「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor storage device in which cause of 'error' of rewritten data is easy to specify, a test of page-latch and a test of a read-out circuit can be completed in a short time.例文帳に追加

書き換えたデータの“誤り”の原因を特定し易く、かつページラッチの試験や、読み出し回路の試験を、短時間で完了させることが可能な半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which verify-test time or the like are shortened and increment of the number of exclusive terminals for test is suppressed, in a semiconductor device provided with a non-volatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置を備えた半導体装置において、ベリファイ試験等の短縮を図るとともにテスト専用端子数の増大を抑止する半導体装置の提供。 - 特許庁

A time history of the change of the test volume part 2 showing oil separation is detected as long as the test period 32 so that the oil separability of the lubricating grease can be estimated more accurately.例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性をより正確に推定することができるように、油分離を表す試験容積部（２）の変化の時刻歴が試験期間（３２）にわたって検出される。 - 特許庁

In the semiconductor test device 100, information of the number of fails is extracted every time when bit information including a test result is outputted from a comparator, and they are repeatedly added and summed up.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、コンパレータから試験結果を含むビット情報が出力される毎にフェイル数情報を抽出し、これを繰り返し加算して累計する。 - 特許庁

To eliminate wasted time loss required for an inspection in occurrence of an error by preventing the error occurrence during an operation test due to inconsistency between a user computer and the version of an operation test file.例文帳に追加

ユーザコンピュータと動作テストファイルのバージョンとの不整合による動作テスト中のエラー発生を防止し、エラー発生に伴う調査に要する無駄な時間のロスを招かないようにする。 - 特許庁

To carry out the ignition test of an engine under a high vacuum state and further carry out the test efficiently by shortening the time for reaching the high vacuum state.例文帳に追加

高真空状態でのエンジンの着火試験を行うことができ、さらに高真空状態に至るまでの時間を短縮して効率よく試験を実施できることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method, by which the labor and time required at assembling of linear connection between a pair of test cables 9 and 9, so as to facilitate the withstand voltage test performed on a cold shrinking tube 5.例文帳に追加

常温収縮チューブ５の耐圧試験の容易化を図るべく、１対の試験用ケーブル９、９同士の直線接続部を組み立てる際の手間を軽減できる方法を実現する。 - 特許庁

To allow a test where the travel resistance including a mechanical loss having reproducibility equivalent to the theoretical value or actual vehicle travel time is applied to a test vehicle, using accurate mechanical loss measurement.例文帳に追加

精度良いメカニカルロス計測によって、理論上又は実車走行時と同等の再現性のあるメカニカルロスを含めた走行抵抗を試験車両に印加した試験ができる。 - 特許庁

The test instruction TD2 is inserted into a specific time slot of the highway 45 to transmit it to the remote subscriber accommodation apparatus 50A and to ensure a test of a subscriber line 55.例文帳に追加

その試験指示ＴＤ２を、再びハイウェイ４５の特定タイムスロットに挿入し、遠隔加入者収容装置５０Ａに送信することにより、加入者線５５の試験が可能となる。 - 特許庁

Consequently, the automatic test can be securely conducted to the end by detecting the automatic operation not being carried on normally in an early stage, and the test time can be shortened.例文帳に追加

これにより、自動操作が正常に継続されていないことを早期に検出し、自動試験を最後まで確実に実施することができる共に、試験時間を短縮することが可能である。 - 特許庁

To provide a coating apparatus and a coating method which can lessen the consumption amount of a coating solution to be consumed in a preliminary test before actual coating and shorten the time taken for the preliminary test.例文帳に追加

本塗布前の予備試験で消費する塗布液の消費量を軽減し、予備試験にかかる時間を短縮することができる塗布装置及び塗布方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of observing a large-sized test piece, and capable of reducing a waiting time when a small-sized test piece is observed.例文帳に追加

大型試料も観察可能で、しかも小型試料の観察を行う場合にあっては、試料観察開始の待ち時間の短縮をはかることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

After keeping the test voltage as long as prescribed test time, the voltage and the current and monitored by the voltmeter 13 and the ampere meter 14, to determine whether the transformer is in the normal state or not.例文帳に追加

そして、規定された試験時間だけ試験電圧に保った上で電圧計１３および電流計１４により電圧および電流を監視し、正常か否かを判定する。 - 特許庁

To provide a method for designing a proper random vibration test specification by finding a shortening rate of a test time by using a peculiar accumulated fatigue calculation method, while applying correspondingly a linear damage rule.例文帳に追加

直線被害法則に準じながらも、独自の蓄積疲労計算方法を用いて試験時間の短縮率を求め、適正なランダム振動試験仕様を設計する方法を得る。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値（オール０）からオーバーフローまでの計量（桁上げ）試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

The method uses a thin test piece measured by a meter wherein two time-current transition phenomena are connected electrically to the electrochemical thin test piece.例文帳に追加

その方法は、その中で２つの時間−電流過渡現象が電気化学的試験細片に電気的に接続されたメーターによって測定される試験細片を用いることを含む。 - 特許庁

To shorten a down time generated when performing control preventing back copying of a test pattern occurring in a system reading a positioning test pattern on an intermediate transfer body.例文帳に追加

位置合わせ用等のテストパターンを中間転写体上で読取る方式において起きるテストパターンの裏写りを防止する制御を行う際に生じるダウンタイムを短縮化する。 - 特許庁

To provide a test method for an information processor for efficiently performing a test by filling a pipelined CPU with an effective instruction string and shortening the time required for exceptional processing.例文帳に追加

パイプライン化されているCPUに有効な命令列を充填し、さらに、例外処理にかかる時間を短縮して、効率の良い試験を行なう、情報処理装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Prior to actual printing of the workpiece placed on a workpiece stage 6, test printing is performed in a test printing regions 5a-5c, and the ink reaching positions at this time are detected by the camera 3.例文帳に追加

ワークステージ６に載置したワークの実印写処理に先行して、テスト印写領域５ａ〜５ｃにてテスト印写を行い、その際のインクの着弾位置をカメラ３にて検出する。 - 特許庁

An attachment 2 set with the test piece 3 is installed in the stage, and the moving speed when the test piece 3 is scanned is found by counting the number of pulses of encoder output waveforms 18 during a prescribed time.例文帳に追加

試験片３をセットしたアタッチメント２をステージに設置し、試験片３が走査したときの移動速度を所定時間中のエンコーダ出力波形１８のパルス数をカウントして求める。 - 特許庁

As a result, the time required from taking out of the test piece D from the thermostat 2 until setting it on the anvil 14 can be shortened, to thereby suppress the temperature change of the test piece D.例文帳に追加

その結果、試験片Ｄを恒温槽２から取り出してアンビル１４にセットするまでの時間を短縮することが可能となり、試験片Ｄの温度変化を抑えることができる。 - 特許庁

At the time of testing, a signal directing the test is inputted from the test signal input pin 205, and an edge detection circuit 211 detects the signal to latch signals inputted from respective input pins 102.例文帳に追加

テスト時にはテスト信号入力ピン２０５からテストを指示する信号が入力し、エッジ検出回路２１１がこれを検出して各入力ピン１０２から得られた信号をラッチする。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

To efficiently verify a peripheral device by varying the number of test processes on the basis of the capacity of an external storage device, and a given test time or a maximum data transfer amount.例文帳に追加

外部記憶装置の容量と与えられた試験時間または最大データ転送量とにより試験を実施するプロセスの数を変動させ、周辺装置の検証を効率的に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that executes burn-in test, and facilitates specifying the time of execution of burn-in test, information indicating the quality of a local host.例文帳に追加

バーンイン試験が実施される半導体装置であって、自装置の品質を表す情報であるバーンイン試験の実施時間を特定することが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To unprecedentedly drastically shorten time for a test of a pattern memory for, for example, a performance test of a logic circuit using a tester.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば論理回路の動作の試験に適用して、パターンメモリの試験に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a memory circuit in which relieving probability by a redundant cell is improved by reducing a compressibility in a test and a test time can be shortened by enabling simultaneous measurement by a tester.例文帳に追加

試験において圧縮率を下げて冗長セルによる救済確率を高くし，更に，テスタによる同時測定を可能にして試験時間を短縮できるメモリ回路を提供する。 - 特許庁

During a series of test pattern cycles, scanning with a probe pulse 609 of the test pattern is performed so that it is vertical to an equivalent time sampling for re- configuration of DUT waveform.例文帳に追加

一連のテストパターンサイクルの期間中にテストパターンのプローブパルス６０９による走査をＤＵＴ波形の再構成のために等価時間サンプリングと垂直になるように行う。 - 特許庁

Thus, the permeability test can be simultaneously applied to the plurality of samples W1, W2, W3, etc. in a triaxial stress state, and the test time can be shortened.例文帳に追加

このようにして、複数の供試体Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、…について、三軸応力状態下において同時に透水試験を行うことができ、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

To execute a high-quality test in a short time, and execute the high- quality test without imposing a severe design convention on a designer and without requiring an expensive tester.例文帳に追加

高品質なテストを短時間で実行できるようにするほか、設計者に厳しい設計規約を課すことなく且つ高価なテスタを必要とすることなく高品質なテストを可能にする。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

A traffic estimation part 145 calculates a ratio between a time length and the sum of the packet intervals from the first test packet to the last test packet and outputs it as the traffic estimation result.例文帳に追加

トラヒック推定部１４５は、最初の試験用パケットから最後の試験用パケットまでの時間長とパケット間隔の和との比を算出し、トラヒック推定結果として出力する。 - 特許庁

After the pH of the test aqueous solution is raised by manganese ions eluted from the lithium manganese double oxide, equilibrium pH at the time when the test aqueous solution arrives at an equilibrium state is measured.例文帳に追加

リチウムマンガン複酸化物から溶出するマンガンイオンにより試験水溶液のｐＨが上昇した後、試験水溶液が平衡状態に到達したときの平衡ｐＨを計測した。 - 特許庁

To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To provide a test analyzing system for confirming own result data and analysis data at arbitrary necessary time by a candidate for an examination without burdening a test sponsor.例文帳に追加

試験の主催者にも負担にならず、また受験者も随時必要なときに自分の成績データ及び分析データを確認できる試験分析システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting semiconductor integrated circuit achieving a significant reduction of the test time and a highly precise test regardless of the measuring accuracy of a judging module.例文帳に追加

判定モジュールの測定精度に関わらず、テスト時間の大幅な削減と高精度な試験を実現する半導体集積回路の検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁

When one test pattern is repeatedly printed, each recording element to be used is switched each time the test pattern is recorded in a single recording medium or a specified plurality of numbers of recording media.例文帳に追加

同一の前記テストパターンの印字を繰り返し行う場合に、1つあるいは既定の複数の記録媒体に前記テストパターンを記録するごとに、使用する前記記録素子を切りかえる。 - 特許庁

This method is applied for read/write test on a check data, part and at the writing time of memory test, it is constituted so as to concurrently write the same date on a check data part as a data and certain specific part in the check data part.例文帳に追加

チェックデータ部分のリード・ライト試験の方法であって、メモリ試験のライト時に、チェックデータ部分にはデータ部のある特定部分と同じデータを同時にライトするように構成する。 - 特許庁

To provide a high temperature high pressure reaction testing equipment in which a test can be efficiently carried out even when a high temperature high pressure reaction test is carried out under various kinds of conditions relating to the reaction time or the like.例文帳に追加

反応時間等の各種条件の高温高圧反応試験を行う場合であっても、効率よく実施することができる高温高圧反応試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a package for an electronic component, an airtightness test method for it and an airtightness test method for a functional element and a device for it which can reduce time and cost for inspection.例文帳に追加

検査時間の短縮と検査コストの低減を可能とする電子部品用パッケージ及びその気密試験方法並びに機能素子の気密封止方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material tester capable of easily relating the relation between the load and strain such as elongation or the like acting on a test piece with the elapse time after the start of a test to subject the same to analysis.例文帳に追加

試験片に作用する荷重と伸び等の歪みとの関係を、試験開始後の経過時間容易に関連付けて解析に供することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide USB optical time-domain reflection test equipment which is connected to a USB, is supplied power directly from a computer and performs a test, and whose convenience from the viewpoint of use has been enhanced.例文帳に追加

ＵＳＢと結合し、直接コンピューターから電源を供給されてテストを行ない、使用上の利便性を向上されたＵＳＢ光時間領域反射テスト装置を提供する - 特許庁

To provide a test system for efficiently executing the test of a broadcasting type data transmitter for which input and output data are changed timewise from moment to moment regardless of real time.例文帳に追加

入力データと出力データが時間的に刻々と変化する放送型データ送出装置のテストを実時間に関係なく効率良く実施するためのテストシステムの実現を目的とする。 - 特許庁

In this case, a test pattern 3 for impedance measurement is formed in the same layer as the internal layer circuit 1, and at the same time at least one end of the test pattern 3 is exposed on an end face 16 at the core 2.例文帳に追加

内層回路１と同じ層にインピーダンス測定用のテストパターン３を形成すると共にテストパターン３の少なくとも一端をコア部２の端面１６に露出する。 - 特許庁