「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

An edge generation unit 12, on the basis of the waveform data DW, generates a set pulse and a reset pulse which are asserted with the timing of the positive edge and negative edge of the test pattern signal, respectively, and outputs them to an RS flip-flop 14.例文帳に追加

エッジ生成部１２は、波形データＤＷにもとづき、テストパターン信号のポジティブエッジ、ネガティブエッジそれぞれのタイミングでアサートされるセットパルス、リセットパルスを生成し、ＲＳフリップフロップ１４に出力する。 - 特許庁

A test print 1 is generated (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential for forming an image is optimized based on density information obtained in the step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

To provide a current limiting circuit which can shorten the test time of a measured sample by shortening the time needed to raise a source voltage applied to the measured sample up to a set value.例文帳に追加

本発明の課題は、被測定試料に印加する電源電圧が設定値に達するまでの時間を短縮し、被測定試料の試験時間を短縮することができる電流制限回路を提供することである。 - 特許庁

To arbitrarily set pressure amplitude and a pressure change rate of pulsation and to highly accurately generate the pulsation in an apparatus for evaluating durability by applying a test liquid of a pulsation state to a pressure apparatus.例文帳に追加

圧力機器に対し試験用流体を脈動状態で作用させて耐久性を評価するものにおいて、脈動の圧力振幅や圧力変化率を任意に設定でき、その脈動を高精度で発生させる。 - 特許庁

A set of first and second time-dependent material aging effect parameters is determined by shifting and matching the series of relaxation test data between respective pairs out of the plurality of material property tests.例文帳に追加

１セットの第１および第２時間依存材料経時変化効果パラメータは、一連のリラクセーション試験データを複数の材料特性試験のうちのそれぞれのペア間でシフトさせて一致させることによって、決定される。 - 特許庁

Each connector 10 is housed in a connector housing space 34 of the housing part 31 in positioning state, the jig 30 is set to a connector inspection device, and continuity test of terminal fittings 90 is carried out.例文帳に追加

収容部３１のコネクタ収容空間３４に各コネクタ１０を位置決め状態で収容させて治具３０をコネクタ検査装置にセットし、各コネクタ１０に収容された端子金具９０の導通検査を行う。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of automatically and quickly giving the amplitude of a servo motor rotary shaft angle to be set in conducting a test with a constant range of fluctuations in force that is applied to a work.例文帳に追加

ワークに加える力の変動幅を一定に揃えて試験を行う際に設定されるべきサーボモータの回転軸の角度の振幅を自動的且つ速やかに得ることのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), the correction coefficient Ka of the contrast potential of image formation is optimized by density information obtained in a step S102 (S103) and a grid potential and a development bias potential are set so as to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

A boundary scanning test circuit 3 is selectively set into an operatable/operation-incapable condition through a control gate 4c according to a signal from a function setting circuit 4a for assigning an operation mode according to a potential of a bonding pad 6b.例文帳に追加

バウンダリースキャンテスト回路（３）を、ボンディングパッド（６ｂ）の電位に従って、その動作モードを指定する機能設定回路（４ａ）からの信号に従って制御ゲート（４ｃ）より、選択的に動作可能／不能状態に設定する。 - 特許庁

An opening 81a, set so as to be larger than the image of opening tr1 of a test reticle TR projected through the projection optical system PL, is formed at the central part of upper surface of the label board 81.例文帳に追加

この標示板８１の上面の中央部には、投影光学系ＰＬを通過して投影されるテストレチクルＴＲの開口部ｔｒ１の像よりも大きく設定された開口部８１ａが形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for initializing using a test mode the output of a level adjustment circuit erroneously set up when the power supply is turned on, and adjusting the output of the level adjustment circuit at a high speed to a regular setting value that is a target level.例文帳に追加

電源投入時において誤って設定されたレベル調整回路の出力を、テストモードを用いて初期化し、目標レベルである正規の設定値へと高速に調整する半導体装置を提供する。 - 特許庁

Scan data is set to all scan flip-flops at a lower frequency of different clocks and, when a delay test is conducted, clocks are interrupted so that data is not transferred between different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックのうち低い周波数でスキャンデータを全てのスキャンフリップフロップに設定し、遅延テストの実施の際には異なるクロックドメイン間でのデータの転送が発生しないようにクロックを遮断し、遅延テストを実施する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test or alpha blending using alpha values set in pixels for image data, and a decoration symbol images are gradually and stepwisely changed during variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

Thus, after the completion of the inspection by the test set, the printed circuit board can be operated in the remote communication switch system assigned to a manufacturer's site or an installation site.例文帳に追加

これにより、プリント回路基板は、テストセット上での検査が終了した後、製造業者現場または現地での設置のいずれかにおいてその割り当てられた遠隔通信交換システム内で動作できるようになる。 - 特許庁

To provide a transforming device or the like, which transforms a test vector set so as to reduce differences of logical values occurring before and after scan capture about outputs of a scan cell contained in a full-scan sequence circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。 - 特許庁

To reduce the labor setting a proof printing mode (test copy mode) by a user and to prevent the forgetting to set in an image forming apparatus enabling a plurality of printing outputs with respect to inputted image data.例文帳に追加

入力した画像データに対して複数部のプリント出力が可能な画像形成装置において、ユーザーによるプルーフプリントモード（お試しコピーモード）を設定する手間を軽減するとともに設定し忘れを防ぐ。 - 特許庁

In this control unit 10 having a plurality of input terminals and output terminals, an ordinary control mode and a test mode having shorter signal output time than the ordinary control mode are set as the control mode.例文帳に追加

複数の入力端子及び出力端子を備えた制御ユニット１０に、その制御モードとして、通常制御モードと、この通常制御モードよりも信号出力時間などが短いテストモードとを設定する。 - 特許庁

By controlling the chip select signals in the first test wires, semiconductor chip operation is controlled by the column, and an operating mode is set for each of the semiconductor chips aligned in the X-direction.例文帳に追加

第１のテスト配線のチップセレクト信号を制御することにより、各列単位で半導体チップの動作を制御することができ、またＸ方向に整列する半導体チップ単位でその動作モードを設定することができる。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test process and an alpha composition process using alpha values set in respective pixels in image data, and gradually changes the images of ornament symbols with gradation during the variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

It can be therefore determined that which part of the bank of the eFuse is already programmed by the previous test stage, and that where operation for programming next data set to the bank of the eFuse is to be started.例文帳に追加

従って、eFuse のバンクのどの部分が前のテスト・ステージによって既にプログラムされていたか、および次のデータ・セットをeFuse のバンクにプログラムする動作をどこで開始すべきかを容易に決定することが可能である。 - 特許庁

In the sealing material 10, the arithmetic mean roughness of a sealing face is in a range of 0.4-0.7 μm and the measurement value in the 180°peeling adhesive force test of the sealing face is set to 0.15 N/25 mm or less.例文帳に追加

またシール材１０は、シール面の算術平均粗さが、０．４〜０．７μｍの範囲にあり、該シール面の１８０度引き剥がし粘着力試験の測定値が、０．１５Ｎ／２５ｍｍ以下に設定されている。 - 特許庁

The lighting period of an LED disposed in each 7-segment LED indicator of the test force display part is set as twice the lighting period of an LED disposed in each 7-segment LED indicator of the peak display part 44.例文帳に追加

試験力表示部の各７セグメントＬＥＤ表示器に配設されたＬＥＤの発光時間を、ピーク表示部４４の各７セグメントＬＥＤ表示器に配設されたＬＥＤの発光時間の２倍となるようにしている。 - 特許庁

In an atmospheric corrosion test method, salt is deposited on an object to be tested, by spraying salt water in a space held under one condition set within a range of temperature of 0 to 60°C and relative humidity of 10 to 98%.例文帳に追加

大気腐食試験方法において、被試験体への塩分の付着を、温度０〜６０℃、相対湿度１０〜９８％の範囲から設定した１つの条件に保持された空間での塩水噴霧により行う。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

When a debugging mode is set by a test terminal 9, this microcomputer 1 starts a boot program for debugging stored in an ROM 4 so that a debugging program can be written from the outside through a communication circuit 3 in an RAM 5.例文帳に追加

マイクロコンピュータ１は、テスト端子９によりデバッグモードが設定されると、ＲＯＭ４に格納されたデバッグ用ブートプログラムが起動し、通信回路３を介して外部からＲＡＭ５へデバッグプログラムの書き込みが可能となる。 - 特許庁

To provide a method by which a product dimension can be assumed in good accuracy from the set value of a rolling clearance for a rolling machine, and also, the setting value of the optimum rolling clearance at the adjustment of the rolling clearance after a test rolling can be calculated.例文帳に追加

圧延機のロール隙設定値から精度良く製品寸法を推定するとともに、試圧延後のロール隙調整時における最適なロール隙設定値を算出する方法を提案できるようにする。 - 特許庁

The image processor has a means for performing HS and when a test pattern is read in, the microstep division number of an optical motor is set with a value different from that for normal image reading.例文帳に追加

ＨＳを行う手段を有する画像処理装置において、テストパターンを読み込む際に、光学系モータのマイクロステップの分割数を通常の画像読み込みと異なる設定値にする事を特徴とする画像処理装置。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential in image formation is optimized by density information obtained in step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain a contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

Also, the setting part 18 outputs a test signal as the 1st signal, and performs decision operation based on the 2nd signal whether or not the operation content of the servo error signal operation part 15 is correctly set.例文帳に追加

また、設定部１８はテスト信号を第１の信号として出力し、第２の信号に基づいてサーボエラー信号演算部１５の演算内容が正しく設定されているか否かの判定動作を行なう。 - 特許庁

The insulating strength of the neutral point bushing 23 attached to the neutral point of the winding of a transformer 21 is set to become higher than the insulating strength of the voltage applied when the voltage breakdown test of a power cable 10 is performed.例文帳に追加

変圧器２１の巻線の中性点に取り付けられた中性点ブッシング２３の絶縁強度を、電力ケーブル１０の耐電圧試験時に印加される電圧以上の絶縁強度となるように構成する。 - 特許庁

The decoder 22 decodes the setting signal SET<0:n-1>, asserts either a test mode selecting signal TM1-TM2^n-1 or normal operation mode selecting signal NM, and outputs it to a selector 24.例文帳に追加

デコーダ２２は、動作モード設定信号ＳＥＴ＜０：ｎ−１＞をデコードし、テストモード選択信号ＴＭ１〜ＴＭ２^ｎ−１および通常動作モード選択信号ＮＭのいずれかをアサートしてセレクタ２４へ出力する。 - 特許庁

A mode signal MOD is made 'H' and a test mode is set, an address decoder 1 is separated from a word line WLi, while adjacent word lines are connected each other through a switch circuit 10i including an inverter 12i.例文帳に追加

モード信号ＭＯＤを“Ｈ”にして試験モードを設定し、アドレスデコーダ１をワード線ＷＬｉから切り離すと共に、隣接するワード線同士をインバータ１２_ｉを含むスイッチ回路１０_ｉを介して接続する。 - 特許庁

To provide an exhalation gas container set, making it possible to prevent the exhalation gas from being put in the wrong container or the exhala tion gas container from being mistaken for the wrong one, in an exhalation gas analysis test using two exhalation gas containers per testee.例文帳に追加

一人の被検者につき２個の呼気ガス容器を使用する呼気ガス分析検査において、呼気ガスの入れ間違いや、呼気ガス容器の取り違えを防止し得る呼気ガス容器セットを提供すること。 - 特許庁

In a state where a chip 5 is attached to the tip (the presser member 47) of the light measuring part 4 (chip-attached state), the average distance L between a test paper 53 and the optically transmitting member 45 is set to 1.5 mm or more.例文帳に追加

チップ５を測光部４の先端部（押え部材４７）に装着した状態（チップ装着状態）において、試験紙５３と光透過性部材４５との間の平均距離Ｌは、１．５ｍｍ以上とされる。 - 特許庁

And an external command of the discriminating circuit 31 is a mode register set command, the circuit 31 discriminates whether an illegal pattern of a normal operation test mode of external memory address signals A0-An is inputted or not, and outputs a discrimination signal SGX.例文帳に追加

そして、判定回路３１は、外部コマンドがモードレジスタセットコマンドであって、外部メモリアドレス信号A0〜Anが通常動作テストモードのイリーガルパターンが入力されたか否か判定して、判定信号SGXを出力する。 - 特許庁

The laser beam of a light emission output set to equivalent to a reproducing output is emitted toward the recording medium, from an optical head 1, and the magnetic field according to the test data is applied to the recording medium by the magnetic head 23.例文帳に追加

光学ヘッド１から再生出力相当に設定された発光出力のレーザー光を記録媒体に照射すると共に、磁気ヘッド２３により記録媒体にテストデータに応じた磁界を印加する。 - 特許庁

In the final inspection of the printed circuit board, a test set reads a serial number from the printed circuit board and stores the actual serial number of the printed circuit board to a storage device placed on the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板の最終検査で、テストセットは、プリント回路基板からシリアル番号を読み出した後に、プリント回路基板の実際のシリアル番号をプリント回路基板上に設けた記憶装置に挿入する。 - 特許庁

To present a test set suited to an examinee on a computer and to propose a method capable of estimating the ability of the examinee by this question setting method and also to enable the examinee to immediately obtain an result after the completion of an examination.例文帳に追加

コンピュータ上で受験者に適したテストセットを提示し、この出題方法によって、能力推定の方法を提案するとともに、試験終了後の結果を即時的に取得できるようにすること。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

In the optical disk recording/playback device constituted so that laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area arranged on the disk, the test signal is recorded on the trial writing area by changing the laser output, and then the laser output is set by recognizing the recording properties of the recorded signal in the state that the gain of a PLL servo circuit incorporated in a clock signal producing circuit is reduced.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性をクロック信号生成回路に組み込まれているＰＬＬサーボ回路の利得を低下させた状態にて認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The writable optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk and can repetitively execute a record operation, in which the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal after executing two times of operations recording the test signal by varying the laser output to the trial writing area.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成され、且つ記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録する動作を２回行った後、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

In normal operation, the reference voltage Vrw is set to reference voltage Vri1 from an internal reference voltage generating circuit 206 by a data write-in current adjusting circuit 200, on the other hand, in test operation, the voltage is set to reference voltage Vre1 applied to a reference voltage external input terminal 202 from the outside.例文帳に追加

基準電圧Ｖｒｗは、データ書込電流調整回路２００によって、通常動作時には、内部基準電圧発生回路２０６からの基準電圧Ｖｒｉ１に設定される一方で、テスト動作時には、基準電圧外部入力端子２０２に外部より印加された基準電圧Ｖｒｅ１に従って設定される。 - 特許庁

In this DNA quantitative detection method, the nested PCR is carried out by using the first step PCR using the outside primer set and the second step PCR using the inner side primer set thereby quantitatively detecting the desired DNAs in test sample and the real-time PCR method is employed as a PCR for the second step.例文帳に追加

本発明のDNAの定量的検出方法は、外側プライマーセットを用いた第1段階目のPCR及び内側プライマーセットを用いた第2段階目のPCRを行うネスティドPCR法により被験試料中の所望のDNAを定量的に検出する方法であって、第2段階目のPCRとしてリアルタイムPCR法を用いることを特徴とする。 - 特許庁