「ハバー」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

アハバーリー・シーア派の教義は、政治的な支配をこれまで促進しなかった例文帳に追加

Akhbari Shiism has never promoted political control  - 日本語WordNet

ウェハバーンインシステムにおけるＤＣパラメータ測定装置例文帳に追加

DC PARAMETER MEASUREMENT DEVICE IN WAFER BURN-IN SYSTEM - 特許庁

この結果、効率的なウェハバーンインテストを行うことができる。例文帳に追加

Consequently, the efficient wafer burn-in test can be performed. - 特許庁

効率的なウェハバーンインテストを実現する技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for realizing an efficient wafer burn-in test. - 特許庁

さらに、ブンデルカントの半独立地帯のはしを通ってアラハバートまで登る。例文帳に追加

skirts the nearly independent territory of Bundelcund, ascends to Allahabad,  - JULES VERNE『80日間世界一周』

「失礼ながら、アラハバードまでどうやって行くのか考えませんか。」例文帳に追加

"we will, if you please, look about for some means of conveyance to Allahabad."  - JULES VERNE『80日間世界一周』

フォッグ氏は、アラハバードについたらこの象をどうするのだろう？例文帳に追加

What would Mr. Fogg do with the elephant when he got to Allahabad?  - JULES VERNE『80日間世界一周』

19世紀の短い期間ハバード運動の中心であったベラルーシの町例文帳に追加

a town in Belarus that was the center of the Chabad movement for a brief period during the 19th century  - 日本語WordNet

ウェーハバーンイン時にワードラインを十分駆動できる半導体メモリ装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device in which word lines can be fully driven at the time of water-burn-in. - 特許庁

ウェハバーンイン信号に応答して、ドライブ信号/DV_kを確実にロウレベルにする。例文帳に追加

A drive signal /DVk is surely made a low level responding to a wafer burn-in signal. - 特許庁

ウェハ当たりのチップ設置数を減少させることなく、ウェハバーンインを実現させること。例文帳に追加

To realize a wafer burn-in without decreasing the number of installed chips per wafer. - 特許庁

大インド半島鉄道において、ロタール〜アラハバート間の路線が開通している今ならね。例文帳に追加

now that the section between Rothal and Allahabad, on the Great Indian Peninsula Railway, has been opened.  - JULES VERNE『80日間世界一周』

ここからアラハバードまで、まだ五十マイルほど線路をしかなければならないのです。例文帳に追加

There's still a matter of fifty miles to be laid from here to Allahabad,  - JULES VERNE『80日間世界一周』

アラハバードまでその獣を使うのに、一時間につき十ポンドという莫大な金額を提案した。例文帳に追加

offering the excessive sum of ten pounds an hour for the loan of the beast to Allahabad.  - JULES VERNE『80日間世界一周』

それから、フォッグ氏はサー・フランシスに、アラハバードまでお送りしようと申し出た。例文帳に追加

Then he offered to carry Sir Francis to Allahabad,  - JULES VERNE『80日間世界一周』

半導体メモリ装置１０１をウェーハバーンインモードに設定するウェーハバーンインイネーブル信号ＰＷＢＥが入力されるバーンイン制御部１１１を設ける。例文帳に追加

This device is provided with a burn-in control section 111 to which a wafer-burn-in enable-signal PWBE setting a semiconductor memory 101 to a wafer-burn-in mode is inputted. - 特許庁

特に、ウェハバーンインテスト動作モードの間、セル領域に印加される電源電圧は周辺回路領域に印加される電源電圧より高い。例文帳に追加

Especially, during wafer burn-in test operation mode, power supply voltage applied to the cell region is higher than power supply voltage applied to the peripheral circuit region. - 特許庁

ウェハトレイ及びウェハバーンインユニット、それを用いたウェハレベルバーンイン装置並びに半導体ウェハの温度制御方法例文帳に追加

WAFER TRAY, WAFER BURN-IN UNIT, WAFER-LEVEL BURN-IN APPARATUS USING SAME UNIT, AND TEMPERATURE CONTROLLING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

ウェーハバーンインにおいてプローブ針の本数が減らせ、負荷抵抗の接続の手間が省ける半導体ウェーハを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor wafer, in which the number of probe needle is decreased in wafer burn-in and the troubles of connecting a load resistors is saved. - 特許庁

「しかし、お客様方は、コルビーからアラハバードまではご自分で行かなければならないことはご承知のはずですが。」例文帳に追加

"but the passengers know that they must provide means of transportation for themselves from Kholby to Allahabad."  - JULES VERNE『80日間世界一周』

もし象がアラハバードまで着くのに十五時間かかるとすると、インド人は六百ポンド以上もの英国の金を受け取ることになっていた。例文帳に追加

for, supposing it took the elephant fifteen hours to reach Allahabad, his owner would receive no less than six hundred pounds sterling.  - JULES VERNE『80日間世界一周』

（ｂ）通常状態動作とウェーハバーンイン状態と双方の動作モードで制御可能なロウデコーダによって、ウェーハバーンイン状態ではメインワード線は奇数用と偶数用とに分けて選択状態とされメインワード線の線間へストレス電圧が印加される。例文帳に追加

(b) In the wafer burn-in state, the main word lines 103 are brought into a selection state by separating them into the odd number use and the even number use and a stress voltage is applied across the main word lines by a row decoder 104 controllable in the modes of normal state operation and wafer burn-in state as well as in both modes. - 特許庁

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low. - 特許庁

モットハバード相へ第１スイッチング光５を照射すると電荷密度波相へ光誘起相転移され、この光誘起相転移された電荷密度波相へ第２スイッチング光６を照射することによってモットハバード相へ光誘起相転移される。例文帳に追加

Radiation of the first switching light 5 to the Mott-Hubbard phase caused photoinduced phase transition to the charge-density-wave phase, and radiation of the second switching light 6 to the charge-density-wave phase induced by the photoinduced phase transition causes photoinduced phase transition to the Mott-Hubbard phase. - 特許庁

ウェーハバーンイン中は、ワードライン駆動ブロック１３１を制御する多数個のノーマルワードラインイネーブル信号ＮＷＥｉを発生させるローデコーディングブロック１２１を前記バーンイン制御部１１１で制御することにより、ローデコーディングブロック１２１中のローデコーダの駆動能力が小さい場合であっても、ウェーハバーンイン時に多数本のワードラインを十分駆動可能とする。例文帳に追加

Many word lines can be fully driven at the time of wafer-burn-in even when the driving capability of a row decoder in a row decoding block 121 is small by controlling by the burn-in control section 111 the row decoding block 121 generating many normal word line enable-signal NWEi controlling a word line driving block 131 during wafer-burn- in. - 特許庁

1955年にL・ロン・ハバードによって設立され、自覚と精神的な満足感を通して自身の過去のつらい経験を取り除く人の精神力に対する信念に特徴づけられる新興宗教例文帳に追加

a new religion founded by L. Ron Hubbard in 1955 and characterized by a belief in the power of a person's spirit to clear itself of past painful experiences through self-knowledge and spiritual fulfillment  - 日本語WordNet

また、信頼性の高い被測定半導体装置１０４を搭載し、効率的なウェハバーンインテストを行うことが可能な半導体ウェハ１００を実現することができる。例文帳に追加

And, it is possible to realize such a semiconductor wafer 100 that loads the measured semiconductor device 104 having a high reliability and can perform the efficient wafer burn-in test. - 特許庁

このような電源システムの下で、ウェハバーンインテスト動作が実行される場合に、メモリセルのラッチアップ現象により生じるＤＣ電流経路を確実に遮断することができる。例文帳に追加

If a wafer burn-in test operation is performed under such power supply system, a DC current path formed by a latch-up phenomenon of a memory cell can be surely cut off. - 特許庁

ウェハバーンインテスト時、ワードライン選択手段605 が第１乃至第３ピンA0〜A2に印加される信号を論理組合してメモリセルアレイ601 の複数本のワードラインを選択的に活性化させる。例文帳に追加

During the burn-in test operation a word line selecting means 605 logically combines the signals to be impressed to the first to third pins A0 to A2 to selectively activate a plurality of word lines of a memory array 601. - 特許庁

ウェハバーンインテストに用いるに適合した電圧発生器制御方法及び電圧発生器の動作制御のための制御回路をもつ半導体メモリ装置例文帳に追加

METHOD FOR CONTROLLING VOLTAGE GENERATOR ADAPTED FOR USE IN WAFER BURN-IN TEST, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING CONTROL CIRCUIT FOR OPERATIONAL CONTROL OF VOLTAGE GENERATOR - 特許庁

ウェハバーンインテスト時、書込み／読出し制御手段607 が第４ピンA3に印加される信号に応答して前記メモリセルアレイ601 に対する書込み動作及び前記メモリセルアレイ601 からの読出し動作を制御する。例文帳に追加

During the wafer burn-in test operation, a write/read control means 607 controls the write operation to the memory cell array 601 and read operation from the memory array 601 in response to the signal to be applied to the fourth pin A3. - 特許庁

単一のテスト工程によってより多くのＤＵＴに対するＶＳパラメータを同時に測定できるウェハバーンインシステムのＶＳパラメータ測定装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a voltage supply parameter measurement device of a wafer burn-in system capable of measuring voltage supply parameters to more DUTs simultaneously by a single test process. - 特許庁

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing semiconductor device, by which reliable wafer burn-in tests can be performed at law cost with a certain degree of alignment accuracy, even if the number of terminals which are brought into contact with conductive members in the state of a wafer increases. - 特許庁

ウェハバーンインテストに使用するに適合した電圧発生器の制御方法及びその電圧発生器の動作制御のための制御回路を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for controlling voltage generators adapted for use in wafer burn-in test, and to provide a control circuit for operation control of the voltage generators. - 特許庁

ウェハバーンインテスト時、制御ピンの数が増加しない状態で全てのセルに対した書込み動作が可能で、かつ読出し動作時に等化信号による読出し動作の失敗を防止しうる半導体メモリ装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device which assures write operation to all cells under the condition that the number of control pins does not increase during the wafer burn-in test operation and can also prevent defective read operation by an equalizing signal during the readout operation. - 特許庁

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても全端子数へ均等に加圧接触できる比較的低コストのウェハバーンイン装置を提供する。例文帳に追加

To provide a relatively inexpensive wafer burn-in system that can be press-contacted evenly with all terminals, even if the number of the terminals with which the system is brought into contact in batch, in a state of a wafer increases. - 特許庁

ウェーハバーンイン状態において、メインワード線の線間ヘストレス電圧を印加するメインワード線の線間バーンイン機能を備えた半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device having an interline burn-in function of main word lines for applying a stress voltage across the main word lines in a state of wafer burn-in. - 特許庁

半導体ウエハ上のショートＩＣチップを確実に除外してウエハバーンイン検査等の検査を適切に実行でき、検査装置本体からの配線数と線路距離を削減し、ノイズ等による外乱要因を除去すると共に、高速検査を可能にする。例文帳に追加

To correctly perform inspection, such as wafer burn-in inspection while a short IC chip on a semiconductor wafer is surely removed, and to reduce the number of wirings from an inspection device main body and line length while a disturbance factor such as noise is removed for fast inspection. - 特許庁

光スイッチ素子２は、擬一次元ハロゲン架橋パラジウム錯体からなる光スイッチ素子用材料からなり、所定温度で光反射率の高い電荷密度波相を有し、所定温度以下では光反射率の低いモットハバード相となる。例文帳に追加

The optical switch element 2 is made of a material for optical switch elements which comprises quasi-one-dimensional halogen-bridged palladium complexes, and has a charge-density-wave phase with a high optical reflectivity at a prescribed temperature and has a Mott-Hubbard phase with a low optical reflectivity at a temperature equal to or lower than the prescribed temperature. - 特許庁

本発明は、外部供給電圧と外部信号（WBI）を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a fully on-chip wafer level burn-in test circuit and a method thereof, which enables wafer burn-in to be tested by using an external supply voltage and an external signal (WBI) and generating a voltage for a stress screen within the chip. - 特許庁

積層型磁気ヘッド形成工程Ｓ１において、ＭＲヘッドの素子回路を電気的に短絡させる短絡パターンを形成し、精密研磨工程Ｓ４を行う前、或いは、ウェハバー切断工程Ｓ６中において、短絡パターンを切断するようにする。例文帳に追加

A shortcircuit pattern for electrically shortcircuiting an element circuit of a MR element is formed in a lamination type magnetic head forming stage S1 and the shortcircuit pattern is cut before a precisely polishing stage S4 is performed or during a wafer bar cutting stage S6. - 特許庁

（ａ）ウェーハバーンイン状態では、制御回路手段によりメインワード線は奇数用と偶数用とに分けて奇数用パッドと偶数用パッドへ接続され、奇数・偶数パッド間へストレス電圧を直接入力する。例文帳に追加

(a) In the state of wafer burn-in, main word lines 103 are separated by a control circuit means into those for odd number use and even number use and connected with a pad 12 for the odd number use and a pad 11 for the even number use, and a stress voltage is directly inputted across the odd number pad and the even number pad. - 特許庁

半導体ウェハの半導体集積回路素子に対し電気特性の試験を行い、その試験で不良であると判断された半導体集積回路素子の電極端子を絶縁性樹脂で覆ったのちにウェハバーンインを行い、半導体装置を製造すると、製造歩留まりが低下する場合があり、製造歩留低下を抑制するための半導体装置及び製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a manufacturing method thereof for suppressing a drop in yield in manufacture to overcome the problem that the yield in manufacture may drop in manufacturing a semiconductor device by performing wafer burn-in while covering with an insulating resin an electrode terminal of a semiconductor integrated circuit element determined to be defect by performing an electric characteristic test on the semiconductor integrated circuit element of a semiconductor wafer. - 特許庁