「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

When the state or the set conditions of a printer are varied, an image for test print is formed based on the state or the set conditions of an apparatus and printed at the test print.例文帳に追加

プリンタの状態や設定状況が変化した場合に、装置の状態や設定状況を元にして、テストプリントのための画像を作成しておき、それをテストプリント時に印刷する。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

The determining means 3 halts the test until the monitored temperature of the element 1 reaches a set temperature and transmits a signal to renew the test to an electric power impressing circuit 4 at the time it reaches the set temperature.例文帳に追加

判定手段３は、モニタされた素子温度が設定温度に達するまで試験を停止し、設定温度に達した時点で電力印加回路４に試験再開の信号を送る。 - 特許庁

The test circuit 4 is set in a test operation mode including a plurality of modes by switching internal multiplexers 11a, 11b corresponding to a test signal TST[a:b] used as a mode switching signal.例文帳に追加

テスト回路４は、モード切替信号となるテスト信号ＴＳＴ［ａ：ｂ］に応じて内部のマルチプレクサ１１ａ、１１ｂが切り替えられ、複数のモードからなるテスト動作モードに設定される。 - 特許庁

A test signal given to the integrated memory is varied in synchronization with a test clock signal, an invalid state is set by a control signal being not synchronizing with this test clock signal, and given to the memory (3).例文帳に追加

混載メモリへ与えられるテスト信号をテストクロック信号に同期して変化させかつこのテストクロック信号と非同期の制御信号で無効状態を設定し、メモリ（３）へ与える。 - 特許庁

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.例文帳に追加

ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

An input switch signal 8 is set in a test mode by a test enable signal input from a test setting terminal 5, and a signal input from a tester 2 is input into an address control 9.例文帳に追加

テスト設定端子５から入力されるテストイネーブル信号によって入力切替スイッチ８はテストモードに設定し、テスター２から入力される信号はアドレスコントロール９に入力する。 - 特許庁

To provide a bus loading test device and a processing system by which a state of a bus loading is realized at optional set ratio and a bus test is easily performed with successful test efficiency.例文帳に追加

設定した任意の割合でバス負荷の状態を実現でき、しかも試験効率良く容易にバス試験を行うことができるバス負荷試験装置および処理システムを提供する。 - 特許庁

The control part 24 is set in either a normal operation mode or a test mode on the basis of the instruction information received through the communication I/F 15, controls the execution of the series of bill validation operations when set in the normal operation mode and controls the execution of a test operation when set in the test mode.例文帳に追加

制御部２４は、通信Ｉ／Ｆ１５を介して受信した指示情報をもとに、通常動作モードまたはテストモードのいずれかに設定し、通常動作モードに設定した場合に一連の紙幣識別動作の実行を制御し、テストモードに設定した場合にテスト動作の実行を制御する。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test.例文帳に追加

簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test mode can be set by an address key when a test in which high power source voltage is applied is performed.例文帳に追加

高い電源電圧を印加する試験を行なっている場合にアドレスキーによってテストモードの設定が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

Since the function (6W/2W conversion circuit 32) of the repeater system is incorporated in the test telephone set 20, an efficient test is made possible.例文帳に追加

試験用電話機２０にレピータ装置の機能（６Ｗ／２Ｗ変換回路３２）が内蔵されているので、効率的な試験が可能となる。 - 特許庁

An electronic device tester channel supplies a single test signal to a plurality of terminals of electronic devices of under test (DUTs) through a set of isolation resisters.例文帳に追加

電子装置テスタチャネルは、電子的な被験装置（ＤＵＴ）の多数の端子に一組の分離抵抗を介して単一のテスト信号を送る。 - 特許庁

To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.例文帳に追加

検査対象アドレスのデータとＥＣＣデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なＥＣＣ機能検査を実行する。 - 特許庁

In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.例文帳に追加

リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁

Moreover, various circuits 2, 3, 4, 5, 6, 7, 17, and 18 switch output signals to the set test data when the test mode setting is valid on the basis of the test mode selection signal and the test data input signal.例文帳に追加

以下、各種回路２、３、４、５、６、７、１７および１８についてもテストモード選択信号とテストデータ入力信号により、それぞれに設定されたテストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータに出力信号を切り替える。 - 特許庁

For the test item related to a software module not corrected/changed from the previous time, the determination rule is set so as to present OK as the final test result when the result is matched to the test execution result of the previous test.例文帳に追加

前回から修正／変更されていないソフトウエアモジュールに関わるテスト項目については、前回テストのテスト実施結果と一致した場合には、最終的なテスト結果としてＯＫが提示されるよう、判定ルールは設定する、 - 特許庁

When fatigue test is performed on test pieces by means of bend load by providing the test pieces 31 with vibration of a previously set vibration frequency, a plurality of support mechanisms are formed on a support body 11a supporting/fixing one end part of each test piece.例文帳に追加

試験片３１に予め設定された振動数で振動を与えて曲げ負荷によって、試験片の疲労試験を行う際、試験片の一端部が支持固定される支持体１１ａに支持機構を複数形成する。 - 特許庁

The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加

ここにおいて、ロジックチップ（２）は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路（２２）を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子（６）を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路（２２）に格納する。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

After a test mode is set, an input side of a switch is switched to a pulse output line side.例文帳に追加

テストモードに設定された後、スイッチの入力側がパルス出力ライン側に切り換えられる。 - 特許庁

A procedure is disclosed for generating the optimal index mask in response to the set of the valid test value.例文帳に追加

有効なテスト値のセットに応答して最適のインデックス・マスクを生成するプロシージャを開示する。 - 特許庁

To accurately set many kinds of correction values from limited kinds of densities of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの限られた種類の濃度から、多くの種類の補正値を精度良く設定する。 - 特許庁

Therefore, stresses in three axial directions can be freely set to be applied to the test sample 4.例文帳に追加

したがって試験体４に三軸方向の応力を自由に設定してかけることができる。 - 特許庁

A test board 2 is set, to which a plurality of semiconductor devices 1 are arranged in a matrix form.例文帳に追加

複数の半導体装置１が格子状に配列されるテストボード２が設けられている。 - 特許庁

In S57, a speaker is set up based on the sound volume V of the test sound at that time.例文帳に追加

Ｓ５７では、テスト音響のその時の音量Ｖに基づきスピーカのセットアップを実施する。 - 特許庁

A test set (400) is configured following the navigation to at least one of the (MPFs) (106).例文帳に追加

ＭＰＦのうちの少なくとも１つへのナビゲーションに続きテストセット（４００）を構成する（１０６）。 - 特許庁

To precisely set a product at the time of a leak test and to prolong the life of an O ring.例文帳に追加

リークテスト時に、製品を精度良くセットできるようにし、しかもＯリングの寿命を延ばす。 - 特許庁

Then, the test case whose priority is high is extracted based on the set thinning rate.例文帳に追加

そして、設定されている間引き率に基づいて、優先順位の高いテストケースが抽出される。 - 特許庁

To appropriately set a generation timing of a strobe signal in operation test of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置の動作テストに際し、ストローブ信号の発生タイミングを適切に設定する。 - 特許庁

As an administrator for your printers, you have had to install, set up, and test them. 例文帳に追加

プリンタの管理者として、プリンタの設置、設定、そして、それらのテストをおこなう必要がありました。 - FreeBSD

Now, such test cases can be numerous, and their set-up can be repetitive.例文帳に追加

似たようなテストを数多く行う場合、同じ環境設定処理を何度も必要となります。 - Python

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

The first set of working zones is generally angled relative to the second set of working zones, thus forming an "X" shaped test pattern.例文帳に追加

ワーキング・ゾーンの第１セットは、ワーキング・ゾーンの第２セットに対して一般に角度をつけられ、よって「Ｘ字」形状のテストパターンを形成する。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.例文帳に追加

予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁

A gap adjustment test is carried out by passing a test current set in a range, corresponding to 1/2 to 1/10 of a rated current of the series reactors 24u to 24w therethrough.例文帳に追加

ギャップ調整試験は、直列リアクトル２４ｕ〜２４ｗにその定格電流の１／２〜１／１０の範囲で設定された試験電流を流して行われる。 - 特許庁

A test pattern generating means 40 generates a test pattern T with the same data value as the code pattern data based on the set range and the initial value I.例文帳に追加

試験パターン生成手段４０は、設定された範囲及び初期値Ｉにもとづいて、符号パターンデータと同一のデータ値を持つ試験パターンＴを生成する。 - 特許庁

Using the analogue signal input terminal 1 and the A/D converter 5, the test mode is set, so that only a single test mode setting terminal 3 is required.例文帳に追加

アナログ信号入力端子１及びＡ／Ｄコンバータ５を利用して、テストモードの設定を行うので、テストモード設定用端子３は１個で済む。 - 特許庁

To directly confirm whether a power supply and a burn-in mode set signal for a burn-in test are fed to a semiconductor device at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時において、半導体装置にバーンイン試験のための電源とバーンインモード設定信号が供給されているか直接確認する。 - 特許庁

To provide a sensory test device and a sensory test method, which can set an optimum pass/fail determination criterion with the small number of learning samples.例文帳に追加

少ない学習用のサンプルで最適な良否判定基準を定めることを可能とした官能検査装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁