「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

To provide a one-chip microcomputer capable of creating a test program without considering an address, where a STOP instruction is executed, and shortening a test period of time.例文帳に追加

ＳＴＯＰ命令を実行する番地を考慮せずにテストプログラムを作成でき、かつテスト時間を短縮できるワンチップマイクロコンピュータを得る。 - 特許庁

To enhance the detection rate of a delay trouble in a dynamic function test, to reduce the number of generating test patterns therein, and to shorten the processing time therein.例文帳に追加

動的機能テストにおける遅延故障の検出率向上化、生成テストパターン数の縮小化及び処理時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a pump test device greatly shortening the necessary operation time for a pump to reduce the cost for pump test.例文帳に追加

ポンプを運転する必要のある時間を大幅に短縮して、ポンプ試験にかかるコストを低減することができるポンプ試験装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited.例文帳に追加

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。 - 特許庁

According to the method, a nozzle row for executing the ejection test is selected from a plurality of nozzle rows on a printing head at the time of an ink droplet ejection test.例文帳に追加

本発明では、インク滴の吐出検査の際に、吐出検査を行うノズル列を印刷ヘッド上の複数のノズル列から選択する。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各ＤＵＴのマッチ時間を計測し、ＤＵＴの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁

Also, when coincidence is detected by the logical comparator 4 in a test of the present time, an uncoincidence detected signal detected in a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time, these signals are stored in a multi- bit memory.例文帳に追加

また今回のテストで論理比較器４で一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ７に記憶させた信号に今回のテストで検出された一致検出信号を加えて、これらの信号を多ビットメモリに記憶させる制御回路６を設ける。 - 特許庁

Therefore a delay time for stored electric charges is shortened, and a test time of a refresh frequency of a memory cell is shortened.例文帳に追加

従って、格納電荷に対する遅延時間が短縮され、メモリセルのリフレッシュ周波数をテストする時間が短縮される。 - 特許庁

A control means 1a sets a normal operation mode and sets a switching time to a time count means 1b to start a protocol test.例文帳に追加

制御手段１ａは、正常動作モードを設定し、計時手段１ｂに切替え時間を設定してプロトコル試験を開始する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.例文帳に追加

テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

First of all, each correlation coefficient matrix is generated, relative to each of time-series data for a test and normal time-series data for reference.例文帳に追加

テスト用時系列データと、参照用正常時系列データの各々について、先ず相関係数行列を作成する。 - 特許庁

To shorten the inspection time required for acceleration test at the time of testing a semiconductor integrated circuit including a novolatile memory element.例文帳に追加

不揮発性記憶素子を含む半導体集積回路の試験において、加速試験に要する検査時間を短縮させる。 - 特許庁

A plurality of test printing results are available at a time whereby it is possible to reduce the time to adjust parameters for main printing.例文帳に追加

一度に複数の試し印刷結果を得られる事から、本印刷に向けてのパラメータ調整時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of carryung out a test accurately for guaranteeing a setup time and a hold time.例文帳に追加

セットアップ時間及びホールド時間を保証するためのテストを正確に実施できる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

By such constitution, the time required for reading/writing the test data is shortened, and the inspecting time of the semiconductor device is reduced.例文帳に追加

これらの構成により、テストデータの読み書きに要する時間が短縮され、半導体装置の検査時間短縮が可能となる。 - 特許庁

The server is provided with a server side test information communication section 12 for receiving the test signal, and a non-connection apparatus information acquisition section that detects the metering apparatus 1 in which the lapse of time after reception of the test signal is a prescribed time or over, or the metering apparatus 1 without receiving the test signal within a prescribed time as an apparatus with an improper connection state.例文帳に追加

サーバー側には、このテスト信号を受信するサーバー側テスト情報通信部１２と、テスト信号受信後の経過時間が所定の時間以上である検針機器１、もしくは、所定時間内にテスト信号の受信が無い検針機器１を接続状態が不良なものとして検出する非接続機器情報取得部を設ける。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

To precisely set a product at the time of a leak test and to prolong the life of an O ring.例文帳に追加

リークテスト時に、製品を精度良くセットできるようにし、しかもＯリングの寿命を延ばす。 - 特許庁

To provide a method for performing the read/write test of a magnetic tape recorder in a short time.例文帳に追加

磁気テープ記録装置のリード・ライト試験を短時間で行う方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an elevator balance adjusting device capable of shortening the working time without using any test weight.例文帳に追加

テストウエイトを用いることなく作業時間を短縮するエレベータの秤調整装置を得る。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of shortening a test time of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップのテスト時間を短縮可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To accurately detect density of a test patch, and also, shorten a time required for calibration processing.例文帳に追加

テストパッチの濃度を正確に検出しつつキャリブレーション処理に要する時間を短縮化する。 - 特許庁

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption.例文帳に追加

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having pipeline structure in which a data test time can be shortened.例文帳に追加

データテスト時間を短縮することができるパイプライン構造の半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

Test data input time series compression circuit 1-3 has a flag register, a data register and a computing unit.例文帳に追加

テストデータ入力時系列圧縮回路１−３は、フラグレジスタ、データレジスタ、及び演算器を有する。 - 特許庁

TEST FACILITY SYSTEM, TIME SYNCHRONIZING METHOD FOR APPLICATION SOFTWARE TO BE USED THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

試験設備システム及びそれに用いるアプリケーションソフトウェアの時刻同期方法並びにそのプログラム - 特許庁

The ground stations register test voting operation time transmitted from each terminal device.例文帳に追加

地上局においては、各端末装置から送られてきたテスト投票動作時間を登録する。 - 特許庁

To shorten the test time, before product shipment by adding a simple constitution to a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリに簡単な構成を付加することにより製品出荷前の試験時間を短縮する。 - 特許庁

To execute automatic colorimetry in a short time, of a test chart formed by arranging plural color samples thereon.例文帳に追加

複数のカラーサンプルが配列されてなるテストチャートを短時間で自動的に測色可能にする。 - 特許庁

In S57, a speaker is set up based on the sound volume V of the test sound at that time.例文帳に追加

Ｓ５７では、テスト音響のその時の音量Ｖに基づきスピーカのセットアップを実施する。 - 特許庁

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁

To decide the waiting time of a measurement in an air leak test by a simple process.例文帳に追加

エアリークテストにおける測定待ち時間の決定を、簡単な工程で行うことができるようにする。 - 特許庁

The test tone signals STC to STRB are supplied to object speakers 14C to 14RB at the same time.例文帳に追加

このテストトーン信号ＳTC〜ＳTRBを、対象とするスピーカ１４Ｃ〜１４ＲBに同時に供給する。 - 特許庁

To estimate a charge holding lifetime at room temperature by an electric field acceleration test in a short time.例文帳に追加

短時間の電界加速試験により、室温における電荷保持寿命の推定を可能にする。 - 特許庁

To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.例文帳に追加

試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide the air leak test device which detects a leak in a work in a short time with high precision.例文帳に追加

ワークの漏れ検出を短時間でしかも高精度に行えるエアリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a serial access memory and a data-write/read-method in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する - 特許庁

To provide a deterioration testing device capable of executing a highly-accurate deterioration test in a short time.例文帳に追加

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To test to calculate a regulated value of an A-D converter 3 having a good regulating accuracy in a short time.例文帳に追加

短時間で調整精度の良いＡ／Ｄ変換器３の調整値の演算試験を行う。 - 特許庁

To improve an operating efficiency during test and adjustment by shortening a closing time of an automatic valve body.例文帳に追加

自動弁本体の閉鎖時間を短縮して試験調整の作業効率を向上させる。 - 特許庁

Also, A second data write current is supplied to one of a plurality of bit lines during the test time.例文帳に追加

また、テスト時に複数のビット線のうちの１本に第２のデータ書込電流を供給する。 - 特許庁