「yield test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory device capable of improving a test efficiency and a production yield.例文帳に追加

テスト効率と製品歩留まり向上ができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To improve a yield in a method of stress test of a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発半導体記憶装置のストレス検査方法において歩留向上を目的とする。 - 特許庁

The solid wire for arc welding has a (0.2% yield strength)/(0.05% yield strength) ratio of 1.15 to 1.40 in a tensile test.例文帳に追加

アーク溶接用ソリッドワイヤは、引張り試験における（０．２％降伏強度）／（０．０５％降伏強度）比が１．１５乃至１．４０である。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test yield to a semiconductor before a design layout.例文帳に追加

設計レイアウト前に半導体製品に対するテスト歩留まりを予測する方法を提供する。 - 特許庁

ANALYZING METHOD FOR CONSOLIDATION YIELD STRENGTH AND ALLOWABLE STRESS OF GROUND USING SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の圧密降伏応力解析法および許容応力度解析法 - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device permitting to improve a yield and a relief rate in wafer test.例文帳に追加

ウェーハテストの歩留まり、救済率向上を図ることができる半導体記憶装置を得る。 - 特許庁

To provide a chip which can yield a large breaking-load value and a high toughness after break in a bending test.例文帳に追加

曲げ試験での高い破壊荷重値と破壊後の高靭性を得られるチップを提供する。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, selections of the library elements can be changed so as to allow the test yield to be optimized.例文帳に追加

従って、この方法を用いて、テスト歩留まりを最適化するようにライブラリ・エレメント選択を変更できる。 - 特許庁

To eliminate factors of increase in test man-hours and a test time against dispersion in manufacturing conditions, a power supply voltage, and an operating temperature and to enhance the yield.例文帳に追加

製造条件、電源電圧値、使用温度のばらつきに対し、テスト工数、テスト時間の増加要因を除去するとともに歩留まりを向上する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method which reduces the test time for the terminal characteristics of a semiconductor device and prevents a decrease in yield.例文帳に追加

半導体素子の端子特性の試験時間を短縮するとともに、歩留まりの低下を防ぐ半導体試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A yield stress estimating part 140 calculates the theoretical values of the load applied to the test piece with the displacement of the test piece with respect to the different coefficients of friction, determines the theoretical value becoming minimum in the error with the test result of the respective calculated theoretical values, and calculates the yield stress on the basis of the determined theoretical value and the test result.例文帳に追加

そして、降伏応力推定部１４０が、試験片に加える荷重と変位との理論値を異なる摩擦係数毎に算出し、算出した各理論値のうち、試験結果との誤差が最小となる理論値を判定するとともに、判定した理論値と試験結果とを基にして降伏応力を算出する。 - 特許庁

To contribute to improvement of yield of products and reliability by enabling minute adjustment of timing of activation of wordlines of first and second ports during a test, by enabling a test in the worst case, and by improving accuracy of a test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線の活性化のタイミングの微調整を可能とし、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度を向上し、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To omit a high temperature tensile test by estimating a stress-strain relation ranging from a room temperature region to a high temperature region from yield stress and tensile strength obtained by a tensile test at a room temperature or the yield stress or yield strength and tensile strength at the room temperature entered in the mill sheet of a steel material.例文帳に追加

室温での引張試験で得られる降伏応力と引張強度から、又は、鋼材のミルシートに記載される室温での降伏応力若しくは耐力と引張強度から、室温域から高温域に至るまでの応力−歪み関係を予測し、高温引張試験を省略する。 - 特許庁

Consequently, the yield is improved and the need for an expensive test signal source is eliminated to lower the cost.例文帳に追加

これによって、歩留りを向上し、また高価なテスト信号源が不要になり、低コスト化を図ることができる。 - 特許庁

The yield can be improved by performing a threshold value test of a memory cell after batch stress applying tests of a plurality of kinds.例文帳に追加

複数種類の一括ストレス印加試験後にメモリセルの閾値検査を行うことで歩留向上が図れる。 - 特許庁

To provide a test method of an integrated circuit device for improving SPQL, reliability performance, and yield performance.例文帳に追加

ＳＰＱＬ、信頼性性能、歩留まり性能を向上させる集積回路デバイスの試験技法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING IC DEVICE TEST IMPROVED IN SPQL, RELIABILITY, AND YIELD PERFORMANCE例文帳に追加

ＳＰＱＬ、信頼性、および歩留まり性能を向上させたＩＣデバイス試験の実施のための方法および装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test of a high frequency operation characteristic in a wafer level can be performed and test yield in a package level can be improved.例文帳に追加

ウェーハレベルにおける高周波動作特性のテストが可能であり、パッケージレベルにおける検査歩留まりを向上させることができる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an interlocking type leakage test device which reduces production of defective products and improves the yield in manufacture.例文帳に追加

不良品の発生を低減して製造歩留まりの向上を図ることができる連動型リークテスト装置を提供する。 - 特許庁

The polyether copolymer has a yield stress of 1.0-8.0 MPa measured by a tensile test at 20°C.例文帳に追加

温度２０℃での引張試験における降伏応力が、１．０〜８．０ＭＰａであることを特徴とするポリエーテル共重合体。 - 特許庁

The method can further trade off an increase in die size to the usage of the library elements having a high test yield.例文帳に追加

この方法により更に、高いテスト歩留まりを有するライブラリ・エレメントの使用に対してダイサイズの増大をトレードオフできる。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING CONSOLIDATION YIELD STRENGTH, DEFORMATION, STRENGTH, AND ALLOWABLE BEARING POWER OR GROUND USING SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の圧密降伏応力、地盤の変形、地盤の強度および地盤の許容地耐力解析法 - 特許庁

To provide a low yield ratio and high strength steel sheet whose elongation in a tensile test and hole expansibility are made compatible with each other, and to provide its production method.例文帳に追加

引張試験における伸びと穴拡げ性の両立した低降伏比高強度鋼板とその製造方法の提供。 - 特許庁

To reduce the load of a tester by simplifying and automating a test time in the case of confirming a yield of an SVP board.例文帳に追加

ＳＶＰボードの歩留まりの確認を行う場合の試験時間を簡略化・自動化し、試験者の負荷を軽減させること。 - 特許庁

To provide a sampling method of a test sample of the weld zone between billets without interrupting continuous rolling and without lowering the yield of products.例文帳に追加

連続圧延を中断することなく、かつ製品歩留を低下させないでビレット溶接部の試験用サンプルを採取する。 - 特許庁

Further, a parameter estimating part 150 calculates the relation between the stress and strain of the test piece on the basis of the elastic modulus and the yield stress.例文帳に追加

また、パラメータ推定部１５０が、弾性率および降伏応力に基づいて試験片の応力とひずみとの関係を算出する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage device improving yield by a test mode for switchably setting the number of allowable defective bits.例文帳に追加

許容不良ビット数を切り換え設定するテストモードにより歩留まり向上を図った不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the accurate electrical measurement of the semiconductor chip can be performed, and the yield drop caused by a test can be prevented.例文帳に追加

これにより、半導体チップの正確な電気測定を行うことができ、テスト起因による歩留まり低下を防止することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a test temp. stably control method whereby in a stabilized temp. environment IC devices are selected to improve the IC device selection yield.例文帳に追加

本発明は、安定した温度環境でＩＣデバイスを選別してＩＣデバイスの選別歩留まりの向上を図る半導体試験システムおよび試験温度安定制御方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A system for analyzing the cause of the fault includes a testing apparatus 20, a yield memory 14, a test result memory 15 and a process controller (CPU) 100.例文帳に追加

不良原因解析システムは、テスト装置２０、歩留まり記憶装置１４、テスト結果記憶装置１５、処理制御装置（ＣＰＵ）１００を含む。 - 特許庁

To perform accurate memory inspection, so as to prevent needless reduction of yield even if failure is caused in a memory test exclusive circuit.例文帳に追加

メモリ・テスト専用回路に故障があっても、正確なメモリ検査を実施することができ、不要な歩留り低下を回避することを目的とする。 - 特許庁

Consequently, this can prevent the occurrence of a failure caused by the execution of a sampling destructive test, that is, deterioration in yield from being brought about.例文帳に追加

これにより、抜き取りで破壊試験を実施することによる不良の発生、つまり歩留りの低下を引き起こすことを防ぐことができる。 - 特許庁

To precisely calculate stress-strain characteristics after a material exceeds yield stress from the displacement-load curve obtained from a three-point bending test.例文帳に追加

３点曲げ試験から得られる変位−荷重曲線から材料が降伏応力を超えた後の応力ひずみ特性を精度よく求めること。 - 特許庁

any personality test designed to yield information about someone's personality on the basis of their unrestricted response to ambiguous objects or situations 例文帳に追加

あいまいな物か状況への彼らの無制限な応答に基づいてだれかの人柄の情報をもたらすように設計されたどんな性格検査 - 日本語WordNet

To improve workability and to improve yield by reducing the intervention of a test worker in measuring and testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置測定試験に際し試験作業者の介入を少なくし、作業性を向上させると共に歩留まりの向上を図ること。 - 特許庁

In comparing edge points on a predicted layout pattern with corresponding points on a design layout pattern, a yield test is first undertaken before movement of the points on the predicted layout pattern to positions of a higher yield.例文帳に追加

予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより改善する位置へ移動させる。 - 特許庁

When comparing the edge points on the expected layout pattern and the corresponding edge points on the designed layout pattern, a yield test is carried out first, and then the point on the expected layout pattern is moved to a higher yield position.例文帳に追加

予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、まず最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより高い位置へ移動させる。 - 特許庁

To provide a printed wiring board manufacturing method capable of raising electric test yield since the generation rate is reduced in an open defect and a short-circuiting defect.例文帳に追加

オープン不良及びショート不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上できるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

The instruments calculate disparity statistics of segments A, B, C, D and E of a 3D image under test to yield a plurality of markers representing these calculated values of disparity.例文帳に追加

被試験３次元イメージのセグメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及びＥの不一致の統計値を計算し、これら不一致計算値を表す複数のマーカを発生する。 - 特許庁

To prevent the deterioration of the yield of a DRAM due to the failure of a memory cell, caused by the variation of the data holding characteristic of the capacitor, after the test upon the completion of the DRAM wafer.例文帳に追加

ＤＲＡＭのウエハ完成時の試験後に、キャパシタのデータ保持特性の変動に起因するメモリセルの不良によるＤＲＡＭの歩留まり低下を防止する。 - 特許庁

To form a TEG (test element group) for improving verification accuracy in verifying the pattern dimension of a semiconductor element and verifying it without deteriorating its production yield.例文帳に追加

半導体素子のパターン寸法を検証する際の検証精度を高め、且つ、その歩留ま りを損なうことなく検証するためのＴＥＧを形成する。 - 特許庁

To provide a probe card for improving yield by preventing the edge part of a probe needle from stepping out from a pad during an operation test of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの動作テスト時に、プローブ針の先端部がパッドから踏み外すことを防止し、歩留まりを向上させるこができるプローブカードの提供。 - 特許庁