「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

I got my driver's license on the second time I tried to pass the driver's test.例文帳に追加

運転試験の２度目の挑戦で運転免許をとることができた。 - Tatoeba例文

To reduce a test time of a semiconductor device with a flash ROM mounted thereon.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭを搭載した半導体装置のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

This compsn. exhibits an elasticity ratio of modulus M100 to static shear modulus Gs at the third time in a repeated 100% tensile deformation test with an autograph of 1.4 or higher and a ratio of modulus M300 at the third time in a repeated 300% tensile deformation test to M100 of 3.6 or lower.例文帳に追加

１００％モジュラスＭ_100 と静的剪断弾性率Ｇｓとの比（Ｍ_100／Ｇｓ）が１．４以上である免震積層体用ゴム組成物。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

A server 11 receives a constant design document and a test execution time transmitted from a client 10, and collates test item ID written in the constant design document with a test item table, and temporarily stores the test item information including the priority and test time in the table (S193).例文帳に追加

サーバー１１は、クライアント１０から送信された定数設計書と試験実施時間を受け取り、定数設計書に記載された試験項目IDと、試験項目テーブルとを照合し、優先度と試験時間を含む試験項目情報を一時テーブルに格納する（S１９３）。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time can be shortened to a test of which the sense operation margin is severe.例文帳に追加

センス動作マージンが厳しいテストに対してテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for conduction test which can obtain a highly reliable test result without increasing the measurement time.例文帳に追加

測定時間を長くすることなく、より信頼性の高い検査結果の得られる導通検査方法を提供する。 - 特許庁

To locally and freely adjust a cycle time in an arbitrary test cycle and reduce a chip size and a test cost.例文帳に追加

任意のテストサイクルにおけるサイクル時間を局所的に自由に調整するとともにチップサイズ、テストコストを削減する。 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁

To provide a function test method of an electronic control device for a vehicle capable of shortening a time required for a function test.例文帳に追加

機能検査に要する時間を短縮可能な車両用電子制御装置の機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of debug by expanding a test function for a system test and accelerate the simulation execution time.例文帳に追加

システムテストのためのテスト機能を拡大しデバッグの効率を向上すると共に、シミュレーション実行時間を高速化する。 - 特許庁

A host computer A transmits a plurality of test packets, and a host computer B measures delay time in each test packet.例文帳に追加

ホストＡ・１は複数の試験パケットを送信し、ホストＢ・５が各々の試験パケットについて遅延時間を測定する。 - 特許庁

The optical fiber etalon 3 transmits the light under test every time the wavelength of the light under test fulfills a fixed condition.例文帳に追加

光学ファイバエタロン３は、被測定光の波長が一定の条件を満たす毎に、当該被測定光を透過させる。 - 特許庁

At the time of test end, by turning off a test switch 10 of the wireless base unit 6, the signal transmission inhibit mode is canceled.例文帳に追加

試験終了時、無線親機６の試験スイッチ１０をオフにすることにより移報禁止モードを解除する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can test plural DUT simultaneously measured in a shorter time.例文帳に追加

複数個を同時測定するＤＵＴを、より短時間に試験実施することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method by which a memory test time can be shortened and manufacturing efficiency can be improved.例文帳に追加

本発明は、メモリの試験時間を短縮し、生産効率を高めることができるメモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁

To provide a lighting device in which a test mode can be set easily, and the test can be performed efficiently in a short time.例文帳に追加

容易にテストモードとすることができ、短時間で効率よくテストを行うことができる照明装置を提供する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce the development period of a test pattern and the LSI test time, and to eliminate the necessity for an expensive analogue/digital mixed tester.例文帳に追加

テストパターンの開発期間およびＬＳＩのテスト時間を短縮し、高価なアナログデジタル混在用テスタを不要にする。 - 特許庁

To provide an automatic test program generator capable of shortening a working time for regenerating a test program.例文帳に追加

テストプログラムを再生成するための作業時間を短縮することができるテストプログラム自動生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue test method capable of confirming a crack developing state on a plurality of repetition rates by a one-time test.例文帳に追加

１回の試験で複数の繰返し速度についてのき裂進展状況を確認可能な疲労試験方法の提供。 - 特許庁

To accurately measure a delay time in a transmission channel, on the basis of a transmission time registered in a test packet and its reception time.例文帳に追加

テストパケットに登録された送出時刻とその受信時刻とに基づいて伝送路の遅延時間を正確に測定する。 - 特許庁

The lighting device can be set to a test mode by one operation of a switch 25b at the time a test is performed such as on a range of an object sensor 26a and a lighting retention time at the time of adjustment at installation or after installation, thereby, the test can be performed easily.例文帳に追加

設置時や設置後の調整時に物体センサ２６ａの範囲や点灯保持時間等のテストを行う際に、スイッチ２５ｂ一つの操作でテストモードにすることができるので、容易にテストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a test circuit capable of shortening an SSF time without impairing the controllability of an internal circuit part, and remarkably reducing a test time and the test cost.例文帳に追加

内部回路部の制御性を低下させることなくＳＳＦ時間を短縮でき、テスト時間及びテストコストを大幅に削減することができるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test performer associates test items and the communication log by collating the date and time of the acceptance/rejection determination with the date and time of the communication log which are controlled by the test item management section 11.例文帳に追加

テスト実施者は、テスト項目管理部１１により管理されている合否判定の日時と通信ログの日時とを照合することによって、テスト項目と通信ログとの対応付けを行う。 - 特許庁

When both values of EL1 and EL2 are lower than threshold values L1 and L2 at the time of test writing last time, test writing width A(L) is increased by Δa so as to be more than that last time.例文帳に追加

１回前のテストライト時において、ＥＬ１とＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２を下回っている場合には、テストライト幅Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものよりΔａだけ増大させる。 - 特許庁

Furthermore, in this case, the lighting time can be set to be shorter than a normal lighting retention time, and the next test can be performed in a short time, thus, the test can be performed efficiently.例文帳に追加

また、この際、点灯時間を通常の点灯保持時間よりも短く設定できるので、短時間で次のテストを行うことができ、効率よくテストを行うことができる。 - 特許庁

At this time, the test of even-numbered rows and odd-numbered columns and the test of odd-numbered rows and odd-numbered columns are simultaneously performed, and the test of even-numbered rows and even-numbered columns and the test of odd-numbered rows and even-numbered columns are simultaneously performed.例文帳に追加

このとき、偶数列奇数行の試験と奇数列奇数行の試験とは同時に行われ、偶数列偶数行の試験と奇数列偶数行の試験とは同時に行われる。 - 特許庁

To precisely and quickly select a test route, a test vehicle, and a stuff who performs a test having capabilities suitable for desired specifications for a vehicle test of a truster, and to submit estimated specifications in an extremely short period of time.例文帳に追加

委託者の車両試験の希望仕様に適した能力を有する試験路、試験車両および試験員を正確かつ迅速に選出して見積仕様を極めて短期間に提出可能とする。 - 特許庁

At the time of performing a tensile test, both ends (clamp sections for tensile test) of the parallel section of the test piece are adjusted to larger sizes and the surfaces of the clamp sections are used for measuring the surface characteristic and hardness of the test piece.例文帳に追加

引張試験を行なう場合は、平行部の両端（引張試験における把持部）を大きめのサイズに調製し、把持部表面を表面特性や硬さ測定のの試験面とする。 - 特許庁

To provide a test data filing system and a test data filing program capable of managing a test time as information varied by a subject, test contents, and a tester for practically managing test times in an ophthalmology hospital, which frequently uses a test apparatus, and using the test time served according to the subject and the tester as data resources of usability determination and test scheduling of the test apparatus inside the hospital.例文帳に追加

検査時間を被検者、検査内容及び検者によって変動する情報として管理することで、検査装置を多用する眼科病院において各検査時間の管理をより実用的に行うことができ、被検者及び検者に応じて実用化された検査時間を病院内の検査装置の利用効率の判断や検査スケジューリングのデータ資源として用いることができる検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a unit test support device which achieves reducing the operation frequency of test stab creation, decreasing a workload required for a unit test using the test stab and shortening an execution time when performing the unit test of a test object module described based on a state transition chart or a state transition table.例文帳に追加

状態遷移図や状態遷移表に基づいて記述された試験対象モジュールの単体試験にあたり、テストスタブ作成の作業頻度の低減や、テストスタブを用いた単体試験に要する作業量の削減や実施時間の短縮化を実現できる単体試験支援装置を提供する。 - 特許庁

To prevent some test questions from leaking by executing a control that a package enclosed with some comprehensive test question sheets delivered to many test sites distributed in a nation-wide basis before a test executing day cannot be opened until at least one hour before the start time of the test on the test executing day.例文帳に追加

全国に散らばっている多数の試験会場に、試験当日前に届いた統一試験問題用紙を入れた包装体を試験当日の少なくとも１時間前までは開封できないように厳密に管理できるようにして、試験問題の漏洩を防止すること。 - 特許庁

To provide a successive approximation type A-D converter capable of reporting a defective circuit to the outside without awaiting the end of a test when the defective circuit is detected on the way of the test then stopping the test on the way of the test, thereby shortening the test time and reducing manpowers for the test.例文帳に追加

テストの途中で回路の不良が検出された場合、テストの終了を待たずに回路の不良が外部へ告知され、テストの途中でテストの中止ができ、テスト時間の短縮・省力を行えるようにした逐次比較型ＡＤ変換装置を提供する。 - 特許庁

A delay time measurement part 12 compares the time when a test signal is sent from a point A with the time when the test signal is received at a point B to measure the transmission delay time of a system 2 to be evaluated.例文帳に追加

遅延時間測定部１２によって，地点Ａから試験信号を送信した時刻と地点Ｂで試験信号を受信した時刻とを比較することにより評価対象系２の伝送遅延時間を測定する。 - 特許庁

To require neither a long time nor much trouble to test a multiplex computer system.例文帳に追加

多重化計算機システム試験に多くの時間と人手が係らないようにする。 - 特許庁

To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加

ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁

To shorten the photographing time of a test image on a measuring camera in an adjustment work.例文帳に追加

調整作業で計測カメラでのテスト画像の撮影時間を短くする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device capable of shortening a test time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることが可能な半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

In the beginner’s test, there are 25 questions that must be answered in a fixed amount of time. 例文帳に追加

初級試験は25問あり，一定時間内に解答しなければならない。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide such test data that data sent on a data bus are switched at one time.例文帳に追加

データバス上に流れるデータが一斉に切り替わるテストデータを提供する。 - 特許庁

To perform a failure reproduction test in a short time in computer peripheral equipment.例文帳に追加

コンピュータ周辺機器において、不具合再現試験を短時間で行うこと。 - 特許庁