「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The test circuitry 3 has the same circuit constitution as that of the synchronous circuitry 1, and the paths except the paths to be tested are set at prescribed values.例文帳に追加

テスト回路部３は同期回路部１と同一回路構成を有し、且つテスト対象のパス以外のパスが所定の値に設定される。 - 特許庁

A data set which does not depend upon the process is obtained (S13) by scanning (S12) a test image (S11) and converted (S14) to CMYK representation.例文帳に追加

テスト画像（Ｓ１１）をスキャンして（Ｓ１２）、プロセスに依存しないデータ組を得て（Ｓ１３）、これをＣＭＹＫ表現へ変換する（Ｓ１４）。 - 特許庁

To enable a testing jig to be easily set and to be changed in setup regardless of parts loading conditions, in an in-circuit test stage, etc., of a printed wiring board.例文帳に追加

プリント板インサーキットテスト工程他で、プリント板部品搭載状況に関わらず、容易にテスト治具の設定・段取り替えが出来る。 - 特許庁

Thus, the time from the start of the operation test upto reach to the scale set value of the output simulation signal of the integrator 40 is made constant.例文帳に追加

これにより動作試験開始から積分器４０の出力模擬信号が目盛設定値に達するまでの時間を一定にさせる。 - 特許庁

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

To conduct the test of the current driving capability of an output circuit in a manufacture stage and to set the output circuit to optimum current driving capability.例文帳に追加

製造段階で出力回路の電流駆動能力を試験し、出力回路を最適な電流駆動能力に設定する。 - 特許庁

The SVIH detecting circuit 22 detects that the device is set to a test mode when a potential of the terminal T1 exceeds the prescribed potential.例文帳に追加

ＳＶＩＨ検出回路２２は、端子Ｔ１が所定の電位より高くなった場合にテストモードに設定されることを検知する。 - 特許庁

Then, when the printing is performed, the subscan feed is corrected according to the correction value set in compliance with the printing results of the test pattern.例文帳に追加

そして、印刷を行う際に、テストパターンの印刷結果に応じて設定された補正値に従って副走査送り量を補正する。 - 特許庁

The cleaning number control part 15 directs the measurement of the next test object when the cleaning number coincides with the set maximum cleaning number.例文帳に追加

洗浄回数制御部１５は、洗浄回数が設定された最大洗浄回数になれば、次の検体の測定を開始させる。 - 特許庁

The semiconductor circuits 101 are set in test mode for testing the operation of the plurality of semiconductor circuits 101 by the setting circuits 102.例文帳に追加

設定回路１０２により、半導体回路１０１を、複数の半導体回路１０１の動作を試験する試験モードに設定する。 - 特許庁

EXTRACTION SYSTEM OF COMBINATION SET OF CLINICAL TEST DATA, DETERMINATION SYSTEM OF NEOPLASM PROGRESS USING THE SAME AND CLINICAL DIAGNOSIS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

臨床検査データの組合わせ集合の抽出システムとこれを用いた腫瘍進行度の判定システム並びに臨床診断支援システム - 特許庁

The processing of a test piece 9 is provided by irradiating a processing area 53 set on a processing-positioning image 52 with an ion beam 8.例文帳に追加

加工位置決め画像５２上に設定した加工領域５３に対しイオンビーム８を照射することで試料９を加工していく。 - 特許庁

A test kit is further provided which utilizes a nucleic acid amplification technique using a primer set common to the botulinum toxin genes of the respective types.例文帳に追加

さらには、各型のボツリヌス毒素遺伝子に共通するプライマーセットを用いた核酸増幅方法を利用した検査方法による。 - 特許庁

A graininess index GI corresponding to each test ink amount set is calculated by analyzing image data obtained by the scanner SC.例文帳に追加

スキャナＳＣによって得られた画像データを解析することにより各テストインク量セットに対応する粒状性指数ＧＩを算出する。 - 特許庁

You can also run the test from within the IDE and have it use a different set of options, such as turning off the red and green colored flags. 例文帳に追加

また、IDE 内からテストを実行したり、赤色や緑色のフラグをオフにするなど別のオプションの組み合わせを使用したりできます。 - NetBeans

This jig is provided with a base member 2 set on a test piece T and a guide member 3 for guiding in the formation of cuts Ca and Cb.例文帳に追加

試験片Ｔ上にセットされるベース部材２と、切り傷Ｃａ、Ｃｂを形成する際の案内をなすガイド部材３とを備える。 - 特許庁

To provide a hearing test device allowing easy handling though using a marketed personal computer, and only requiring a small set area.例文帳に追加

市販のパーソナルコンピュータを使用していながら取り回しが簡単であり、設置領域も少なくてすむ聴力検査装置を提供する。 - 特許庁

The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加

この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁

First, a tentative optimal recording power is set up matching the recording linear velocity, then test data are recorded in the APC area by increasing or decreasing the tentative optimal recording power by a small amount, and the optimal recording power is set up based on the β value and the like obtained by reproducing the test data.例文帳に追加

記録線速度に応じた仮の最適記録パワーを設定し、仮の最適記録パワーを微小量だけ増減させた記録パワーでＡＰＣ領域にテストデータを試し書きし、テストデータを再生して得られるβ値などに基づいて最適記録パワーを設定する。 - 特許庁

After software of approved test mode contents are downloaded from a learning contents site by accessing a learning server 3 with a mobile telephone set 2 through the Internet 4, the access to the learning server 3 is quit and learning problems in an approved test mode are solved within a certain time by using the mobile telephone set 2.例文帳に追加

携帯電話２からインターネット４を介して学習サーバ３にアクセスし、学習コンテンツサイトから認定試験モードコンテンツのソフトウェアをダウンロードした後、学習サーバ３とのアクセスを切断して携帯電話２から認定試験モードの学習問題をある時間以内に実行する。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

This management table 35 compares a bad block allowable total number optionally set to a bad block allowable total number value setting register with the total number of the bad blocks of the test which a bad block total number counter counts, and when a counter value reaches the allowable limit, a flag of upper limit of the bad blocks is set and the test failure is determined.例文帳に追加

この管理テーブル３５は、バッドブロック総数許容値設定レジスタに任意に設定されたバッドブロック総数の許容値とバッドブロック総数カウンタによりカウントされるテストのバッドブロックの総数とを比較し、カウンタ値が許容値に達した際にバッドブロック数上限フラグを立てテストフェイルとする。 - 特許庁

In this way, a plurality scenarios are not written in the same register in substantially the same timing, and consequently, unintended register setting is not set during each verification work and the test designer can design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

これにより、複数のシナリオがほぼ同じタイミングで同一のレジスタに書き込まれることがなくなるので、それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

The determination process includes a process for receiving identification information indicating one test image of a plurality of test images printed using the plurality of pattern sets from a user and a process for determining one pattern set corresponding to one test image on the basis of the identification information.例文帳に追加

決定工程は、複数のパターンセットを用いて印刷された複数のテスト画像のうちの１つのテスト画像を示す識別情報をユーザから受け取る工程と、識別情報に基づいて１つのテスト画像に対応する１つのパターンセットを決定する工程と、を含む。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not.例文帳に追加

入口ノード１０は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

The tester 36 measures corresponding to each test item in accordance with a test pattern in which a plurality of test items are set in the given order, and determines by a measured result determination part 60 whether the measured result is succeeded or failed, thereby testing the presence or absence of the failure of the solid-state imaging device.例文帳に追加

テスタ３６は、複数の検査項目が所定の順序で設定されたテストパターンに従って各検査項目に応じた測定を行い、その測定結果の良否を測定結果判定部６０で判定することによって、固体撮像素子の不良の有無を検査する。 - 特許庁

In the case of registration correction, in a present set condition (condition where it is assumed that registration deviation does not exist), the C test pattern and the K test pattern are plotted so that a central short line forming the C pattern in each step state is superposed on the corresponding K line, and a test image 50A is formed on the paper.例文帳に追加

レジストレーション補正時には、現在の設定状態（レジストレーションずれがないと仮定した状態）で、Ｃの各階段状パターンを形成している中央の短ラインが、対応するＫのラインと重なるように、ＣのテストパターンとＫのテストパターン描き、用紙上にテスト画像５０Ａを形成する。 - 特許庁

And in the disk test apparatus 10, when test results of the error rate and the side erase performed under these conditions are NG(fail), the format conditions are relaxed and new format conditions are set to the disk apparatus 20, and the test is performed again under these relaxed format conditions.例文帳に追加

そして、ディスク試験装置１０は、かかるフォーマット条件下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合には、フォーマット条件を緩和してディスク装置２０に新たなフォーマット条件を設定し、この緩和されたフォーマット条件下で試験を再び実施する。 - 特許庁

By inputting a test mode signal to a test mode input terminal 6, a RAM 2 (special cell requiring the measurement of a standby current) of a semiconductor device 1 is set to a standby state through a dedicated test mode circuit 7 (such as an OR 4 inserted to a chip enable signal line 3, for example).例文帳に追加

テストモード入力端子６にテストモード信号を入力することにより、専用のテストモード回路７（例えば、チップイネーブル信号ライン３に介挿した論理和４）を介して半導体装置１のＲＡＭ２（スタンバイ電流の測定を要する特殊セル）をスタンバイ状態に設定する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, based on the test return loss value and insertion loss value stored in the memory, the insertion loss values are compared, respectively, for the test frequencies at which the test return loss goes below a specified threshold (S470), and a test frequency corresponding to a maximum insertion loss value (minimum absolute value), as a result of comparison, is set as a candidate frequency (S480).例文帳に追加

さらに、メモリに記憶されたテスト反射損失値及び挿入損失値に基づいて、テスト反射損失値が規定閾値以下であるテスト周波数それぞれについての挿入損失値を比較し（Ｓ４７０）、その比較の結果、最大（絶対値が最小）となる挿入損失値に対応するテスト周波数を候補周波数として設定している（Ｓ４８０）。 - 特許庁

When the STAB program is set to be dinamically patched according to the module tests while a test target program is loaded to a debugger, a plurality of module tests can be carried out while loaded the debugger, and consequently, test man-hours can be reduced.例文帳に追加

テスト対象プログラムをデバッガにロードした状態で、モジュールテストに合わせてスタブプログラムをダイナミックにパッチ設定することで、デバッガにロードした状態で複数のモジュールテストが可能となるため、テスト工数が削減できる。 - 特許庁

In a wafer check step, electrodes 9, 10, 11 are set to a ground level and a test voltage is applied to an electrode 8, thereby applying a test voltage higher than that in normal operation to gate oxide films of MOSFETs Q1, Q2.例文帳に追加

ウェハ検査工程では、電極９、１０、１１をグランドレベルに設定し、電極８にテスト電圧を印加することで、ＭＯＳＦＥＴＱ１、Ｑ２のゲート酸化膜に通常動作時よりも高いテスト電圧を加える。 - 特許庁

An injection rate is set at a fixed value equivalent to a test injection rate, according to the test time concentration curve, and a plurality of predicted time concentration curves when the injection rate is determined as various values are created (S7).例文帳に追加

テスト時間濃度曲線に基づき、注入速度はテスト注入速度と等しい一定値とし、注入速度は種々の値に定めた場合の複数の推定時間濃度曲線が作成される（Ｓ７）。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

These algorithms remove a reference impedance offset between test pieces by using a mathematical technique, and corrects an offset drift in scanning, and can balance the system by using only a set of test pieces of unclear quality.例文帳に追加

これらのアルゴリズムは、数学的な手法を用いて、試験片間の基準インピーダンスオフセットを除去し、走査中、オフセットドリフトを補正し、不明な品質の一組の試験片だけを用いて、システム平衡化を可能にする。 - 特許庁

The CPU 16 compares the fetched test data with the test data stored in the ROM 18 and when they are not mutually coincident, sets response time with a larger value than the presently set response time in a control register.例文帳に追加

ＣＰＵ１６は、取り込んだテストデータとＲＯＭ１８に記憶されたテストデータと比較し、一致しない場合には、現在設定されている応答時間よりも大きい値の応答時間を制御レジスタ２８に設定する。 - 特許庁

To provide a scan flip flop, which enables a test device to be designed without user's consideration of the state of reset signal/set signal, in a scan shift operation mode in a test of a semiconductor integrated device.例文帳に追加

半導体集積装置のテストにおいて、ユーザがスキャンシフト動作モードにおけるリセット信号／セット信号の状態を考慮することなくテスト装置を設計することができるスキャンフリップフロップを提供すること。 - 特許庁

Then, when it is set in a mode for calibrating the recording starting position of the recorder 15 and the manuscript of the test pattern is read with a reader 14, the recording starting position is calibrated automatically, based on the read test pattern.例文帳に追加

そして、記録部１５の記録開始位置を較正するモードに設定して、テストパターンの原稿を読取部１４で読み取らせると、読み取ったテストパターンに基づいて、自動的に記録開始位置が較正される。 - 特許庁