「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a nonvolatile semiconductor memory device and its self-test method, in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device of housing a plurality of test strips and endowing one test strip each time.例文帳に追加

複数の試験ストリップを格納し、かつ一度に１つの試験ストリップを分与する装置を提供する。 - 特許庁

To perform fatigue test on a plurality of test pieces at the same time with one vibration tester.例文帳に追加

一つの振動試験装置で複数の試験片を同時に疲労試験することができるようにする。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time for performing a leak test can be shortened.例文帳に追加

リークテストを行うためのテスト時間を短縮することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time.例文帳に追加

シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

If they passed the test, they were hired as government officials, and this test was the highest level national exam for that time. 例文帳に追加

この試験に合格すれば官吏に登用され、この試験は当時の最高国家試験であった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a semiconductor integrated circuit capable of a multi test in which a test time can be shortened.例文帳に追加

本発明は、テスト時間を短縮できるマルチテストが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To significantly shorten the test time required for a standby current test and to detect failure with precision.例文帳に追加

スタンバイ電流テストにおけるテスト時間を大幅に短縮し、かつ高精度に不良を検出する。 - 特許庁

To shorten the test time by simplifying the necessary display screen operation during the test process.例文帳に追加

検査を進めるうえで必要な画面操作を簡易化することにより、検査にかかる時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of improving test efficiency by shortening the time required for a function test.例文帳に追加

ファンクションテストに要する時間を短縮し、テストの効率を向上させるＩＣテスタを提供する。 - 特許庁

To shorten the test time of a plurality of samples in a triaxial consolidation permeability test device.例文帳に追加

三軸圧密透水試験装置において、複数の供試体について試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To improve a detection rate of a failure, and to shorten a test time, in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおいて、故障の検出率を向上し、テスト時間を短縮することができるようにする。 - 特許庁

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.例文帳に追加

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

In devices E, F, a test time T1 of a time series 361 is set in a test mode, while in devices A, B, C, D, a system time T0 of a time series 360 is set.例文帳に追加

装置Ｅ，Ｆは試験モードで、時刻系列３６１の試験時刻Ｔ１が設定されており、装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは時刻系列３６０のシステム時刻Ｔ０が設定されている。 - 特許庁

To detect the change over time of the distance between a probe card and a test head.例文帳に追加

プローブカードとテストヘッドとの距離の経時変化を検出する。 - 特許庁

To perform a delivery test of a battery with a good precision and within a short time.例文帳に追加

電池を精度良く、しかも短期間に出荷検査を行う。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for largely shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を大幅に短縮できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit evaluating an address access time of the memory.例文帳に追加

メモリのアドレスアクセスタイムを評価するメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To perform a leak test in a dry condition with high accuracy in a short time.例文帳に追加

乾いた状態で、精度の高いリークテストを短時間で行う。 - 特許庁

The activation energy at the finish time of the secondary accelerated test is obtained.例文帳に追加

二次加速試験終了時点での活性化エネルギーを求める。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁

The value of the destination property is set at the time the test case is created.例文帳に追加

「宛先」プロパティーの値は、テストケースの作成時に設定されます。 - NetBeans

To achieve the huge test of firmware with a few man-hours and time.例文帳に追加

ファームウェアの膨大なテストを少ない工数と時間で可能にする。 - 特許庁

RISTOCETIN COFACTOR TEST REAGENT STABLE FOR LONG TIME AND READY FOR IMMEDIATE USE例文帳に追加

長期に安定で即時使用可能なリストセチン補因子試験試薬 - 特許庁

To shorten the time required for verification by suppressing the number of test vectors.例文帳に追加

テストベクトルの数を抑えて検証に要する時間を短縮する。 - 特許庁

A hold restriction time may be reduced for the test input signal SI.例文帳に追加

テスト入力信号ＳＩはホールド制約時間が小さくて済む。 - 特許庁

SOUND OUTPUT CONFIRMATION TEST SYSTEM IN TIME SIGNAL GUIDE SERVICE例文帳に追加

時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式 - 特許庁

To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.例文帳に追加

時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device for reducing parallel test time.例文帳に追加

パラレルテスト時間を短縮できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

CIRCUIT FOR REDUCING TEST TIME AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE COMPRISING THE CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化回路および当該回路を含む半導体記憶装置 - 特許庁

To test a wafer using a prober in a short time.例文帳に追加

プローバーを用いたウェハーの検査を短時間で行えるようにする。 - 特許庁

I entered this time to test my martial arts abilities!例文帳に追加

今度は 私の武道の実力を 試してみたくて 出てきたんです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

I took less time than usual to answer all the questions on the test.例文帳に追加

テストで全問答えるのにいつもより時間がかからなかった - Eゲイト英和辞典

To provide a method for predicting the time of deterioration of a paint film occurring after a long-term weathering test from the result of a short-time weathering test.例文帳に追加

長期間の耐候性試験の後に起こる塗膜劣化の時期を、短時間の耐候性試験の結果から予測する方法の提供。 - 特許庁

At the time of a test, first, specific data is written in a memory cell array 30.例文帳に追加

テスト時には、まず、メモリセルアレイ３０に特定のデータを書き込む。 - 特許庁

To lighten a burden on a test vector designer, to make it possible to input a test vector into a simulator without erroneous input, and also to shorten test vector generating time, by generating the test vector automatically in a short period of time.例文帳に追加

テストベクタを短時間で、かつ自動的に生成することにより、テストベクタ設計者の負荷の低減を図り、誤入力なく、テストベクタをシミュレータに入力に可能としテストベクタ生成時間の短縮化も図ること。 - 特許庁

When the server receives a request from the user who has reserved the test between the test questions distribution start date and time and test questions distribution terminating date and time, it transmits the test questions to the user's computer to be displayed.例文帳に追加

また、試験問題配布開始日時と試験問題配布終了日時との間において、試験予約が行われているユーザから要求を受けた時、試験問題をユーザのコンピュータへ送信して表示させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.例文帳に追加

半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample.例文帳に追加

耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。 - 特許庁

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁