「Test Set」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, conditions of a data holding property test carried out after packaging area set (step S10).例文帳に追加

つぎに、パッケージ後のデータ保持特性試験の条件を設定する（ステップＳ１０）。 - 特許庁

With this setup, a test chip pattern is set equal in pattern density to a main chip pattern.例文帳に追加

これによって、テストチップのパターン密度を本チップのパターン密度と同等にする。 - 特許庁

A wireless hand set 7 transmits a test signal to the wireless base unit 6 (step 31).例文帳に追加

無線子機７は、無線親機６に対して試験信号を送信する（ステップ３１）。 - 特許庁

when the test was stolen the professor had to make a new set of questions 例文帳に追加

テストが盗まれたとき、教授は、新しい質問を作らなければならなかった - 日本語WordNet

If the feature-status property is set to done, then the test indicates failure. 例文帳に追加

「機能の状態」プロパティーを「done」に設定した場合は、テストは失敗したとみなされます。 - NetBeans

A second set of relays control the connection of the metallic line test bus to the subscriber line.例文帳に追加

第二リレー群が、メタル回線テストバスの加入者回線への接続を制御する。 - 特許庁

To test entire condition code set instructions without interruption of advanced control.例文帳に追加

先行制御を中断せずに全ての条件コード設定命令の試験を行う。 - 特許庁

To carry out a withstand voltage test that produces a result of determination even when the test is forcibly terminated from outside in the middle of test time set by a timer.例文帳に追加

耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To optionally set the potential of a bit line to an H level or an L level without changing a test code during performing a test of a semiconductor device by a DQ compressed test mode.例文帳に追加

ＤＱ圧縮テストモードによる半導体装置の試験の実施時に、テストコードを変更することなく、ビット線の電位を任意にＨレベルまたはＬレベルに設定すること。 - 特許庁

A test pattern insert data generating means 50 inserts the test pattern T to a position set by the input data Di to generate the test pattern insertion data TD.例文帳に追加

試験パターン挿入データ生成手段５０は、入力データＤｉ中の設定された位置に試験パターンＴを挿入し、試験パターン挿入データＴＤを生成する。 - 特許庁

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

To provide a test telephone set capable of performing a test even without a permanently installed repeater system or 1.5MPDH apparatus.例文帳に追加

常設されたレピータ装置や１．５ＭＰＤＨ装置がなくても、試験を行うことが可能な試験用電話機を提供する。 - 特許庁

Firstly, the main unit 30 becomes an active unit, applies test signals to the cable 32 under test and makes a set of measurements.例文帳に追加

最初は、主ユニット30が能動ユニットとなって、被試験ケーブル32に試験信号を印加するとともに一連の測定を行う。 - 特許庁

(2) The license examination set forth in the preceding paragraph (hereinafter referred to as the "license examination") shall consist of a paper test and a skill test or either of them. 例文帳に追加

２　前項の免許試験（以下「免許試験」という。）は、学科試験及び実技試験又はこれらのいずれかによつて行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.例文帳に追加

熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁

A set temperature Test of an air conditioner is increased by a prescribed amount (1°C) when a derivative value of the ultradian rhythm becomes maximum.例文帳に追加

そして、ウルトラディアンリズム周期の微分値が極大となるときに、空調機の設定温度Testが所定量（１℃）だけ増加される。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

In a load moving test apparatus 1, a test piece 2 is also moved along a running direction along with the rotational driving of a test wheel 51, and, by the combination of the motions of both of them, for example, the relative speed of the test wheel 51 to the test piece 2 is set to a wide range.例文帳に追加

試験車輪５１の回転駆動と共に供試体２も走行方向Ｌに沿って移動させ、両者の運動の組合せによって、例えば試験車輪５１の供試体２に対する相対速度を広い範囲で設定する。 - 特許庁

To provide a tray functioning as a tray when horizontally set, and functioning as a test tube stand when vertically set.例文帳に追加

横置きにしたときにはトレイとして機能し、縦置きにしたときには試験管立てとして機能するトレイを提供する。 - 特許庁

In a measurement for a PMOS 11, a TEST 1 is set at a high level, a transfer gate 12 is set at an off state, and a transfer gate 13 is set at an on state.例文帳に追加

ＰＭＯＳ１１の測定では、ＴＥＳＴ１をハイレベルにしてトランスファーゲート１２をオフ状態とし、トランスファーゲート１３をオン状態にする。 - 特許庁

In an NMOS 14, a TEST 2 is set at a high level, a transfer gate 16 is set at an off state, and a transfer gate 15 is set an on state; then a measurement is done.例文帳に追加

ＮＭＯＳ１４は、ＴＥＳＴ２をハイレベルにしてトランスファーゲート１６をオフ状態とし、トランスファーゲート１５をオン状態にして測定する。 - 特許庁

To improve the utilization rate of a network analyzer and a test, set at the measuring of a measuring object.例文帳に追加

被測定物の測定におけるネットワークアナライザおよびテストセットの稼動率の向上。 - 特許庁

To accurately perform an operation test even when operation guarantee temperature is set to be high.例文帳に追加

動作保証温度が高く設定されている場合でも、動作試験を精度よく行う。 - 特許庁

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

To determine in real time whether a test condition of a semiconductor device is set correctly.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト条件が正しく設定されているかをリアルタイムに判断する。 - 特許庁

A test pattern for use in checking the performance of a television set (where a technical feature resides in the pattern per se). 例文帳に追加

テレビ受像機用のテストチャート(テストチャートそれ自体に技術的特徴がある)。 - 特許庁

Once your data rules are set your test data creation becomes a predictable and repeatable process. 例文帳に追加

データ規則が設定できれば、テストデータ作成は予測可能で繰り返し可能なプロセスとなる。 - コンピューター用語辞典

If there are additional set-up and tear-down methods that should be called as part of the test case's operation, they can also be provided:例文帳に追加

初期設定、終了処理が必要な場合は、次のように指定します: - Python

A test case is the smallest unit of testing. It checks for a specific response to a particular set of inputs.例文帳に追加

テストケースはテストの最小単位で、各入力に対する結果をチェックします。 - Python

A test pattern order change means 103 changes the arrangement according to the order starting from least number of uncertain value for a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generation means 102.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数テストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数が少ない順番に並び替えを行う。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

When receiving a test printing command, a test printing control part 38 determines test printing contents to be implemented from the command and the set contents stored in the logo setting storage part 37a and the logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

テスト印刷制御部３８は、テスト印刷指令を受けて、指令と、ロゴ設定記憶部３７ａとロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂとに記憶された設定内容とから、実行するテスト印刷内容を決定する。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

A test pattern sequence modifying means 103 rearranges a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generating means 102 in accordance with the number of indeterminate values.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数のテストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数に従って並び替えを行う。 - 特許庁

Then, the set temperature Test of the air conditioner is decreased by the prescribed amount (1°C) when the derivative value of the ultradian rhythm becomes minimum.例文帳に追加

次に、ウルトラディアンリズム周期の微分値が極小となるときに、空調機の設定温度Testが所定量（１℃）だけ減少される。 - 特許庁

To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.例文帳に追加

被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

To produce a set of test sequences for operating each edge-device in a main area of interest in the state of maintaining a minimum test time.例文帳に追加

試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出す。 - 特許庁

A test mode register 5 is set to a test mode, a semiconductor integrated circuit device 1 is made a voltage force mode and the prescribed voltage is forced.例文帳に追加

テストモードレジスタ５をテストモードに設定して、半導体集積回路装置１を電圧フォースモードにし、所定の電圧をフォースする。 - 特許庁

A test case of the model 20 is then generated with the calculated set points set as new target values at the boundary 70 and with output data at the boundary 70 set as new test items.例文帳に追加

さらに、算出した設定値を、当該境界７０における新たな目標値として設定し、さらに、境界７０における出力データを新たな検査項目として設定した上で、モデル２０のテストケースを生成する。 - 特許庁

When the molding conditions are set, a set value for each of N kinds of molding conditions is set, a molding test of a plurality of shots is done based on the same condition, and a test molding is repeated in which a molding test of a plurality of shots is done based on a changed set value with respect to at least one molding condition.例文帳に追加

成形条件出しに際し、Ｎ種類の成形条件に対してそれぞれ設定値を設定して同じ設定値のもとで複数ショットの成形テストを行い、続いて少なくとも１つの成形条件について変更された設定値のもとで複数ショットの成形テストを行うというテスト成形を繰り返し行う。 - 特許庁

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits.例文帳に追加

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。 - 特許庁