「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

By applying such test voltage at two steps that the current at two steps where target transfer current is held up and down flows to the primary transfer roller 54Y and measuring the voltage and current characteristic, the test voltage is set in a range narrower than the maximum and minimum range of the specified voltage, and transfer current is appropriately and precisely set.例文帳に追加

目標転写電流を上下に挟む二段階の電流が流れるような二段階の試験電圧を一次転写ローラ５４Ｙに印加して電圧電流特性を測定することで、規定電圧の最大最小範囲よりも狭い範囲に試験電圧を設定して、転写電流を適正かつ精密に設定する。 - 特許庁

After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.例文帳に追加

色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁

To provide a defect test method and a defect test device for performing high-speed scanning equal to one set to the number of rotation as three times as large when the number of rotation of a scanner motor for rotating a polygon mirror is set to the number of rotation where no problem occurs and for detecting minute defect.例文帳に追加

本発明はポリゴンミラーを回転させるスキャナモータの回転数を問題が生じない回転数に設定しても、その３倍以上の回転数に設定したのと同等な高速スキャンが可能で、微細な欠陥を検出することができる欠陥検査方法および欠陥検査装置を得るにある。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI over the whole printer gamuts and a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI on which a variation characteristic of the graininess index GI in accordance with variations in the ink amount is reflected can be obtained.例文帳に追加

これにより、プリンタガマットの全域にわたる各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係であり、かつ、インク量の変動に応じた粒状性指数ＧＩの変動特性が反映された各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができる。 - 特許庁

In the network comprising bridges each provided with ports for transmitting/receiving Ethernet frames on the basis of a series of the IEEE 802 standards, a set of test frames passing through all physical lines is generated, the bridge A(F) transmits a test frame and the bridge F(A) receives the test frame to confirm the connectability.例文帳に追加

一連のＩＥＥＥ８０２標準に基づくイーサネットフレームを送受信するポートを備えたブリッジから構成されるネットワークにおいて、すべての物理回線を通過する試験フレームの集合を生成し、ブリッジＡ（Ｆ）から試験フレームを送信し、ブリッジＦ（Ａ）が試験フレームを受信することにより接続性を確認する。 - 特許庁

Among the photographing conditions calculated by fluoroscopy, an optical gain or sensitivity set to an X-ray detector 30 is lowered by a prescribed rate α, the test photographing is performed and an X-ray image obtained by that test is displayed on a monitor 60 as a test photographing image corrected by calculation to a prescribed image level.例文帳に追加

透視によって算出した撮影条件のうち、Ｘ線検出器３０に設定される光学ゲインまたは感度を、所定の比率αだけ下げてテスト撮影を行ない、これにより得られるＸ線画像が、所定の画像レベルになるように計算により補正したテスト撮影画像としてモニタ６０に表示する。 - 特許庁

To provide a print controller through which a user makes test printing easily without generating test print data in a printer where unnecessary data is deleted from received print data according to a prestored set value, and also to provide a program and a test print method of print controller.例文帳に追加

受信した印刷データから、予め記憶した設定値に基づき不要データを削除する印刷装置において、ユーザがテスト印刷データを生成することなく容易にテスト印刷を行うことができる印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法を提供することをその課題とする。 - 特許庁

Test data is recorded in the inner peripheral trial writing areas of an optical disk from an optical pickup side by a plurality of test recording power values, and a recording power value is set for an inner periphery OPC according to recording power value characteristics obtained from an asymmetry value for each test recording power value obtained from its reproduced signal.例文帳に追加

光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。 - 特許庁

The drive ability of the tristate buffer 120 is set so as to provide a propagation delay time such that the scan test data outputted from the QT terminal is propagated to the scan test data input terminal DT of a scan test flip-flop circuit of the next stage and satisfactorily fetched and held therein as desired.例文帳に追加

このトライステートバッファ１２０の駆動能力は、ＱＴ端子から出力されるスキャンテスト用データが次段のスキャンテスト用フリップフロップ回路のスキャンテスト用データ入力端子ＤＴに伝播されて所期通り良好に内部に取り込まれ、保持されるような伝播遅延時間となるような駆動能力に設定される。 - 特許庁

A test signal is inputted to the first external circuit 6 at the setting of a test mode, a corresponding output signal is inputted into the detection circuit 29 from the first external circuit 6, and the output information from the detection circuit 29 is set to the test register 119 and read by the host 2 via the host I/F 27.例文帳に追加

テストモードの設定時に、第１の外付け回路６にテスト信号が入力され、対応する出力信号が第１の外付け回路６から検出回路２９に入力され、検出回路２９からの出力情報がテストレジスタ１１９に設定されて、ホストＩ／Ｆ２７を介してホスト２により読み出される。 - 特許庁

A test rejection rate in every piece of standpoint information is calculated according to the screen quality evaluation standpoint information and screen test data information, and a defective factor is set larger or smaller for the standpoint information in which the test rejection rate is larger or smaller than a predetermined criterion, respectively.例文帳に追加

前記画面品質評価観点情報および前記画面テストデータ情報とを基に、観点情報毎のテスト不合格率を算出し、該テスト不合格率が予め定めた判定基準と比して大きい観点情報の不良係数を大きくし、小さい観点情報の不良係数を小さく設定するもの。 - 特許庁

Further, for each of all set combinations, a test quantity Score of upper and lower eye positions is calculated (step S6), and an eye position (upper eyelid position and lower eyelid position) is determined using the upper eyelid candidate position and face part lower position candidate with the smallest test quantity Score of the calculated test quantities Score (step S7).例文帳に追加

さらに、設定されたすべての組み合わせについて、それぞれ目の上下位置の検定量Scoreを計算し（ステップＳ６）、計算された検定量Scoreの中で、最小検定量Scoreの上まぶた候補位置及び顔部品下位置候補を用いて、目の位置（上まぶた位置、下まぶた位置）を決定する（ステップＳ７）。 - 特許庁

When this test information management server 20 receives a value of each parameter to be set in use environment of the software component from a client computer 13-1 to 13-3, the test information management server 20 creates test patterns for combinations between the values of the relevant parameters, and transmits them to the client computer 13-1 to 13-3.例文帳に追加

テスト情報管理サーバ２０は、ソフトウェア部品の使用環境において設定する予定のそれぞれのパラメータの値をクライアントコンピュータ１３−１〜１３−３から受け付けた場合に、関連性のあるパラメータの値の組み合わせについてのテストパターンを作成して当該クライアントコンピュータ１３−１〜１３−３に送信する。 - 特許庁

To provide an electrochemical detection method of a detection substance, an electrochemical detection method of a test substance, an inspection chip, a detection set, a probe holding substrate and an electrode substrate which can successfully detect the test substance without depending on size of the test substance, and further reuse a working electrode.例文帳に追加

被検物質の大きさによらずに被検物質を良好に検出することができ、さらに作用電極の再利用を再利用することができる、検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板を提供する。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Afterwards, synchronously with the slots in a frame next to the frame to which the GSM frequency change request is inputted, the calculated set frequency data and set attenuation quantity data of the relevant slot are set to a carrier generating circuit and an attenuator in a test signal generating part.例文帳に追加

その後、ＧＳＭ周波数変更要求が入力したフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する。 - 特許庁

A configuration of the whole hose is set so that the elongation (%) of the EVOH layer 12 when a set load pressure is applied becomes below the elongation corresponding to fatigue limit under pulsating tension σu or repeated stress σ in the set fatigue failure repeated number N in a fatigue under pulsating tension test.例文帳に追加

設定負荷圧時におけるＥＶＯＨ層１２の伸び（％）が、片振り引張疲れ限度（σ_U ）、又は、該片振り引張疲れ試験における設定疲れ破壊繰り返し数（Ｎ）における繰り返し応力（σ）に対応する伸び以下となるように、ホース全体構成を設定する。 - 特許庁

To achieve stable inspection of a printed wiring board by allowing a test pin to be set surely in contact with a test pad on the printed wiring board, without being affected where soldered portion inside a through-hole is wetted, with respect to the printed wiring board.例文帳に追加

プリント配線板において、スルーホール内のはんだの濡れ上がる状態の影響を受けることなく、回路テスターのテストピンをプリント配線板上のテスト用パッドに確実にコンタクトできるようにし、プリント配線板の検査の安定化を図ることができる。 - 特許庁

When the device has one command activating a test mode select-signal TMSelect being a shift clock of a shift register, the device can be set to a desired test mode where desire one among TM001-TM00n is made able to be activated.例文帳に追加

シフトレジスタのシフトクロックであるテストモードセレクト信号ＴＭＳｅｌｅｃｔを活性化させるコマンド１つを有しておれば、テストモード信号ＴＭ００１〜ＴＭ００ｎのうち所望の１つを活性化させる状態に設定することが可能となる。 - 特許庁

A test mode signal TMRS is set to a H level at the time of burn-in test, word lines WL0-WL3 can be activated in accordance with row address signals RA0-RA3 respectively by compound gates 62-68 and compound gates 82-88.例文帳に追加

バーンイン試験時にはテストモード信号ＴＭＲＳはＨレベルに設定され、複合ゲート６２〜６８および複合ゲート８２〜８８によって、ロウアドレス信号ＲＡ０〜ＲＡ３にそれぞれ応じてワード線ＷＬ０〜ＷＬ３を活性化させることができる。 - 特許庁

To solve the problem that a user should manually set a test connection destination for performing a connection test or should determine a fixed destination in the case of setting, much labor is required for the user in the former case and the latter case can not be implemented in a connection destination limited service.例文帳に追加

接続試験を行うための試験接続先を設定するためにはユーザが手動で設定するか、固定先を定めておくかしなければならず、前者ではユーザの手間がかかり、後者では接続先限定サービスでは実施できない。 - 特許庁

The test container 5 fed to the belt conveyor 2 during the operation of the oscillator 15 is temporarily stocked on a first accumulation stand 11; and after the oscillated test container 5 has been discharged, it is fed to the oscillation belt conveyor 3 and is to be set to the oscillator 15.例文帳に追加

振とう機１５の稼動中にベルトコンベア２に搬送されてきた試験容器５は、一時的に第１集積台１１にストックされ、振とう後の試験容器５が排出された後、振とう用ベルトコンベア３に搬送され、振とう機１５にセットされる。 - 特許庁

Article 78 (1) A notifying manufacturing business operator may, with respect to a specified measuring instrument of a type for which an approval set forth in Article 76, paragraph 1 is sought, take a test performed by the designated verification body who conducts the verification test for said specified measuring instrument. 例文帳に追加

第七十八条　届出製造事業者は、第七十六条第一項の承認を受けようとする型式の特定計量器について、当該特定計量器の検定を行う指定検定機関の行う試験を受けることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In a test circuit, a counter circuit 22 generates a control signal based on the result of comparison made by means of a comparison circuit 21 which compares test results from a circuit 1 to be tested, and an already set expected value and the operations of tri-state buffers 23 are controlled by means of the control signal.例文帳に追加

テスト対象回路（１）からのテスト結果と既設定の期待値とを比較する比較回路（２１）からの比較結果を基に、カウンタ回路（２２）が制御信号を生成し、この制御信号によりトライステートバッファ（２３）の動作を制御する。 - 特許庁

The second voltage is set higher than the first voltage, and the second current is set smaller than a total current of the first current outputted from the respective switching power supply circuits on the plurality of burn-in test boards.例文帳に追加

上記第２電圧は、上記第１電圧よりも高く設定し、上記第２電流は、上記複数のバーンインテストボードの各スイッチング電源回路から出力される上記第１電流の総合電流よりも小さくする。 - 特許庁

The capture section 20 variably sets the cycle position of a semiconductor device 11a from which the first data are collected, and gives execution instructions respectively corresponding to a plurality of test conditions set so that the cycle position is set differently.例文帳に追加

キャプチャ部２０は、第１のデータを収集する半導体デバイス１１ａのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。 - 特許庁

The environment test equipment 1 compares a present set temperature, a water supply amount corresponding to a set humidity, and a present water supply amount memorized in a memorizing portion in advance, by every prescribed time.例文帳に追加

この環境試験器１は、記憶部にあらかじめ記憶されている、現在設定されている設定温度、設定湿度に対応した水の供給量と、現在供給されている水の供給量とを所定時間おきに比較する。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の１ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

In this case, the molding material having a hysteresis of shearing and heating is supplied to the molding material storage section at the set temperature and set pressure, so that the consumption of the test strip can be evaluated under the same conditions as the real machine.例文帳に追加

この場合、剪断加熱の履歴を有する成形材料が、設定温度及び設定圧力で成形材料収容部に供給されるので、実機と同じ条件下で試験片の損耗を評価することができる。 - 特許庁

In a system basic I/O system(BIOS), sets up the performance of a CPU 11 is set up to the maximum performance by using a CPU speed control circuit 152 in power ON self-test(POST) processing independently of CPU performance specified by a user and set up in a CMOS memory 20.例文帳に追加

システムＢＩＯＳは、ＣＭＯＳメモリ２０に設定されているユーザ指定のＣＰＵ性能とは無関係に、ＰＯＳＴ処理の中でＣＰＵ速度制御回路１５２を用いてＣＰＵ１１の性能を最高性能に設定する。 - 特許庁

During the IDDQ test, a signal CUTP is set at an L-level, and a signal CUTN is set at an H-level, and when 0V is applied to each gate of FETs 11, 13, FETs 11, 12, 13 are switched off, and a bias current flowing in an operation amplifier 1 is cut off.例文帳に追加

ＩＤＤＱテスト時に、信号ＣＵＴＰをＬレベル、信号ＣＵＴＮをＨレベルとし、ＦＥＴ１１、１３のゲートに０Ｖを与えると、ＦＥＴ１１、１２、１３がオフとなり、オペアンプ１に流れるバイアス電流が遮断される。 - 特許庁

(3) In the test set forth in paragraph 1, a specified measuring instrument shall pass if the structure of the specified measuring instrument for testing conforms to the technical standards specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 1, item 1. 例文帳に追加

３　第一項の試験においては、その試験用の特定計量器の構造が第七十一条第一項第一号の経済産業省令で定める技術上の基準に適合するときは、合格とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

After updating the built-in software, by re-executing the test program 30, the parameters set up using the built-in software being subject to newly debugging are set up to the register and compared with the reference parameters 44 saved in the past.例文帳に追加

組み込みソフトウェアの更新後、再び、テストプログラム３０を実行することにより、新たなデバッグ対象の組み込みソフトウェアを用いて設定されたパラメータをレジスタに設定し、これを過去に保存したリファレンスパラメータ４４と比較する。 - 特許庁

When an operator designates test print by operating an operating section 5, a CPU 1 reads in the set values of various setting items stored in an EEPROM 13 and generates bit map image data corresponding to the set values of various setting items.例文帳に追加

オペレータが操作部５を操作してテスト印字を指示すると、ＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ１３に記憶されている各種設定項目の設定値を読み込み、各種設定項目の設定値に対応するビットマップイメージデータを生成する。 - 特許庁

The potential difference set by the potential difference setting means is applied to the first and the second terminals via the inter-terminal connection control means to test the circuit to be tested.例文帳に追加

電位差設定手段によって設定された電位差を、端子間接続制御手段を介して、第１及び第２の端子に印加して、被試験回路を試験する。 - 特許庁

Therefore, even when a defective block is detected by a burn-in test after packaging, this defective block can be set easily to a non-selective holding state.例文帳に追加

したがって、パッケージ後のバーンイン試験により不良ブロックが検出された場合においても、この不良ブロックを容易に非選択保持状態に設定することができる。 - 特許庁

Set times Ta1 and Ta2 consider jitter generated on the belt by contact and separation operation in contact and separation and secure transfer of the normal images and transfer braking of the test pattern.例文帳に追加

設定時間Ｔa1、Ｔa2は、接離時に接離動作によりベルトに発生するジッタを考慮し、通常画像の転写とテストパターンの転写制動を確保する。 - 特許庁

This bending test device has a fixed frame body 3 set and fixed, and a movable frame body 6 supported by the fixed frame body 3 via a hinge member 4 turnably around a support shaft 5.例文帳に追加

設置固定される固定枠体３と、固定枠体３にヒンジ部材４を介してその支軸５回りに回動操作自在に支持された可動枠体６とを備える。 - 特許庁

A test voltage is applied to a transfer roller (S302a), a current flowing between the transfer roller and a photoreceptor drum is detected (S302b), and a set resistance value is calculated (S303).例文帳に追加

転写ローラに試験電圧を印加して（Ｓ３０２ａ）転写ローラと感光体ドラムとの間に流れる電流を検知し（Ｓ３０２ｂ）、設定抵抗値を算出する（Ｓ３０３）。 - 特許庁

To provide a common output setting circuit of an LCD driver to easily set a common output state in a short time according to a test, and a setting method therefor.例文帳に追加

短時間で容易に試験に応じたコモン出力状態を設定することのできるＬＣＤドライバのコモン出力設定回路及び設定方法を提供する。 - 特許庁

Before carrying out a test, an operator uses the personal computer to previously display a failure detection rule input screen and to set a failure detection rule dialogically.例文帳に追加

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め異常検出ルール入力画面を表示して、異常検出ルールを対話形式で設定する。 - 特許庁

To provide an optical information recording apparatus which can reduce a frequency of test writing, and set a suitable wright strategy corresponding to various linear velocities.例文帳に追加

試し書きの回数を低減し、かつ、様々な線速度に対応した適切なライトストラテジを設定することができる光情報記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The selector 24 connects a specified functional block to input/output terminals 18 according to these selecting signals, and a test of the functional block according to the set operation mode is performed.例文帳に追加

セレクタ２４は、これら選択信号に応じて所定の機能ブロックを入出力端子１８と接続し、設定された動作モードに応じた機能ブロックのテストが行なわれる。 - 特許庁

A sloped road load generated in the subjected vehicle is included to be set as the initial value of the integrator, in place of the initial setting part, in a sloped road start test or the like.例文帳に追加

初期値設定部に代えて、坂路発進試験等に際して、供試車両に発生する坂路分負荷を積分器の初期値として設定することを含む。 - 特許庁

In this environmental test device, setting input of the operation condition is performed by displaying successively the set screens in the hierarchical structure by button operation by an operation part 3.例文帳に追加

環境試験装置では、操作部３でのボタン操作により、階層構造における設定画面を順次表示させて、操作条件の設定入力を行う。 - 特許庁