「関連欠陥」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

欠陥画素アドレス記憶部３２０には欠陥画素の位置情報とこの欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かの画素欠陥情報とを関連付けて記憶する。例文帳に追加

A defective pixel address storage unit 320 stores the position information of a defective pixel and pixel defect information indicating whether the defective pixel is included in a defective pixel group or not, while making them associate with each other. - 特許庁

ハードディスク上で発見された欠陥を時間と関連付ける方法と装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TIME CORRELATING DEFECTS FOUND ON HARD DISKS - 特許庁

フォトレジスト・マスクにおける現像に関連する欠陥を除去する方法例文帳に追加

METHOD OF REMOVING DEFECT RELEVANT TO DEVELOPMENT USING PHOTORESIST MASK - 特許庁

例えば、合成画像１００では、ベベル欠陥と他の表面欠陥１０３ａ〜１０３ｄおよび裏面欠陥１０４との関連付けは、ベベル欠陥の位置を投影点１０５ａ〜１０５ｆに投影することによりなされている。例文帳に追加

For example, the bevel defect is correlated with the other surface defects 103a-103d and the reverse surface defect 104, by projecting a position of the bevel defect in projection points 105a-105f, in the composition image 100. - 特許庁

ボイド３５は、窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅに関連づけられており、窒化ガリウム膜１７の各高欠陥エリア１７ｅは窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅの一つに関連づけられている。例文帳に追加

The void 35 is related to the high-defect area 15e of the gallium nitride substrate 15, and each high-defect area 17e in the gallium nitride film 17 is related to one of high-defect areas 15e of the gallium nitride substrate 15. - 特許庁

１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法例文帳に追加

COMPUTER-IMPLEMENTED METHOD FOR PERFORMING ONE OR MORE DEFECT-RELATED FUNCTIONS - 特許庁

１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法を提供する。例文帳に追加

To provide computer-implemented methods for performing one or more defect-related functions. - 特許庁

特定の色に関連する画像形成素子(30)のうちの欠陥のあるものが検出される(302)。例文帳に追加

Defective ones among the image formation elements (30) associated with a particular color are detected (302). - 特許庁

窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅに関連づけてボイド３５を形成することにより、該ボイド３５が高欠陥エリア１５ｅの欠陥の少なくとも一部の伝搬を阻止できる。例文帳に追加

By forming the void 35 while being related to the high-defect areas 15e of the gallium nitride substrate 15, the void 35 can block the propagation of at least one portion of the defects of the high-defect areas 15e. - 特許庁

パネルにおける画素欠陥をマッピングし、このマッピングにより得られた欠陥の情報をパネルと関連付け、パネル操作でこの欠陥の情報を利用して、隣接する画素の輝度を変化させて、欠陥画素を観察者に対して目立たなくさせる。例文帳に追加

Defective pixels in the display panel are mapped, defect information obtained by this mapping is associated with the panel, the defect information is utilized in a panel operation, luminance of neighboring pixels is altered and the defective pixels are made inconspicuous to an observer. - 特許庁

表示された状態の表面画像２０２内での表面欠陥２０４の相対位置と、表示された状態の裏面画像２０１ｂ内での裏面欠陥２０３ｂの相対位置とに基づいて、表面欠陥２０４と裏面欠陥２０３ａ（２０３ｂ）との関連性を示すための標識が、さらに表示される。例文帳に追加

A mark for indicating relationship between a front-surface defect 204 and a rear-surface defect 203a (203b) is further displayed based on a relative position of the front-surface defect 204 within the displayed front-surface image 202 and a relative position of the rear-surface defect 203b within the displayed rear-surface image 201b. - 特許庁

メモリ試験の欠陥サマリイメージから要修復行又は要修復列によって欠陥をフィルタリングする方法及び装置は、メモリデバイスの行にそれぞれ関連する現在利用可能な冗長行欠陥カウントと、メモリデバイスの列に関連する現在利用可能な冗長列欠陥カウントと、を含む。例文帳に追加

The method and apparatus for filtering failures due to must-repair rows and columns from a memory test fail summary image includes current available redundant row failure counts respectively associated with rows of a memory device and current available redundant column failure counts associated with columns of the memory device. - 特許庁

これによれば、設定手段によりユーザー操作により欠陥検出手段による欠陥検出を起動するタイミングを装置の動作に関連して任意に選択して設定するので、常に欠陥のない高品質な画像を維持でき、また撮影機会を損ねることがない。例文帳に追加

According to the apparatus, since the timing of activating defect detection by the defect detecting means can be arbitrarily selected and set by the user's operation by the setting means in association with the operation of the apparatus, a high-quality image having no defect can be always maintained, and the photographing chance can be prevented from being missed. - 特許庁

その後、欠陥は、任意に定義された欠陥の下位分類に分類され、１つのコア分類と結合され、関連するコア分類の限定数からのみ欠陥を分類するように調整された特定の適用可能な分級機でユーザにより定義される。例文帳に追加

Afterwards, the defects are classified into a low-order class of arbitrarily defined defects, and defined by a user with a specific adaptive classifier connected with one core class, and adjusted so that the defects can be classified only from a limited number of related core classes. - 特許庁

従って、ＤＭＡ情報確認テストモードによりディスク上の実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用することにより、記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるか否かが容易に確認される。例文帳に追加

Then, it is easy to confirm whether or not to be able to correctly decode and process defective information in the recorder/player by using a test disk utilizing a mirror file having settled defective information that is not related to an actual defect on the disk in a DMA information confirmation test mode. - 特許庁

本発明は、能動補償機能(201,202)も含み、これによって、ディスプレイ(211)の欠陥ピクセルが識別され、その欠陥ピクセルが、関連するディスプレイドライバ(202)によって補償される。例文帳に追加

The system includes active compensating functions 201 and 202 also, and as a result, defective pixels of a display 211 are identified and the defective pixels are compensated by a concerned display driver 202. - 特許庁

この結果、画像データを取得した外部の画像処理装置は、関連付けて出力された欠陥画素情報を用いて、画像データＧＤに対して正確に欠陥画素補正を実行できる。例文帳に追加

Consequently, an external image processor which has acquired the image data can perform defect pixel correction accurately for the image data GD using the defect pixel information outputted in association with the image data. - 特許庁

マクロ検査画像とミクロ検査結果とを重ね合わせてマクロ欠陥部分とミクロ欠陥部分との関連状況をチェックでき、ガラス基板に対する検査効率を向上すること。例文帳に追加

To check the related state of a macro-defect part and a micro-defect part by superposing a macro-inspection image and a micro-inspection image one upon another and to enhance the inspection efficiency of a glass substrate. - 特許庁

第２の所定数のまたはそれより多い数の隣接する欠陥画像形成素子(30)に関連する画像データ(120)の部分に対して、別の第２の欠陥画像形成素子補償処理が実施される(310)。例文帳に追加

A different second defective image formation element compensation process is performed (310) for portions of the image data (120) that are associated with a second predetermined number or more adjacent defective image formation elements (30). - 特許庁

第１の所定数のまたはそれより少ない数の隣接する欠陥画像形成素子(30)に関連する画像データ(120)の部分に対して、第１の欠陥画像形成素子補償処理が実施される(308)。例文帳に追加

A first defective image formation element compensation process is performed (308) for portions of the image data (120) that are associated with a first predetermined number or fewer adjacent defective image formation elements (30). - 特許庁

成長欠陥の各発生をタイムスタンプと結び付けることによって、成長欠陥をこのハードディスク・ドライブ・システム（５０）の時間と関連付ける。例文帳に追加

The hard disk drive system (50) time correlates growth defects by associating each occurrence of a growth defect with a time stamp. - 特許庁

ホスト処理装置（３０）は、時間に応じて発生している成長欠陥の数の変更を測定するために、時間と関連付けられた成長欠陥の情報を処理するソフトウェア・プログラムを実行することが好ましい。例文帳に追加

The host processor (30) preferably performs a software program that processes the time correlated growth defect information to measure any changes in the number of growth defects that are occurring as a function of time. - 特許庁

FATFは同国が特にテロ資金供与に関連した現存する資金洗浄・テロ資金供与対策の欠陥に取り組むことを求める。例文帳に追加

The FATF urges Sao Tome and Principe to address the remaining AML/CFT deficiencies, particularly relating to terrorist financing.  - 財務省

FATFは以下に記載する国・地域に関連した欠陥から起こるリスクを考慮するよう、加盟国に要請する。例文帳に追加

The FATF calls on its members to consider the risks arising from the deficiencies associated with the jurisdiction, as described below.  - 財務省

引用文献２は、高速データ通信に関連するが、引用文献１に記載された発明から予想される欠陥を補うものではない。例文帳に追加

D2, although also concerned with high speed data transfer, does not supply the presumed deficiency of D1.  - 特許庁

血栓症、及び／または活性タンパク質Ｃ（ＡＰＣ）に対する弱い抗凝血応答に関連する遺伝的欠陥の存在をスクリーニングする。例文帳に追加

To screen presence of hereditary defects related to a weak anticoagulant response to thrombosis and/or activated protein C(APC). - 特許庁

血栓症及び／又は活性化プロテインＣに対する弱い抗凝血応答に関連した遺伝性欠陥の存在をスクリーニングする方法例文帳に追加

METHOD FOR SCREENING PRESENCE OF HEREDITARY DEFECT RELATED TO WEAK ANTICOAGULANT RESPONSE TO THROMBOSIS AND/OR ACTIVATED PROTEIN C - 特許庁

実体顕微鏡画像およびマクロ画像は検査制御装置１に取り込まれ、欠陥情報と関連付けて表示される。例文帳に追加

The stereoscopic microscope image and the macro image are read into an inspection controller 1 and displayed while correlated with defect information. - 特許庁

イメージング装置の検出器内の離散的ピクセル領域に関連した潜在的に欠陥のある回路を識別するための方式を提供する。例文帳に追加

To provide a method to identify a potentially defective circuit related to a discrete pixel area in a detector of an imaging device. - 特許庁

エフェクタータンパク質は、細胞内感染、および分泌の欠陥に関連する疾患の治療を含む種々の目的に使用される。例文帳に追加

The effector protein is used for a variety of purposes including treatment of intracellular infection and diseases associated with defects of secretion. - 特許庁

洗浄後の欠陥の発生が極めて少ないフォトマスク関連基板を得られる洗浄方法及び洗浄装置提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method and device for cleaning a photomask-related substrate, in which the occurrence of the defects after cleaning is extremely small. - 特許庁

低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法例文帳に追加

DEFECT DETECTION METHOD FOR FLAT PANEL LIGHT- RELATED PLATE ELEMENT IN LOW AND HIGH RESOLUTION IMAGES - 特許庁

主制御部６５はレビュー検査画像のサムネイル画像データを欠陥データと関連付けて記憶部６６に格納する。例文帳に追加

A main controller 65 relates thumbnail image data of a review inspection image to defect data and stores the thumbnail image data into a storage section 66. - 特許庁

本発明によれば、ハードディスク・ドライブ・システム（５０）は成長欠陥を時間と関連付けるロジックで構成されている。例文帳に追加

In accordance with the present invention, a hard disk drive system (50) is configured with logic that time correlates growth defects. - 特許庁

合成画像の解析は欠陥の検出を可能とし、製造に関連する決定はこの解析に基づいていても良い。例文帳に追加

The analysis of the synthetic image makes the detection of defects possible, and the determination related to production may be based on this analysis. - 特許庁

全光学式のシステムの中でＱファクタのような欠陥関連パラメータをモニタするためのシステム、方法および装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a system, method and apparatus for monitoring impairment related parameters such as a Q factor within an all-optical system. - 特許庁

順方向誤り修正（ＦＥＣ）を使用してビット誤り率（ＢＥＲ）を派生させ、このＢＥＲが欠陥関連パラメータを判定するのに使用される。例文帳に追加

A forward error correction (FEC) is used to derive a bit error rate (BER) and the BER is used to determine the impairment related parameters. - 特許庁

本発明は、ヒト注意欠陥多動性障害（ＡＤＨＤ）との関連性の高い新規なモデル動物を提供する。例文帳に追加

To provide a new model animal highly associated with human attention deficit hyperactive disorder (ADHD). - 特許庁

抵抗性セル交差点メモリアレイにおける欠陥のあるＳＤＴ接合に関連した問題を克服すること。例文帳に追加

To solve a problem relating a SDT junction having a defect in a memory array of a resistive cell intersection. - 特許庁

従来技術関連の困難または欠陥の１つ以上を克服するか、少なくとも軽減する成長因子の提供。例文帳に追加

To provide a growth factor to conquer or at least diminish one or more difficulties or defects relating to conventional techniques. - 特許庁

撮影画面における輝度データに基づいて、検査対象ブロック内に欠陥が存在するガラス基板ＯＢがあるか否かを判定し、欠陥が存在するガラス基板ＯＢがある場合には、カメラ位置をガラス基板ＯＢの法線方向に細かく切り替えて撮影し、カメラ位置に対する輝度値と関連する値の変化曲線から欠陥が存在するガラス基板ＯＢを判別する。例文帳に追加

Whether or not a glass substrate OB with defect exists in the block to be inspected is determined based on luminance data in a photographing screen; then imaging is performed with finely changing the position of the camera in a normal line direction of the glass substrates OB when there exists a glass substrate OB with defect, and the glass substrate OB with defect is distinguished with reference to a change curve of values in relation to luminance values to camera positions. - 特許庁

また、そのうち少なくとも２枚を選択する指示が受け付けられると、選択された各検査画像に写っている欠陥の位置を示す情報として入力される欠陥位置情報に基づいて、選択された各検査画像に写っている欠陥同士を関連付けて、選択された各検査画像から１枚の２次元合成画像１００を合成する処理が行われ、合成画像１００が表示される。例文帳に追加

Defects imaged in the respective selected inspection images are correlated, and processing is carried out to compose one two-dimensional composition image 100 from the respective selected inspection images, based on defect position information input as information indicating positions of the defects imaged in the respective selected inspection images, when receiving an instruction to select at least two out of the two or more of inspection images, and the composition image 100 is displayed. - 特許庁

面空間光変調器（１４６）を使う画像システムにおいて画像データ（１００）に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、画像データ（１００）にトーン修正ＬＵＴ（１４８’）を適用し、欠陥マップ（１２２）及び関連する利得テーブル（１２４）を使う欠陥修正を適用する前に、較正修正を適用する。例文帳に追加

In the method for applying the defect correction and the calibration to image data (100) in the image system using a plane spatial optical modulator (146), a tone correction LUT (148') is applied to the image data (100) and the calibration correction is applied before the defect correction of using a defect map (122) and an associated gain table (124). - 特許庁

本発明の撮像装置は、ユーザー操作により欠陥検出手段（マイコン７）による欠陥検出を起動するタイミングを装置の動作に関連して任意に選択して設定する設定手段（マイコン７及びキースイッチ８）を備えたものである。例文帳に追加

This image pickup apparatus is provided with a setting means (microcomputer 7 and key switch 8) for arbitrarily selecting and setting by user's operation a timing of activating defect detection by a defect detecting means (microcomputer 7) in association with the operation of the apparatus. - 特許庁

ハードディスク・ドライブ・システム（５０）がホスト処理装置（３０）から送信された欠陥データ読み取りコマンドを受信した場合、ハードディスク・ドライブ・システム（５０）は時間と関連付けられた成長欠陥の情報をホスト処理装置（３０）に返信する。例文帳に追加

When the hard disk drive system (50) receives a defect data read command sent by a host processor (30), the hard disk drive system (50) returns time correlated growth defect information to the host processor (30). - 特許庁