「x ray diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.例文帳に追加

Ｘ線回折法による解析結果、回折角２θ＝６〜１０°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁

An example of a graph of diffraction intensity by an X-ray diffraction method of the obtained ITO film (as shown), and a strong peak corresponding to the (400) plane of ITO is observed.例文帳に追加

選択図には得られたＩＴＯ膜のＸ線回折法による回折強度のグラフの一例を示し、ＩＴＯの（４００）面に対応する強いピークが観測されている。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.例文帳に追加

汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method capable of precisely and rapidly analyzing crystal structure of a fiber cord for tires by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折によるタイヤ用繊維コードの結晶構造解析を精度良く且つ迅速に行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満であることがより好ましい。 - 特許庁

This optical lever method allows the Young's modulus to be measured with the laser beam without deforming the measuring object because measurement is performed with X-rays in the in-plane X-ray diffraction method.例文帳に追加

光てこ方式ではレーザ光によって、in-planeＸ線回折法ではＸ線によって測定を行うため被測定物を変形させることなくヤング率Εを測定することができる。 - 特許庁

Next, by an in-plane method as one type of the X-ray diffraction method, the lattice surface interval of the horizontal surface direction of the thin film is measured, and distortion ε is determined.例文帳に追加

次に、Ｘ線回折法の一種であるin-plane法により、薄膜の水平面方向の格子面間隔を測定し、ひずみεを求める。 - 特許庁

FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER, FINE SAMPLE MOUNTING FIXTURE, X-RAY DIFFRACTION DEVICE, METHOD FOR FORMING FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER AND FINE SAMPLE MOUNTING METHOD例文帳に追加

微小試料挿入容器、微小試料装着治具、Ｘ線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、および微小試料装着方法 - 特許庁

Related to the lithium manganate, a 1/4 value width of (440) plane peak containing Kα1 ray and Kα2 ray which appears near 2θ=64° at powder X-ray diffraction method is at least 2.5 times of 3/4 value width of peak.例文帳に追加

マンガン酸リチウムが、粉末Ｘ線回折法において２θ＝６４°近傍に現れる、Ｋα１線とＫα２線とを含む（４４０）面ピークの１／４値幅が、ピークの３／４値幅の２．５倍以上である。 - 特許庁

In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからＸ線を試料に照射し、試料からの回折されたＸ線を捕捉して計数するために、Ｘ線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁

This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.例文帳に追加

この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のＸ線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の６％以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁

To provide a method of measuring a crystallite diameter of a thin film material for easily measuring the crystallite diameter of the thin film material by X-ray diffraction measurement with high precision, a measuring objective sample for performing the X-ray diffraction measurement of the thin film, and a method of manufacturing the measuring objective sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により薄膜材料の結晶子径を簡易且つ高精度に測定する薄膜材料の結晶子径測定方法、薄膜に対するＸ線回折測定を行うための測定対象試料、及びこの測定対象試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

Further, the above oxide has a half-value width at a diffraction peak appearing at 15°<2θ<20° and 30°<2θ<45° of 5°(2θ) or more in an X-ray diffraction method using CuKα beams.例文帳に追加

また、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、１５°＜２θ＜２０°および３０°＜２θ＜４５°に現れる回折ピークの半値幅が５°（２θ）以上である上記酸化物を用いる。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of coping with both X-ray diffraction measurements of a transmission method or a reflection method, holding a plurality of samples, and arranging an optional portion of each held sample on an X-ray irradiation position.例文帳に追加

透過法と反射法、いずれのＸ線回折測定にも対応可能で、複数の試料を保持でき、しかも保持した各試料の任意の部位をＸ線照射位置へ配置することができる試料保持装置を提供する。 - 特許庁

To provide a micro-portion X-ray irradiation device and its method of an X-ray diffraction device having an unchanged irradiation field even when a sample is tilted at a tilt angle of 15-30 degrees with respect to an incident beam and subjected to in-plane rotation.例文帳に追加

試料を入射ビームに対し１５〜３０度の傾斜角度で傾けて面内回転しても照射野の変化のないＸ線回折装置の微小部Ｘ線照射装置とその方法を提供する。 - 特許庁

To improve analysis efficiency when X-ray diffraction quantitative analysis of many samples is performed using a base standard absorption correction method.例文帳に追加

多数の試料について基底標準吸収補正法を用いたＸ線回折定量分析を行う場合の分析効率を向上させる。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うＸ線回折法及びＸ線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

For the ferrite with cadmium chloride structure (LiFeO_2 with CdCl_2 structure), the integrated intensity ratio of the diffraction peak of (003) against the diffraction peak of (104), obtained by the powder method of X ray diffraction, is 2.5 or more, or the half value width of the diffraction peak of (003) is 0.45 of less.例文帳に追加

この塩化カドミウム型フェライト（ＣｄＣｌ_2 型ＬｉＦｅＯ_2 ）は、粉末Ｘ線回折法により得られる、（１０４）の回折ピークに対する（００３）の回折ピークの積分強度比が２．５以上、または（００３）の回折ピークの半値幅が０．４５以下となっている。 - 特許庁

To measure the thickness of a thin film by an X-ray diffraction method by performing the parameter fitting of a theoretical rocking curve of diffracted X-ray intensity considering orientation to a measured rocking curve, even when film thickness measurement by an X-ray reflectivity method can not be performed because of a reason as existence of a contiguous layer having an approximate density or the like.例文帳に追加

密度が近い隣接層が存在するなどの理由でＸ線反射率法による膜厚測定ができない場合でも，配向性を考慮した回折Ｘ線強度の理論ロッキングカーブを測定ロッキングカーブにパラメータフィッティングすることで，Ｘ線回折法によって薄膜の膜厚を測定可能にする。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging device and an imaging method capable of performing observation with time in a short measuring time at the same density resolution and in the same dynamic range as those for a diffraction contrast X-ray imaging method, and observing a sample with high sensitivity even if the intensity of an incident X-ray varies with time.例文帳に追加

屈折コントラストＸ線撮像法と同じ密度分解能及びダイナミックレンジで、測定時間が短く、経時的な観察が可能で、かつ入射Ｘ線強度が時間的に変動している場合でも高い感度で試料を観察できるＸ線撮像装置及び撮像方法を提供する。 - 特許庁

The graphitized carbon fibers have a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加

黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁

The spatical period d_1 of the first structure 21 and the spatical period d_2 of the second structure 24 are measured by an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法により第１の周期構造２１の空間的周期ｄ_１、第２の周期構造２４の空間的周期ｄ_２をそれぞれ測定する。 - 特許庁

To provide an Si monochromator having excellent cooling performance and X-ray diffraction characteristics which can be applied even to a large-sized synchrotron radiation facility, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

優れた冷却性能およびＸ線回折特性を有し、大型の放射光設備でも適用可能なＳｉモノクロメータおよびその製造方法を得る。 - 特許庁

In the analysis method, the governing factor of the spread shape of the peak to be measured is decided in the crystal structure evaluation through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を判定する解析手法である。 - 特許庁

To provide a preparation method of a protein crystal sample for simply applying to an X-ray diffraction experiment without damaging a protein crystal.例文帳に追加

タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、Ｘ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

The graphite powder having a spacing of (002) planes in c axis determined by a lattice constant precision measuring method from X-ray diffraction pattern of 3.368 Å or less is preferably used.例文帳に追加

黒鉛粉末は、Ｘ線回折図から格子定数精密測定法で求めたｃ軸(002) 面格子間隔の値が3.368 Å以下であるのが好ましい。 - 特許庁

To provide an instrument and a method of high precision and high sensitivity for measuring X-ray diffraction having 0.1 μm order of spatial resolution.例文帳に追加

０．１μｍオーダの空間分解能を有する高精度・高感度なＸ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法を提供すること。 - 特許庁

At this time, the maximum value of the accumulation degree of each crystal plane in the iron base alloy sheet 2 measured by an X-ray diffraction method is preferably controlled to 20%.例文帳に追加

このとき、Ｘ線回折法によって測定される鉄基合金板２の各結晶面の集積度の最大値が２０％であることが好ましい。 - 特許庁

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask.例文帳に追加

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

A first arm 20 and a second arm 22 are cooperatively rotated at the same angular velocity in mutually opposite directions at the time of X-ray diffraction measuring due to a concentration method.例文帳に追加

集中法によるＸ線回折測定の際には，第１アーム２０と第２アーム２２を互いに逆方向に，同じ角速度で連動回転する。 - 特許庁

To provide a protein crystallization method that affords a crystal of good qualities giving a high resolution when photographed using X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折を用いて撮影した時の解像度が高い良質な結晶を得ることができるタンパク質の結晶化方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.例文帳に追加

タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁

This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁

When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.例文帳に追加

ＧａＮ系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、Ｘ線回折法による回折ピークの現れる回折角度（２θ）が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が４０．２００°〜４０．４００°であるＮｄＧａＯ_3を用いるようにした。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）２．０以下、平均粒子径５〜４０μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が４０〜３００μmである複合粒子。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加

ＴｉＣ系化合物の含有は、得られたＴｉ−Ｃ系材料のＸ線回折法による、２θ＝36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがＴｉＣにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁

As compared with a method for measuring the diffraction line intensity of asbestos by scanning the light detection slit 5 and the X-ray detector 8, a measuring time can be shortened largely.例文帳に追加

受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

An anode active material of the anode 22 contains hardly graphitizable carbon with an interval of (002) face of ≥0.37 nm as measured in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

負極２２の負極活物質は、Ｘ線回折法により測定される（００２）面の面間隔が０．３７ｎｍ以上である難黒鉛化性炭素を含有している。 - 特許庁

To provide a sample fixing method and a sample fixing implement for acquiring X-ray diffraction patterns of foil-like samples without being affected by a matter except the foil-like samples.例文帳に追加

箔状サンプル以外の物による影響を受けること無く、箔状サンプルのＸ線回折パターンを得る試料固定方法および試料固定具を提供する。 - 特許庁

Further, the stainless steel wire has a texture in which the ratio of a martensitic phase induced by wire drawing is ≤15 vol.%, and the balance austenitic phase, and the diffraction intensity of the austenitic phase by an X-ray diffraction method in the longitudinal direction satisfies both of I(200)/I(111)≥2.0 and I(220)/I(111)≥3.0.例文帳に追加

また、線引き加工によって誘起されるマルテンサイト相が15体積％以下、残部がオーステナイト相からなると共に、鋼線長手方向のX線回折法によるオーステナイト相の回折強度がI(200)/I(111)≧2.0、及びI(220)/I(111)≧3.0の双方を満たす集合組織を有する。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、Ｘ線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁