「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加

短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of suppressing the increase of a circuit area and also reducing test time.例文帳に追加

回路面積の増大を抑制し、かつテスト時間の短縮が可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

To sharply shorten time required for the automatic test of a fire sensor under an instruction from a receiver.例文帳に追加

受信機からの指示で行われる火災感知器の自動試験に要する時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

To provide an input and output circuit and a semiconductor integrated circuit capable of executing a self-test in a short time.例文帳に追加

短時間で自己テストを実行可能な入出力回路及び半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To further reduce test time of memory in a semiconductor integrated circuit which incorporates a large capacity memory.例文帳に追加

大容量のメモリを内蔵した半導体集積回路において、さらにメモリのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To efficiently perform a withstand voltage test on two or more high and low voltage detectors, in a short time.例文帳に追加

複数本の高低圧用検電器を短時間で能率よく耐電圧試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit of a little power consumption at the time of normal operation.例文帳に追加

通常動作時において消費電力の少ないテスト回路を有する半導体装置を提供する - 特許庁

For film thickness of a test pattern region of the dummy board, the relation between immersion time and film reducing amount is plotted.例文帳に追加

ダミー基板のテストパターン領域の膜厚について、浸漬時間と膜減り量の関係をプロットする。 - 特許庁

To make it possible in a test to analyze the image quality of a video signal outputted from a system in rear time while operating.例文帳に追加

被試験システムの稼動中に、このシステムからのビデオ信号の画像品質を実時間で分析する。 - 特許庁

This engine cooling liquid is used at a time of engine test and contains rust preventives and water soluble thickener.例文帳に追加

本発明のエンジン冷却液は、エンジンテストの際に使用され、防錆剤と、水溶性増粘剤とを含む。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, EXTERNAL TESTER, MEASUREMENT METHOD OF SETUP TIME, CONTROL PROGRAM, AND READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト回路、集積回路、外部テスター、セットアップ時間の測定方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING ACCEPTABILITY OF SIGNAL DATA COLLECTED FROM PROTHROMBIN TIME TEST STRIP例文帳に追加

プロトロンビン時間検査ストリップから収集した信号データのアクセプタビリティを決定するための方法及びシステム - 特許庁

The more toxic the whole effluent, the more test organisms exposed over a fixed period of time will die.例文帳に追加

WET（whole effluent toxicity）が強くなるほど，所定期間にわたって曝露された被験生物の死亡数が増えるだろう。 - 英語論文検索例文集

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To conduct an SVC(switched virtual channel) connection control test between adjacent nodes in short time without using the device.例文帳に追加

他の装置を使用することなく短時間で隣接ノード間のＳＶＣコネクション制御試験を実現する。 - 特許庁

A switching timing signal is generated by using the propagation delay time measured with the use of the test signal.例文帳に追加

試験信号により測定した伝播遅延時間を使用して切替タイミング信号を生成する。 - 特許庁

To make fast a system which uses an LSI by providing a test circuit which adds no delay time.例文帳に追加

遅延時間を付加させることのないテスト回路を提供し、ＬＳＩを使用するシステムの高速化を図る。 - 特許庁

Further, in the above test state, two delay time shortening modes for testing are implemented using a fuse.例文帳に追加

さらに、ヒューズを用いて、前記テスト状態において、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To provide a multiple scan chain circuit which prevents increase in the number of pins, and shortens test execution time.例文帳に追加

ピン数の増加をなくし、かつテスト実施時間を短縮できる多重スキャンチェーン回路を提供する。 - 特許庁

To enable even a low-speed tester to test a circuit operation at the time of restricted operation.例文帳に追加

低速テスタでも拘束動作時の回路動作を試験することができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

In an embodiment, a first phase difference is the difference between the phase of the output 52 of a test interferometer at the time t and the phase of the output of a test interferometer at a time offsetting the known delay of a reference interferometer from the time t.例文帳に追加

１実施形態では、第１の位相差は、時間ｔにおける試験干渉計の出力(52)の位相と、時間ｔから基準干渉計の既知の遅延だけオフセットした時間における試験干渉計の出力の位相との差である。 - 特許庁

Thereby, at the time of a test, as opposed to the original clock signal, there is generated a clock signal including the deviation in the time base direction according to the offset.例文帳に追加

これにより、試験時には、本来のクロック信号に対し、オフセットに応じた時間軸方向のずれを含むクロック信号が生成される。 - 特許庁

To realize a magnetic resonance imaging apparatus capable of shorten imaging time by performing automatic remeasurement at the time a test subject moves.例文帳に追加

被検体の体動が起きた時点で、自動で再計測を行い撮像時間の短縮化が可能な磁気共鳴イメージング装置を実現する。 - 特許庁

A dummy flip-flop operating only at the scan test time is connected to the scan chain, and shift-out by the scan chain can not be performed at the ordinary operation time.例文帳に追加

またスキャンチェーンに、スキャンテスト時のみ動作するダミーフリップフロップを接続し、通常動作時にスキャンチェーンによるシフトアウトができないようにする。 - 特許庁

A delay control circuit of the second signal generating circuit delays activation timing of the second timing signal more than that at the time of a normal mode at the time of a test mode.例文帳に追加

第２信号生成回路の遅延制御回路は、テストモード時に第２タイミング信号の活性化タイミングを通常モード時より遅くする。 - 特許庁

On the basis of the estimated result of the arrival time, propagation delay time from a speaker which outputs the test sound to the sound gathering position is estimated.例文帳に追加

この到達時刻の推定結果に基づいて、テスト音声を出力したスピーカから集音位置までの伝搬遅延時間を推定する。 - 特許庁

The positioning device 110 permits a pressure difference generated at upper and lower surfaces of a moving block 30 to be kept unchanged at the time of actual operation and at the time of an evaluation test.例文帳に追加

位置決め装置１１０は、実動作時と評価試験時とで、移動ブロック３０の上下面に発生する圧力の差が不変となる。 - 特許庁

Each piece of biological information acquired in time-series is segmented by time into segments using a statistical method, such as t-test or the like.例文帳に追加

そして、この時系列に取得されたそれぞれの生体情報を、例えば、ｔ検定等の統計的手法を用いて時間毎に分割する。 - 特許庁

The person who installs the automatic photograph vending machine can set a photography time, an editing time, etc., of the winning play mode in the test mode.例文帳に追加

当選プレイモードでの撮影時間や編集時間等の設定も、写真自動販売機の設置者が、テストモードで設定することができる。 - 特許庁

To reduce a wafer test time by increasing integration density by utilizing scribe lines which do not affect the chip size and conducting a wafer test efficiently with few number of pins.例文帳に追加

チップサイズに影響しないスクライブ線を利用して集積率を向上させ、少ないピン数で効率よくウエハー試験を行いウエハーの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which damage of terminals caused by a test in a wafer state can be reduced and a time required for a test can be shortened.例文帳に追加

ウエハ状態における検査による端子の損傷を低減することができ、検査に要する時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To perform pull-down operation in a short time at a test run, and to set proper target suction pressure even if a season at the test run is in either case.例文帳に追加

試運転時のプルダウン運転を短時間で行うことができ、また、試運転時の季節が何れであっても適切な目標吸入圧力を設定することができる。 - 特許庁

To provide a voice transmitter provided with a test circuit that can complete an operation test in a short time even when the voice transmitter has many codec packages.例文帳に追加

音声伝送装置が備えるＣＯＤＥＣパッケージの個数が多くても、短時間で動作試験を終えることができる試験回路を備えた音声伝送装置を提供する。 - 特許庁

Occurrence of abnormality in the power converter 20 at the time of test is detected by the test controller 300 based on an abnormality detection signal outputted from an ECU 200.例文帳に追加

試験時における電力変換器２０での異常発生は、ＥＣＵ２００からの異常検出信号出力により、テスト制御装置３００に検知される。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit in which confirmation of operation when a time interval between refresh-operation and read-out/write- in operation is forcedly approached can be performed.例文帳に追加

リフレッシュ動作と読出し・書込み動作との時間間隔を強制的に近接させたときの動作確認を行なうことができるテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

Each time any of a plurality of tests is performed, an additional storage processing part 41 additionally stores data about a test being an performance target in a test information table 16a.例文帳に追加

追加格納処理部４１は、複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となったテストに関するデータをテスト情報テーブル１６ａに追加格納する。 - 特許庁

Levels of the test tone signals STC to STRB are increased by a specified value at each time until results of comparisons between the found energy values and a prescribed value exceed the prescribed value to repeatedly output the test tones.例文帳に追加

この求めたエネルギ値と規定値とのが規定値以上になるまで、テストトーン信号ＳTC〜ＳTRBのレベルを所定値ずつ大きくしてテストトーンの出力を繰り返す。 - 特許庁

To provide a gas meter equipped with a test shutoff function for performing test shutoff in a short period of time, resisting to shock and vibration, and being operable from a distant place.例文帳に追加

テスト遮断の機能を備えたガスメータにおいて、テスト遮断を短時間に行うことができ、また衝撃や震動に強く、離れた場所からも操作できるようにする。 - 特許庁

Further, the 2nd circuit 22 detects the test data inserted into the preamble and sends them back in the idle time of the general interface MII to conduct the loopback test.例文帳に追加

また、第２の回路２２がプリアンブルに挿入された試験データを検出し、汎用インタフェースＭＩＩのアイドル時間に折り返すことにより、ループバック試験が実行される。 - 特許庁

To provide an adhesion resistance test method to sealed liquid of a rubber compound product for sealing liquid, and a device therefor, for shortening a test time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることのできる液体密封用ゴム複合製品の密封液体に対する接着耐性試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage detection system suppressing extension of cycle time and efficiently performing a leakage test, when continuously performing leakage detection on a plurality of test pieces.例文帳に追加

サイクルタイムが長くなることを抑制でき、複数の試験体に対して連続して漏洩検知を行う場合に効率良くリークテストを行い得る漏洩検知システムを提供する。 - 特許庁

To accurately and timely manage the progress state of a test process without arranging a full-time manager for managing the progress state of a test process in each group.例文帳に追加

各グループ毎にテスト工程の進捗状況を管理する専任の管理者を配置することなく、テスト工程の進捗状況を正確にかつタイムリーに管理する。 - 特許庁

The master access point AP1 acquires a reception state of the test radio wave received by each access point 1 other than a transmission source access point every time transmission source access point transmits the test radio wave.例文帳に追加

アクセスポイント１からテスト用電波が発信される毎に、この発信元以外の各アクセスポイント１が受信したテスト用電波の受信状況を取得する。 - 特許庁

To realize reduction of chip area, shortening of a test time, and reduction of a cost by a method for an embeded self-test of a memory by which a defective bit can be detected, analyzed, and restored.例文帳に追加

欠陥ビットの検知、分析、修復可能な埋込型メモリーセルフテスト方法により、チップ面積の縮小化、テスト時間の短縮化、コスト削減を実現する。 - 特許庁