「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

RTL function description data, a test bench, various restriction, synthetic restriction and a document corresponding to the set values of the parameters are obtained by the parameter correspondence list PL.例文帳に追加

パラメータ対応リストＰＬによって、このパラメータの設定値に対応したＲＴＬ機能記述データ，テストベンチ，各種制約，合成制約，ドキュメントが得られる。 - 特許庁

A measuring means 17 for optically reading a coloration intensity of a test paper 18 set to the chip 13 is installed to one side part of the chip loading part 50.例文帳に追加

このチップ装填部５０の一側部には、チップ１３が備える試験紙１８の呈色強度を光学的に読み取る測定手段７が設置されている。 - 特許庁

The system facilitates changing test methods for the printer, so that a basic set of system software can be readily applied to different types of printing hardware.例文帳に追加

本システムを用いると、プリンタのテスト法を容易に変えることができ、システムソフトウェアの基本セットを相異なるタイプの印刷ハードウェアに容易に適用できる。 - 特許庁

Also, depending on a corresponding test mode, voltage of a bit line is set to a higher (internal power source voltage) or lower (ground voltage) voltage than equalizing voltage of a normal operation node.例文帳に追加

また、対応するテストモードにより、ビット線の電圧を通常動作ノードのイコライズ電圧より高く（内部電源電圧）または低く（接地電圧）設定する。 - 特許庁

The test print 2 is formed (S105), the relation of the laser output and the density is obtained from the density information obtained in the step S106 (S107) and gamma conversion characteristics are set (S108).例文帳に追加

テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁

The delay amount of the exposure timing in the counter 16 is set based on the deviation in the subscanning direction of each pixel in the case of exposing a test image.例文帳に追加

このカウンタ１６における露光タイミングの遅延量は、テスト画像を露光した際の各画素の副走査方向のずれ量に基づいて設定される。 - 特許庁

For an automatic correction process, automatic correction processing sections 60 are connected to a set reference channel and a target channel and a test signal is input.例文帳に追加

自動補正処理において、設定した基準ｃｈと対象ｃｈに自動補正用処理部６０が接続され、テスト信号が入力される。 - 特許庁

Test data set so that the total values are X, Y and Z are stored in the addresses with a, b and c added to the head addresses respectively.例文帳に追加

先頭番地にａ、ｂ、ｃ、ｄをプラスした番地には、それぞれ合計した値がＸ、Ｙ、Ｚとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

The fracture toughness test piece 20 follows the ASTM standard, has a cut 21 in the center, and is set to have a prescribed stress enlargement factor.例文帳に追加

破壊靭性試験片２０はＡＳＴＭ規格に倣っており、中央部に切欠２１を有し、所定の応力拡大係数を持つように設定されている。 - 特許庁

(ii) the body possesses a financial and technical basis for the proper and reliable implementation of the plan for conducting test business set forth in the preceding item. 例文帳に追加

二　前号の試験業務の実施に関する計画の適正かつ確実な実施に必要な経理的及び技術的な基礎を有するものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

After the completion of the warp setting work, the kind of a woven fabric, weaving conditions, etc., including the warp tension are set in a memory part of a controlling device 2, and a test operation is performed.例文帳に追加

機仕掛け作業完了後、織物種類、経糸張力を含む製織条件等を制御装置２の記憶部に設定し、試し運転を行う。 - 特許庁

An image detecting sensor 27 capable of optically reading a test pattern formed on a recording paper surface by impacts of the ink droplets is set at a recording head.例文帳に追加

インク滴の着弾によって記録紙表面に形成されたテストパターンを光学的に読み取り可能な画像検出センサ２７を記録ヘッドに設ける。 - 特許庁

To make substantially constant a time from test start of a trip operation upto an output of a trip signal even when a set value of a trip scale is changed.例文帳に追加

トリップ動作の試験開始からトリップ信号が出力するまでの時間を、トリップ目盛の設定値を変更した場合でもほぼ一定にさせることにある。 - 特許庁

(5) When an electric meter for which a verification test has been conducted bears a matching number set forth in Article 74, paragraph 2 or 3, the matching number shall be removed. 例文帳に追加

５　検定を行った電気計器に第七十四条第二項又は第三項の合番号が付されているときは、その合番号を除去する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) Items to be tested, test methods and other matters necessary for the carrying-out of the growing tests set forth in paragraph (2) of this Article shall be specified by the Ordinance of the Ministry of Agriculture, Forestry and Fisheries. 例文帳に追加

４　栽培試験の項目、試験方法その他第二項の栽培試験の実施に関して必要な事項は、農林水産省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

After you are certain that everything on the test machine is working properly, use the same procedure to install the new software on each of the other machines in the build set. 例文帳に追加

テストマシンにあるものすべてがちゃんと動いている確信が得られたら、同じ手順でビルドセットの他のマシンにも新しいソフトウェアをインストールします。 - FreeBSD

If you run the HasAirline test, the value of the not(ItineraryIn.itinerary/ItineraryInfo/ReservationItems/Item/Air) expression, which checks whether the incoming message does not contain the Airline reservation item, will be set to false. 例文帳に追加

HasAirline テストを実行した場合、not(ItineraryIn.itinerary/ItineraryInfo/ReservationItems/Item/Air) 式 (着信メッセージに航空座席の予約項目が含まれていないかどうかを調べます) の値は、false に設定されます。 - NetBeans

To provide a peening intensity measuring method for measuring the deformation quantity of a test piece with high accuracy to set conditions for optimum peening intensity in peening.例文帳に追加

高精度に試験片の変形量を計測するためのピーニング強度測定方法を提供し、ピーニングの際の最適なピーニング強度の条件出しを行う。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

Since the simulator controlling computer 8 sets the conditions and controls, the conditions can be easily set and modified and the test can be easily performed.例文帳に追加

シミュレータ制御用コンピュータ８によって条件の設定及び制御を行うので、条件の設定や変更が容易で、試験を容易に行うことができる。 - 特許庁

ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE, INSPECTION CHIP, DETECTION SET, PROBE HOLDING SUBSTRATE AND ELECTRODE SUBSTRATE例文帳に追加

検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板 - 特許庁

The tester 21 provides one set of bit-compressed test patterns 32 from a storage device via an input channel 40 to a circuit such as an IC.例文帳に追加

テスター２１は、記憶装置からビットの圧縮したテストパターン３２の１セットをＩＣのような回路３４への入力チャネル４０を介して提供する。 - 特許庁

First, a testing value of quantizing step width W_o is set, and a coding quantity of a base layer L_o is calculated by coding only the base layer using the test value W_o.例文帳に追加

まず最初に、量子化ステップ幅の試験値Ｗ_0 を設定し、それを使ってベースレイヤのみを符号化することで、ベースレイヤの符号量Ｌ_0 を算出する。 - 特許庁

Once the D-type flip-flop 14 is set, it continuously outputs the test mode determining signal TMD, until a reset signal RS is applied from the outside.例文帳に追加

Ｄ型フリップフロップ１４は一旦セットされると、外部からリセット信号RSが加えられるまでテストモード決定信号TMDを連続的に出力する。 - 特許庁

In addition, the company set the goal of having all employees pass Level 2 in the field of machine processing, requiring employees with three years or more of work experience to take the test.例文帳に追加

さらには、機械加工分野での全員2級検定合格を目標に掲げ、経験3年以上の従業員は受検対象となっている。 - 経済産業省

When a test instruction signal is inputted to a test mode terminal TT, an output from a selector SE2 is set up as the pass number of a pass number register group REP1, its clock pass is selected by the selector SE1 and a memory clock MC is supplied to an SDRAM 2.例文帳に追加

テスト指示信号がテストモード端子ＴTへ入力されたときは、セレクタＳＥ2の出力をパス番号レジスタ群ＲＥP1のパス番号とし、そのクロックパスをセレクタＳＥ1に選択させてメモリクロックＭＣをＳＤＲＡＭ２へ供給する。 - 特許庁

To set up the screening sound volume V1a, the speakers 21 used for the first period W1 are subjected to an equivalent accelerated deterioration test to the use for the second period W2 and the accelerated deterioration test results are statistically processed.例文帳に追加

選別作動音量Ｖ１ａを設定するために、第１期間Ｗ１の使用後のスピーカ２１に、第２期間Ｗ２の使用と等価な促進劣化試験を行い、その促進劣化試験の統計的処理演算を行う。 - 特許庁

Then, the management server 1 requests a test operation with the set patterns for each of the automatic ticket gate machines 2, and infers a program that causes the failure on the basis whether the failure occurs or not in the test operation, which is notified from the automatic ticket gate machines 2.例文帳に追加

そして、自動改札機２毎に、設定パターンでのテスト稼働を要求し、自動改札機２から通知された、テスト稼働における障害の発生有無に基づいて、今回発生した障害の原因であるプログラムを推定する。 - 特許庁

Thereafter, peel-strength of the test piece is measured by pulling one layer and the other layers peeled on one end side of the test piece within a short term immediately after production by using a peeling measuring device 30 set in the production process.例文帳に追加

つぎに、生産工程内に設置された剥離測定装置３０を用いて、生産直後から短期間内に、試験片の一端側にて剥離された一層及び他層を引っ張ることにより、試験片の剥離強度が測定される。 - 特許庁

After a priority buffer controller 11 is set to a test mode by a test mode setting part 18, and a cell existence confirmation part 19 has confirmed that no cell exists, a readout of a cell readout transmission part 15 is stopped.例文帳に追加

試験モード設定部１８によって優先バッファ制御装置１１が試験モードに設定されるとセル存在確認部１９によってセルが存在しないことが確認された後、セル読出送信部１５の読み出しが停止される。 - 特許庁

To provide a test method of a magnetic head, and a magnetic head tester in which test data is written without being affected by thermal drift even if servo information is not set to a magnetic disk or even if servo following is not performed.例文帳に追加

磁気ディスクにサーボ情報を設定しなくても、あるいはサーボフォローイングをしなくても熱ドリフトに影響されずにテストデータの書込ができ、磁気ヘッドの検査が可能な磁気ヘッドのテスト方法および磁気ヘッドテスターを提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test sheet embedding the setting information of the device beforehand as an invisible image, is set to an original reading unit 3, reading the original image of the test sheet is performed, and a control unit 2 temporarily stores the original image in a memory unit 4.例文帳に追加

あらかじめ装置の設定情報を不可視画像として埋め込んだテストシートを原稿読取部３にセットし、そのテストシートの原稿画像の読み取りを行い、制御部２は記憶部４に原稿画像を一時記憶する。 - 特許庁

In an incorporated test circuit 150, an internal control signal in accordance with an operation pattern previously set is generated, the selector 124 selects an internal control signal outputted from the incorporated test circuit 150, and outputs it to a bank 1(112).例文帳に追加

内蔵テスト回路１５０では、予め設定された動作パターンに応じた内部制御信号を生成されており、セレクタ１２４は、内蔵テスト回路１５０の出力する内部制御信号を選択し、バンク１（１１２）に出力する。 - 特許庁

When alignment is performed using an electron beam in the test, the acceleration voltage of the electron beam in the electron beam alignment and the acceleration voltage in the pattern test can be set at different voltages.例文帳に追加

また、この検査において、電子線を用いたアライメントを行う際には、電子線アライメントにおける電子線の加速電圧と、パターン検査における電子線の加速電圧とを、異なる電圧に設定することができるようにする。 - 特許庁

In a method for injecting grout in bedrock cracks under a saline groundwater environment, after a water test is conducted in a grout hole, a first grout injection of a low-concentration grout material set based on the water test result is conducted.例文帳に追加

塩水系地下水環境下の岩盤亀裂に注入されるグラウト注入方法であって、グラウト孔からの水押し試験後に、該水押し試験結果に基づき設定された低濃度グラウト材による１次グラウト注入を行う。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

The output adjustment value of an image signal in output control is set by the peak value of the image signal when a test pattern 20 is photographed under reference conditions, and is set to 50 to 70 IRE.例文帳に追加

出力制御における映像信号の出力調整値は、基準条件の下でテストパターン２０を撮影したときの映像信号のピーク値によって設定され、５０〜７０ＩＲＥになるように設定されている。 - 特許庁

If set values of both outputs are different when the outputs from the amplifier and the driver are hit each other, a runtime error signal is generated, and an ON/OFF set value of a relay is fixed, and a test is finished forcibly.例文帳に追加

増幅器とドライバの出力をぶつけるときの両方の出力の設定値が異なるとランタイムエラー信号を発生させ、リレーのオンオフ設定値を固定すると共に、テストを強制的に終了させるようにした。 - 特許庁

The level of the magnitude of the detection signals for determining the fraction peak is set at L1, and a fraction capacity to be collected in a test tube for collecting a target sample component by this fraction collector is set according to the level of the peak height.例文帳に追加

分画ピークを決定する検出信号の大きさのレベルをＬ１とし、フラクションコレクタで目的試料成分を採取するための試験管に採取する分画容量は、ピーク高さのレベルに応じて設定しておく。 - 特許庁

To provide electronic equipment to set a special operation mode without using such a switch as a rotary switch or a dip switch to set a special operation mode other than a normal operation mode such as a test mode or a software download mode.例文帳に追加

通常の運用モード以外のテストモードやソフトウェアダウンロードモード等の特殊動作モードに設定するためのロータリースイッチやディップスイッチ等のスイッチを用いずに特殊動作モードを設定できる電子機器を提供する。 - 特許庁

Memory transfer in which the facsimile equipment of the opposite party is designated is set, and if no communication is performed with the set opposite party in the past, test data are transmitted to the opposite facsimile equipment.例文帳に追加

相手先のファクシミリ装置を指定したメモリ転送が設定され、この設定された相手先のファクシミリ装置と過去に通信が行われていない場合、相手先のファクシミリ装置に対してテストデータを送信する。 - 特許庁

In order to set its evaluation standard, a glazing channel determined to be acceptable in a prescribed grade in a watertight performance test method specified by JIS A1517 (1996) is set as the evaluation standard.例文帳に追加

その評価基準を設定するために、ＪＩＳ Ａ１５１７（１９９６年）で規定する水密性能試験方法において、所定の等級で合格と判定されたグレージングチャンネルを評価基準として設定する。 - 特許庁