「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

When a prize ball dispensation monitoring timer is time-out in signal output processing for test, and when the value of an excessive dispensation number storage counter exceeds a prescribed value, the storage value of a total prize ball number storage buffer exceeds a prescribed value or a dispensation stop flag is set, a CPU outputs a game machine error state signal as a signal for test.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

A control system for a medical technology (1) is provided with a test and/or a treatment apparatus (2), optical detecting systems (9 and 10) equipped to detect inputs of gestures, and an evaluating system (11) to set operational parameters (P) of the test and/or treatment apparatus (2) with regard to the data detected through the inputs of gestures.例文帳に追加

医療技術の制御システム（１）は、検査および／または治療装置（２）と、ジェスチャー入力の検出のために設けられた光学式検出システム（９，１０）と、ジェスチャー入力を介して検出されたデータに関連して検査および／または治療装置（２）の作動パラメータ（Ｐ）を設定するために設けられた評価システム（１１）とを備えている。 - 特許庁

The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.例文帳に追加

第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁

For instance, a connection for switching is set up via the exchange E, a cell for a test obtained by copying a user cell to be transmitted via the connection for service is transmitted to the connection for switching, the normality of the connection for switching is confirmed with the cell for a test or a newly formed OAM cell, and the connection for service and the connection for switching are subsequently switched.例文帳に追加

例えば、交換機Ｅを経由した切替用コネクションを設定し、この切替用コネクションに、サービス用コネクションを介して伝送するユーザセルをコピーした試験用セルを伝送し、この試験用セル又は新たに形成したＯＡＭセルにより切替用コネクションの正常性を確認した後、サービス用コネクションと切替用コネクションとの切替えを行う。 - 特許庁

When a first forcible power transmission mode is enabled based on the information set by the test register 216, the power transmission controller 230 controls the power transmission section 250 to continuously drive a primary coil L1 irrespective of the presence or absence of a reception side apparatus.例文帳に追加

テストレジスタ２１６に設定される情報によって、第１強制送電モードがイネーブルとなると、送電制御装置２３０は、送電部２５０を制御して、受電側機器の有無に関係なく、１次コイルＬ１を連続駆動させる。 - 特許庁

Inspection object parts Fa, Fb of each propagation route are positioned at each different depth in the aligned state on an inspection part center line FL relative to the depth direction, and set on a surface layer part and a middle part or a deep part of the test body.例文帳に追加

各伝播経路の検査対象部Ｆａ，Ｆｂが深さ方向に対する検査部中心線ＦＬ上に並んで異なる深さに位置すると共に試験体の表層部と中間部又は深部に設定されている。 - 特許庁

A PWM signal for a test based on switching frequency and a duty ratio previously set is output to a switching element (120), and predetermined low DC voltage is supplied from a DC power supply part 46 (122).例文帳に追加

予め定められたスイッチング周波数及びデューティ比となっているテスト用ＰＷＭ信号をスイッチング素子に出力し（１２０）、所定の低電圧の直流電圧を直流電源供給部４６から供給させる（１２２）。 - 特許庁

It is confirmed that the wet-spreading property of the solder is improved both in the industrial applications and in the test, if the atomization temperature (the dripping temperature) of the molten solder alloy is set to the liquidus temperature of the solder alloy +10 to +30°C.例文帳に追加

半田合金溶湯のアトマイズ温度（滴下温度）を当該半田合金液相線温度の＋１０〜＋３０℃に設定すると、工業的にも試験的にも半田の濡れ広がり性が改善されることが確認されている。 - 特許庁

To provide a printer in which paper head position can be aligned without requiring test print every time when a sheet is set by eliminating error in alignment of paper head position occurring due to visual confirmation.例文帳に追加

頁先頭位置合わせにおいて、目視によって発生する頁先頭位置合わせの誤差を無くし、用紙をセットするたびに試し印刷をする必要の無い頁先頭位置合わせを可能とした印刷装置を提供することである。 - 特許庁

The illumination section 12 having the "σ" set at 1 or more illuminates the measurement chart "ob" so that transmitted light generates the zero-order and odd-order diffraction light to be imaged on an imaging surface "im" of a CCD11 with a test lens L0.例文帳に追加

σを１以上に設定している照明部１２により計測チャートｏｂを透過照明して発生する０次及び奇数次の回折光は、被検レンズＬ０によりＣＣＤ１１の撮像面ｉｍに結像される。 - 特許庁

The value of the second output terminal of the combination circuit 1 is read from the through latch 7, the second input terminal value of the combination circuit 2 is set to the through latch 7, whereby the test of the combination circuits 1-2 can be easily performed.例文帳に追加

組合せ回路１の第２出力端子の値をスルーラッチ７から読み取り、組合せ回路２の第２入力端子の値をスルーラッチ７に設定することにより、組合せ回路１〜２のテストを容易に行うことができる。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

To provide a fixture for a peel strength testing machine which can surely and easily set a test piece for the peel strength testing machine for testing the peel strength of a sealed part which is formed by sealing a part of overlapped 2 pieces of film members.例文帳に追加

重ねた２枚のフィルム状部材の一部をシールしたシール部の剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片を的確かつ容易にセットすることができる剥離強度試験機用治具を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

To improve working efficiency by information that automatic set-up operation for calculating the processing conditions of various image processing is going to fail before the execution of an operator's image test.例文帳に追加

本発明は、上述を考慮してオペレータが画像検定を行う前に、各種の画像処理の処理条件を演算するオートセットアップ演算が失敗しそうなことを知らせることにより、作業効率を向上させることが目的である。 - 特許庁

A system controller 14 becomes a test mode with respect to the optical disk reproducing apparatus equipped with the flash memory 20, and when it is set to display the additional information, it performs processing to display the additional information on the display means.例文帳に追加

このフラッシュメモリ２０を実装した光ディスク再生装置に対して、システムコントローラ１４は、テストモードになり、当該付加情報を表示させるように設定されると、当該付加情報を表示手段に表示させる処理を行う。 - 特許庁

If an IC package 2 is set by a handler and respective lead terminals 3 are supported by the contact pins 13 at the upper end and pressurized by a pressurizing member 7, the lead terminals 3, the contact pins 13 and a substrate 14 for the test come into an elastically connected state.例文帳に追加

ハンドラーによりＩＣパッケージ２をセットし、各リード端子３をコンタクトピン１３の上端で支持し、押圧部材７により押圧すると、リード端子３とコンタクトピン１３とテスト用基板１４とが電気的に接続状態となる。 - 特許庁

To provide a pole switch made in such a structure that an AC voltage-withstanding test can be made on it before being set in a power distribution system at a site even after a lightning arrester is incorporated, and a degraded one can be detected.例文帳に追加

避雷器を内蔵した後においても現地で配電系統に設置する前にＡＣ耐電圧試験を実施できる機構にし、劣化した柱上開閉器を判別できるように図った柱上開閉器を提供する。 - 特許庁

Phase relation of a sense amplifier activating signal S0N and a word line activating signal RXT is set to different phase from the time of normal operation in a test mode, and margin of timing of read operation and restoring operation can be evaluated.例文帳に追加

センスアンプ活性化信号Ｓ０Ｎとワード線活性化信号ＲＸＴの位相関係をテストモードにおいて通常動作時と異なる位相に設定し、読出動作やリストア動作のタイミングのマージンを評価することができる。 - 特許庁

To provide a probing test method of semiconductor chips of which two or more terminals are respectively formed at equal intervals along with two opposing sides, by using one probe card, without requiring two adjoined semiconductor chips to be measured as a set.例文帳に追加

対向する二辺に沿ってそれぞれ複数の端子が等間隔で形成されている半導体チップのプロービングテストを、一枚のプローブカードを用い、隣り合う二つの半導体チップを一組として測定することを前提としないで行う。 - 特許庁

The travel mode is set to input the external condition into the tire in response to a frequency of the acceleration corresponding to the external condition, and the tire is rotated on a simulated road face, based on the travel mode, to test the abrasion of the tire.例文帳に追加

そして、外的条件が、その外的条件に対応する加速度の頻度に応じてタイヤに入力されるように走行モードを設定し、その走行モードに基づいて模擬路面上でタイヤを転動させてタイヤ摩耗を試験する。 - 特許庁

An angle calculated concerning each specific ECG test is compared with the reference set of an angle in order to judge in which of a standard ECG electrode arrangement, alternative electrode arrangement and a wrong electrode arrangement an electrode is placed.例文帳に追加

各特定のＥＣＧテストについて計算された角度は、電極が標準ＥＣＧ電極配置、代替電極配置、または誤った電極配置のいずれに置かれているかを判定するために、角度の基準セットと比較される。 - 特許庁

To provide a test device for dynamic tests for combustion engines, which is advantageously connected to a control device where set values relating to transitions of a rotational frequency and rotation torque are adjusted and controlled by an electric driving/load device.例文帳に追加

有利には、電気式の駆動・負荷機器が回転数と回転トルクの推移に関する設定値を調整、制御する制御機器と接続された、燃焼式動力機関の動力学的な試験課題のための試験装置である。 - 特許庁

When a test signal is corrected to a correction signal based on the correction level information and correction level information corresponding to the outputted correction signal is selected by the user, correction level information corresponding to the user is set.例文帳に追加

そして、該補正レベル情報に基づいてテスト信号が補正信号に補正され、出力された補正信号に対応する補正レベル情報が利用者等に選択されると、利用者等に対応した該補正レベル情報が設定される。 - 特許庁

After a wafer test is performed by measuring the delay time (0.25S) at (N-4) stage, fuses are blown out selectively by laser trimming and a delay time is set at a desired value among 0.25S, 0.5S, 1.0S, 2.0S and 4.0S.例文帳に追加

（Ｎ−４）段目の遅延時間（０.２５Ｓ）の測定によりウェハーテストを行った後、レーザトリミングによりヒューズを選択的に切断することにより、遅延時間を０.２５Ｓ、０.５Ｓ、１.０Ｓ、２.０Ｓ、４.０Ｓのうち、所望の値に設定する。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

An exclusive connecting terminal is arranged like a land-shaped stage or lattice for improving peel strength, and connecting land outline dimension width is set as a testable land size so that the dual use of a test terminal and the connecting terminal can be realized.例文帳に追加

ピール強度を向上させる為に専用接続端子をランド形状の階段配置、又は、格子配置にして、接続ランド外形寸法幅をテスト可能なランドサイズとしてテスト端子、接続端子の兼用化できる構造とした。 - 特許庁

A test signal set so as to give a specific and individual change predetermined in accordance with the direct current voltage state of the communication path corresponding to the control instruction is transmitted to the communication path from the communication controller.例文帳に追加

通信制御装置から、当該制御命令に対応して被試験通信路の直流電圧状態に予め定められた特定個別の変化を与えるように設定されている試験信号を、当該被試験通信路に送出する。 - 特許庁

When continuously casting steel containing 0.01-0.2 mass% Bi, a casting condition is set so that the ratio of reduction of area required by the Greeble test to be carried out at the slab temperature of 1,200-1,400°C is not less than 50%.例文帳に追加

Ｂｉを０．０１〜０．２質量％含有する鋼を連続鋳造するに際し、鋳片温度を１２００〜１４００℃にして行うグリーブル試験で求められる絞り値が５０％を下回らない様に鋳造条件を設定する。 - 特許庁

In the clock generating apparatus, the plurality of characteristics set in the voltage controlled oscillator 16 are sequentially selected and a test voltage is provided by a voltage controller 18, thereby various oscillation characteristics being identified.例文帳に追加

このクロック生成装置では、電圧制御発振器１６に設定されている複数の発振特性が順次選択されて、電圧制御器１８により試験電圧が与えられることで各発振特性について同定される。 - 特許庁

The carbon compound layer consists of a chromium metal layer, an inclined layer which is a composite layer consisting of chromium and carbon, and plastic deformation hardness by the microhardness test of the carbon compound layer is set to 15-58 GPa.例文帳に追加

この炭素化合物層は、クロム金属層と、クロムと炭素とから成る複合層である傾斜層と、炭素から成る炭素成分層とにより構成し、この炭素化合物層の微小硬さ試験による塑性変形硬さを、１５〜５８ＧPaとする。 - 特許庁

When a signal input from a TEST signal input terminal 40 is an "H" level, a switch circuit 30 is set to ON to establish a short circuit between the output of an input circuit 12 (node N2) and an input terminal 20 (node N1).例文帳に追加

ＴＥＳＴ信号入力端子４０から入力される信号が「Ｈ」レベルのときに、スイッチ回路３０がＯＮし、入力回路１２の出力（ノードＮ２）と入力端子２０（ノードＮ１）とがショートした状態になる。 - 特許庁

To provide a test sheet set group treated for illegal act prevention for preventing an illegal act such as stealing a glance of an answer of an answer column of an answer sheet filled in by another candidate for an examination or so-called cheating on the answer among the candidates for the examination and a system for forming it.例文帳に追加

受験者同士の間で、他の受験者が記入した解答用紙の解答欄の解答を盗み見るいわゆるカンニング行為等の不正行為を防止した試験用紙セット群及びその作成システムを提供する。 - 特許庁

In a combination circuit 11 which is operated by being synchronized with a system clock, for example, the test circuit which makes a state machine as a verification target, in its test mode, the system clock is supplied only in its active period as the clock in a flip-flop circuit 12 which holds a simulation execution result through a clock enabler 132 to become active by a fact that a clock enable signal is set.例文帳に追加

システムクロックに同期して動作する組合せ回路１１、例えばステートマシンを検証対象とするテスト回路において、そのテストモード時には、シミュレーション実行結果を保持するフリップフロップ１２にはそのクロックとして、クロックイネーブル信号がセットされることでアクティブとなるクロックイネーブラ１３２を通してそのアクティブ期間においてのみシステムクロックを供給するようにする。 - 特許庁

Article 21-4 (1) When a person who has received a notice of the test result set forth in paragraph (3) of the preceding Article (including cases where applied mutatis mutandis pursuant to Article 21-11, paragraph (3)) intends to obtain model approval, he/she shall, as provided for by Ordinance of the Ministry of Internal Affairs and Communications, apply to the Minister of Internal Affairs and Communications by attaching, to a written application, a document stating the test result and his/her opinions on such result. 例文帳に追加

第二十一条の四　前条第三項（第二十一条の十一第三項において準用する場合を含む。）の試験結果の通知を受けた者が型式承認を受けようとするときは、総務省令で定めるところにより、申請書に当該試験結果及び意見を記載した書面を添えて、総務大臣に申請しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In this object detecting device for detecting a specific object from an input image, a test image group 236 including an object to be detected in an image is corrected according to the detection illuminance of an illuminance detecting part 22 by a test vector correcting part 233, and set in an object detecting part 21 under the control of a detection rate adjusting part 23.例文帳に追加

入力画像の中から特定の物体を検出する物体検出装置において、検出率調整部２３による制御の下に、検出対象の物体を画像中に含むテスト画像群２３６を用い、当該テスト画像群２３６をテストベクター補正部２３３で照度検出部２２の検出照度に応じて補正して物体検出部２１に設定する。 - 特許庁

Next, the density of the developer image attached to the non subject region in formation of the test pattern is detected, the ghost occurrence level and a transfer bias level in which no ghost phenomenon occurs based on the density level of the developer in the non subject region of the test pattern are estimated and the transfer bias level for image formation according to the estimate is set.例文帳に追加

そして、テストパターンの形成の際に非対象領域に付着した現像剤像の濃度を濃度検出センサ７１によって検知し、ゴースト発生レベルと、テストパターンにおける非対象領域の現像剤像の濃度レベルとに基づいてゴースト現象が発生しない転写バイアスレベルを推測し、その推測に応じた画像形成用の転写バイアスレベルを設定する。 - 特許庁

To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加

擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁

The method comprises two or more sequential temporal PCR stages used to effectively separate two or more PCR reactions in a single test tube as an alternative to primer limiting to modulate the relative rate of production of a first amplicon by a first primer set and a second amplicon by a second primer set during first and second amplification stages.例文帳に追加

プライマー制限の代替法として、単一試験管において2以上の時間的に連続するPCR段階を用い、2以上のPCR反応を効果的に分離して、第一の増幅段階および第二の増幅段階中、第一のプライマーセットによる第一のアンプリコン産生、および第二のプライマーセットによる第二のアンプリコン産生の相対率を変調する、方法。 - 特許庁

For example, the region for the recording test set in the user data zone may be set in an area including a speed change point of 4X speed and 6X speed and an area including a speed change point of 6X speed and 8X speed when the region of the optical disk is divided into three areas which can be recorded at 4X, 6X, and 8X recording speeds.例文帳に追加

ユーザデータゾーンに設定される記録テスト用の領域としては、例えば光ディスクの領域が４倍速、６倍速、８倍速の記録速度で記録可能な３つのエリアに区分されている場合、４倍速と６倍速の速度変化点を含むエリアと、６倍速と８倍速の速度変化点を含むエリアに設定すればよい。 - 特許庁

Subsequently, between a set (m) of marker IDs calculated by t-test and a set of marker IDs classified into the respective site genetic bands, the probability of overlapping marker IDs more than a predetermined number is calculated to perform similarity analysis (step S16), and the site genetic band where the analysis result satisfies predetermined conditions is selected (step S18).例文帳に追加

次に、ｔ−検定により算出されたマーカＩＤの集団（ｍ）と、各サイトジェネティックバンドに分類されたマーカＩＤの集団（ｎ）との間で、所定数以上のマーカＩＤが重複する確率を算出して類似性分析を行い（ステップＳ１６）、分析結果が所定条件を満たすサイトジェネティックバンドを選出する（ステップＳ１８）。 - 特許庁

A monochrome target gradation value and a multicolor target gradation value are set for C and M influenced by retransfer on the basis of read image data generated by reading the test images of C and M, and a monochrome correction table and a multicolor correction table are generated on the basis of the set target gradation value and the gradation characteristic of the image.例文帳に追加

リトランスファの影響をうけるＣ及びＭについては、これらのテスト画像が読み取られて生成された読み取り画像データに基づいて、単色目標階調値及び多次色目標階調値を設定し、設定した目標階調値と画像の階調特性に基づいて、単色補正テーブル及び多次色補正テーブルを生成する。 - 特許庁

This plasticization evaluating device comprises a molding material storage section for storing molding material, a molding material supply device for supplying the molding material having a hysteresis of shearing and heating to the molding material storage section at a set temperature and a set pressure, a holding member for holding a test strip in the molding material storage section, and a driving section for rotating the holding member.例文帳に追加

成形材料を収容するための成形材料収容部と、剪断加熱の履歴を有する成形材料を、設定温度及び設定圧力で前記成形材料収容部に供給する成形材料供給装置と、前記成形材料収容部内において、試験片を保持する保持部材と、該保持部材を回転させる駆動部とを有する。 - 特許庁