「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.例文帳に追加

ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

To provide a test method for a nonvolatile semiconductor memory enabling to shorten a test time without increasing layout area and without requiring an expensive test device.例文帳に追加

レイアウト面積を大きくすることなく、また高価な検査装置を必要とすることなく、検査時間の短縮を図ることを可能とする、不揮発性半導体記憶装置の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a test tube type discriminating device precisely discriminating types of a plurality of test tubes stored in a test tube rack and performing discrimination work in a short period of time.例文帳に追加

試験管ラックに収容されている複数の試験管の種類を正確に判別でき、しかも判別作業を短時間内に行なうことのできる試験管種類判別装置を提供。 - 特許庁

Precision is not sacrificed because the optimum waiting time can be set automatically, and the test time is shortened.例文帳に追加

自動的に最適な待ち時間を設定できるので、精度を犠牲にすることなく、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

TIME DOMAIN REFLECTIOMETER (TDR), AND METHOD OF APPLYING TIME DOMAIN REFLECTANCE MEASUREMENT TEST TO NETWORK CABLE例文帳に追加

時間領域反射率計（ＴＤＲ）、および時間領域反射率計測検査をネットワークケーブルに適用するための方法 - 特許庁

To prevent an actually operating circuit from being affected by a test circuit at the time of measurement of the propagation delay time of the whole of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ全体の伝搬遅延時間の測定時にテスト回路が実動作回路に影響を与えないようにする。 - 特許庁

Time occupied by the shift operation is shortened to make it possible to shorten the time required for the scan test.例文帳に追加

本発明によれば、シフト動作が占める時間が縮小され、スキャンテストに要する時間の短縮を図ることができる。 - 特許庁

To provide a reproduction test service instrument for medical systems which specifies the causes of failures of medical systems in a short time and shortens an inconvenience period or system down time.例文帳に追加

医用システムの故障原因を短時間に特定し、不具合期間又はシステムダウンタイムを短縮すること。 - 特許庁

To achieve device test equipment which can measure distribution of a busy time in a short period of time with a small scale circuit.例文帳に追加

ビジー時間の分布を短時間かつ小規模な回路で測定することができるデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

The test is started by a test start time counter 4 measuring the text start time, and a host I/O check part 5 confirms that a disk array control part 9 is not executing an I/O instruction from a host computer I, and thereafter, a data test part 6 executes the data read test.例文帳に追加

テスト開始時間を計測するテスト開始時間カウンタ４によりテスト開始が起動され、ホストＩ／Ｏチェック部５がディスクアレイ制御部９がホストコンピュータ１からのＩ／Ｏ命令を実行中でないことを確認した後に、データテスト部６がデータの読み出しテストを実行する。 - 特許庁

To reduce test time by reducing idle time generated by warm-up when starting a semiconductor test equipment, and to improve test yields by preventing measurement precision from being deteriorated by a temperature drift.例文帳に追加

半導体試験装置の起動時におけるウォームアップによって発生する無駄な時間を短縮することで試験時間の短縮を図ると共に、温度ドリフトに起因する測定精度の悪化を防止し試験歩留まりの改善を図る。 - 特許庁

For the test item related to a software module not corrected/changed from the previous time, the determination rule is set so as to present OK as the final test result when the result is matched to the test execution result of the previous test.例文帳に追加

前回から修正／変更されていないソフトウエアモジュールに関わるテスト項目については、前回テストのテスト実施結果と一致した場合には、最終的なテスト結果としてＯＫが提示されるよう、判定ルールは設定する、 - 特許庁

To provide a communication network automatic test system that requires no man-hour for a communication test up to a wireless terminal of a wireless block and a wired block, automatically discriminates the result of communication test for a time band where general communication is less performed and conducts the man-hour saved communication test.例文帳に追加

無線区間及び有線区間の無線端末までの通信路の通信試験を人手を要せず、かつ、一般通信が少ない時間帯に自動的に判定し、その省力化した通信試験を可能にする。 - 特許庁

Then, a delay estimation part 263 estimates the time at which the correction volume becomes maximum as the arrival time of the direct waves of the test sound to the sound gathering position, in the period after the output of test sound until the threshold time.例文帳に追加

そして、遅延推定部２６３が、テスト音声の出力後から閾値時刻までの期間において、補正音量が最大となる時刻を集音位置へのテスト音声の直接波の到達時刻と推定する。 - 特許庁

To provide a helium gas bombing apparatus which allows an accurate helium leak test by reducing the time elapsed from the bombing termination time to the helium leak test starting time and can reduce costs without using a large number of tanks.例文帳に追加

ボンビング終了時からヘリウムリークテスト開始時点までの経過時間を短くすることにより正確なヘリウムリークテストを可能にし、しかも、多数のタンクを用いずにコストを低減できるヘリウムボンビング装置を提供する。 - 特許庁

Similarity is computed between a multilayer network model created from learning time series data and a multilayer network model created from test time series data to determine whether the test time series data belong to one or more categories.例文帳に追加

学習用時系列データから作成した多層ネットワークモデルと、テスト時系列データから作成した多層ネットワークモデルとの類似度を計算して、テスト時系列データが１以上のカテゴリに属するか否かを判定する。 - 特許庁

A selector circuit 9 selects the output of the scanning path at the time of test of the scanning path and selects the output of the inverter circuit 8 of the final stage at the time of test of the signal propagation delay time of the flip-flop circuits to output the same to the outside.例文帳に追加

セレクタ回路９はスキャンパステスト時にはスキャンパスの出力を選択し、フリップフロップ回路の信号伝搬遅延時間テスト時には最終段のインバータ回路８の出力を選択して外部へ出力する。 - 特許庁

A reaching-time estimating section 251 estimates a reaching-starting time and a reaching-end time regarding a reaching to a sound-collecting unit 140 for the test sound.例文帳に追加

そして、到達時点推定部２５１が、このテスト音声の集音ユニット１４０への到達について、到達開始時点と到達終了時点とを推定する。 - 特許庁

Successively, a threshold time specifying part 262 specifies the threshold time at which the time integrated value of the correction volume after the output of test sound reaches a prescribed threshold.例文帳に追加

引き続き、閾値時刻特定部２６２が、テスト音声の出力後における補正音量の時間積分値が所定の閾値に達する閾値時刻を特定する。 - 特許庁

A transmission time information measurement means 12 uses one of the test packets for a reference packet and measures a reference transmission time at transmission of the reference packet and a transmission time of the test packets other than the reference packet counted from the reference transmission time.例文帳に追加

送信時刻情報測定手段１２は、試験パケットの中の１つを基準パケットとし、基準パケットの送信時の基準送信時刻と、基準送信時刻からカウントした、基準パケット以外の試験パケットの送信時刻と、を測定する。 - 特許庁

When the test threads are called and requested for testing the mounted HDDs, the respective allocated threads execute a series of test operations one-by-one, and the test status of each HDD is recorded at every time one operation of the test is ended by the test thread.例文帳に追加

装着されたＨＤＤをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時，それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い，テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各ＨＤＤのテスト状態が記録される。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

Also, the test result is displayed in a predetermined time at the display part of the slave device so that it can be confirmed with such a time to spare that the slave device is removed from the setting place after the end of the test.例文帳に追加

また、試験結果を子機の表示部で所定時間表示するようにして、試験終了後に子機を設置位置から取り外すなどの余裕を持って確認することができる。 - 特許庁

To minimize a memory test time of a file server and reduce a system boot time by performing a memory test during a system boot only on a memory capacity required for providing a file service.例文帳に追加

ファイルサービス提供に必要なメモリ容量のみをシステムブート時のメモリテスト対象とすることによって、メモリテスト時間を最少化し、ファイルサーバのシステムブート時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a test charge time-limited settling switching circuit for a protective relay, in which a time-limited settling value of a bus communication relay or a post-protective relay can be automatically switched during test charge.例文帳に追加

試充電時に母線連絡継電器や後備保護継電器の時限整定値を自動的に切り替えることができる保護継電器の試充電時限整定切替回路を提供する。 - 特許庁

To provide a freeze-dried blood plasma suitably used as management blood plasma for blood coagulation test and stabilized in change with time of thrombo test coagulation time after the blood plasma is renatured with purified water.例文帳に追加

精製水で再生後のトロンボテスト凝固時間の経時変化が安定した、血液凝固検査用の管理血漿として好適に使用される、凍結乾燥血漿を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a medical appliance operation efficiency which can shorten a test processing time and a test latency time sharply, and to provide a method of supporting a medical appliance operation plan planning.例文帳に追加

検査処理時間と検査待ち時間を大幅に短縮することが可能な医療機器稼動効率分析方法と医療機器稼動計画立案支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dynamic visual acuity test instrument capable of eliminating a time from when a subject finds a visual target on a chart till gazes it from the measurement of a reaction time in a test.例文帳に追加

検査にあたって、被検者がチャート上の視標を発見して注視するまでの時間を、反応時間の測定から排除することの出来る、動体視力検査装置の提供 - 特許庁

To provide a device and a method for shortening the test time and guaranteeing reliability with simple device constitution, without having to add a device especially for a test in a time divisional switch.例文帳に追加

時分割スイッチにおいて、試験専用の装置の追加を行わずに単純な装置構成で試験時間短縮と信頼性の保証を行う装置及び方法の提供。 - 特許庁

To easily conduct a test of the vibration state of an in-plant structure which required a long time from the installation of a device to the evaluation of a measurement and a test result in a short time.例文帳に追加

装置の設置から測定、試験結果の評価まで多大の時間を要していたプラント内構造物の振動状況の試験を容易に且つ短時間で実施できるようにする。 - 特許庁

To shorten the time required for testing a plurality of circuit modules by reducing the volume of test data and test results data being inputted/ outputted externally.例文帳に追加

複数個の回路モジュールをテストするのに外部と入出力するテストデータ及びテスト結果データの量を減らし、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a transmission reception test method and its device where much time is not required for the test and deterioration in service traffic is not caused.例文帳に追加

試験に多大な時間がかかることなく、サービス上のトラフィック低下をもたらすことのない送受信試験方法およぴ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test technique for greatly reducing costs required for a test by reducing time where one semiconductor chip occupies an expensive tester.例文帳に追加

１つの半導体チップが高価なテスタを占有する時間を短縮してテストに要するコストを大幅に低減できるテスト技術を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory card and a test method therefor that can shorten the time for test of a nonvolatile memory after the assembly of the memory card.例文帳に追加

メモリカードの組み立て後に不揮発性メモリのテストを短時間で行うことができる不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

A test data generation part 51 generates test data including individual data about customers who do not start use at a present time using the customer DB 2.例文帳に追加

テストデータ生成部５１は、顧客ＤＢ２を用いて、現時刻に利用を開始していない顧客の個別データを含むテストデータを生成する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time.例文帳に追加

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Then, the test signal T is reproduced from the test area when a predetermined time has passed, to calculate the quality degradation of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加

所定の時間経過した時点で、テスト領域のテスト信号Ｔを再生し、その評価結果からユーザデータＵの品質劣化を推定する。 - 特許庁

To provide a data processing apparatus which is capable of surely reporting occurrence of an error without increasing the number of output terminals and test patterns and a test time.例文帳に追加

出力端子やテストパターン数、テスト時間を増やさずに、エラーの発生を確実に通知することができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for reducing test time, by reducing the number of shift times required for setting to a register on a serial path and for monitoring the value of the register.例文帳に追加

シリアルパス上のレジスタへの設定、レジスタ値のモニタに必要なシフト数を減らし、テスト時間の短縮が可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and method for simultaneously achieving shortness of a time necessary for calibration and improvement of test precision.例文帳に追加

校正に必要な時間の短縮と試験精度の向上とを同時に実現することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a test time can be shortened by improving transfer efficiency of fail information.例文帳に追加

主として、フェイル情報の転送効率を改善することで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

However, many interfaces are optional and there are feature test macros to test the availability of interfaces at compile time, and functions sysconf (3), 例文帳に追加

しかし、多くのインタフェースは選択可能であり、コンパイル時にインタフェースが使用可能かをテストする機能テストマクロと、実行時にテストする関数sysconf (3), - JM

When the test is run for the first time, the test status is failed and you are prompted to write the first output to the Output file. 例文帳に追加

最初のテストの実行のときには、テストステータスは失敗となり、最初の出力内容を Output ファイルに書き込むかどうか確認を求められます。 - NetBeans