「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Upper casing 21 has setting part 31 to the immunochromatographic test piece, which is set to immunochromatographic test piece 10 of lower casing 22, to attach immunochromatographic test piece 10 on the part placed opposite to observation window 25 beyond immunochromatographic test piece 10.例文帳に追加

上部ケーシング２１には、免疫クロマト試験片１０に当接して、下部ケーシング２２の免疫クロマト試験片１０を挟んで観測用ウィンドウ２５とは反対側に位置する部分に免疫クロマト試験片１０を密接させるための免疫クロマト試験片当接部３１を有する。 - 特許庁

When a signal at a prescribed speed is sent out from the signal generator 41 to the cable 40 and also a signal in a prescribed frequency band, S, is transmitted from the test set 2 to the mobile phone 3, noise radiated from the cable 40 and the signal S from the test set 2 are received in the mobile phone 3, and the receiver sensitivity is measured by the test set 2.例文帳に追加

所定速度の信号を信号発生器４１からケーブル４０に送出すると共に、所定周波数帯の信号Ｓをテストセット２から携帯電話機３に送信すると、ケーブル４０から輻射するノイズとテストセット２からの信号Ｓとが携帯電話機３に受信され、その受信感度が、テストセット２によって測定される。 - 特許庁

In the dispensation of the test sample, the pump aspirates the test sample in the total amount of the common dummy amount and the dispensation amount set on the sample dispensation conditioning screen 43, and then delivers the test sample of the aspirated dispensation amount.例文帳に追加

また、被検試料の分注では、共通ダミー量及びサンプル分注条件設定画面４３に設定された分注量を総和した量の被検試料を吸引した後、吸引した分注量の被検試料を吐出する。 - 特許庁

To provide a photometric device capable of executing accurate photometry by easily adjusting the position of a test object so that the condensing position of an illumination light flux condensed on a test surface is set to a face top position of the test surface.例文帳に追加

測光装置において、被検面上で集光される照明光束の集光位置が被検面の面頂位置になるように被検体の位置を容易に調整して精度よく測光を行うことができるようにする。 - 特許庁

When a test is started, a control means 110 generates a timing signal for generating a test pattern signal according to set information and generates the address designation signal of the test pattern memory means 130 every cycle period.例文帳に追加

試験が開始されると、制御手段１１０は、設定情報に従ってテストパターン信号を生成するタイミング信号を発生するとともに、サイクル周期毎にテストパターン記憶手段１３０のアドレス指定信号を発生する。 - 特許庁

Timing of refresh-operation in a test mode is set based on a refresh-pulse generating signal TREF1 for the first test generated by a refresh-pulse generating circuit 62 for the first test responding to the address transition detecting signal ATD.例文帳に追加

テストモードにおけるリフレッシュ動作のタイミングは、アドレス遷移検出信号ＡＴＤに応答し第１のテスト用リフレッシュパルス発生回路６２で発生される第１のテスト用リフレッシュパルス発生信号ＴＲＥＦ１に基づき設定される。 - 特許庁

To provide a test mode setting circuit of MCU, which does not separately have a test pin, in which a test mode is set through the use of only the reset pin or the clock pin of the basic constitution element of MCU to be applied to MCU with the small number of pins.例文帳に追加

テストピンを別途に備えず、ＭＣＵの基本構成要素のリセットピン又はクロックピンのみを用いてテストモードを設定して、ピン数の少ないＭＣＵにも適用し得るＭＣＵのテストモード設定回路を提供すること。 - 特許庁

A storage device controls the transmission of test data according to a protocol set for a test mode upon receiving a test instruction when a reception interface section and a transmission interface section are electrically connected together, for example, through a cable or the like.例文帳に追加

受信インターフェース部と送信インターフェース部とが例えばケーブル等の電気的接続によって直結される場合に、試験指示を受け付けると、試験モード用に設定されたプロトコルに従って試験データの送信を制御する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

The lighting device can be set to a test mode by one operation of a switch 25b at the time a test is performed such as on a range of an object sensor 26a and a lighting retention time at the time of adjustment at installation or after installation, thereby, the test can be performed easily.例文帳に追加

設置時や設置後の調整時に物体センサ２６ａの範囲や点灯保持時間等のテストを行う際に、スイッチ２５ｂ一つの操作でテストモードにすることができるので、容易にテストを行うことができる。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Ａは、試験手段３５が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置１との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をＣＰＵ２１に有する。 - 特許庁

While the set is in use, a first surface approaches the DUT and a second surface approaches the load board in a test site.例文帳に追加

同セットの使用中、第１の面はＤＵＴに近接し、第２の面はテストサイトにおけるロードボードに近接する。 - 特許庁

To set an optional value in a boundary scan register to facilitate a test, without operating an internal logic, in a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

内部ロジックを動作させることなく、任意の値をバウンダリスキャンレジスタに設定可能とすることにより、テストを容易にする。 - 特許庁

An edge discrimination reference setting means 1036 changes the edge discrimination reference for test image to set it a plurality of times.例文帳に追加

エッジ判別リファレンス設定手段１０３６は、テスト画像用のエッジ判別リファレンスを変更して複数回設定する。 - 特許庁

To enhance operability at the time when switching optionally a state of selection/non-selection of a set item as to a test.例文帳に追加

試験に関する設定項目の選択／非選択の状態を任意に切替える際における操作性の向上を図る。 - 特許庁

To set a range for judging whether electronic devices are good or not, in accordance with test patterns to be supplied to the electronic devices.例文帳に追加

電子デバイスの良否を判定するための範囲を、電子デバイスに供給する試験パターンに応じて設定する。 - 特許庁

Precision is not sacrificed because the optimum waiting time can be set automatically, and the test time is shortened.例文帳に追加

自動的に最適な待ち時間を設定できるので、精度を犠牲にすることなく、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

A test apparatus 200 is set in a running route of the TCP tape 1 and tests the device by connecting to it.例文帳に追加

試験装置２００は、ＴＣＰテープ１の走行経路中に設けられ、デバイスと接続することによりデバイスを試験する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that can set a plurality of test patterns at arbitrary positions of an image region independently.例文帳に追加

複数のテストパターンを、画像領域の任意の位置に、独立して、設置することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A floppy disk in which the progression state/test record data up to the previous time is stored is set in a floppy disk drive 34.例文帳に追加

フロッピーディスクドライブ３４に、前回までの進捗状況／テスト成績データが格納されたフロッピーディスクをセットする。 - 特許庁

The graininess index GI corresponding to an optional test ink amount set can accurately be predicted by the neural network.例文帳に追加

ニューラルネットワークによれば任意のインク量セットについての粒状性指数ＧＩを正確に予測することができる。 - 特許庁

For example, in the case of an optical disk corresponding to a double density CD format, the total number of test areas is set in the range of 800 to 1200.例文帳に追加

例えば、２倍密度ＣＤフォーマットに対応した光ディスクの場合、テストエリアの総数を８００〜１２００とする。 - 特許庁

A selection signal sl3 is set in a test mode, and an output signal S24 is selected by a selector 26, and a pattern matching part 25 is by-passed.例文帳に追加

選択信号sl3はテストモードに設定され、セレクタ26で出力信号S24が選択され、パターンマッチング部25がバイパスされる。 - 特許庁

When an external address signal Ext.A<7> is set to a H level at the time of setting a mode register in a SDRAM, it becomes in a state in which a test mode can be set.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいてモードレジスタセット時に外部アドレス信号Ｅｘｔ．Ａ＜７＞をＨレベルに設定するとアドレス信号によってテストモードを設定できる状態となる。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加

オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

When the capsules 16 are at set positions separated by an angle interval of 180° from the air leakage test positions, the works having been tested are taken out from the capsules 16, and new works are set.例文帳に追加

カプセル１６が上記エアリークテスト位置から１８０°の角度間隔だけ離れたセット位置にある時、テスト済みのワークをカプセル１６から取り出し、新しいワークをセットする。 - 特許庁

A test mode is set in this D/A converter 100 and a current switch 50 for a test is turned ON and OFF in linkage with the current switch 20-1 of the constant current source 10-1 of a lowest order.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータ１００でテストモードに設定し、テスト用の電流スイッチ５０が最下位の定電流源１０−１の電流スイッチ２０−１と連動してオン、オフする。 - 特許庁

A measuring tube 30 holding a test filter 50 is connected to an aperture 25 formed in a duct 10 that introduces gas for testing so that the filter plane of the test filter 50 is vertically set.例文帳に追加

試験用気体を導入するダクト１０に形設した開口部２５に、テストフィルター５０を保持する測定管３０を、テストフィルター５０のフィルター面が垂直になるように接続する。 - 特許庁

To easily execute a test such as an operation margin test executed by changing a set value to a semiconductor chip after carrying out different settings on a chip basis by fuse trimming or the like.例文帳に追加

ヒューズトリミングなどによってチップ毎に異なる設定をした後の半導体チップに対して設定値を変化させて行う動作マージン試験などのテストを容易に行えるようにする。 - 特許庁

The standard testing piece 12 is constituted of a first to fourth standard test pieces 12a to 12d and the strengths of the test pieces 12a and 12d are set to known strengths.例文帳に追加

標準試験体１２は、第１〜第４標準試験体１２ａ〜１２ｄから構成され、標準試験体１２ａ，１２ｄの強度は、それぞれが既知の強度に設定されている。 - 特許庁

In order to allow a recording test in the user data zone, a portion of the user data zone is replaced with a replacement region and is set to be a region for the recording test as a region for adjustment.例文帳に追加

ユーザデータゾーンで記録テストを行うことを可能にするために、ユーザデータゾーンの一部を交替領域で交替して調整用領域である記録テスト用の領域として設定する。 - 特許庁

A width of the groove is set to prevent the test probe from coming into contact with the first metal wiring layer when the test probe is pressed on an upper surface of the second metal wiring layer.例文帳に追加

溝の幅は、試験用プローブが第２のメタル配線層の上面に押し当てられた時、その試験用プローブが第１のメタル配線層に接触することを阻止するように設定する。 - 特許庁

An attachment 2 set with the test piece 3 is installed in the stage, and the moving speed when the test piece 3 is scanned is found by counting the number of pulses of encoder output waveforms 18 during a prescribed time.例文帳に追加

試験片３をセットしたアタッチメント２をステージに設置し、試験片３が走査したときの移動速度を所定時間中のエンコーダ出力波形１８のパルス数をカウントして求める。 - 特許庁

An end user (or the collocation room of the telegraph company) is then simulated using the VDSL chip set 61 and a test is performed by transmitting a test packet to the collocation room of the telegraph company (or the end user).例文帳に追加

ＶＤＳＬチップセット６１を利用して、エンドユーザ（又は電信業者のコロケーションルーム）を模擬して、電信業者のコロケーションルーム（又はエンドユーザ）へテストパケットを送信してテストを行う。 - 特許庁

In a mode in which the waiting time is decided, a test pressure is given, the valves are closed in the same manner as in the test mode, and the piston 21 of an air cylinder 20 is moved at a set speed by a movement means 30.例文帳に追加

この待ち時間を決定するモードでは、上記テストモードと同様にテスト圧付与、弁閉じの後、エアシリンダ２０のピストン２１を移動手段３０により一定速度で移動させる。 - 特許庁

The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.例文帳に追加

転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁

When the two test signals RRT and CRT are simultaneously set to "H", the control signal XF becomes "L" and the control signal YFD becomes "H" if the inside becomes in a correct test state.例文帳に追加

２つの試験信号ＲＲＴ，ＣＲＴを同時に“Ｈ”に設定したとき、内部が正しい試験状態になれば、制御信号ＸＦは“Ｌ”、制御信号ＹＦＤは“Ｈ”となる。 - 特許庁

A test table generation device includes: an equipment set input part 1: an upstream book analysis part 3; an equipment characteristic acquisition part 4: an equipment characteristic matching part 5; and a test table generation part 14.例文帳に追加

試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、試験テーブル生成部１４とを備える。 - 特許庁

An indeterminate value reactivating means 104 allocates into an indeterminate value in a test pattern, a value used in a corresponding position within a test pattern one or a random number behind inside the set.例文帳に追加

不確定値再活性手段１０４は、テストパタン内の不確定値に、セット内で１つまたは任意個だけ後ろにあるテストパタンで対応する位置に用いられている値を割り当てる。 - 特許庁

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

Furthermore, in this case, the lighting time can be set to be shorter than a normal lighting retention time, and the next test can be performed in a short time, thus, the test can be performed efficiently.例文帳に追加

また、この際、点灯時間を通常の点灯保持時間よりも短く設定できるので、短時間で次のテストを行うことができ、効率よくテストを行うことができる。 - 特許庁

This LSI for communications is provided with a test control part 5 for receiving a reset set signal RB, a test mode signal TM and a flag F, outputting a reset signal R in response to the supply of the reset set signal RB in a normal operation, and outputting a reset signal R in response to the supply of a flag F in a test mode.例文帳に追加

リセット設定信号ＲＢとテストモード信号ＴＭとフラグＦとの供給を受け、通常動作時にはリセット設定信号ＲＢの供給に応答してリセット信号Ｒを出力し、テストモード時にはラグＦの供給に応答してリセット信号Ｒを出力するテスト制御部５を備える。 - 特許庁

This DDR SDRAM is provided with a test mode entry signal generating circuit making a test mode entry signal TMODE a 'H' level in accordance with that a first command CMDA, a second command CMDB, a test mode entry set command TMESA, a third command CMDC, and a test mode register set command TMRSA are inputted continuously synchronizing with a rise edge of a clock signal CLK.例文帳に追加

このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、第１コマンドＣＭＤＡ、第２コマンドＣＭＤＢ、テストモードエントリセットコマンドＴＭＥＳＡ、第３コマンドＣＭＤＣ、およびテストモードレジスタセットコマンドＴＭＲＳＡがクロック信号ＣＬＫの立上がりエッジに同期して連続的に入力されたことに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＯＤＥを「Ｈ」レベルにするテストモードエントリー信号発生回路を備える。 - 特許庁

When a test copying key is pushed (S23), the original is read by a scanner and images are accumulated, and the set contents are related and stored (S24) and test-copied by one by a printer (S25) so as to check whether the stored set contents go-along with what the user desires.例文帳に追加

試しコピーキーを押す（Ｓ２３）と原稿がスキャナで読み取られ画像蓄積され、前記設定内容関連付け記憶され（Ｓ２４）、これをプリンタで１部試しコピーし（Ｓ２５）記憶された設定内容が使用者の希望に沿っているかをチェックする。 - 特許庁

When the start key of a final control element 16 is operated, set in a mode for recording a test pattern, the image data of a test pattern stored in an image memory 18 are read out, and the image data of the test pattern are recorded in two sheets of recording paper 73 and 74 in a recorder 15.例文帳に追加

テストパターンを記録するモードに設定されて、操作部１６のスタートキーが操作されると、画像メモリ１８に記憶しているテストパターンの画データが読み出されて、そのテストパターンの画データが記録部１５で記録紙７３，７４に記録される。 - 特許庁