「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a memory test device for testing setup time Tds and hold time Tdh of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのセットアップ・タイムＴｄｓとホールド・タイムＴｄｈを試験するメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

Alternatively, in the method for filtering the analyzing test solution, the filter is automatically fed at each time when a definite time is elapsed.例文帳に追加

または、分析用試験液を濾過する方法において、一定時間経過毎に自動的にフィルターを送る。 - 特許庁

To alleviate time required for pattern inspection processing of a test piece for inspection, and at the same time to ensure high inspection sensitivity.例文帳に追加

検査対象試料のパターンの検査処理時間を軽減すると同時に高い検査感度を確保すること。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

To improve the efficiency of IDDQ test, and to shorten the test time, even when the IDDQ (current at a stationary time) test having different conditions is repeatedly carried out many times for analysis or verification.例文帳に追加

解析や検証のために、条件を異ならせた多数回のＩＤＤＱ（静止時電流）テストを繰り返し実施するような場合においても、ＩＤＤＱテストの効率を向上させ、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

Also, since the test areas 2 are secured for the first time when the test areas 1 are used up, the compatibility with capacity can be also maintained in between the reproduction exclusive optical disk, during the time the laser power is being adjusted by only the test areas 1.例文帳に追加

また、テストエリア１が使い尽くされたときに初めてテストエリア２が確保されるため、テストエリア１のみでレーザパワー調整を行える間は、再生専用光ディスクとの間で容量互換も維持することができる。 - 特許庁

To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.例文帳に追加

局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁

To prevent the removal of a slide lock even if 20G inertia test as well as 20 time strength test are conducted and move a seat backward and automatically at the time of head-on collision of a vehicle.例文帳に追加

２０倍強度試験のみならず２０Ｇ慣性試験を行ってもスライドロックが外れず、かつ車両の前面衝突時にシートを自動的に後方に移動させる。 - 特許庁

To improve productivity by optimizing the "waiting time setting" in a test program description and by shortening the program execution time of a test program.例文帳に追加

テストプログラム記述における「待ち時間設定」を最適化してテストプログラムプログラム実行時間を短縮することにより生産性を改善できるＬＳＩテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a sound output confirmation test system in a time signal guide system that can quickly confirm and test a sound output of a time signal guide service in spite of an inexpensive configuration.例文帳に追加

時報案内サービスの音声出力を安価な構成で迅速に確認試験できる時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式を提供する。 - 特許庁

To shorten largely a test time by improving an activation rate of a word line only at the time of a test of a row system without changing constitution of DRAM cores, in a DRAM-mixed logic LSI.例文帳に追加

ＤＲＡＭ混載ロジックＬＳＩにおいて、ＤＲＡＭコアの構成を変えることなく、ロウ系のテスト時のみワード線の活性化率を上げてテスト時間を大幅に短縮化する。 - 特許庁

The time P is defined as the time from the timing for writing an image of a page forming the test pattern to the timing for writing an image where the correction value is reflected with the test pattern.例文帳に追加

時間Ｐを、テストパターンを形成するページの画像を書き出すタイミングから、テストパターンによる補正値を反映した画像を書き出すタイミングまでの時間とする。 - 特許庁

Each time the test is run, the current output is compared to the contents of Output. 例文帳に追加

テストを実行するたびに、現在の出力が「出力」の内容と比較されます。 - NetBeans

To shorten test time of semiconductor integrated circuits in which voltage regulator are built.例文帳に追加

電圧レギュレータを内蔵した半導体集積回路のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of shortening a test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

Please make sure you write the the time, your opinion, and result of your test例文帳に追加

検食を行った時間と 先生の意見と検食の結果を この検食簿に - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Each time the test is run, the current output is compared to the content of Output. 例文帳に追加

テストを実行するたびに、現在の出力が「出力」の内容と比較されます。 - NetBeans

To shorten a test time by reducing the number of S-FF of a signal scan pass by half.例文帳に追加

１本のスキャンパスのＳ−ＦＦの数を半減してテスト時間を短縮する。 - 特許庁

Following on execution of the test, this system stores as the test result the output time of each of the second images corresponding to each of the first images, or ranking of the order of output time of each second image which is sought for from the output time.例文帳に追加

テストの実行に伴い、各第１画像に対応した各第２画像の出力時間、又はそれから求められた各第２画像の出力時間順の順位、をテスト結果として記憶する。 - 特許庁

The withstanding voltage test method applies a first test voltage (V1) to power equipment, such as power cables, transformers, generators, and motors for a predetermined period of time and then applies a second test voltage (V2) which is lower than the first test voltage (V1) thereto, for a predetermined period of time.例文帳に追加

電力ケーブル、変圧器、発電機、電動機等の電力設備に、第１の試験電圧（Ｖ１）を所定時間課電した後に、第１の試験電圧（Ｖ１）よりも低い第２の試験電圧（Ｖ２）を所定時間課電することによる耐電圧試験方法。 - 特許庁

To develop an environmental test device capable of reducing the time required for environmental test and obtaining similar effect as in the past, in a short time, by improving an environmental test device wherein a test object, such as electronic equipment, is put in such an environment that humidity changes periodically.例文帳に追加

湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals.例文帳に追加

テスト回路１４は、テストスイッチ１５が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路７が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路７が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Execution time, required until the test is completed, is calculated without obtaining the snapshot, and difference between the execution time and the execution prediction time is calculated as shortening time.例文帳に追加

スナップショットを取得することなくテストを完了するまでに要する実行時間を算出し、実行時間と実行予測時間との差分を短縮時間として算出する。 - 特許庁

A cell inspecting means inspects whether or not time information (test addition time, test performing time, trouble occurrence time, and trouble solution time) is registered by records of the database and a database update means 120 judges a record where the time information should be registered and specifies a cell where the time information should be registered according to the inspection result of the cell inspecting means.例文帳に追加

セル検査手段がデータベースのレコードごとに時刻情報（試験追加時刻、試験実施時刻、障害発生時刻、障害解決時刻）の登録の有無を検査し、セル検査手段の検査結果に基づき、データベース更新部１２０が時刻情報を登録すべきレコードを判断し、時刻情報を登録すべきセルを指定する。 - 特許庁

When a predetermined time elapses after the test circuit 5 is brought into the test status from the usual status or when a predetermined time elapses after an overcharge detecting means 10 detects a detecting signal in the test status, a delay circuit 8 returns a delay time from the test status to the usual status.例文帳に追加

テスト回路５が通常状態からテスト状態になってから所定時間が経過した場合、または、テスト状態で過充電検出手段１０が検出信号を出力してから所定時間が経過した場合、遅延回路８が遅延時間をテスト状態のときのものから通常状態のときのものに戻す。 - 特許庁

The second clocking device 2 receives the test information transferred from the first communication device 3 to the second communication device 4 from the second communication device 4 and specifies the transmission time of the test information by subtracting a value specifying the transmission time included in the test information from a value specifying a receiving time of the test information.例文帳に追加

第２計時装置２は、第１通信装置３から第２通信装置４へ転送された試験情報を第２通信装置４から受信し、試験情報の受信時刻を特定する値から、試験情報に含まれる送信時刻を特定する値を減じて、試験情報の伝達時間を特定する。 - 特許庁

The method includes (A) a step of inserting a test point into an object node in a designed circuit, (B) a step of specifying a delay time for a path (test point path) connecting with the test point, and (C) a step of laying out the designed circuit so that the delay time of the test point path is the specified delay time.例文帳に追加

その設計方法は、（Ａ）設計回路中の対象ノードに対してテストポイントを挿入するステップと、（Ｂ）そのテストポイントにつながるパス（テストポイントパス）に対して遅延時間を指定するステップと、（Ｃ）そのテストポイントパスの遅延時間が上記指定された遅延時間になるように、設計回路のレイアウトを行なうステップと、を有する。 - 特許庁

To impress a boost voltage to plural word lines at the time of burn-in test without increasing a chip area, to simultaneously perform the burn-in test to a lot of cells in a short time, to shorten time required for the burn-in test and to improve the processing efficiency of the burn-in test in production.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、バーンインテスト時に複数のワード線に昇圧電圧を印可でき、より短時間に多数を同時にバーンインテスト可能とし、バーンインテストに必要な時間を短縮させ、製造におけるバーンインテストの処理効率を向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data processor capable of ending the test of a RAM and a test including a user logic circuit further in a short time.例文帳に追加

ＲＡＭのテストおよびユーザロジック回路を含むテストをさらに短時間で終了させることができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit in which a performance test time can be shortened without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、動作試験時間の短縮を図り得る試験回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can perform test by adjusting a propagation time being different for every transmission line of a test tool.例文帳に追加

テスト治具の伝送線路ごとに異なる伝播時間を調整して試験を行なうことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To improve reliability by making the constitution of a dual port memory test device simpler and by shortening a test time by decreasing the number of signals to be observed.例文帳に追加

デュアルポートメモリ試験装置をより簡単な構成にし、観測する信号数を減して試験時間を短縮し、信頼性を高める。 - 特許庁

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test tube holder capable of easily observing the inside of a held test tube visually, and easily storing at the time of disusing and having a simple structure.例文帳に追加

保持した試験管内の様子を視認し易く、しかも不使用時の保管が容易な簡易な構成の試験管ホルダを提供する。 - 特許庁

To acquire sure contact between a terminal and a probe at the probing test time, while arranging the terminals highly densely, in a probing test method.例文帳に追加

プロービングテスト方法において、端子を高密度に配置しながら、プロービングテスト時に端子とプローブの確実な接触が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a static semiconductor memory device capable of shortening the test time of a data retention test, thereby improving productivity.例文帳に追加

データリテンションテストのテスト時間を短縮して、生産性を向上させることができるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加

本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁