「Test Group」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

a method of administering blood tests, called "group projective test" 例文帳に追加

トランスアミナーゼ検査という血液検査法 - EDR日英対訳辞書

A test unit inputs a test signal group to the device to be tested and the test device.例文帳に追加

テスト装置は、被テストデバイス及びテストデバイスに対して、テスト信号群を入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment capable of controlling a test pin group individually by allocating the test pin group to a test controller online.例文帳に追加

テストコントローラへテストピングループをオンラインで割り付け、テストピングループを個別に制御することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST GROUP FORMING DEVICE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

テストグループ作成装置及びその作成方法 - 特許庁

TEST RESULT ADJUSTING SYSTEM FOR ADJUSTING TEST RESULT OF DEVICE IN GROUP AND TEST RESULT ADJUSTING METHOD例文帳に追加

グループ内のデバイスのテスト結果を調整するためのテスト結果調整システムおよびテスト結果調整方法 - 特許庁

We take them out of the group, put them in a test chamber.例文帳に追加

彼らを群れから連れ出し 実験室に入れます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加

起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁

That is, the inputs are an operation procedure file 1, a setting contents file group 3, and a test expectation value group 5, while the output is a test output group 6.例文帳に追加

即ち入力には、動作手順ファイル１、設定内容ファイル群３、及びテスト期待値群５があり、出力にはテスト出力群６がある。 - 特許庁

A TEG (Test Element Group) forms an electric characteristic evaluation pattern that is provided with a plurality of unit transistors T11, T12, T13, T21, T22, T23, T31, T32, and T33.例文帳に追加

ＴＥＧ（Test Element Group）１は、格子状に配列された複数の単位トランジスタＴ１１，Ｔ１２，Ｔ１３，Ｔ２１，Ｔ２２，Ｔ２３，Ｔ３１，Ｔ３２，Ｔ３３を備えた電気特性評価パターンである。 - 特許庁

Each test inside the test group is sequentially started in the set order, and simulation is executed.例文帳に追加

テスト群内の各テストは、この設定された順番で順次起動され、シミュレーションが実施されていく。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SIMULATION CIRCUIT PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST SUBSTRATE, AND GROUP OF TEST SUBSTRATES例文帳に追加

模擬回路パターン評価方法、半導体集積回路の製造方法、テスト基板、及びテスト基板群 - 特許庁

In order to test programmable routing resources completely in a self test area, an exhaustive test pattern is applied to a wire group under test which is reconfigured repeatedly.例文帳に追加

自己試験区域内でプログラム可能経路指定資源を完全に試験するために網羅的なテスト・パターンが繰り返し再構成される試験中のワイヤ群に適用される。 - 特許庁

He's put together a study group, because we have a really big test next week.例文帳に追加

来週 大事な テストがあるから 数人で集まって 勉強するの - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The second group of options controls how test failures are reported: 例文帳に追加

二つ目のオプション群は、テストの失敗を報告する方法を制御します: - Python

The PACS 2 searches a current image group and a past image group of the test subject based on the patient ID.例文帳に追加

ＰＡＣＳ２は患者ＩＤに基づいて、被検体の現在画像群および過去画像群を検索する。 - 特許庁

To provide a test system using a JTAG (joint test action group) extension interface provided by expanding a conventional JTAG, making the best use of an existing resource.例文帳に追加

既存の資源を生かして、従来のJTAGを拡張したJTAG拡張インタフェースを用いたテストシステムを提供する。 - 特許庁

An upper layer Al film 7 for the pat of a test element group TEG1 is arranged to overlap the lower layer Al interconnect 5b of the test element group TEG1.例文帳に追加

テストエレメントグループＴＥＧ１のパット用上層Ａｌ膜７を、テストエレメントグループＴＥＧ１の下層Ａｌ配線５ｂと重なるように配置する。 - 特許庁

To provide a test element group which can measure the element characteristics accurately regardless of whether or not a protective diode exists, and to provide a semiconductor device equipped with the test element group.例文帳に追加

保護ダイオードの有無に拘らず、素子特性を精度良く測定することの可能なテストエレメントグループおよびそれを備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test interface circuit TICa performs an operation test based on a signal inputted to a test pin terminal group TPG by directly accessing a DRAM core.例文帳に追加

テストインタフェース回路ＴＩＣａは、テストピン端子群ＴＰＧに入力される信号に基づく動作テストを、ＤＲＡＭコアに直接アクセスして実行する。 - 特許庁

A test result information storage means 4 stores test result information set to a test result notifying frame to the present device in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

試験結果情報蓄積手段４は、自装置宛の試験結果通知フレームにセットされた試験結果情報を自装置のレジスタ群８に蓄積する。 - 特許庁

A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).例文帳に追加

検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT DEVICE AND FLIP-FLOP GROUP INITIALIZATION METHOD INSIDE INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法 - 特許庁

When the test result stability index and the module stability index of a certain group exceed thresholds, a list preparation part 18 prepares a list in which the test data of the group is aggregated.例文帳に追加

リスト作成部１８は、あるグループのテスト結果安定性指数及びモジュール安定性指数が閾値を超えていれば、そのグループのテストデータを集約したリストを作成する。 - 特許庁

Therefore it is possible to test one IC by using one pogo seat group.例文帳に追加

従って、１個のポゴ座群により１個のＩＣの検査を行うことが可能である。 - 特許庁

The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加

テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群１０１と、テストプログラム生成用部品具現化部１０２と、乱数器１０３と、テストプログラム出力部１０４とを備えたテストプログラム生成器１００を用いて行われる。 - 特許庁

In an EDS test, the test pads and the bonding pads are electrically coupled to each of corresponding probe pins of a test apparatus, so that the inner circuits and the test element group circuits are simultaneously tested.例文帳に追加

ＥＤＳテスト時に、前記テストパッドと前記ボンディングパッドにはテスト装置の対応するプローブピンが各々電気的に連結され、その結果、前記内部回路と前記テスト素子グループ回路が同時にテストされる。 - 特許庁

This unit test device 10 executes a unit test by defining at least one screen among a series of screen group having screen transition as a test object picture.例文帳に追加

本発明によるユニットテスト装置１０は、画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施する。 - 特許庁

A multiplying circuit 10 generates an internal test clock signal TST CLK2 made by multiplying an external test clock signal TST CLK inputted to the test pin terminal group TPG.例文帳に追加

逓倍回路１０は、テストピン端子群ＴＰＧに入力される外部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫを逓倍した内部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫ２を生成する。 - 特許庁

The integrated circuit chip includes a test pad, a test element group coupled to the test pad, and a plurality of bonding pads each coupled to corresponding inner circuits.例文帳に追加

本発明による集積回路チップは、テストパッド、前記テストパッドに連結されたテスト素子グループ、及び対応する内部回路に各々連結される複数のボンディングパッドを含む。 - 特許庁

A signal from a core is cut off to a memory module group which did not pass the test.例文帳に追加

テストに合格しなかったメモリモジュール群に対しては、コアからの信号を遮断する。 - 特許庁

To reduce an NW load and operational load of an OAM test by grouping logical networks and selecting a test target from each group.例文帳に追加

論理ネットワークをグルーピングし、グループ毎に試験対象を選択し、ＯＡＭ試験に関わるＮＷ負荷、および運用負荷を低減する。 - 特許庁

The next step after creating your unit test classes is to create test suites.See Creating JUnit 3 Test Suites to see how to run specified tests as a group so you do not have to run each test individually.例文帳に追加

単体テストクラス作成後の次の手順は、テストスイートの作成です。 指定されたテストをグループとして実行し、各テストを個々に実行しなくて済むようにする方法については、「JUnit 3 テストスイートの作成」を参照してください。 - NetBeans

A channel selection part 15 is included in a test zone, specifies a cell group comprising cells in which an identical frequency group is allocated, and selects one channel per one cell group.例文帳に追加

チャネル選択部１５が、試験ゾーンに含まれ、かつ同一の周波数群が割り当てられたセルからなるセルグループを特定し、一のセルグループにつき一のチャネルを選択する。 - 特許庁

To provide a device and a program for supporting to rapidly and easily prepare the test case group of a test specification providing a low working load to a test case preparing person and capable of increasing a coverage.例文帳に追加

テストケース作成者に与える作業負荷が低く、網羅性の高い試験仕様書のテストケース群を迅速かつ容易に作成できるよう支援を行う装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide test equipment of a SDH/SONET communication apparatus in which the test is facilitated by lessening the burden on a tester when a test of a container belonging to a group is carried out.例文帳に追加

グループに属するコンテナに関する試験を行う際に、試験者の負担を軽減して試験を簡易にすることができるＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ通信機器試験装置を提供すること。 - 特許庁

The test device is operated corresponding to the input test signal group, and supplies a test pattern signal to the device to be tested corresponding to the first clock, the device to be tested is operated by the test pattern signal input corresponding to the first clock, while generates a test result.例文帳に追加

テストデバイスは入力されたテスト信号群に対応して動作し、第１クロックに対応して被テストデバイスにテストパターン信号を供給し、被テストデバイスは第１クロックに対応して入力されたテストパターン信号で動作するとともにテスト結果を生成する。 - 特許庁

This extract is effectively used to control tumor growth and is useful also in a blood group test.例文帳に追加

上記のエキスは、腫瘍成長の抑制に有効に用いられ、血液型試験にも有用である。 - 特許庁

The user terminal 1 receives a voice data group inputted from plural user terminals and a text group corresponding to this voice data group from the management server 2 and outputs the voice data group as voice and displays the test group as pictures.例文帳に追加

また、複数の利用者端末の各々から入力された音声データ群と該音声データ群に対応するテキスト群とを管理サーバー２から受信して上記音声データ群を音声出力すると共に上記テキスト群を画面表示する。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example.例文帳に追加

例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁

when referring to a medical test, specificity refers to the percentage of peoplewho test negative for a specific disease among a group of people who do not have the disease. 例文帳に追加

医学検査においては、特定の疾患のない人の集団のなかでその疾患に対する検査で陰性の結果が出る人の割合のことをいう。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

when referring to a medical test, sensitivity refers to the percentage of people who test positive for a specific disease among a group of people who have the disease. 例文帳に追加

医学検査においては、特定の疾患のある人の集団のなかでその疾患に対する検査で陽性の結果が出る人の割合のことをいう。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

Further, the nozzles of the group whose amount of light is not higher than the threshold and the nozzles of the group adjacent to the group whose amount of light is not higher than the threshold value are grouped to print a second test pattern.例文帳に追加

ノズルをスキャニング解像度毎にグループ化して、第１テストパターンを印刷し、印刷された第１テストパターンをスキャニングして得られた光量が閾値以下であるグループを検出する。 - 特許庁

When the data group D does not satisfy the approximation termination condition, split test subroutine Split-Data (D, D_1, and D_2) is performed to the data group D to divide the data group D to D_1 and D_2.例文帳に追加

データ集合Ｄが近似終了条件を満たさないときは、データ集合Ｄに対して分割テストサブルーチンSplit-Data（Ｄ，Ｄ_1，Ｄ_2）を行い、データ集合ＤをＤ_1とＤ_2に分割する。 - 特許庁