| 意味 | 例文 |
Bad memoryの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 65件
By the way, what was the bad memory that came to your mind?例文帳に追加
思い出した 嫌な思い出はなんぞ? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
I have a bad memory―a short memory. I am constantly forgetting people's names. 例文帳に追加
僕は忘れっぽくて困る、始終人の名を忘れる - 斎藤和英大辞典
I have a bad memory, so I can't match people's names with their faces.例文帳に追加
私は記憶が悪いので、人の名と顔が一致しない。 - Weblio Email例文集
I have a fairly bad memory, and dishonesty would always get me in trouble例文帳に追加
僕は記憶力が悪くて 嘘をつくと必ずトラブルになる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Besides calligraphy, i'm not very attentive and I have a bad memory.例文帳に追加
俺 書道以外 注意力も記憶力も ほとんどなくてさ。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
I have a bad memory, and am constantly forgetting people's names. 例文帳に追加
僕は記憶が悪くて(忘れっぽくて)始終人の名を忘れる - 斎藤和英大辞典
This invention includes a flash memory part 100 and a bad block management part 200.例文帳に追加
本発明はフラッシュメモリ部100とバッドブロック管理部200とを含む。 - 特許庁
An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加
外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリBIST21には、不揮発性半導体メモリ4のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁
The method of operating the nonvolatile memory device included in a memory card can be provided by re-mapping addresses of bad blocks in a first nonvolatile MAT in the memory card and re-mapping addresses of bad blocks in a second nonvolatile MAT in the memory card.例文帳に追加
メモリカードに備えられた不揮発性メモリ装置の動作方法は、メモリカードの第1不揮発性マット内の不良ブロックのアドレスを再マッピングし、メモリカード内で第2不揮発性マットの不良ブロックのアドレスを再マッピングすることによって提供することができる。 - 特許庁
I felt so bad about betraying rebecca's memory... that I left starling.例文帳に追加
レベッカの思い出を 裏切るのをとても後悔した スターリング市を去ったから トミーの後に取り残されて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Your dream was a bad dream or a part of an actual memory.例文帳に追加
解釈するには お前の夢が無意味な夢だったのか実際の記憶の一部なのか知る必要がある - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The bad block flag register group makes settings according to both the block replacement information read from the memory and the bad block information (ST. 6 and ST. 8).例文帳に追加
また、バッドブロックフラグレジスタ群は、記憶部から読み出したブロック置換情報、及びバッドブロック情報の双方に従ってセットする(ST.6及びST.8)。 - 特許庁
To provide a method for managing a memory that efficiently prevents a read disturb error and performs bad block processing.例文帳に追加
リードディスターブエラーの防止とbadブロック処理を効率よく行うメモリの管理方法の提供。 - 特許庁
NONVOLATILE MEMORY DEVICE AND SYSTEM INCLUDING RE-MAPPED BAD BLOCK ADDRESS, AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加
再マッピングされた不良ブロックアドレスを含む不揮発性メモリ装置及びシステム、並びにその動作方法 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR DETECTING AND REPLACING BAD COLUMN IN THE SAME例文帳に追加
不揮発性半導体メモリ及び不揮発性半導体メモリにおける不良カラムの検出及び置き換え方法 - 特許庁
The interpretation needs to be possible to know if your dream was a bad dream or a part of an actual memory.例文帳に追加
解釈するには お前の夢が無意味な夢だったのか実際の記憶の一部なのか知る必要がある - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
To provide a nonvolatile memory device and system including a re-mapped bad block address, and a method of operating the same.例文帳に追加
再マッピングされた不良ブロックアドレスを含む不揮発性メモリ装置及びシステム、並びにその動作方法を提供する - 特許庁
To provide a test apparatus by which all of the prescribed data patterns can be written efficiently also to a memory having a bad block.例文帳に追加
バッドブロックを有するメモリに対しても、所定のデータパターンの全てを効率よく書き込むことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
This semiconductor integrated circuit device has a memory section including a block replacement information registration area capable of registering the block replacement information containing the address information of defective blocks, a bad block information registration area capable of registering the bad block information containing the bad block address information; a block replacement information register group to set the block replacement information; and a bad block flag register group to set the bad block information.例文帳に追加
ディフェクティブブロックのアドレス情報を含むブロック置換情報の登録が可能なブロック置換情報登録領域、及びバッドブロックのアドレス情報を含むバッドブロック情報の登録が可能なバッドブロック情報登録領域を含む記憶部と、ブロック置換情報がセットされるブロック置換情報レジスタ群と、バッドブロック情報がセットされるバッドブロックフラグレジスタ群とを備える。 - 特許庁
Also, a method of scanning the nonvolatile memory device for the bad blocks can be provided by sequentially scanning blocks in the nonvolatile memory device for data indicating that a respective block is a bad block starting at a starting block address that is above a lowermost block address of the nonvolatile memory device.例文帳に追加
また、不良ブロックに対する不揮発性メモリ装置のスキャニング方法は、各ブロックが不揮発性メモリ装置の最も低いブロックアドレス上にある開始ブロックアドレスで始まる不良ブロックであるということを表すデータに対する前記不揮発性メモリ装置のブロックを順次スキャニングすることによって提供することができる。 - 特許庁
The method of providing block state information in a semiconductor memory device including a flash memory comprises storing block state information on the bad block of the flash memory and on the alternate block for replacing the bad block, and providing the block state information to a user when a specific command is inputted.例文帳に追加
フラッシュメモリを具備する半導体メモリ装置におけるブロック状態情報提供方法において、前記フラッシュメモリの不良ブロックとこれを代替するための代替ブロックに対するブロック状態情報を記憶し、特定コマンドが入力されたときに前記ブロック状態情報を使用者に提供する。 - 特許庁
If you tell linux that it has more memory than it actually does have, bad things will happen: maybe not at once, but surely eventually. 例文帳に追加
linux に実際より多いメモリを教えてしまったとしたら、まずいことが起きるだろう。 すぐにではないかもしれないけど、ゆくゆくは確実にね。 - JM
In an image processor 1, BAD BLOCK occurs in writing of data to a NAND type flash memory 17 for performing at least writing and reading of data, a CPU 11 acquires at least one of BAD BLOCK occurrence frequencies and BAD BLOCK occurrence intervals which are BAD BLOCK occurrence-related information on the occurrence of the BAD BLOCK for storing in a NVRAM 14.例文帳に追加
画像処理装置1は、少なくともデータの書き込み及び読み出しの行われるNAND型フラッシュメモリ17へのデータの書き込みにおいてBAD BLOCKが発生すると、CPU11が、該BAD BLOCKの発生に関するBAD BLOCK発生関連情報であるBAD BLOCK発生回数とBAD BLOCK発生間隔のうち少なくともいずれかを取得して、NVRAM14に記憶する。 - 特許庁
To provide a memory card device making a user to recognize upside-down insertion in the early stage of the upside-down insertion to prevent a bad effect caused by the erroneous insertion.例文帳に追加
上下逆挿入の初期段階で上下逆挿入をユーザに認知させて誤挿入による弊害を防止するメモリーカード装置を提供する。 - 特許庁
This device comprises a bad block determining part 15 for determining an unusable block (bad block) of a tested memory 20 on the basis of a result of comparison of contents of an output signal SG6 from the tested memory 20 and an expected value included in an expectation signal SG5, and storing a block address for specifying the block.例文帳に追加
被試験メモリ20からの出力信号SG6の内容と期待信号SG5に含まれる期待値とを比較する比較部13の比較結果に基づいて、被試験メモリ20の使用不可能なブロック(バッドブロック)の判定を行い、そのブロックを特定するブロックアドレスを記憶するバッドブロック判定部15を備える。 - 特許庁
To provide a tester for a semiconductor integrated circuit capable of reducing the consumption power at a time when a judgement result of good or bad of an object to be tested is written into a memory.例文帳に追加
被試験対象の良否の判定結果をメモリに書き込むときの消費電力を低減することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
By improving sensitivity, a dynamic range of the amplifier 70 can be expanded largely without introducing a component having possibility of affecting bad influence to parameters of a memory circuit.例文帳に追加
感度が向上することにより、アンプ70のダイナミックレンジを、メモリ回路のパラメータに悪影響を与える可能性のあるコンポーネントを導入せずに大幅に拡大することができる。 - 特許庁
While recording raw material signals such as video and audio onto a magnetic tape 30, time codes such as a recording start, a good shot and a bad shot are written into a memory tag 37 as metadata.例文帳に追加
磁気テープ30への映像音声等の素材信号の記録に際し、記録スタートやグッドショット、ノーグッドショットなどのタイムコードをメタデータとしてメモリタグ37に書き込む。 - 特許庁
The inspection system is equipped with the area sensor for imaging the DNA microarray, a means for relatively moving the area sensor and the microarray, a memory circuit for storing the bad pixel position on the area sensor and a control means for controlling the moving means on the basis of the data of the bad pixel position.例文帳に追加
DNAマイクロアレイを撮像するエリアセンサと、前記エリアセンサと前記マイクロアレイとを相対的に移動させる手段と、前記エリアセンサ上の不良画素位置を記憶する記憶回路と、前記不良画素位置の情報に基づいて前記移動手段を制御する制御手段とを備える。 - 特許庁
In this case, when the 1st main word line is driven, a sub-word line belonging to the 2nd main word line and having a memory cell with a bad data holding characteristic is driven in place of a sub-word line belonging to the 1st main word line and having only a memory cell with good data holding characteristic.例文帳に追加
その場合、第1のメインワード線の駆動時に、第1のメインワード線に属し且つデータ保持特性が良いメモリセルのみを有するサブワード線に代えて、第2のメインワード線に属し且つデータ保持特性が悪いメモリセルを有するサブワード線が駆動される。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. 「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編 |
JESC: Japanese-English Subtitle Corpus映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書のコンテンツは、特に明示されている場合を除いて、次のライセンスに従います: Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0) |
| Copyright (c) 1995-2026 Kenkyusha Co., Ltd. All rights reserved. |
| Copyright (c) 1995-2026 Kenkyusha Co., Ltd. All rights reserved. |
| Copyright (c) 株式会社 高電社 All rights reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved. |
| Copyright © Benesse Holdings, Inc. All rights reserved. |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright (c) 2001 Robert Kiesling. Copyright (c) 2002, 2003 David Merrill. The contents of this document are licensed under the GNU Free Documentation License. Copyright (C) 1999 JM Project All rights reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|

Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0)


