「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new method to apply to a non-aqueous system of performance test to establish fine particle removal ability of a film and an integrity test of a non-destructive method for checking that a used film is within a set range in the fine particle removal performance, a test reagent to be applied to the test, and a method for manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の非水系で実施する新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

The angle of refraction of the transversal wave oblique angle probe 2 is largely set in order to detect the flaw extending into the test target from the surface of the test target and, by the ultrasonic wave transmitted from the transversal wave oblique angle probe 2, a transversal wave is propagated into the test target and a surface wave is propagated along the surface of the test target.例文帳に追加

横波斜角探触子２の屈折角は、試験体表面から内部に延びているきずを検出するために大きく設定されており、横波斜角探触子２から送信される超音波により、試験体内部に横波が伝搬するだけでなく、試験体の表面に沿って表面波も伝搬していく。 - 特許庁

When an adjustment mode is set, transfer positions of the test patterns of each color on the intermediate transfer belt 21 are detected in the separation state, to measure the shift of the test patterns of each color from the transfer positions of the test patterns of each color and correct the measured shift of the test patterns of each color by using each difference in the memory 75.例文帳に追加

そして、調整モードが設定されると、離間させた状態で、中間転写ベルト２１上の各色のテストパターンの転写位置を検出して、各色のテストパターンの転写位置からそれらのずれを測定し、この測定した各色のテストパターンのずれをメモリ７５内の各差分を用いて補正している。 - 特許庁

A delay amount of the delay time variable delay adjusting circuit 102 is set so that a test signal may be normally transmitted and received.例文帳に追加

テスト信号が正常に送受信されるように遅延時間可変遅延調整回路１０２の遅延量が設定される。 - 特許庁

A selection signal sl2 is set in a test mode, and an output signal S22 is selected by the selector 24, and a characteristics extracting part 23 is by-passed.例文帳に追加

選択信号sl2はテストモードに設定され、セレクタ24で出力信号S22が選択され、特徴抽出部23がバイパスされる。 - 特許庁

Line classification information and the target phone number set to the parameter may be added to the transmission data at the test communication.例文帳に追加

テスト通信時に送信するデータに、設定したパラメータ中の回線種別情報と発呼先電話番号を付加しても良い。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.例文帳に追加

テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To test dot matrix LED display devices which are different in signal design by set makers under the same conditions.例文帳に追加

セットメーカごとに信号設計が異なるドットマトクリスＬＥＤ表示装置に於いても、同一条件でテストを行える様にすること。 - 特許庁

Various conditions to be set beforehand when performing the crash simulation are inputted from a test condition input part 13.例文帳に追加

テスト条件入力部１３からは、衝突シミュレーションの実施に際して予め設定すべき各種の条件が入力される。 - 特許庁

The operation mode is selected from a burst length mode, a DLL set mode, a test mode, a CAS latency mode, and a burst type mode.例文帳に追加

前記動作モードは、バースト長さモード、ＤＬＬセットモード、テストモード、ＣＡＳレイテンシモードおよびバースト型モードのうちの一つである。 - 特許庁

The angle of view of the off-axis collimator is set to θ+Δθ and the test pattern 28 is imaged to obtain a second image.例文帳に追加

同様に、画角θ＋Δθに軸外コリメータをセットしてテストパターン２８を撮像することにより、第２撮像画像を得る。 - 特許庁

At such a time, test voltage at two steps is set by using the voltage and current characteristic obtained in the first ATVC control.例文帳に追加

このときは、初回のＡＴＶＣ制御で求めた電圧電流特性を用いて二段階の試験電圧を設定する。 - 特許庁

The supply power voltage VDD2 of the combination circuit 101 is set to a low voltage or is blocked during shift operation in the scan test.例文帳に追加

スキャンテストのシフト動作中には、組合せ回路１０１の電源電圧ＶＤＤ２を低電圧に設定又は遮断する。 - 特許庁

The board of examiners may set up committees from among its members to administer the examination or the proficiency test in parts.例文帳に追加

試験官委員会は，その委員の中から試験又は熟練度テストの一部を行う委員会を設定することができる。 - 特許庁

(2) The fees set forth in the preceding paragraph, which pertain to a test or lot inspection conducted by the Minister of Internal Affairs and Communications, shall be treated as national revenue. 例文帳に追加

２　前項の手数料は、総務大臣の行う試験又は個別検定に係るものについては国庫の収入とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In a custom operation mode, the parameter can be set so that the test signal containing error data can be generated exceeding a signal standard range.例文帳に追加

カスタム動作モードでは、信号規格の範囲を超えてエラー・データを含む試験信号を生成できるようパラメータを設定できる。 - 特許庁

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁

A tester processor 10, when conducting a test consisting of a plurality of test items on a semiconductor device 100, reads failure distribution data including the frequency of failure of each test item from a failure distribution data storage part 12 at first, sets the order of execution of each test item in a decreasing order of failure frequency, and executes each test item in the set order thereafter.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、半導体装置１００に対して複数のテスト項目からなる試験を行う際に、まずフェイル分布データ格納部１２から各テスト項目のフェイル頻度が含まれるフェイル分布データを読み出して、フェイル頻度が高い順番に各テスト項目の実行順番を設定しており、その後、この設定した順番で各テスト項目を実行する。 - 特許庁

When the execution time of the test vector is larger than the value of a preliminarily set designated holding time, the value of the execution time is forcedly replaced with the value of the designated holding time, and outputted as the test vector.例文帳に追加

テストベクタの実行時間があらかじめ設定された指定保持時間の値よりも大きい場合は、強制的に実行時間の値を指定保持時間の値に置き換えテストベクタとして出力する。 - 特許庁

The apparatus includes the test head for outputting an input signal of the image driver, and a testing part set to an upper part of the test head for testing an output of the image driver.例文帳に追加

本装置は、映像駆動ドライバの入力信号を出力するテストヘッドと、このテストヘッドの上部に、映像駆動ドライバの出力を試験する試験部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide an immunochromatographic test piece, immunochromatographic test piece set, immunochromatographic system and immunochromatographic device which are advantageous for increasing accuracy of measuring the concentration of an object to be measured, even when observing with naked eyes.例文帳に追加

肉眼で視認するときであっても、測定対象物の濃度を測定する測定精度を高めるのに有利なイムノクロマト試験片、イムノクロマト試験片セット、イムノクロマトシステム、イムノクロマトデバイスを提供する。 - 特許庁

An optimum value of wait time is set in a semiconductor test apparatus to suit the characteristics of a first lot under test (st2), and it is used for all lots in common to reduce the time required for resetting.例文帳に追加

ウェイトタイムの最適値設定が最初の試験対象ロットの特性に合わせて半導体試験装置に設定し（ｓｔ２）、全ロット共通で使用して再設定に要する時間を削減する。 - 特許庁

A distance between the upper and lower holders is adjusted so that the counter value of the height counter 38 equals to an initial height of a springy test piece TP to set the test piece TP between the upper and lower holders 21 and 22.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウンタ値がばね供試体ＴＰの初期高さとなるように上下保持具間の距離を調節し、上保持具２１と下保持具２２間にばね供試体ＴＰをセットする。 - 特許庁

When a burn-in test is set, a test control signal SW is input to a booster switch control circuit 15, a Hi signal is output from an inverter 22 and nodes B, D are fixed to the Hi level.例文帳に追加

バーンインテストが設定されると、テスト制御信号ＳＷがブースト切り替え制御部１５に入力されてインバータ２２からＨｉ信号が出力され、ノードＢ，ＤがＨｉレベル固定される。 - 特許庁

Test data recorded in a test area are reproduced by changing laser power, and the range of the laser power that an error rate of a reproduced signal is lowered than a prescribed value, is set as the effective range of the reproducing laser power (step S1).例文帳に追加

テスト領域に記録されたテストデータをレーザパワーを変えて再生し、再生信号のエラーレートが所定値より小さくなるレーザパワーの範囲を再生レーザパワーの有効範囲とする（ステップＳ１）。 - 特許庁

To provide an in-band ringer by which a loopback test compensating a line loss from both the in-band ringer and an opposite in-band ringer can be executed and that can optically set the execution and the end of the loopback test.例文帳に追加

対向するインバンドリンガー双方から線路損失を補償した折り返し試験が実施出来、折り返し試験の実施、終了を任意に設定できるインバンドリンガーを提供することを目的とする。 - 特許庁

A volume value is set at an initial value (S101), a pure tone signal of a predetermined frequency is output as a test signal from a speaker (S102), and an output test signal is picked up by a microphone (S103).例文帳に追加

ボリューム値を初期値に設定して（Ｓ１０１）、所定周波数の純音信号をテスト信号としてスピーカから出力し（Ｓ１０２）、出力されたテスト信号をマイクロホンで収音する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

Since the charge pump 13 is not activated, even if the pad 11 can be given a test potential lower than VPP, the node N1 at internal power potential VPP can be set accurately to the test potential.例文帳に追加

この後にＶＰＰよりも低いテスト電位をパッド１１に与えてもチャージポンプ回路１３は活性化しないので、内部電源電位ＶＰＰのノードＮ１１をテスト電位に正確に設定することができる。 - 特許庁

A CPU 10 generates test data for outputting an output image formed from only image data transmitted by one transmission line as to all transmission lines to obtain a set of test data.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、１つの伝送路で伝送される画像データのみから形成される出力画像を出力させるためのテストデータを、すべての伝送路について生成して１組のテストデータとする。 - 特許庁

On the test base, the tested paper is placed, while a transparent adhesive tape T is set on the cylindrical face of the roller, and when the roller is rolled on the test base, the paper powder is collected onto the adhesive face of the transparent adhesive tape.例文帳に追加

試験台上に被試験紙、ローラ円筒面上に透明粘着テープＴをセットし、試験台上でローラを転がすことにより、透明粘着テープの粘着面に紙粉を採取する。 - 特許庁

When the external power source potential EXVDD exceeds the prescribed standard range, entry for a test mode can be performed without making a signal SVIH set to a test mode have a high potential.例文帳に追加

外部電源電位ＥＸＶＤＤが所定の規格範囲を超える高い電位である場合には、テストモードに設定する信号ＳＶＩＨを高電位にすることなくテストモードへのエントリが可能となる。 - 特許庁

A second CMYK image data set, matched to a real printing process, obtained by printing a test image is produced and from the printed test image, device-independent image data are produced.例文帳に追加

テスト画像を印刷することによって得られる、実際の印刷プロセスに合った第２のＣＭＹＫ画像データ組を生成し、印刷されたテスト画像から、装置に依存しない画像データを生成する。 - 特許庁

The allowable range is set in order to prevent erroneous diagnosis based on the difference in the volume of information between the test pattern printed by means of the printer and the test pattern data taken in by means of the image scanner.例文帳に追加

許容範囲は、プリンタにより印刷されたテストパターンとイメージスキャナにより取り込まれたテストパターンデータとの情報量の違いに基づく誤診断を防止するために設定される範囲である。 - 特許庁

Further, the correlation of a staining state after a test and the staining state in actual exposure is made large to set the coating film after test to a staining state approximate to the staining state in actual exposure.例文帳に追加

また、試験後の汚れ状態と実際の暴露における汚れ状態との相関を大きくして、試験後の塗膜を、実際の暴露における汚れ状態に近似した汚れ状態とすることができる。 - 特許庁

The random numbers corresponding to the test number of a lot of a level 1 are produced from a certain Weibull distribution, the random number corresponding to the test number of a lot of a level 2 are produced from the same Weibull distribution and the life calculated from the produced random numbers is operated to calculate one set of a life ratio.例文帳に追加

あるワイブル分布から水準１のロットの試験個数分の乱数を発生させ、同じワイブル分布から水準２のロットの試験個数分の乱数を発生させる。 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ（２）からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路（１０）が行選択回路（３）およびビット線周辺回路（４）の動作を制御する。 - 特許庁

When the equipment 400 receives results of a test, the equipment 400 compares a decision reference value which is variably set on the basis a test condition containing a geographic condition or an environmental condition with the results of the test and decides existence of abnormality.例文帳に追加

また、加入者回線試験・中継装置４００は、試験結果を受け取ると、地理的条件あるいは環境的条件を含む試験条件に基づいて可変に設定された判定基準値と試験結果とを比較し異常の有無の判定を行う。 - 特許庁

With a test mode setting button 16 pressed, the human body detector in a normal mode enters a test mode for a specified period and in this test mode, a setter (human body B) moves within the range of a detection area A2 to be set in a visual field area A1 of an imaging section 10.例文帳に追加

テストモード設定釦１６を押下することで、通常モードからテストモードに所定期間移行し、このテストモード中に、設定者（人体Ｂ）は撮像部１０の視野領域Ａ１内において設定したい検知領域Ａ２の範囲内を移動する。 - 特許庁

If the range of this combination is stored in a PC 13 and the test piece voltage value and the acceleration voltage values of the electron gun are set within the range of the combination, the test piece can be inclined; and the systems which remove the charges of the three test pieces can be used simultaneously.例文帳に追加

この組合せの範囲をＰＣ１３に記憶させ、試料電圧値と電子銃の加速電圧値とを組合せの範囲内に設定すれば、試料の傾斜を行うことができ、３つの試料のチャージを取り除く方式を同時に使用することができる。 - 特許庁

After a test pattern is recorded on a recording medium in a state in which a prescribed first offset value is set to a tracking error signal, the reproduction of the test pattern is repeated two or more times while changing the offset given to the tracking error signal, and a second offset value at which an optimal quality for the reproduction signal quality of the test pattern is obtained is determined.例文帳に追加

トラッキングエラー信号に或る所定の第１のオフセット値を設定した状態で記録媒体に対してテストパターンを記録した後、そのテストパターンの再生を、トラッキングエラー信号に与えるオフセットを変化させながら複数回実行する。 - 特許庁

The method for detecting Megabalanus rosa larva includes performing PCR using a Megabalanus rosa detection primer set containing oligonucleotides having specific base sequences for a test sample, and then determining whether Megabalanus rosa at nauplius larvae exist in the test sample by the absence or absence of the amplification of a gene in the test sample.例文帳に追加

被験試料に対し特定の塩基配列からなるオリゴヌクレオチドを含むアカフジツボ検出用プライマーセットを用いてＰＣＲを行い、被験試料の遺伝子増幅が生じたか否かにより被験試料にアカフジツボ幼生が存在していたか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which makes the position of a reel in an automatic handler be at a constant height irrespective of the size of a test head, the footprint of the automatic handler constant, and the position where a cable connected to the test head be drawn out be arbitrarily set.例文帳に追加

テストヘッドの大きさにかかわらずオートハンドラにおけるリールの位置を一定の高さにするとともにオートハンドラの設置面積も一定にでき、テストヘッドに接続されるケーブルの引き出し位置を任意に設定できる半導体テスト装置を提供すること。 - 特許庁

(3) A prefectural governor or a registered conformity assessment body shall, when receiving a written application set forth in the preceding paragraph, collect test samples and conduct inspections in accordance with what is set down in a written inspection order. 例文帳に追加

３　都道府県知事又は登録検査機関は、前項の申請書を受理したときは、検査命令書に記載されたところに従い、試験品を採取し、検査を行うものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム