「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The storage cell is connected in series to allow test input data to be set when the internal circuit is tested.例文帳に追加

記憶素子は、内部回路を試験するとき直列接続されてテスト入力データが設定される。 - 特許庁

To predict a noise figure of a DUT without mechanical switching in a test set.例文帳に追加

ＤＵＴの雑音指数の予測が、試験セットにおける機械的切換えなしで行われるようにする。 - 特許庁

In a shift mode of a scan pass test, the control signal dc is set to '1', the control signal dcn is set to '0', and the data receiving clocked inverter 23 is set to an off-state and separated from the node 25.例文帳に追加

スキャンパステストのシフトモード時には、制御信号ｄｃを“１”、制御信号ｄｃｎを“０”に設定し、データ取り込み用クロックドインバータ２３をオフ状態にしてノード２５から切り離す。 - 特許庁

For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加

例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと；該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁

Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.例文帳に追加

テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

To determine the offset data, the test data can be written to the test track with a write clock calibration delay set to zero, the test data can then be read from the test track and the first difference can be subtracted from the second difference to determine the offset value for the write clock calibration delay.例文帳に追加

オフセット値を決定するには、書込みクロック較正遅延を０に設定してテスト・データをテスト・トラックに書き込み、次いで、テスト・データをテスト・トラックから読み取り、第２の差から第１の差を引いて、書込みクロック較正遅延のオフセット値を決定すればよい。 - 特許庁

To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.例文帳に追加

供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

Then, the identical substrate (S3) is exposed to the test structure of a second set identical to the first set during a second test exposure sequence using a second course which is equivalent to the first course but in which movement is caused in a reverse direction state.例文帳に追加

つぎに第１セットと同一の、第２セットのテスト構造を、第１コースと等しいが逆方向状態で移動させる第２コースを使って、第２テスト露光シーケンスの間、同一基板上に露光する（Ｓ３）。 - 特許庁

(2) A person who has successfully passed a trade skill test set forth in Article 25, paragraph (1) of the Old Act (including trade skill tests based on the provision of the preceding paragraph) shall be deemed to have successfully passed a trade skill test set forth in Article 62, paragraph (1) of the New Act. 例文帳に追加

２　旧法第二十五条第一項の技能検定（前項の規定に基づく技能検定を含む。）に合格した者は、新法第六十二条第一項の技能検定に合格した者とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

Then, a test condition is set, a screen transition tree is displayed from the screen transition information, and a range to be registered is specified while considering the combination of the test target screen and the test condition to achieve batch registration.例文帳に追加

そして、テスト条件の設定、画面遷移情報から画面遷移ツリー表示を行い、テスト対象画面とテスト条件の組み合わせを考慮して登録する範囲を指定し、一括登録を行うことを可能とする。 - 特許庁

To relieve a load on an operating test work at installation or the like to confirm by an operator performing the operating test whether or not a setting switch is normally set to thereby enable the minimum number of people, that is, one person to carry out the operating test.例文帳に追加

動作試験を行う作業者は正常に設定スイッチが設定されているかを確認するための施工時等における動作試験作業を軽減し、最低限の人数、即ち一人で実行可能にする。 - 特許庁

The coating nozzle 144 is set opposite to a desired position on a test coating tape 39 of the test coating device, and the center of imaging by the camera 190 in this state is obtained as a reference position of the test coating device.例文帳に追加

塗布ノズル１４４を試し塗布装置の試し塗布テープ３９０上の所望の位置に対向させ、その状態におけるカメラ１９０の撮像中心を試し塗布装置の基準位置として取得する。 - 特許庁

To obtain a wear-testing machine in a simple configuration that can arbitrarily set the relationship between the revolution and rotation on its own axis for a test piece that is supplied for a wear test by agitation and can be adapted to various kinds of test environments.例文帳に追加

攪拌による摩耗試験に供される試験片に対して公転と自転との関係を任意に設定することができ、種々の試験環境に適応可能な簡易な構成の摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

The test to add a base station sector to an active set differs based on whether other sectors of that base station already exist in the active set.例文帳に追加

基地局セクタをアクティブセットに追加するための試験は、その基地局の他のセクタがアクティブセットに既に存在しているかどうかに基づいて異なる。 - 特許庁

The color pattern of the color patch is set in response to the image characteristic (S203), and a test chart by the set color patch is outputted to the printer (S204).例文帳に追加

そして該画像特性に応じてカラーパッチの配色を設定し（Ｓ２０３）、該設定されたカラーパッチによるテストチャートをプリンタに出力させる（Ｓ２０４）。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

A scan test is executed in a plurality of steps by changing combination between a partial scan chain set as PRS and a partial scan chain set as MISR, and thereby the test can be performed without installing a test response compressor separately from the scan chain, to thereby reduce the area overhead.例文帳に追加

ＰＲＳとして設定する部分スキャンチェーンとＭＩＳＲとして設定する部分スキャンチェーンの組合せを変えて、複数のステップでスキャンテストを実行することによって、スキャンチェーンとは別にテスト応答圧縮器を設けることなくテストを行うことができるので、面積オーバーヘッドが削減される。 - 特許庁

In a functional test of the semiconductor integrated circuit 5, the polishing sheet 6 is brought into press contact with a probe 9 to polish a tip of the probe 9 while remaining set on a tape carrier package test device.例文帳に追加

半導体集積回路５の機能試験時、テープキャリアパッケージ試験装置にセットされたまま、研磨シート６はプローブ９に圧接してプローブ９の先端を研磨する。 - 特許庁

To perform pull-down operation in a short time at a test run, and to set proper target suction pressure even if a season at the test run is in either case.例文帳に追加

試運転時のプルダウン運転を短時間で行うことができ、また、試運転時の季節が何れであっても適切な目標吸入圧力を設定することができる。 - 特許庁

To optimize test items to be set to each examinee, to secure fairness among examinees, and to make operations easy for examinees in a computer adaptive test.例文帳に追加

コンピュータ適応型テストにおいて、各受検者に出題すべきテスト項目を最適化するとともに受検者間の公平性を担保し、受検者の操作を容易にする。 - 特許庁

Also, after finishing a material test, magnetic flux density is set by controlling an exciting current so that magnetic flux density equivalent to that in the preparation phase of the material test.例文帳に追加

また、材料試験が終了した後には、材料試験の準備段階と同等の磁束密度が得られるよう励磁電流を制御して磁束密度を設定する。 - 特許庁

The controller 1 decides the appropriateness of a predetermined test output voltage of the test output signal Dn (n=10) comparing the voltage with a set input voltage stored in advance.例文帳に追加

制御器１は、試験出力信号Ｄｎ（ｎ＝１０）の所定試験出力電圧の適正を、予め記憶された設定入力電圧とを比較して判定する。 - 特許庁

The method and system comprises extracting resources required to run a discrete test case or set of associated test cases on a design.例文帳に追加

この方法およびシステムは、ある設計に対して離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースを実行するのに必要とされるリソースを抽出することを含む。 - 特許庁

The voice line in the voice switch has a connection to a first metallic line test bus connected to the voice switch metallic line test unit via a first relay set.例文帳に追加

音声交換機内の音声回線カードは、第一リレー群を介して音声交換機メタル回線テストユニットに接続された第一メタル回線テストバスに接続されている。 - 特許庁

The first displacement characteristic obtained from a bending test result and the second displacement characteristic obtained from a tension test result are combined to set it as the analyzing displacement characteristic (S22).例文帳に追加

そして、曲げ試験結果から得られる第一変位特性と、引張試験結果から得られる第二変位特性と、を組み合わせて解析用変位特性とする（Ｓ２２）。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.例文帳に追加

複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

Cross-functional coverage acquisition is set between functions having dependency, and a test procedure is created to test functions having no dependency in parallel.例文帳に追加

そして依存関係の有る機能間にクロスファンクションカバレッジの取得を設定し、依存関係の無い機能のテストは並行して実行するようにテスト実行手順を作成する。 - 特許庁

A substrate to be inspected 1 is manually set by an operator on a support base 22 provided for the test unit 14.例文帳に追加

操作者は、試験ユニット１４が備える支持台２２の上に被検査体である基板１をマニュアルでセットする。 - 特許庁

The priority is set on the test device side in a type-of-service (TOS) area of the header of the packet data.例文帳に追加

優先度は、試験装置側で、パケットデータのヘッダにおけるタイプ・オブ・サービス（ＴＯＳ）の領域に設定される。 - 特許庁

Following the initialization of an internal memory element, a set of a test signal group is generated and processed with a logic block.例文帳に追加

内部記憶要素の初期化に続いて、テスト信号群のセットが論理ブロックによって発生および処理される。 - 特許庁

An antenna 16 receives a test signal that is a signal containing a symbol to which a predetermined value is set beforehand.例文帳に追加

アンテナ１６は、あらかじめ所定の値が設定されたシンボルを含む信号であるテスト信号を受信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can accurately set nodes at inner power source potential to external test potential.例文帳に追加

内部電源電位のノードを外部テスト電位に正確に設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test card and wafer tray set and integrated on a port 11 are sent to an assembling/disassembling apparatus 12.例文帳に追加

ポート１１上にセットされた一体化されたテストカードとウェハトレイとは、組立・解体装置１２に送られる。 - 特許庁

At the reset releasing time, the flip-flop 4 with LOAD/HOLD holds input data, and a test mode setting signal TESTMODE[7:0] is set.例文帳に追加

リセット解除時、LOAD/HOLD付きフリップフロップ４は、入力データをホールドし、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]が設定される。 - 特許庁

An access control circuit 3 is set to a WLBI mode holding a test mode as it is, and wafer level burn-in is performed.例文帳に追加

テストモードを保持したまま、アクセス制御回路３をＷＬＢＩモードに設定し、ウェハレベルバーンインを実行する。 - 特許庁

The internal circuit is tested by the scan method on the basis of the test input data set in the storage cell.例文帳に追加

内部回路は、この記憶素子に設定されるテスト入力データに基づいてスキャン方式で試験される。 - 特許庁

The maximum allowable load to be applied to the test piece TP is set beforehand as a threshold SH of a control quantity.例文帳に追加

試験片ＴＰに作用する最大許容負荷を制御量のしきい値ＳＨとして前もって設定する。 - 特許庁

In GPIIN setting 32, on/off of a test, a polarity, a function and a parameter are set for each input part.例文帳に追加

ＧＰＩＩＮ設定３２では、入力部毎に、テストのＯＮ／ＯＦＦ、極性、機能及びパラメータの設定がされる。 - 特許庁

Data indicating what relay control is expected to be performed is set to the test data.例文帳に追加

そのテストデータには、どのような中継制御を行われることが期待されるかを示すデータを設定しておく。 - 特許庁

When all the mode selection signals are set to the output test mode, the integrated circuit 10 makes normal operations.例文帳に追加

全てのモード選択信号を出力テストモードへセットした時、集積回路１０は通常の動作を行う。 - 特許庁

Therefore, only four data input/output terminals are connected to the tester and the test mode B can be set by a maker.例文帳に追加

したがって、４つのデータ入出力端子のみをテスタに接続してメーカー側でテストモードＢを設定できる。 - 特許庁

Once you have a set of diffs (which you may test with the patch(1) command), you should submit them for inclusion with FreeBSD. 例文帳に追加

差分ファイル (patch(1) コマンドでテストできます)を作ったら、それらを FreeBSD に含めてもらうようメールで送ってください。 - FreeBSD

If the feature-status property is set to progress, then the test indicates success even though a mismatch occurred. 例文帳に追加

「機能の状態」プロパティーを「progress」に設定した場合は、不一致が発生しても、テストが成功したとみなされます。 - NetBeans