「Test Group」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Gonta and a group of ten brave volunteers began to test their skills in a surprise attack on the humans.例文帳に追加

Gontaとバンド 勇敢な信者の... テストに着手 彼らの新しい変換技術... 奇襲攻撃で 人間に。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

a test in which people are asked to chose a one product from a group of products that perform the same function, based on their reaction to the product itself, without being told the brand name or the manufacturer 例文帳に追加

商品の銘柄や会社名を隠して使用させ,その優劣を判断させるテスト - EDR日英対訳辞書

The scan base ATPG test circuit comprises a scan chain group 400 comprising a plurality of scan chains 401, 403, 405 and 407 connected so that test and diagnosis for these scan chains can be performed; and a scan test point group 410 performing processing so that an unknown value present in the scan chain have no influence on a test result.例文帳に追加

スキャンベースＡＴＰＧテスト回路は、複数個のスキャンチェーン４０１，４０３，４０５，４０７についてのテスト及び診断が可能なように、これらを連結したスキャンチェーングループ４００、及びスキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理するスキャンテストポイントグループ４１０を含む。 - 特許庁

A start order selection part of each of the test scenarios G1, G2 is inputted with random designation information outputted by a random designation part, determines start order of a plurality of tests constituting a test group included inside the respective test scenarios G1, G2 corresponding to the random designation information, and decides the start order of the tests of the test group.例文帳に追加

各テストシナリオＧ１，Ｇ２の起動順選択部は、ランダム指定部が出力するランダム指定情報が入力され、このランダム指定情報に対応して各テストシナリオＧ１，Ｇ２内に複数含まれているテスト群を構成するテストの起動順を決定し、このテスト群のテストの起動順を確定する。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument.例文帳に追加

テストプログラム作成部１１は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム２２を作成して出力する。 - 特許庁

According to the present invention, the integrated circuit for a smart card includes a transceiver which communicates with a host device and a joint test action group (JTAG) test controller for carrying out at least one test operation.例文帳に追加

本発明によれば、スマートカード用の集積回路が、ホスト装置と通信をするトランシーバ、及び少なくとも１個のテスト操作を実施するためのジョイントテストアクショングループ（ＪＴＡＧ）テスト制御器を包含している。 - 特許庁

The pin group to receive the fan-out test data is selected using a DMA-based hardware, the test data is fanned out, and a software-based test data program and pattern are prepared to operate the single device.例文帳に追加

ＤＭＡ-ベースハードウェアを利用してどのピングループが“ファンアウト”テストデータを受信すべきであるかを選択し、テストデータをファンアウトし、ソフトウェア-ベーステストプログラムおよびパターンを作り出して単一デバイスを操作することができる。 - 特許庁

To provide an event type test system in which two or more pin unit groups mutually independently perform test operations and which independently generates a plurality of signals for indicating finishing of a test correspondingly to each pin unit group.例文帳に追加

テストシステム内で２以上のピンユニットグループがそれぞれ互いに独立してテスト動作を行い、テスト終了を示す信号を各ピンユニットグループに対応して複数個独立して発生するイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

By this method, a group delay within the limit of fixed offset of device under test and chromatic dispersion can be obtained.例文帳に追加

これにより、被測定デバイスの一定オフセットの範囲内までの群遅延と、色分散とを求めることができる。 - 特許庁

Following the initialization of an internal memory element, a set of a test signal group is generated and processed with a logic block.例文帳に追加

内部記憶要素の初期化に続いて、テスト信号群のセットが論理ブロックによって発生および処理される。 - 特許庁

Further, a sheet adhered with the test paper strip reacting hydrazine is disposed at a lower side of the group of heat transferring tubes.例文帳に追加

さらに、伝熱管群の下方に、ヒドラジンに反応する試験紙を貼付したシートを設置するものである。 - 特許庁

A waveform generation circuit generates the test signal having the packet group containing the PPDU in response to the digital data.例文帳に追加

波形生成回路は、このデジタル・データを受けて、ＰＰＤＵを含むパケット・グループを有する試験信号を生成する。 - 特許庁

A signal processing unit compiles the packet group containing the PPDU and generates digital data indicating the test signal.例文帳に追加

信号処理ユニットは、ＰＰＤＵを含むパケット・グループをコンパイルし、試験信号を表すデジタル・データを生成する。 - 特許庁

The Distributed Object Promotion Group (DOPG) has succeeded in the world's largest Internet Inter-ORB Protocol (IIOP) level interoperability test. 例文帳に追加

分散オブジェクト推進協議会（DOPG）は世界最大のインターネットORB間プロトコル（IIOP）レベルの相互運用性テストに成功した。 - コンピューター用語辞典

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To accurately and timely manage the progress state of a test process without arranging a full-time manager for managing the progress state of a test process in each group.例文帳に追加

各グループ毎にテスト工程の進捗状況を管理する専任の管理者を配置することなく、テスト工程の進捗状況を正確にかつタイムリーに管理する。 - 特許庁

To continue a JTAG (Joint Test Action Group) boundary scan test, even when a failure occurs in some IC, without adding a new control signal or a bypass signal line.例文帳に追加

新たな制御信号やバイパス信号線を追加することなく、いずれかのＩＣに故障が発生しても、ＪＴＡＧバウンダリスキャンテストを継続することができるようにする。 - 特許庁

Based on the prescribed group on the basis of control signals, the pattern corrector 220 corrects test patterns inputted to the shift registers 200 and individually releases the correction of test patterns of which the corrections by the group are not appropriate.例文帳に追加

パターン修正器２２０は、制御信号に基づいて、シフトレジスタ２００へ入力されるテストパターンを所定のグループ単位で修正し、さらに、グループ単位の修正が適正ではないテストパターンへの修正を個別に解除する。 - 特許庁

A group specifying section 24 specifies a group to which an image processor belongs based on identification information included in output request information of a received test image.例文帳に追加

グループ特定処理部２４は、受信したテスト画像の出力要求情報に含まれる識別情報を基に画像処理装置の属する画像処理装置グループを特定する。 - 特許庁

A phase connecting test means 11 inputs a phase image signal 1, a test area size signal 4 and a phase threshold signal 5, performs a test to decide whether a phase difference is less than its threshold in a test range and outputs a connectable pixel group as a connectable mask image signal 2.例文帳に追加

位相接続テスト手段11は、位相画像信号1とテスト領域大きさ信号4、位相閾値信号5を入力しテスト領域内での位相差が閾値以内であるか否かのテストを実行し接続が可能な画素群を接続可能マスク画像信号2として出力する。 - 特許庁

In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes.例文帳に追加

本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁

In a first test mode, an ordinary scanning test is conducted, and in a second test mode, the BIST signal is outputted in parallel from the parallel access memory BIST circuit 3, a sector 4 selects the BIST signal to output to the input side scanning FF group 9A, which conducts the test of the memory block 10.例文帳に追加

第１のテストモードでは通常のスキャンテストが行われ、第２のテストモードでは、パラレルアクセスメモリＢＩＳＴ回路３からＢＩＳＴ信号がパラレルに出力され、セレクタ４がこのＢＩＳＴ信号を選択し、入力側スキャンＦＦ群９Ａに出力し、メモリブロック１０のテストを実行する。 - 特許庁

The analog/digital converter is provided with a shift register 14 that receives comparison results of an amplifier group 12 altogether and provides an output of one bit each of the comparison results of 256-sets of the amplifiers being components of the amplifier group 12 in the case of executing a test of the amplifier group 12.例文帳に追加

アンプ群１２のテストを実行する際、アンプ群１２の比較結果を一括入力し、アンプ群１２を構成する２５６個のアンプの比較結果を１ビットずつ出力するシフトレジスタ１４を設ける。 - 特許庁

A test signal determining section 15 determines the presence of a sound at a position front of the plurality of speakers for each group.例文帳に追加

試験信号判定部１５は、スピーカの組毎に、複数のスピーカの前方の位置における音の有無を判定する。 - 特許庁

To allow an inspection using a test element group (TEG) pattern to be carried out without removing a layer above the TEG pattern.例文帳に追加

ＴＥＧパターンより上の層を除去しなくてもＴＥＧパターンを用いた検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

A conditional parameter group examines the user input from previous parameter groups and only displays its parameter prompts if a single parameter fits a test. 例文帳に追加

これは、前のパラメータグループでのユーザの入力を検証し、それが条件を満たす場合にのみプロンプトを表示します。 - PEAR

Test data definition data 21 input in a unit test program creation system 1 is recorded by XML (extensible markup language), and the hierarchical structure of the structure group supplied to a test target program is represented by a previously defined tag.例文帳に追加

単体テストプログラム作成システム１が入力するテストデータ定義データ２１は、ＸＭＬ（extensible markup language）によって記載され、予め定義したタグによって、テスト対象プログラムに供給する構造体群の階層構造が表されている。 - 特許庁

TestCase instances provide three groups of methods: one groupused to run the test, another used by the test implementation to check conditions and report failures, and some inquiry methodsallowing information about the test itself to be gathered.Methods in the first group are:例文帳に追加

TestCaseインスタンスには、次の3種類のメソッドがあります:テストを実行するためのメソッド・条件のチェックやテスト失敗のレポートのためのメソッド・テストの情報収集に使用する問い合わせメソッド。 テストを実行するためのメソッドを以下に示します: - Python

Then, an arbitrary test parameter is selected from the calculated test parameter group, and the parameter value is developed within a predetermined range including a value calculated from observation data (a step S2).例文帳に追加

次に、算出された検定パラメータ群から、任意の検定パラメータが選択され、そのパラメータ値が、観測データより算出された値を含む所定の範囲内に展開される（ステップＳ２）。 - 特許庁

Each formation of tests 102, 202 is processed so that a redundant test is removed, and that a space for inserting therein new genetic material 108 into a group in the form of a random test vector is formed.例文帳に追加

更に、冗長なテストが排除され、及びランダムテストベクトルという形で集団内に新たな遺伝材料108を挿入する余地を形成するように、テスト102,202の各生成が処理される。 - 特許庁

The method for screening the Mest expression controller comprises preparing a group consisting of the two or more test substances, administering each test substance to the animal for the tests, measuring the amount of the Mest mRNA in the fat cells of the animal or the amount of the Mest proteins in the blood and selecting the test substance causing the change in the expression level of the Mest mRNA from the group.例文帳に追加

２つ以上の被試験物質からなる群を用意し、各被試験物質を試験用動物に投与し、前記動物の脂肪細胞中のMestのmRNA量または血液中のMestタンパク質の量を測定し、上記群からMestのmRNA発現量を変化させる被試験物質を選択する、Mest発現調節因子のスクリーニング方法。 - 特許庁

Compression output of L bits output of the M group is outputted with time division responding respectively to a plurality of test command.例文帳に追加

複数の試験コマンドにそれぞれ応答して，前記Ｍ群のＬビット出力の圧縮出力を時分割で出力する。 - 特許庁

To allow a short-circuit test of an electrode plate group for a lead-acid battery using a bag-like separator to be surely executed.例文帳に追加

袋状セパレータを用いた鉛蓄電池用極板群の短絡試験を確実に行なわせることができるようにすること。 - 特許庁

To realize low cost by suppressing the number of LSI chips to be taken on a wafer by an electrode terminal of a scribing TEG (test element group).例文帳に追加

スクライブＴＥＧの電極端子によるＬＳＩチップのウエハ上での取れ数削減を抑制して、低コスト化を実現する。 - 特許庁

Each test mode circuit comprises also a decoding circuit AD#R,... outputting a group reset signal resetting a corresponding latch circuit.例文帳に追加

各テストモード回路は、対応するラッチ回路をリセットするグループリセット信号を出力するデコード回路ＡＤ♯Ｒ、…をさらに含む。 - 特許庁

In the test element group 10, n elements DUT1-DUTn each consisting of a field effect transistor are arranged regularly.例文帳に追加

テストエレメントグループ１０において、電界効果型トランジスタからなるｎ個の素子ＤＵＴ１〜ＤＵＴｎが規則的に配置されている。 - 特許庁

ELectronic data of verification object DUT specifications 21, a various DUT specification libraries 26, a test item library 22, a test specification library 27, a verification library 24, a test template group 25, correspondence information 28, and a DUT library 29 are stored in the database part 20.例文帳に追加

データベース部２０は、検証対象ＤＵＴ仕様２１、各種ＤＵＴ仕様ライブラリ２６、テスト項目ライブラリ２２、テスト仕様ライブラリ２７、検証ライブラリ２４、テストテンプレート群２５、対応情報２８、ＤＵＴライブラリ２９の電子データを格納する。 - 特許庁

A test pattern generating circuit 13 is provided with a first logical circuit group for generating random patterns for a plurality of channels corresponding to parallel signals, and test patterns generated by the test pattern generating circuit are fed to a transmitting circuit 12 in parallel.例文帳に追加

テストパターン発生回路（１３）において、パラレル信号に対応する複数チャネル分のランダムパターンを発生するための第１論理回路群を設け、テストパターン発生回路で発生されたテストパターンをパラレル形式で送信回路（１２）に供給する。 - 特許庁

The test pattern comprises straight line groups with line intervals and line widths varying, where the straight line groups are a lengthwise pattern group in the lengthwise line direction, and a broadwise pattern group in the broadwise line direction.例文帳に追加

ライン間隔及びライン幅を変化させた直線群により構成され、ライン方向を縦とした縦パターン群、及び、ライン方向を横とした横パターン群を有したテストパターン。 - 特許庁

Therefore, it is possible to select, in an On-the-Fly manner, a DQ group to be output using the external output group select signal during a test using a bypass mode.例文帳に追加

従って、透過モードを利用したテスト時に外部の出力グループ選択信号を利用して出力されるＤＱグループをＯｎ−ｔｈｅ−Ｆｌｙ形式で選択することができる。 - 特許庁

The circuit element group where a plurality of circuit elements are arranged and a pad group where pads for electrically performing the input/ output to their circuit elements are arranged and a wiring pattern group for connecting the circuit elements with the pads are made into one component, and four components are independently arranged in the test element group.例文帳に追加

複数の回路素子を配置した回路素子群とそれら回路素子に電気的な入出力を行う為のパッドを配置したパッド群と回路素子とパッドを接続する配線パターン群をひとつの構成要素とし、評価素子群内に４構成を独立配置する。 - 特許庁

A data shifter 20 shifts read-out data by N clock cycles (N is integer of 0 or more) of the internal test clock signal to output read-out data from the DRAM core MCR operating based on the internal test clock signal at the time of a test mode from the test pin terminal group TPG synchronizing with the external clock signal.例文帳に追加

データシフタ２０は、テストモード時においては内部テストクロック信号に基づいて動作するＤＲＡＭコアＭＣＲからの読出データを、外部クロックテスト信号に同期してテストピン端子群ＴＰＧから出力するために、読出データを内部テストクロック信号のＮクロックサイクル（Ｎは０以上の整数）だけシフトさせる。 - 特許庁

When the connection characteristics of the connection mechanisms are different from each other, a second load test execution part 24 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for each processor group classified according to the difference in connection characteristics, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第２負荷試験実行部２４は接続機構の接続特性に相違がある場合、接続特性の相違に応じて分類された複数のプロセッサ群毎に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、複数のプロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

A TEG group 300 includes a pad 310 for first test, a pad 312 for second test, and a plurality of TEGs (for example, a first TEG 320, a second TEG 340, and a third TEG 360).例文帳に追加

ＴＥＧ群３００は、第１テスト用パッド３１０、第２テスト用パッド３１２、及び複数のＴＥＧ（例えば第１ＴＥＧ３２０、第２ＴＥＧ３４０、及び第３ＴＥＧ３６０）を有している。 - 特許庁