「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A gap C between the air intake straightening duct 10 with a predetermined shape and the engine E is set 0.05-0.2 time of an engine inlet diameter to perform the ground test for the engine E.例文帳に追加

所定形状の吸気整流ダクト１０とエンジンＥとの隙間Ｃをエンジン入口直径の０．０５倍〜０．２倍としてエンジンＥの地上試験を行うものである。 - 特許庁

A test execution section 15 automatically executes a neutralization attack simulation on an electronic image on which watermark information is imbedded on the basis of the set attack conditions.例文帳に追加

試験実行部１５は、透かし情報が埋め込まれた電子画像に対して、上記設定された攻撃条件に基づく無力化攻撃を擬似的に自動実行する。 - 特許庁

When a first selection button 2A is depressed after depression of an input test mode switch 8a and a set key 8e, the first selection button 2A outputs a depression signal.例文帳に追加

入力テストモードスイッチ８ａを押下した後、設定キー８ｅを押下し、第１選択ボタン２Ａを押下すると、第１選択ボタン２Ａは、押下信号を出力する。 - 特許庁

A technology is disclosed that independent states of a test by the external tester, BIST, and BISR are set in accordance with the another instruction signal and performed automatically.例文帳に追加

本発明は別途の命令信号に応じて外部テスタによるテスト、ＢＩＳＴ及びＢＩＳＲの独立的な状態を設定して自動に行なう技術を開示する。 - 特許庁

To provide a cartridge for an electron microscope in which anyone can surely set a test piece on a holder.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用カートリッジに関し、試料をだれでも確実にホルダに設定することができる電子顕微鏡用カートリッジを提供することを目的としている。 - 特許庁

The POTS/data filter and the splitter device can make a telephone call from the test set by POTS without interrupting the transmission of the digital data signal on the copper wire.例文帳に追加

ＰＯＴＳ／データフィルタ及びスプリッタ装置は、銅線上のデジタルデータ信号の送信を干渉することなく、試験セットからＰＯＴＳで電話をかけることが可能となる。 - 特許庁

The calibration light source is then installed in a client test apparatus and operated at the fixed power level in order to collect the full spectrum power distribution and generate a second data set.例文帳に追加

次に、校正光源は顧客の試験装置に設置され、全スペクトルパワー分布を収集するために一定のパワーレベルで運転され、第２のデータセットを生成する。 - 特許庁

To record music on a CD or the like in the server device, the compressed voice data of the compression ratio set by the distribution test is created and recorded in an HDD.例文帳に追加

そして、サーバ装置にＣＤなどの楽曲を録音する際には、配信テストにより設定した圧縮率の圧縮音声データを作成して、ＨＤＤに記録する。 - 特許庁

The recording device corrects the transfer amount at the time when the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller on the basis of the correction amount set in accordance with the result of recording of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの記録結果に応じて設定される補正量に基づいて、シート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる際の搬送量を補正する。 - 特許庁

When the path inclusion flag is set, the instruction execution part 121 terminates execution of the test object program 191 without executing the execution path at the branch destination.例文帳に追加

経路網羅フラグが設定されている場合、命令実行部１２１は分岐先の実行経路を実行せずに試験対象プログラム１９１の実行を終了する。 - 特許庁

A driving electronic device is used for positioning a sample, with respect to optical components, in such a way as to test a plurality of regions of the sample set at a fluorometer.例文帳に追加

蛍光計にセットされたサンプルの複数の領域が試験されるようにサンプルを光学成分との関係で位置決めするための駆動用電子装置が使用される。 - 特許庁

A data inversion circuit 15 stores an effect that bit inversion data which can specify inversion of write data bit by bit to a test object address and a data section 13 are set up by a CPU 18.例文帳に追加

データ反転回路15は、ＣＰＵ18により検査対象アドレスとデータ部13への書込みデータのビット毎に反転を指定できるビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

Process parameters are measured by calf or on-chip built-in test on a set of selected chips on a wafer, and the result is memorized in a memory element in each chip.例文帳に追加

ウェハ上の選択された１組のチップ上でカーフまたはオンチップ組込試験によりプロセス・パラメータが測定され、その結果が各チップ内の記憶素子に記憶される。 - 特許庁

Article 32-3 The registration set forth in Article 9 shall be made upon application by a person who intends to administer the affairs concerning the implementation of a verification test on meteorological instruments (hereinafter referred to as "verification affairs"). 例文帳に追加

第三十二条の三　第九条の登録は、気象測器の検定の実施に関する事務（以下「検定事務」という。）を行おうとする者の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To prevent the rapid opening and closing of a valve which is erroneously caused by the stick of the valve and the malfunction of an interlock mechanism (in particular, the lag of the time set to a timer) during a valve test.例文帳に追加

弁テスト中に、弁のスティック、インターロックの誤動作（特に、タイマー設定時間のズレ）により誤って起こりうる弁の急閉，急開を防止することにある。 - 特許庁

Also, reference voltage and verification voltage can be set, after a semiconductor memory is manufactured, also by a program test circuit for calculating reference voltage and verification voltage.例文帳に追加

また、参照電圧および検証電圧を算出するプログラム試験回路によっても、半導体メモリの製造後に参照電圧および検証電圧を設定できる。 - 特許庁

Deviation amount between the center of the image of the test chart 29 and a reference point previously set in the frame range is calculated based on an imaging signal from the imaging part 20.例文帳に追加

撮像部２０からの撮像信号に基づき、テストチャート２９の像の中心とフレーム範囲内に予め設定された基準点とのズレ量を算出する。 - 特許庁

If an error scenario exists, a solution to a set of symbolic constraints is obtained, and the solution is mapped back to a source code to obtain an error trace and a test case.例文帳に追加

エラーシナリオが存在する場合、一組のシンボリック制約に対する解が取得され、この解は、エラートレース及びテストケースを取得するためソースコードにマッピングされる。 - 特許庁

A strength control signal from the outside and a test switching signal are inputted to an analogue switch 411 set between the variable resistor VR1 and the amplifier 242.例文帳に追加

外部からの強度制御信号および試験切替信号が、可変抵抗器ＶＲ１と増幅器２４２との間に設定されたアナログスイッチ４１１に入力される。 - 特許庁

To recognize required burn-in test items and to set automatically a signal used for performing its item in individual semiconductor device having a non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを有する個々の半導体装置において、必要なバーンイン試験項目を認識し、その項目を実行するために用いられる信号を自動的に設定する。 - 特許庁

To attain a semiconductor test device capable of enhancing resolution of jitter analysis and flexibly corresponding to set a threshold value to determine L/H of an input signal.例文帳に追加

ジッタ解析分解能を高めるとともに、入力信号のＬ／Ｈを判定するための閾値設定に柔軟に対応できる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

The output signal correction part 44 includes various circuit elements and can correct waveform of the analog signal 46 according to test items set by users.例文帳に追加

出力信号修正部４４は、様々な回路素子を含み、ユーザにより設定される試験項目に応じて、アナログ信号４６の波形を修正することができる。 - 特許庁

By driving the speaker by the test signal for sound volume adjusting by an addition signal of a sinusoidal wave of a single frequency set with relation of an integer frequency ratio, and by detecting output from the speaker by an average value of a signal level of each frequency component, the sound volume by the test signal for measurement is set.例文帳に追加

本発明は、周波数が整数比の関係に設定された単一周波数の正弦波信号の加算信号による音量調整用のテスト信号によりスピーカを駆動して、各周波数成分の信号レベルの平均値によりこのスピーカからの出力を検出して計測用のテスト信号による音量を設定する。 - 特許庁

The optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk, where the test signal is recorded by varying the laser output to the trial writing area and then the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

When the central management device 6 adds a parameter history information identifier to the parameter to be transmitted to the data communication device 7, the data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter, in response to the test request, and to add the parameter history information identifier set in the parameter to the transmission data to be transmitted at the test communication.例文帳に追加

中央管理装置６がデータ通信装置７へ送信するパラメータにパラメータ履歴情報識別子を付加する場合には、データ通信装置７は、テスト要求に応答して、設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信時に送信するデータに設定したパラメータ中のパラメータ履歴情報識別子を付加する。 - 特許庁

A method for wire bonding the semiconductor device comprises a step of preparing a bonding pad 38 in which a wire bonding region 34 and a test region 36 formed outside the region 34 are set, a step of executing a characteristic test for a semiconductor element in the test region, and a step of wire bonding to wire a wiring 60 in the wire bonding region.例文帳に追加

ワイヤボンディング領域３４とワイヤボンディング領域３４外にテスト領域３６とが設定されたボンディングパッド３８を用意する工程と、テスト領域において半導体素子に対する特性テストを行う工程と、ワイヤボンディング領域においてワイヤ６０を結線するワイヤボンディングを行う工程とを経ることにより半導体装置を得る。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

A control means 9 for changing a distribution of an irradiation quantity of light by controlling the irradiation quantity of light to irradiate the test object 2 and a control means 8 for controlling an inclination component of incident light to irradiate the test object 2 are set between the first collecting means 4 and the test object 2.例文帳に追加

そして、第１の集光手段４と検査対象２との間に、該検査対象２に照射する光の照射光量を制御することによって照射光量分布を変化させる照射光量制御手段９と、検査対象２に照射する光の傾き成分を制御する入射光傾き成分制御手段８とを設ける。 - 特許庁

In a test mode, a data transmission period can be set shorter than that at the time of normal data read-out operation and a test time of read-out data in a test mode can be shortened by controlling each of latch circuits of N pieces of an output circuit by a latency setting circuit to be operable, and outputting read-out data from a memory array.例文帳に追加

テストモードにおいて、出力回路のＮ個のラッチ回路の各々をレイテンシ設定回路で制御して動作状態とし、メモリアレイから読出データを出力することによりデータ伝達期間を通常のデータ読出動作時よりも短く設定することができ、テストモードにおける読出データのテスト時間を短縮することができる。 - 特許庁

The test condition changing means 16 sets a correction testing condition which is different from a j-th inspection condition, j=j+1, when the comparison result outputted from the characteristics comparing means 15 does not agree, and the correction test conditions is newly set as the j-th test condition this is outputted to the testing means 12, and testing is executed again.例文帳に追加

検査条件変更手段１６は、特徴比較手段１５から出力される比較結果が不一致の場合に、第ｊ検査条件と異なる修正検査条件を設定してｊ＝ｊ＋１とし、この修正検査条件を新たな第ｊ検査条件として検査手段１２に出力し、再検査が実施される。 - 特許庁

When the image read section reads a test pattern outputted from an image output section, a paper sheet 300 on which the test pattern image is outputted is set on a platen glass pane 303 of the image read section in a way that a main scanning direction 301 of the image output section at output of the test pattern image is dissident with a main scanning direction 302 of the image read section.例文帳に追加

画像出力部によって出力されたテストパターン画像を画像読取部によって読取る際、テストパターン画像が出力された用紙３００を、テストパターン画像を出力したときの画像出力部の主走査方向３０１と、画像読取部の主走査方向３０２とが一致しないようにして、画像読取部のプラテンガラス３０３上にセットする。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

This semiconductor storage 1000 is provided with a test mode setting circuit 6 which receives an external signal and can set plural test modes in serial, a voltage generating circuit 8, a column system control circuit 10, a row system control circuit 12, and a memory cell array 14.例文帳に追加

本発明に係る半導体記憶装置は、外部信号を受けて複数のテストモードをシリアルに設定することが可能なテストモード設定回路６、電圧発生回路８、コラム系制御回路１０、ロウ系制御回路１２、およびメモリセルアレイ１４を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and method and a simulation device for semiconductor test capable of easily performing cause investigation at low cost when in fail by enabling various timings to be set to negative values without a large increase of costs.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を伴わずに各種タイミングを負の値に設定することを可能にすることで、フェイル時の原因究明を容易且つ安価に行うことができる半導体試験装置及び方法並びに半導体試験シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

Test data is recorded in a predetermined area while changing recording power prior to data recording to an optical disk 10, and the recording power corresponding to a β value showing asymmetry of an amplitude of data obtained by reproducing the test data is set as the optimal recording power.例文帳に追加

光ディスク１０へのデータ記録に先立って記録パワーを変化させつつテストデータを所定エリアに記録し、前記テストデータを再生して得られるデータの振幅の非対称性を示すβ値が目標β値に一致する記録パワーを最適記録パワーに設定する。 - 特許庁

Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.例文帳に追加

さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁

An internal voltage switching control circuit 110 generates control signals VUP and VWD in accordance with test mode signals /TACU, /TACD and /TSBU, and /TSBD set independently in an active state and a standby state respectively at the time of an operation test.例文帳に追加

内部電圧切換制御回路１１０は、動作テスト時において、アクティブ状態およびスタンドバイ状態のそれぞれにおいて独立に設定されるテストモード信号／ＴＡＣＵ，／ＴＡＣＤおよび／ＴＳＢＵ，／ＴＳＢＤに応じて、制御信号ＶＵＰおよびＶＤＷを生成する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

A rectangular test pattern is actually drawn in the drawing apparatus to obtain test pattern images 91a to 91f influenced by the distortion of the reflection faces or the like, and an object drawing region 92 is set in a common region 911 that is independent from the reflection faces.例文帳に追加

描画装置では矩形のテストパターンを実際に描画して反射面等の歪みの影響を受けたテストパターン画像９１ａ〜９１ｆが取得され、反射面に依存しない共通領域９１１内に対象描画領域９２が設定される。 - 特許庁

On the other hand, those of the cell assembly memories 102-1-102-n to which the signal destination is not set store temporarily a signal received from a test signal generating sections 130-1-103-n and send the signal to test signal check sections 107-1-107-n.例文帳に追加

一方、セル組立メモリ１０２−１〜１０２−ｎのうち、信号送信先が設定されていないものは、試験信号生成部１０３−１〜１０３−ｎから入力した信号を一時的に記憶し、試験信号検査部１０７−１〜１０７−ｎに送る。 - 特許庁

The cleaning device includes a cleaning member which removes a test patch formed on a transferred medium, and in the cleaning member, the cleaning performance corresponding to a position on the transferred medium where the test patch is transferred is set higher than that in other areas.例文帳に追加

被転写媒体上に形成されたテストパッチを除去するクリーニング部材を備え、前記クリーニング部材は、前記テストパッチが転写される被転写媒体上の位置に対応したクリーニング性を他の領域に比べて高く設定するように構成して課題を解決した。 - 特許庁

The test problem distributing system is provided with a filter for extracting a sentence, in accordance with previously set conditions so that the filter can extract the sentence meeting the conditions, for example, of specific genre, difficulty level, length, language and the sentence can be sent out to the test problem creating section 12.例文帳に追加

予め設定された条件に従って文を抽出するフィルタを設け、該フィルタで該条件に合った文、例えば特定のジャンル、文難易度、文長、言語の文を抽出してテスト問題生成部１２に送出するようにすることができる。 - 特許庁

To implement charge-discharge tests of high accuracy, the current value detected is allowed to approach to a constant current set value efficiently in a controller 31 for charge-discharge test controlling a DC power source apparatus 13 and an electronic load apparatus 14 for implementing charge-discharge test for an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の充放電試験を行うために、直流電源装置１３および電子負荷装置１４を制御する充放電試験用コントローラ３１において、効率よく定電流設定値に近づけ、高精度の充放電試験を実施する。 - 特許庁

In the case of making a lookup table for correcting output gradation in a black-and-white mode, a transfer carrying belt 216 is set to be in an inclined state, and only an image forming station 10a is actuated so as to form a test image consisting of 30 test patches only in BK on transfer material P.例文帳に追加

白黒モード時の出力階調補正用ルックアップテーブルを作成する場合、転写搬送ベルト２１６を傾斜状態にし、画像形成ステーション１０ａのみを動作させてＢＫのみの３０個のテストパッチからなるテスト画像を転写材Ｐに形成する。 - 特許庁

The method and system further includes building a simulation model based on the extracted resources and executing the simulation model using only the extracted resources, exclusive of an entire design, to test a specific function or group of interrelated functions represented by the discrete test case or set of associated test cases for design verification, and correlating the simulation results with the test plan.例文帳に追加

この方法およびシステムはさらに、抽出されたリソースに基づいてシミュレーション・モデルを構築することと、設計全体ではなく、抽出されたリソースだけを用いてこのシミュレーション・モデルを実行し、それによって、離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースによって表される特定の機能または一群の相互に関係する機能をテストして設計を検証することと、このシミュレーション結果とテスト計画を相関させることとを含む。 - 特許庁