「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, at the time of the burn-in test, the voltage drop circuits 43, 45 are made non-activation.例文帳に追加

なお、バーンイン試験時には、電圧降下回路４３，４５は非活性化される。 - 特許庁

1. The technical test of the plant variety shall be performed in the nearest suitable time for germination.例文帳に追加

(1) 植物品種の技術テストは，直近の発芽に適した時期に行う。 - 特許庁

Only the logic circuits 22, 24, 26 are supplied the first potential at the time of test.例文帳に追加

試験時には論理回路２２，２４，２６のみに第１の電位が供給される。 - 特許庁

At this time, the pitches of the holding mechanisms 36 become equal to the pitch P2 of a test carrier.例文帳に追加

このとき、保持機構３６のピッチは、テストキャリアのピッチＰ２と等しくなる。 - 特許庁

To reduce the test time about a spectrum radiation mask measurement and similar measurements.例文帳に追加

スペクトル放射マスク測定及び同様の測定に関する試験時間の短縮 - 特許庁

To reduce number of times for response input by a subject, and shorten an amount of test time.例文帳に追加

被検者の応答入力の回数を減らし、検査時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

Specifies how long inseconds each test should be run (default 5 seconds). 例文帳に追加

\\-time それぞれのテストが何秒間実行されるかを指定する(デフォルトでは5秒間)。 - XFree86

METHOD OF ENSURING DATE AND TIME ON TEST METER ARE ACCURATE例文帳に追加

検査測定器の日付および時刻が正確であることを確実にする方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which yield is high and a test time is short.例文帳に追加

歩留りが高く、テスト時間が短くて済む半導体装置を提供する。 - 特許庁

To measure the receiving performance of a receiving module 2 under test approximately in real time.例文帳に追加

試験対象の受信モジュール２の受信性能をほぼ実時間で測定する。 - 特許庁

Therefore, a sufficient burn-in test can be executed for the digit line being a current line, while a test time of the burn-in test can be shortened.例文帳に追加

したがって、電流線であるデジット線に対して十分なバーンイン試験を実行することができるとともに、いわゆるバーンイン試験の試験時間も短縮することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト（ＤＭＡ）を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which total test time can be shortened and processing for redundancy operation for each test can be accelerated.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、毎回の試験ごとのリダンダンシ演算に係る処理を高速化できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To carry out a withstand voltage test that produces a result of determination even when the test is forcibly terminated from outside in the middle of test time set by a timer.例文帳に追加

耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。 - 特許庁

To provide an ECC built-in semiconductor memory in which a highly accurate and efficient test can be performed with simple constitution and a test time can be shortened and a test method.例文帳に追加

簡単な構成により高精度で効率的なテストが可能、及びテスト時間の短縮化が可能なＥＣＣ内蔵の半導体記憶装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

To shorten design TAT by responding change of a test method without recalculating the test efficiency each time or adding a process of inserting a new test point.例文帳に追加

テスト手法が変更されても、その都度テスト効率を計算し直したり、新たなテストポイントを挿入する工程を追加することなく対応して、設計ＴＡＴを短縮する。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To enter efficiently super VIH(SVIH) conditions to a test mode by suppressing restriction of a test device and possibility of erroneous entry of a user side at the time of entry of serial test.例文帳に追加

シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパＶＩＨ（ＳＶＩＨ）条件のテストモードにエントリする。 - 特許庁

A test stream measuring means 14 receives the test stream returned from the receiving node, and measures quality information, such as a round trip time of the test stream and a packet loss rate.例文帳に追加

試験ストリーム計測手段１４は、受信ノードから返送された試験ストリームを受信し、試験ストリームのラウンド・トリップ・タイム、パケットロス率などの品質情報を計測する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう（ステップＳＰ４）。 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a deterioration test method and a deterioration test system capable of conducting a deterioration test in a shorter time and with high accuracy by performing position management of a laser focal point.例文帳に追加

レーザー合焦点の位置管理を行い、より短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法及び劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wire connection device with work efficiency or reliability improved at the time of carrying out of a withstand voltage test and an electric circuit verification test (sequence test) of a distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時の作業の効率や信頼性が向上する結線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reaction tube for a gene by which a test time in a genetic test is shortened to extremely improve test efficiency; and to provide an apparatus for detecting the gene.例文帳に追加

遺伝子検査における検査時間を短縮して検査効率を大幅に向上させることのできる遺伝子反応管および遺伝子検出装置を提供すること。 - 特許庁

A test data acquisition unit 132 acquires test data which has a size that can be finished by the time when next data is input, and outputs the test data to the decoding processing unit 11.例文帳に追加

テストデータ取得部１３２は、次の通信データが入力されるまでにテストが終了するサイズのテストデータを取得し、復号処理部１１に出力する。 - 特許庁

This radar is constituted so that a test forbidden area is recorded in a test forbidden map information circuit 85 based on a test forbidden map production instruction from the outside, and that the test forbidden area is compared and collated with detection at the search time, to thereby perform management of the test beam.例文帳に追加

外部からの検定禁止マップ作成指示をもとに、検定禁止エリアを検定禁止マップ情報回路８５に記録し、この検定禁止エリアと捜索時の検出とを比較照合して検定ビームのマネージメントを行うように構成した。 - 特許庁

To separately set a multibit test mode standardized by LEDEC, to set concurrently a special test mode not standardized by LEDEC and the multibit test mode to satisfy a specification, and to shorten a test time for a special test out of the specification.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself.例文帳に追加

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。 - 特許庁

This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加

本発明のＵＳＢ光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うＵＳＢモジュールとを含む。 - 特許庁

Accordingly, it is possible to shorten the design verification time, evaluation time and test time of a semiconductor integrated circuit in designing the system.例文帳に追加

したがって、システムを設計する際に、半導体集積回路の設計検証時間、評価時間および試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a substrate test method with which a vivid image can be obtained and the reduction in test time is expected.例文帳に追加

鮮明な画像を得ることができ、検査時間の短縮を期待できる基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a rotor swinging adjusting tool performing a subtle adjustment work easily, and shortening greatly a test time of a drag test.例文帳に追加

微妙な調整作業が容易で、引摺り試験の試験時間も飛躍的に短縮できるロータ振れ調整治具を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for a RAM by which a test time of a semiconductor device incorporating plural RAMs can be shortened.例文帳に追加

複数のＲＡＭを搭載する半導体装置のテスト時間を短縮することができるＲＡＭのテスト方法を提供する。 - 特許庁

At the time, before and after the transmission of test signals, RSSI is measured in the reception circuits 213 and 215 of a test object antenna.例文帳に追加

この際、試験信号の送信前後に、試験対象アンテナの受信回路２１３、２１５においてＲＳＳＩを測定する。 - 特許庁

To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加

時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁

Temperatures at the test time of the test elements fixed to the fixing parts 2 are raised successively corresponding to the number of the resistors on the fixing parts 2.例文帳に追加

固定部２の抵抗体の数に応じて、この固定部２に固定された被試験素子の試験時の温度が順次高くなる。 - 特許庁

To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time.例文帳に追加

オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by shortening the time required for the test, and by suppressing increase of a chip area.例文帳に追加

テストに要する時間を短縮し、かつチップ面積の増加を抑えることにより、テストに要するコストを低減することである。 - 特許庁

To shorten the test time and to reduce the test cost by performing simultaneously operation tests before correcting an error and after correcting the error.例文帳に追加

エラー訂正前とエラー訂正後との動作テストを同時に行うことで、テスト時間を短縮でき、さらにテストコストを低減する。 - 特許庁

You will use the IDE's create test skeletons based on the classes in your project. The first time that you use the IDE to create some test skeletons for you, the IDE prompts you to choose the JUnit version.例文帳に追加

テストスケルトンを作成するために IDE をはじめて使用する際は、JUnit のバージョンを選択するよう求められます。 - NetBeans

To enable progress of testing work to be reported to a test manager and a man in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

試験作業の進捗状況が、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつ、プッシュ型的に通知を可能とする。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁