PROBINGを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 563件
METHOD COMBINING PCR AMPLIFICATION AND HYBRIDIZATION PROBING ASSAY AND REAGENT FOR THE SAME例文帳に追加
PCR増幅とハイブリダイゼーションプロービングアッセイを組み合わせた方法およびそのための試薬 - 特許庁
These particles scatter the light from an probing light beam directed at the sample liquid stream.例文帳に追加
これらの粒子は試料液流に向けられた調査光ビームからの光を散乱させる。 - 特許庁
To provide a piezoelectric vibration piece which has reduced manufacture cost in a frequency adjustment process by simplifying the structure of a probing terminal or an operation for bringing the probing terminal into contact.例文帳に追加
プロービング端子の構造、あるいはプロービング端子を接触させるための動作を簡単にして、F調工程における製造コストを低減させた圧電振動片を提供する。 - 特許庁
To provide a harmonic probing method and device capable of saving time and labor on a site of installation, harmonic probing, and data analysis and advantageous in preventing error connections in voltage and current connection.例文帳に追加
設置場所や高調波探査やデータ解析に関して手間の解消を計ると共に、電圧・電流結線の誤接続防止に有利な高調波探査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
Each of the plurality of pads has: a probing region R3 with which the probe is brought into contact; and a plurality of contact parts which are superimposed on the probing region and are protruded to the upward direction of the substrate.例文帳に追加
複数のパッドは、プローブが接触されるプロービング領域R3と、プロービング領域に重ねられ、基板上方に向かって突出した複数の接触部と、をそれぞれ有している。 - 特許庁
Discharging current of the element 102 is measured by measuring the current flowing in the probing pad 106 while pulse voltage is applied to a probing pad 105.例文帳に追加
プロービングパッド105にパルス電圧を印加しながらプロービングパッド106を流れる電流を測定することにより強誘電体容量素子102の放電電流を測定する。 - 特許庁
To improve reliability of contact between a probing probe and a copper foil pad of an electronic board, when performing a probing test of a continuity state, using a plurality of via holes provided at the electronic board.例文帳に追加
電子基板に設けられた多数のバイアホールを利用して導通状態を触針検査する際に、触針プローブと電子基板の銅箔パッド間の接触の信頼性を向上させる。 - 特許庁
In a hole boring process, the bore hole is formed in the reclamation material 6 in a state of adjusting its probing side magnet piece 9 to a central position with the probing side magnet piece 9 as a mark.例文帳に追加
穿孔工程では、探査側磁石片9を目印として、その探査側磁石片9を中心位置に合わせた状態で更生材6に対して穿孔を形成する。 - 特許庁
To provide a chip probing method and chip probing device capable of improving the failure analysis efficiency, and improving transfer retail of chip information.例文帳に追加
不良解析効率を向上することができ、また、チップ情報の伝達小売りを向上することができるチッププロービング方法及びチッププロービング装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an accurate and a fuss-free method for improving the visibility of a boundary of characteristic evaluation elements which are aligned at equal intervals, preventing work operation mistakes, determining positions of elements in measurement by manual probing, and probing by automatic probing using a layout coordinate.例文帳に追加
等ピッチに並んだ特性評価素子の境界の視認性が向上し、作業ミスの防止や、マニュアルプロービングによる測定において素子の位置の判断や、配置座標を用いた自動プロービングでのプロービングについて、正確に、かつ手間や時間を掛けない方法を提供する。 - 特許庁
Consequently, the probing carried out for the pads only for probing and the double use pads provided in the periphery of the semiconductor chip will be sufficient, and even when the pads only for bonding are arranged on the input/output buffer etc., no problem occurs even if many times of probing inspections are carried out.例文帳に追加
これにより、半導体チップの周辺部に設けられたプロービング専用パッド及び兼用パッドに対してプロービングを行えば足りるようになり、ボンディング専用パッドは入出力バッファ上等に配置しても、多数回のプロービングに対しても不都合が生じる懸念が解消される。 - 特許庁
The discrimination indicator distinguishes the bonding region and the probing region in the bonding pad.例文帳に追加
前記識別表示は、前記ボンディングパッドにボンディング領域とプローブ領域とを区分するものである。 - 特許庁
To provide a microminiature spring contact suitable for probing of an active semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加
能動半導体デバイスのプロービングに適した超小型バネ接点とその作製法に関する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device capable of reducing restrictions in probing position accuracy or the like.例文帳に追加
プロービングの位置精度等の制約を軽減できる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method, probing a material under investigation using an ultrasound beam.例文帳に追加
超音波ビームを使用して調査中の物質を検査するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
PEER-TO-PEER METHOD OF QUALITY OF SERVICE PROBING AND ANALYSIS AND INFRASTRUCTURE EMPLOYING SAME例文帳に追加
サービス品質のプロービングと解析を行うピアツーピアの方法およびこの方法を使用する基盤 - 特許庁
At the time of probing, the probe needle 9b is brought close to a pad 15 on a wafer 11 (a).例文帳に追加
プロービングを行う際には、プローブ針9bをウェハ11上のパッド15に接近させる(a)。 - 特許庁
The path of the probing signal transmitter has an output end of the path being connected to the transmitting antenna.例文帳に追加
前記探知信号送信経路の出力端は前記送信アンテナに接続されている。 - 特許庁
To enable visual observation of probing locations with an inexpensive device without increasing the number of processes.例文帳に追加
工程数を増やさずに、安価な装置を用いてプロ—ビング位置の目視観察を可能にする。 - 特許庁
To improve the efficiency of probing while avoiding the damage of an inspection object or a probe pin.例文帳に追加
検査対象体やプローブピンの損傷の発生を回避しつつプロービングの効率を向上させる。 - 特許庁
A probing end 15 of a two conductor transmission line 12 is brought into a close proximity with the sample under study.例文帳に追加
2導体伝送線路12のプローブ端15は調査中の前記サンプルの近傍に置かれる。 - 特許庁
Adapter elements 170 to 176 are connected to a probing chip 154 that extends from a measuring probe 150 through an element holder 164.例文帳に追加
測定プローブ150から延びたプロービング・チップ154に、要素ホルダ164を介してアダプタ要素170〜176を接続する。 - 特許庁
So, it disables the programmable cards first so this double probing cannot happen. 例文帳に追加
したがって、4.0 の ISA コードでは二重に検索しないよう、プログラマブルなカードを 最初に無効にしています。 - FreeBSD
It is valued in ethnology as a clue to probing the Japanese people's concept of religion and the afterworld. 例文帳に追加
日本人の信仰・他界観念を探るための手がかりとして民俗学上重視される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
A probing module probes a packet transmitted by the user terminal device by one set of connecting port.例文帳に追加
探測モジュールは、一つの接続ポートで前記ユーザー端末装置が送信するパケットを探測する。 - 特許庁
The lowest dummy pattern 1a in the dummy patterns of the prescribed group is connected to a part, where probing of the semiconductor device is required by wiring and the through-hole, and is used as the pad for probing.例文帳に追加
所定のグループのダミーパターンの一番下層のダミーパターン1aは、半導体装置のプロービングが必要な箇所に配線およびスルーホールによって接続され、プロービング用パッドとして使用される。 - 特許庁
To provide a probing card capable of maintaining a temperature of the probing card at a constant without resulting in deterioration of work efficiency and performing an accurate test measurement by a constantly even contact pressure.例文帳に追加
作業効率の低下を招くことなくプロービングカードの温度を一定に保つことができ、常に均一な接触圧で精度の良い試験測定を行うことのできるプロービングカードを提供する。 - 特許庁
The lower electrode of a ferroelectric capacitive element 102 is connected to a probing pad 106 via a pn junction diode 103 and connected to a probing pad 107 via a pn junction diode 104.例文帳に追加
強誘電体容量素子102の下部電極はpn接合ダイオード103を介してプロービングパッド106と、pn接合ダイオード104を介してプロービングパッド107と接続されている。 - 特許庁
A pulsed super-wideband sensor comprises a control unit, a probing signal forming path, a transmitting antenna, a receiving antenna, a path of a probing signal transmitter, a path of a return signal receiver, and a first electronic switch.例文帳に追加
パルス型超広帯域センサは、制御手段と、探知信号生成経路と、送信アンテナと、受信アンテナと、探知信号送信経路と、反射信号受信経路と、第1の電子スイッチとを備えている。 - 特許庁
In this processing method for probing the buried structure, transmission waves are radiated from the surface of the buried structure extended consecutively in the probing objects, and reflected waves of the transmission wave is received to probe the buried structure on the basis of the data of reflected wave.例文帳に追加
探査物体中において連続して延在する埋設物を、送信波を探査物体の表面から放射し、送信波の反射波を受信し、反射波のデータに基づいて探査する。 - 特許庁
On the surface of a probing pad section for wiring to be tested or inspected at a prescribed position, an identifying means which makes the probing pad distinguishable from the peripheral insulating resist is constituted of a distinguishable insulating resist.例文帳に追加
本発明は、所定位置の試験検査対象配線のプロービングパッド部表面に、識別絶縁レジストを構成し、当該プロービングパッド部周囲の周辺絶縁レジストと区別する識別手段を構成する。 - 特許庁
The picture communication apparatus performs an automatic attenuation control for the transmit signal level effective in the case of much communication errors occurring with a specified signal in a line probing transmission or a line probing reception.例文帳に追加
ラインプロービングの送信、またはラインプロービングの受信において、特定の信号での通信エラーが多い場合に、送信信号レベルの自動減衰制御を有効にする画像通信装置である。 - 特許庁
To provide a nondestructive sample probing method and device by an X-ray interferometer, capable of easily and non-destructively probing matter contained in a sample by the X-ray interferometer.例文帳に追加
試料内の含有物をX線干渉計により、容易に、かつ非破壊的に探査することができる、試料のX線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
To restrain increase in production cost and reduce the occurrence of large dents or warpages on a probing object.例文帳に追加
製造コストの高騰を抑えつつ、プロービング対象体における大きな打痕や反りの発生を軽減する。 - 特許庁
Furthermore, a preceding symbol rate is used for the same destination (S3) to omit a sequence of line probing.例文帳に追加
また同一宛先への前回のシンボルレートを用いることで(S3)、ラインプロービングのシーケンスを省略する。 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR HYPER OPERATOR CONTROLLED NETWORK PROBING ACROSS OVERLAID HETEROGENEOUS ACCESS NETWORKS例文帳に追加
重なり合った異種のアクセスネットワークにおけるハイパーオペレータ制御によるネットワーク調査システムおよび方法 - 特許庁
To provide a probe card which increases a measurement precision in a probing test of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体デバイスのプロービング試験時における測定精度を向上させるプローブカードを提供すること。 - 特許庁
In the semiconductor device, adapted in such a way that the line of probing pads 2 disposed on a dicing lane 4 and connected to an internal circuit 1 via connection parts 3 is cut off, a plurality of the probing pads 2 on the dicing lane 4 are disposed alternately, with respect to the probing pads 2 of the adjacent semiconductor devices.例文帳に追加
ダイシングレーン4に配置され内部回路1に対して接続部3を介して接続されるプロービングパッド2の列が切り落とされる構成の半導体装置であって、ダイシングレーン4上の複数のプロービングパッド2が、隣り合う半導体装置のプロービングパッド2に対して互い違いに並ぶように配置されている。 - 特許庁
The pads for probing are arranged in the periphery of the semiconductor chip further than the pads only for bonding.例文帳に追加
プロービング用に用いられるパッドはボンディング専用パッドよりも半導体チップの周辺部に配置される。 - 特許庁
This disables all of the autodetection done by the CD, including deviceautodetection and DHCP probing. 例文帳に追加
デバイスの自動認識とDHCPへの問い合わせを含む、CDによって行われるすべての自動認識を無効にします。 - Gentoo Linux
To enhance the efficiency of probing and trimming processing for an IC chip formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウェハ上に形成されたICチップに対するプロービング及びトリミング処理の効率を高める。 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE, IDENTIFICATION METHOD OF POSITION INFORMATION, PROBING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
電子装置、位置情報の同定方法、半導体集積回路のプロービング方法及び製造方法 - 特許庁
The probe is selectively contacted with the probing point of the sensor board for receiving and outputting a sensing signal.例文帳に追加
該プローブは、選択的にセンサーボードのプローブポイントと接触し、センシング信号の受け取りと出力を行なう。 - 特許庁
To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).例文帳に追加
ディジタルプロービング方式のAFM(原子間力顕微鏡)において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁
The probe section 13 has a probing needle 13a extending from the free end, a foundation layer 14 made of Ta formed on a surface of the probing needle 13a and a cover layer 15 made of Ru applied on the foundation layer 14.例文帳に追加
探針部13は、自由端から延びる探針13aと、探針13aの表面に形成されてTaからなる下地層14と、下地層14に積層されてRuからなる被覆層15とを有する。 - 特許庁
A peer-to-peer (P2P) probing/network quality of a service (QoS) analysis system utilizes a UDP (user data protocol)-based probing tool to determine the latency, bandwidth, and packet loss ratio between a plurality of peers in the network.例文帳に追加
ピアツーピア(P2P)プロービング/ネットワークサービス品質(QoS)解析システムは、UDPベースのプロービングツールを、ネットワークにおける複数のピア間の待ち時間、帯域幅およびパケット損失率を決定するために利用する。 - 特許庁
PROBING METHOD FOR DEFECT OF OUTSIDE WALL MATERIAL, REPAIRING METHOD FOR OUTSIDE WALL MATERIAL, AND COATING MATERIAL FOR SURFACE FINISHING OF OUTSIDE WALL MATERIAL例文帳に追加
外壁材の欠陥の探査方法、外壁材の補修方法及び外壁材表面仕上用塗料 - 特許庁
To realize an arrangement of narrow pads wherein no problem occurs even if many times of probing inspections are carried out.例文帳に追加
多数回のプロービング検査を行っても問題の生じる懸念を解消した狭パッドの配置を実現する。 - 特許庁
To calculate a correction value for use in correcting a moving distance for moving a probe with high accuracy, in probing processing.例文帳に追加
プロービング処理においてプローブを移動させる移動距離を補正するための補正値を高精度に算出する。 - 特許庁
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