるシミュレーションの駆動結果としてのミラー位置信号と、所望のミラー位置変化信号との差分を逆演算制御モデル１８に出力する。 - 特許庁