「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Thereby, the head test time can be shortened by performing the head selection test.例文帳に追加

これによって、ヘッド・セレクション・テストを実行することで、ヘッド・テスト時間を短縮することができる。 - 特許庁

That is, design for the semiconductor device is simplified, a test time is shortened, and the test is simplified.例文帳に追加

つまり、半導体装置の設計の簡素化とテスト時間の短縮及び簡素化が可能である。 - 特許庁

A test pattern generated by a pattern generating circuit is written in a real cell array at the time of a test mode.例文帳に追加

試験モード時に、パターン生成回路が生成する試験パターンが、リアルセルアレイに書き込まれる。 - 特許庁

To increase a test work efficiency and shorten a test time.例文帳に追加

この発明は、テスト作業の効率化を図り、テスト時間の短縮化を達成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time of a refresh test of redundancy area is shortened.例文帳に追加

リダンダンシーエリアのリフレッシュテストのテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A timer 10 for a test is used for making a control part 2 measure a time in a test mode.例文帳に追加

テスト用タイマ１０は、制御部２がテストモード時に計時を行うために用いるものである。 - 特許庁

To enable an accurate tracer gas leak test by shortening an elapsed time until start of the test.例文帳に追加

テスト開始までの経過時間を短くすることにより正確なトレーサーガスリークテストを可能にする。 - 特許庁

The testing apparatus extracts the code number from the generated test data, performs the test item, acquires a time when the test item ends, calculates a test time required to perform the test from the time and the time when the data are received, and reads the data transmitted to the delay buffer A after the elapse of the calculated test time.例文帳に追加

そして、この試験装置は、生成された試験データからコード番号を抽出して試験項目を実施し、当該試験項目が終了した時刻を取得して、この時刻とデータを受信した時刻とから試験を実施するのに要する試験時間を算出し、算出された試験時間経過後に、Ｄｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信されたデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test piece is measured after determining the best ion accumulating time and the best sweeping time.例文帳に追加

最適イオン蓄積時間と最適掃引時間を決定し試料を測定する。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

To shorten a test data input time and a test result output time to quicken a scanning test, as to a scanning chain circuit used in a scanning test for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテスト時に用いるスキャンチェーン回路に関し、テストデータ入力時間及びテスト結果出力時間を短縮し、スキャンテストの高速化を図ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI test system capable of shortening the measurement time.例文帳に追加

測定時間を短縮できるＬＳＩテストシステムを提供する。 - 特許庁

To reduce the time of an I/O compression test at low cost.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ圧縮テスト時間を短縮かつ低コストで実現する。 - 特許庁

METHOD FOR SHORTENING TEST TIME OF NVM CELL BASE FPGA例文帳に追加

ＮＶＭセルベ—スＦＰＧＡのテスト時間を減少させる方法 - 特許庁

FERROELECTRIC SEMICONDUCTOR MEMORY OF WHICH TEST TIME IS SHORTENED例文帳に追加

試験時間を短縮した強誘電体半導体記憶装置 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

To shorten test time on a driving circuit for a display device.例文帳に追加

表示装置用駆動回路に対するテスト時間を短くする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To execute side erase test for a magnetic storage device in a short time.例文帳に追加

磁気記憶装置のサイドイレーズ試験を短時間で実行する。 - 特許庁

You know, even though there's more time than usual during the test period...例文帳に追加

テスト期間っていつもに比べて時間もいっぱいあるけどさ―― - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

An initial count value (111) is reloaded to the counter at the time of finish of one test step and at the time of preparation of the next test step.例文帳に追加

カウンタには、１つのテスト段階の終了時及び次のテスト段階の準備の際に、初期カウント値(111)がリロードされる。 - 特許庁

To reduce the execution time for a self-diagnosi tests in IC test and at the same time, reduce the execution time for the entire IC test.例文帳に追加

ＩＣ試験における自己診断試験に係る実行時間を短縮するとともに、ＩＣ試験全体に係る実行時間を短縮することである。 - 特許庁

To shorten a test work time including work time shortening of a quality discrimination process.例文帳に追加

良否分別工程の作業時間短縮も含めて試験作業時間を短縮する。 - 特許庁

To shorten the applied time of stress voltage, and to conduct a screening test efficiently in a short time.例文帳に追加

ストレス電圧の印加時間を短縮し、短時間で効率よくスクリーニングテストを行う。 - 特許庁

To reduce test time while securing reliability of the test, in a data retention test for a semiconductor memory in which data retention is changed with time.例文帳に追加

データ保持特性が経時的に変化する半導体メモリをも考慮したデータ保持特性試験において、試験の信頼度を確保したまま時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a test conducting server enabling a testee to download test questions at any desired time and take a test keeping to the fixed time- limit.例文帳に追加

受験者が好きな時にいつでも試験問題を自分のコンピュータにダウンロードして、決められた試験時間を守って受験することができる試験実施サーバを提供する。 - 特許庁

To shorten the test time for outputting the test results for plural test objects in ECU(electronic control unit) to the tester side so as to improve test efficiency.例文帳に追加

ＥＣＵ（電子制御ユニット）における複数の検査対象に対する検査結果を検査テスタ側に出力する際の検査時間を短縮し検査効率を向上すること。 - 特許庁

To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time.例文帳に追加

短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

To decrease the number of pins required for a test, to enable a test by an inexpensive tester or a simultaneous test of many chips, and to short a test time.例文帳に追加

この発明は、テストに必要となるピン数を削減し、廉価なテスタによるテスト又は多数チップの同時テストを可能とし、テスト時間の短縮を達成し得ることを課題とする。 - 特許庁

To shorten a required time for formation of a test vector used in a test device for executing a test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストを行うためのテスト装置で用いられるテストベクタの生成に要する所要時間を短縮する。 - 特許庁

In a test-burn-in system, 24 test boards are sequentially processed having time difference, and the test boards circulate.例文帳に追加

テストバーンイン装置において、２４枚のテストボードは順次時間差を持って処理されることになり、各々のテストボードは１枚単位で循環する。 - 特許庁

To reduce human cost and a test time to be required for a scanning test when the scanning test is performed for a part of a gate array block.例文帳に追加

ゲートアレイブロックの一部に対してスキャンテストを実施する場合に、テストに要する人的なコストおよびテスト時間を短縮化できる。 - 特許庁

A test server registers more test questions in a database than those to be set to one testee before the starting time of the test.例文帳に追加

試験サーバは、試験開始時刻以前に、一人の受験者に対する出題数よりも多くの試験問題をデータベースに登録する。 - 特許庁

To shorten a test pattern (test time) by controlling an address counter and controlling an address in a test mode.例文帳に追加

この発明は、テストモードにおいてアドレスカウンタを制御し、アドレスをコントロールすることにより、テストパターン（テスト時間）を短縮することを目的とする。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁

To provide an air-tight test system capable of efficiently performing air-tight test by shortening the time required to air-tight test of gas-holders.例文帳に追加

ガスタンクの気密試験に要する時間を短縮して、気密試験を効率的に行うことができる気密試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit that reduces the test time and can be inspected with a low-speed test device, and its test method.例文帳に追加

試験時間を短縮し、低速な試験装置でも検査可能な集積回路とその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a vehicle evaluation test system, and a vehicle evaluation test method for accurately and inexpensively attaining vehicle evaluation test, in a short time.例文帳に追加

高精度、短時間、低コストで車両評価試験を実現する車両評価試験システム、車両評価試験方法を提供する。 - 特許庁

The test piece subjected to the calcium corrosion test is set in a constant-temperature and constant-humidity environment, and a plurality of test piece images are photographed at intervals of time.例文帳に追加

カルシウム腐食法の試験片を恒温恒湿環境内におき、時間間隔をあけて複数の試験片画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

Every time when a new test vector is generated and added to a test vector buffer 106 by a test vector generating/adding means 112, a test vector score calculating means 114 calculates a score showing the performance of the test vector.例文帳に追加

テストベクトル生成・追加手段１１２が新たなテストベクトルを生成してテストベクトルバッファ１０６に追加するごとに、テストベクトル得点計算手段１１４は、テストベクトルの性能を表す得点を計算する。 - 特許庁