「PROBING」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Moreover, the testing apparatus checks operations of the internal circuit for non-probing pad based on the non-inspection data and response data for non-inspection.例文帳に追加

また、テスト装置は、非検査用データと非検査用応答データとに基づいて非プロービングパッドに対する内部回路の動作をチェックする。 - 特許庁

To provide a measuring instrument which includes a device equipped with a freely-attachable/detachable probing system (15) for preventing stylus equipment (17) from damages.例文帳に追加

スタイラス機器（１７）への損傷を防止し、着脱自在な探針システム（１５）を備えた装置をもつ計測機器を提供することである。 - 特許庁

To reduce fluoroscopic noise, when a probing needle being used by a physician or a guide-type medical instrument for medical imaging is in action.例文帳に追加

医師が用いる探触針又はガイド形式の医療撮像用医療器具が運動している場合のフルオロスコピィ雑音を低減する。 - 特許庁

A list of peers for probing is provided by a connection server on the basis of the prior probe result and estimation of network condition.例文帳に追加

プローブするためのピアのリストは、コネクション・サーバによって、以前のプローブ結果およびネットワーク状態の推定に基づいて提供される。 - 特許庁

To improve the reliability by receiving only a reflected wave of a probing wave, which is transmitted from user's vehicle, by a reception means of user's vehicle.例文帳に追加

自車の受信手段では自車から発信される探査波が反射した反射波のみを受信し、信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a method and system for obtaining an attitude of a probe relative to an object by probing the object using the probe.例文帳に追加

物体に対するプローブの姿勢を、プローブを用いて物体をプロービングすることによって求めるためのシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a spring contact probe device advantageous in probing a high-density mounted semiconductor device or the like while simplifying the structure.例文帳に追加

構造の簡略化を図れ、高密度実装化された半導体デバイスなどをプローブするのに有利なスプリングコンタクトプローブ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probing apparatus in which a complicated and high-cost analog signal processing part is digitized, which is simple and low-cost and whose accuracy is stable.例文帳に追加

複雑・高価なアナログ信号処理部をディジタル化した簡易・安価で安定な精度を有する超音波探査装置を提供する。 - 特許庁

To increase the function for protecting loaded probing instruments particularly from very low temperature with respect to a space probe used on the moon and planets.例文帳に追加

月や惑星に投入される宇宙探査装置において、とくに、極低温から探査用の搭載機器を保護する機能などを高める。 - 特許庁

The flux probing part 221 has a width narrower than that of the bias magnetic field inductive layer 21, and is protruded from the bias magnetic field inductive layer 21.例文帳に追加

フラックスプローブ部２２１はその幅がバイアス磁界誘導層２１の幅よりも狭く、バイアス磁界誘導層２１から突出している。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with discrimination indicator for distinguishing a bonding region and a probing region, and its manufacturing method.例文帳に追加

ボンディング領域とプロービング領域とを区分するための識別表示を備える半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In the super G3 mode, line probing is performed at reception start processing, and information related to the S/N and band of the line L is obtained.例文帳に追加

スーパーＧ３モードにおいて受信開始処理時に回線プロービングを行い、回線ＬのＳ／Ｎ比と帯域に関する情報を得る。 - 特許庁

To provide a method which enables easy probing of compositions, especially, the compositions of electrode catalysts for fuel cells.例文帳に追加

組成探査、特に燃料電池用電極触媒の組成探査を容易かつ短時間で行うことができる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an indicator of a probing device which can effectively utilize the cross cursor function when a ship proceeds in a water with many obstacles.例文帳に追加

障害が多い水域を航行する場合に十字カーソル機能を有効に利用できる探査装置の表示装置を提供する。 - 特許庁

To timing-analyze a signal input into a device mounted on a circuit board, without executing probing on the circuit board.例文帳に追加

回路基板上でプロービングすることなく、回路基板に実装されるデバイスに入力される信号のタイミング解析を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a shape measuring machine and a probing apparatus for scanning form measurement capable of alleviating influence of disturbance vibration even with a simple and inexpensive configuration.例文帳に追加

簡便かつ安価の構造で、外乱振動の影響を軽減できる形状測定機および倣いプローブ装置を提供する。 - 特許庁

In the probing test at the first time, the probes 31, 32 are made to come into contact with a first terminal 21a of odd number terminals and all the second terminals 22.例文帳に追加

一回目のプロービングテストで、奇数番目の第１端子２１ａと全ての第２端子２２に、プローブ３１，３２を接触させる。 - 特許庁

To provide a DIP(dual inline package) parts testing jig, in which an workability, reliability, safety and certainty in probing are improved.例文帳に追加

プロービングにおける作業性、信頼性、安全性および確実性が向上するＤＩＰ部品試験用治具を提供することにある。 - 特許庁

METHOD FOR UTILIZING SOUND AND VIBRATION ENERGY, GENERATOR UTILIZING SOUND AND VIBRATION ENERGY, ACOUSTIC DEVICE AND EQUIPMENT FOR PROBING SOUND OR VIBRATION SOURCE例文帳に追加

音及び振動エネルギーの利用方法、音及び振動エネルギーを利用した発電装置、吸音装置及び音響・振動源の探査装置 - 特許庁

To provide a radar-type probing device capable of obtaining a phase change between the transmission wave and the reception wave with a simple configuration.例文帳に追加

送信波と受信波との位相変化分を簡単な構成により取得することができるレーダ型探査装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent data from being illegally monitored or analyzed by directly probing wiring or the exposed section of a terminal in an electronic substrate.例文帳に追加

電子基板において、配線や端子の露出部分を直接プローブすることにより不正にデータをモニタリング、解析することを防止する。 - 特許庁

REMOVING MEMBER FOR FOREIGN MATTER STUCK TO PROBE TIP, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, METHOD FOR CLEANING FOREIGN MATTER STUCK TO PROBE TIP, PROBE AND PROBING DEVICE例文帳に追加

プローブ先端付着異物の除去部材とその製造方法、プローブ先端付着異物のクリーニング方法、プローブおよびプロービング装置 - 特許庁

The most common use of this parameter is to force probing for a second ethercard, as the default is to only probe for one. 例文帳に追加

このパラメータの最もよくある利用法は、2 番目の Ethernet カードを強制的に検出させる場合である(デフォルトでは 1 枚しか検出しない)。 - JM

To suck and fix a warped semiconductor wafer surely and easily on a stage upon probing the semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハのプロービング時において、反りのある半導体ウエハを確実且つ容易に吸着ステージ上に吸着固定できるようにする。 - 特許庁

To provide a fixing tool for a contact probe capable of reducing a contact trace as much as possible when probing.例文帳に追加

プロービングの際の接触痕を可能な限り小さくすることが可能なコンタクトプローブ用固定具を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

An LSI chip 2 can be inspected via wiring on a dicing line 4 from an LSI test chip 3 to an LSI chip 2 by probing an LSI test chip 3 by using a probing needle 103 of an LSI tester 101 and by using the LSI tester 101.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１０１をＬＳＩテスト用チップ３にプロービング針１０３でプロービングすることにより、そのＬＳＩテスタ１０１により、ＬＳＩテスト用チップ３から、ＬＳＩチップ２との間に結線されたダイシングライン４上の配線を通じて、ＬＳＩチップ２を検査することを可能にする。 - 特許庁

A single still image of high magnification and an image of low magnification acquired in real time are put together and displayed because of characteristics of the target contact and probe necessary for probing to actualize the probing with a low magnification, and thereby effects of an electronic beam are reduced to obtain correct electric characteristics.例文帳に追加

プロービングに必要な目標コンタクトとプローブの特性から高倍で１回の静止画と低倍でリアルタイムに画像を取得した画像を合成して表示したことで、低倍でのプロービングが実現できたことで、電子線の影響を少なくし、正しい電気特性を取得することができる。 - 特許庁

Another operation method for the probing apparatus has a step for generating and transferring the thermal energy between a heat-exchange means and at least one member on the probing apparatus, wherein a generation step, a transfer step, and a generation and transfer step for the thermal energy are controlled.例文帳に追加

プローバ装置の他の操作方法は、熱交換手段と上記プローバ装置の少なくとも１つの部材との間において熱エネルギーを生成および伝達する工程を有し、ここでは、熱エネルギーの、生成工程、伝達工程、または、生成すると共に伝達する工程が制御される。 - 特許庁

To precisely and appropriately perform diagnosis by quickly providing a clear tomogram attaching importance to the depth probing as well as an endoscopic inspection.例文帳に追加

内視鏡検査と並行して深さ方向を重視した鮮明な断層画像を迅速に得ることにより、正確かつ適切な診断を行う。 - 特許庁

To provide a method and a system for easily searching a buried structure in various probing objects with a high degree of accuracy, while adaptively controlling the measurement parameters to its optimum value.例文帳に追加

測定パラメータを最適値に適応制御しながら、種々の探査物体中で埋設物を容易にかつ高精度で探索できる。 - 特許庁

To improve an accommodation property in a launch vehicle, the function of communication and power generation, and the protective function against the heat respect to a traveling vehicle for space probing.例文帳に追加

宇宙探査用走行車において、打上げロケットへの収納性、通信や発電の機能および熱に対する保護機能などを高める。 - 特許庁

To specifyingly find a position of a specified probing object in a medium when the plural objects exist in the medium.例文帳に追加

媒質内に複数の探査対象物がある場合にあって、それらのうちの特定の探査対象物の媒質内の位置を特定して求める。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus of a semiconductor device wherein the width of a slide region in a probing stylus is reduced, and also to provide the semiconductor device.例文帳に追加

プローブ針におけるすべり領域の幅を減少させることができる半導体装置の測定装置および半導体装置を提供する。 - 特許庁

A network performance (for example, latency and bandwidth) measurement infrastructure for a large scale network is based on self-organized probing groups of devices.例文帳に追加

デバイスの自己組織化されたプロービンググループに基づく、大規模ネットワークのためのネットワーク性能(たとえば、待ち時間や帯域幅)測定インフラストラクチャ。 - 特許庁

To provide a thermal head having a structure capable of preventing a probing trace from being left on a region in a bonding pad where a connection wire is to be connected.例文帳に追加

ボンディングパッドのうち接続ワイヤを打つべき領域にプロービング痕が付くことを防止できる構成を持ったサーマルヘッドを提供する。 - 特許庁

To reduce measurement time, to simplify a circuit structure, to reduce the generation of operation failure, and to reliably establish connection to a probing object.例文帳に追加

測定時間の短縮、回路構成の簡素化、および動作不良発生を低減し、プロービング対象体に対して確実に接続させる。 - 特許庁

This conical structure allows a low-resistance conductive nanotube probe to be provided wherein only its end that makes contact in probing is reduced in diameter.例文帳に追加

円錐型の構造によって、プロービングで接触する先端部のみ細径化された低抵抗な導電性ナノチューブ探針を提供できる。 - 特許庁

To provide a radar-type probing device having versatility and capable of being used for various targets in spite of characteristics of the target.例文帳に追加

ターゲットの性質にかかわらず、各種のターゲットに対して利用することができる汎用性を持たせたレーダ型探査装置を提供すること。 - 特許庁

Next, a scribing lane is used to connect the PAD (L2) and PAD (U3) capable of stable probing inspection for adjacent chips and the PAD (R1) and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加

次に隣接チップの安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L2),PAD(U3)と小サイズのPAD（R1）,PAD(D1)間とをスクライブレーンを介して接続する。 - 特許庁

To provide a camera system for probing a long distance target which probes and tracks a target widely from long distance to short distance while simplifying the structure.例文帳に追加

構造を簡略化しつつ、遠距離から近距離まで幅広く視標の探査・追跡が可能な遠距離視標探査カメラシステムを提供する。 - 特許庁

The system allows connecting the chips together and testing the collection as a whole by probing the test pads on the carrier.例文帳に追加

システムは、キャリア上のテスト・パッドをプローブすることによってチップを一体に接続し、集合体を全体として試験することができるようにする。 - 特許庁

One chip is formed by using two kinds of pad sizes, PAD (L1) and PAD (U1) capable of stable probing inspection and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加

一つのチップ内において、安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L1),PAD(U1)と、小サイズのPAD(R1),PAD(D1)の2種類のパッドサイズを用いて構成する。 - 特許庁

In probing, since the pattern position of the printed board is visually confirmed by looking through the probe body 5, the contact of the probe pin 12 can easily be achieved.例文帳に追加

プロービング時にプローブ本体５を透してプリント基板のパターン位置を目視で確かめながらプローブピン１２を容易に接触させられる。 - 特許庁

The probing flaw 111 formation area and the bonding area 113 are formed visible enough to be discriminated on the basis of the plane shape of the striking mark 120.例文帳に追加

そして、打ち分けマーク１２０の平面形状に基づき、プロービング傷１１１形成領域とボンディング領域１１３とが識別可能に構成されている。 - 特許庁