The slave unit comprises a test/registration target master unit designation part 3c, a test/registration operation part 3d and a test/registration result display part 3e.例文帳に追加

子機にテスト／登録対象親機指定部３ｃとテスト／登録操作部３ｄとテスト／登録結果表示部３ｅを設ける。 - 特許庁

The top 15 test-takers are certified as keiba meijin (master of horse racing), and those who achieved distinguished results are certified as keiba shihan (grand master of horse racing).発音を聞く 例文帳に追加

成績上位者15名は競馬名人に認定され、中でも成績優秀者は競馬師範に認定される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To test the master logic unit in the data processor more effectively.例文帳に追加

データ処理装置内のマスター論理ユニットのさらに効果的な試験を可能にする。 - 特許庁

To easily and speedily perform a test of communications with a master unit which is not in parentage, from a slave unit.例文帳に追加

子機から親子関係にない親機との間の通信テストを簡単かつ素早く行う。 - 特許庁

The master unit 1, the relaying apparatus 2, and each slave unit 3 are set to a communication test mode.例文帳に追加

親機１と中継機２と各子機３を、通信試験モードに設定する。 - 特許庁

To test a master device with good efficiency unless all slave devices are available.例文帳に追加

全てのスレーブ装置が揃っていなくともマスタ装置の効率の良い試験が行えるようにする。 - 特許庁

The master unit transmits to the slaves a distorted test pattern formed by distorting a standard test pattern by a specified distortion level.例文帳に追加

マスタユニットは、基準テストパターンを所定の歪みレベルで歪ませた歪みテストパターンをスレーブに向けて送信する。 - 特許庁

To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加

差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側，ワーク側の２つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁

The number of the master unit 1 and the slave units 3 capable of executing normal communication in the test communication is stored in cross-reference with the test communication number.例文帳に追加

試験通信において正常に通信できた親機１と子機３の番号を、試験通信番号対応に記憶する。 - 特許庁

The projector 1 as the master gathers enlarged images of divided test patterns from the slave projectors 2 to 4 and puts the gathered images of test patterns and the image of a test pattern that the master projector 1 itself take partial charge of together into an image of one test pattern.例文帳に追加

マスタのプロジェクタ１は、分割されたテストパターンを拡大した画像を、スレーブのプロジェクタ２乃至４から収集し、収集したテストパターンの画像と、マスタのプロジェクタ１自身が担当するテストパターンの画像とを合成して、一つのテストパターンの画像とする。 - 特許庁

In normal test mode, the test controller 100 has top priority, but when the functionality of the master of the master logic unit is tested by the test controller 100, the test controller receives a priority access signal in master test mode so as to allocate the top priority to one master logic unit and the master logic unit accesses the bus to generate a test process request.例文帳に追加

通常の試験モードでは、前記試験制御装置は、最高の優先順位を有しているが、マスター試験モードでは、１つの前記マスター論理ユニットのマスターの機能性が前記試験制御装置により試験される時、前記アービタは、最高の優先順位を前記1つマスター論理ユニットに割り当てるために優先アクセス信号を受信して前記1つのマスター論理ユニットが前記バスにアクセスして試験処理要求を発生できるようにする。 - 特許庁

The variable delay circuit 20 changes the time of the master clock to the slave for adjusting the starting points of test cycles of the master and the slave to integer multiples of the test cycle.例文帳に追加

この可変遅延回路２０は、マスタクロックをスレイブに伝達するまでの時間を変化させ、マスタの試験周期開始時間とスレイブのそれとを試験周期の整数倍になるよう調整する。 - 特許庁

When operating a plurality of IC test devices cooperatively, a variable delay circuit 20 is provided between a master clock output circuit of an IC test device to be a master and an external synchronous reception circuit of a slave.例文帳に追加

複数の集積回路試験装置を協調動作させる場合において、マスタとなる集積回路試験装置のマスタクロック出力回路とスレイブにおける外部同期受信回路との間に可変遅延回路２０を設ける。 - 特許庁

Furthermore, the slave unit 20 executes an RSSI test, transmits its result to the master unit 10 by radio and raises precision of the roll call by receiving an RSSI test result by the master unit 10.例文帳に追加

さらにスレーブ装置２０はＲＳＳＩ試験を実施してその結果をマスター装置１０に無線送信し、マスター装置１０でＲＳＳＩ試験結果を受信することにより点呼の精度を高める。 - 特許庁

The test device transmits a command to a bus 30 at a side of a key telephone master set 20 connected to telephone sets 25, 26 and receives its reply to test the master set 20.例文帳に追加

電話機２５，２６に接続されたボタン電話主装置２０側のバス３０にコマンドを送り、それに対する応答を受けて主装置２０を試験する。 - 特許庁

The master key is registered (S1) in the ATM, preset test data are then read out (S3) and an encryption key (S2) for a password number generated by the master key is used to encrypt the test data (S4).例文帳に追加

ＡＴＭにマスタキーを登録（Ｓ１）した後、予め設定してあるテストデータを読み出し（Ｓ３）、このマスタキーで生成された暗証番号用暗号化鍵（Ｓ２）を使用して暗号化する（Ｓ４）。 - 特許庁

When it is desired to change the parentage of the slave unit from a master unit A to a master unit B, for example, the master unit B is selected by the rotary switch 3c1, and the test button 3d1 is pressed.例文帳に追加

例えば、子機の親子関係を親機Ａから親機Ｂへ変更したい場合、ロータリスイッチ３ｃ１により親機Ｂを選択し、テストボタン３ｄ１を押す。 - 特許庁

The comprising part 42 of a comparison deciding part 40 reads the test concave and convex parts stored in the sample concave and convex storing part 30, reads a master contour corresponding to the test concave and convex parts from the master contour storing part 34 of a master data storing means 32 and compares both of them.例文帳に追加

比較判定部４０の比較部４２は、サンプル凹凸記憶部３０に記憶させた検査凹凸部を読み出し、この検査凹凸部に対応したマスタ輪郭線をマスタデータ記憶手段３２のマスタ輪郭線記憶部３４から読み出し、両者を比較する。 - 特許庁

To provide a test piece for obtaining reliable creep test data (a master curve), and reliably estimating a creep lifetime, and an estimation method of the creep lifetime using the test piece.例文帳に追加

信頼性の高いクリープ試験データ（マスターカーブ）を得ることが可能な、ひいては信頼性の高いクリープ寿命の推定を可能にする試験片、およびその試験片を用いたクリープ寿命の推定方法を提供する。 - 特許庁

The test/registration target master unit designation part 3c includes a rotary switch 3c1, and the test/registration operation part 3d includes a test button 3d1 and a register button 3d2.例文帳に追加

テスト／登録対象親機指定部３ｃはロータリスイッチ３ｃ１を、テスト／登録操作部３ｄはテストボタン３ｄ１と登録ボタン３ｄ２を有する。 - 特許庁

After the end of test, the test result is searched and the test communication number wherein the relaying apparatus can make communication with the master unit 1 and the slave units 3 the number of which is at a maximum is obtained and displayed.例文帳に追加

試験終了後に、試験結果を検索して、親機１と通信可能で、最も通信可能子機３の数が多い試験通信番号を求めて表示する。 - 特許庁

An arbiter 120 receives bus request signals from a test controller 100 and one or more master logic units 100, 140, 145, 150, and 155 and applies prescribed priority reference (discriminating relative priority between respective master logic units and test controller) so as to control access to a bus 110 by the test controller 100 and master logic unit.例文帳に追加

アービタ（１２０）は、試験制御装置（１００）と1つ以上のマスター論理ユニット（１００，１４０，１４５，１５０，１５５）からバス要求信号を受信し、また、前記試験制御装置と前記マスター論理ユニットによるバス（１１０）へのアクセスを制御するために所定の優先基準（各マスター論理ユニットと前記試験制御装置の相対的な優先順位を識別する）を適用する。 - 特許庁

To provide a test method for testing a servo area of a magnetic recording medium, which tests a servo area of a magnetic recording medium with an electric test device and, in particular, is suitable to test a servo area of a magnetic recording medium formed by stamping from a master disk, and a test device therefor.例文帳に追加

磁気記録媒体のサーボエリアの適否を電気的な検査装置において検査することが可能で、特に、原盤からスタンプされて形成された磁気記録媒体のサーボエリアの検査に適した磁気記録媒体のサーボエリアの検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

If the distorted test pattern is normally received by the slave, a response distorted by the same distortion level is returned from the slave to the master unit.例文帳に追加

スレーブは、その歪みテストパターンを正常に受信した場合には、マスタユニットに対して同じ歪みレベルで歪ませたレスポンスを返送する。 - 特許庁

The master latch 104 is coupled to the data input 112 and to the scan test input 114 and includes an output.例文帳に追加

マスタラッチ１０４は、データ入力１１２および走査試験入力１１４に連結され、そして１出力を含む。 - 特許庁

A logic device 100 comprises: a data input 112; a scan test input 114; a clock demultiplexer 108; and a master latch 104.例文帳に追加

論理装置１００はデータ入力１１２、走査試験入力１１４、クロックデマルチプレクサ１０８、およびマスタラッチ１０４を含む。 - 特許庁

Furthermore, the control part 3A comprises a test circuit 21 for testing the master filter 2A and the slave filter 1A.例文帳に追加

さらに、制御部３Ａは、マスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａをテストするためのテスト回路２１を含んでいる。 - 特許庁

The slave station measures the line test data and a reception level when receiving the controlling carrier of the master station.例文帳に追加

子局は、親局の制御用キャリアを受信しているときに、回線試験データと受信レベルを測定する。 - 特許庁

A plurality of master models and slave models different from actual circuits are arranged on the test bench to cause various data transfer to occur at random.例文帳に追加

テストベンチ上に実際の回路とは異なるマスタモデルやスレーブモデルを複数配置し各種データ転送をランダムに発生させる。 - 特許庁

This allows counting of frequency in which the master clock signal MCK is "H" at rising time of test clock signal TCK.例文帳に追加

これにより、テストクロック信号ＴＣＫの立ち上がり時点でマスタクロック信号ＭＣＫが“Ｈ”である回数をカウントすることができる。 - 特許庁

Thus, a communication test is performed between the slave unit and the master unit B and the result is indicated on the display part 3e.例文帳に追加

これにより、子機と親機Ｂとの間で通信テストが行われ、その結果が表示部３ｅに表示される。 - 特許庁

A master station always superposes line test data on a start signal of a simultaneous command or a controlling carrier to be transmitted to a slave station.例文帳に追加

親局は、常時、一斉指令の起動信号若しくは制御用キャリアに回線試験データを重畳し、子局へ送信する。 - 特許庁

A dummy master station device 3 carries out a communication test with a standby series device at that point in time of a one series ITC 5 and a two series ITC 6.例文帳に追加

模擬親局装置３は、１系ＩＴＣ５及び２系ＩＴＣ６のうち、その時点で待機系の装置と通信試験を行う。 - 特許庁

When a test prove is brought into contact with the external connection part T2, confirmation of an operation is thereby possible by the master chip 1 only.例文帳に追加

そこで、外部接続部Ｔ２にテストプローブを当てれば、親チップ１の単体での動作確認が可能となる。 - 特許庁

The slave station reports, to the master station, the result obtained by measuring the line test data and the reception level at a pre-designated time.例文帳に追加

また、子局は、予め指定した時刻に回線試験データと受信レベルを測定した結果を親局へ通知する。 - 特許庁

A master access point AP1 instructs each access point 1 to individually transmit the test radio wave.例文帳に追加

マスタアクセスポイントＡＰ１は、各アクセスポイント１にテスト用電波を個別に発信すべきことの指示する。 - 特許庁

The master 11 performs test vector address synchronization to the slave 12 upon receiving the first control signal, and adjusts the starting timing of an actual test program at both the master 11 and slave 12 upon receiving the second control signal.例文帳に追加

マスター１１はスレイブ１２に対して、第１の制御信号の受信によってテストベクタアドレスの同期を行い、第２の制御信号の受信によって、マスター１１およびスレイブ１２双方における実際の試験プログラムの開始タイミングを調整する。 - 特許庁

The user places a print-out 336 of a test pattern and a test pattern master sheet 337 side by side on a document table of an image scanner 338, and reads the print-out 336 and the master sheet 337 by one image scanning operation of the image scanner 338.例文帳に追加

ユーザは、テストパターンのプリントアウト３３６と、テストパターンマスタシート３３７とを、イメージスキャナ３３８の原稿台に並べて置いて、プリントアウト３３６とマスタシート３３７をイメージスキャナ３３８に一回のイメージスキャニング動作で読み取らせる。 - 特許庁

To enable the test of all bits including a memory area part to which an external master device cannot refer in a normal mode in a circuit where a plurality of master devices compete against each other for access to a memory.例文帳に追加

複数のマスターデバイスがメモリにアクセス競合する回路において、ノーマルモードでは外部のマスターデバイスが参照することができないメモリ領域部分も含む全ビットのテストを可能とする。 - 特許庁

This network video adjustment system is so constituted that a projector 1 as a master and projectors 2 to 4 as slaves having received a request from the projector 1 as the master cut and enlarge parts of a test pattern image that is being in charge of the projectors 2 to 4.例文帳に追加

マスタのプロジェクタ１、および、マスタのプロジェクタ１からリクエストを受けたスレーブのプロジェクタ２乃至４は、担当するテストパターン画像の一部分を切り出して拡大する。 - 特許庁

Accordingly, even in the normal mode, the other master device is never affected by the switching to the test mode, and the data of the highly competitive memory are set, whereby the performance of the plurality of master devices can be improved.例文帳に追加

ノーマルモード時においても、テストモードとの切替で他方のマスターデバイスに影響を与えることがなく、競合が多いメモリのデータを置いておくことで、複数マスターデバイスのパフォーマンスの向上を図ることができる。 - 特許庁

Also, it may be possible to generate the master in a pseudo(test) environment in order to confirm the contents of the arrangement materials before generating the master in a real environment (steps S2, 3).例文帳に追加

また、本番環境でマスターを生成する前に、手配資料の内容の確認を行うために、疑似（テスト）環境でマスター生成を行ってもよい（ステップＳ２，３）。 - 特許庁

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機２の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ２２から報音させた後、親機マイク２１の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部４９が検出して設定される。 - 特許庁

Thereby, after the master chip 1 and a subordinate chip 2 are jointed, the operation confirmation of only the master chip 1 or the subordinate chip 2 and the connection confirmation of the master chip 1 and the subordinate chip 2 are enabled, by pressing test probes P against the parts of the extending part 14 which is drawn out to the outside of the junction region 12.例文帳に追加

これにより、親チップ１と子チップ２とが接合された後であっても、延設部１４の接合領域１２の外方に引き出された部分にテストプローブＰを押し当てて、親チップ１または子チップ２のみの動作確認や親チップ１と子チップ２との接続確認を行うことができる。 - 特許庁