「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

At the time of the burn-in test, the sense amplifier is separated from each bit line BLL, /BLL, BLR, /BLR by a bit line separation switch.例文帳に追加

バーンインテスト時において、センスアンプ回路９０は、各ビット線ＢＬＬ，／ＢＬＬ，ＢＬＲ，／ＢＬＲからビット線分離スイッチによって切離される。 - 特許庁

To provide a memory for reducing test time for evaluating a leak phenomenon during standby.例文帳に追加

スタンバイ時のリーク現象を評価するための試験を行う際の時間を短縮することが可能なメモリを提供する。 - 特許庁

To accurately conduct an energization test of a current detection type nucleic acid concentration quantitative analyzing apparatus in an inexpensive manner in a short time.例文帳に追加

電流検出型の核酸濃度定量分析装置の通電検査を安価で短時間かつ的確に行う。 - 特許庁

To provide an optical disk device which dispenses with member addition and test writing in gain adjustments for the time of recording.例文帳に追加

記録時用のゲイン調整において部材追加やテスト書き込みを行う必要のない光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

Since tests in a plurality of temperature conditions are performed simultaneously, a required time for the reliability test is shortened compared with hitherto.例文帳に追加

同時に複数の温度条件の試験を行うので、信頼性試験の所要時間が従来よりも短縮される。 - 特許庁

To suppress noise due to heat drift or oscillation in stopping of a test piece stage and to shorten positioning time.例文帳に追加

試料ステージ停止時における熱ドリフトや振動によるノイズを抑えるとともに、位置決め時間の短縮を行う。 - 特許庁

To provide a positioning/wiring method of a semiconductor device for obtaining the hold time of a flip flop in a scan test sufficiently.例文帳に追加

スキャンテスト時にフリップフロップのホールドタイムが十分得られるようにする半導体素子の配置配線方法を提供する。 - 特許庁

For example, individual users can depress a "test" button that permits each of the participants to be locked one at a time.例文帳に追加

例えば、個々のユーザは、参加者のそれぞれを一度に１人ずつブロックすることができる「テスト」ボタンを押すことができる。 - 特許庁

Thereby, same timing can be kept in the internal clocks FICLK and ICLK even at the time of a test and at normal operation.例文帳に追加

このことにより、テスト時であっても通常動作時であっても内部クロックFICLKとICLKを同じタイミングを維持することができる。 - 特許庁

To increase the number of times of rewriting guaranteeing, and to shorten a time necessary for reliability test.例文帳に追加

書き換えの保証回数を増加させることができ、また、信頼性試験に要する時間の短縮化が図れるようにする。 - 特許庁

An output device 40 displays the time interval retrieved by the command retrieval part 21 and test timing retrieval part 22.例文帳に追加

出力装置４０は、コマンド検索部２１及び試験タイミング検索部２２で検索された時間間隔を表示する。 - 特許庁

A floppy disk in which the progression state/test record data up to the previous time is stored is set in a floppy disk drive 34.例文帳に追加

フロッピーディスクドライブ３４に、前回までの進捗状況／テスト成績データが格納されたフロッピーディスクをセットする。 - 特許庁

To shorten the time for a scan test when performing a scan design in a semiconductor integrated circuit having a hard macro.例文帳に追加

ハードマクロを有する半導体集積回路において、スキャン設計を行う場合、スキャンテストの時間短縮を図る。 - 特許庁

To verify deceleration of an automobile body and stopping distance at the time of braking with an accuracy nearly equal to one for a verification test using an actual automobile.例文帳に追加

実車による検証テストに近い精度での制動時の車体減速度や停止距離の検証を行う。 - 特許庁

To perform the schedule implementation test of a job with the minimum work labor without changing the schedule definition or system time of day of a job.例文帳に追加

ジョブのスケジュール定義やシステム時刻を変更せず、最小の作業労力でジョブのスケジュール運用テストを行う。 - 特許庁

The slave station reports, to the master station, the result obtained by measuring the line test data and the reception level at a pre-designated time.例文帳に追加

また、子局は、予め指定した時刻に回線試験データと受信レベルを測定した結果を親局へ通知する。 - 特許庁

A floating test step for operating a sample magnetic head for a prescribed time while floating the sample magnetic head on a magnetic recording medium is performed.例文帳に追加

試料磁気ヘッドを磁気記録媒体上で浮上させながら所定時間稼動させる浮上試験工程を行う。 - 特許庁

Thereby, the number of times of selecting operation in write of data can be reduced, and a test time can be shortened.例文帳に追加

これに伴いデータ書込における選択動作回数を軽減することができ、テスト時間を短縮することができる。 - 特許庁

To enhance operability at the time when switching optionally a state of selection/non-selection of a set item as to a test.例文帳に追加

試験に関する設定項目の選択／非選択の状態を任意に切替える際における操作性の向上を図る。 - 特許庁

To provide a fail analyzing device in which a time required for changing a display range of a test result can be shortened.例文帳に追加

試験結果の表示範囲の変更に要する時間を短縮することができるフェイル解析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a swelling test method capable of obtaining data on a swelling property of a mineral material in an extremely short time.例文帳に追加

極めて短時間で鉱物材料の膨潤性に関するデータを取得できる膨潤試験法を提供すること。 - 特許庁

To reduce an overhead time of an LSI tester to effectively utilize an expensive test system resource.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのオーバーへッド時間を削減することができ、それにより高価なテスト系リソースの有効活用を図ること。 - 特許庁

In the equalizing unit 8b, the power source current signals corresponding to the same test pattern in each time are added up and equalized.例文帳に追加

平均化処理部８ｂでは、各回の同一テストパタンに対応する電源電流信号を加算して平均化する。 - 特許庁

To provide an optical time-domain reflectometry (OTDR) system capable of performing a precision OTDR test by suppressing the fading noise.例文帳に追加

Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いＯＴＤＲ試験を行うことのできるＯＴＤＲ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of preventing an IC device from adhering to a pressing part of the IC socket, and capable of shortening a test time.例文帳に追加

ICソケットの押圧部へのICデバイスの付着を防止し、テスト時間の短縮を図ることが可能なICソケットを提供する。 - 特許庁

Furthermore, a threshold voltage which is used as a reference when measuring a rise time of a signal waveform, is varied only when carrying out the test.例文帳に追加

又、信号波形の立ち上がり時間を測定する際も基準に用いる閾値電圧を、試験の時のみ変化させる。 - 特許庁

To provide an IC socket excellent in the durability capable of conducting an electrical test of IC accurately for a long period of time.例文帳に追加

ＩＣの電気的テストを長期間正確に行うことができる耐久性に優れたＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

The test piece is collected after it is left in a measured point in the atmosphere inside a clean room for a predetermined time.例文帳に追加

この試験片は清浄室内の雰囲気中の被測定個所に所定時間放置された後に回収される。 - 特許庁

To test a large number of LEDs in a plurality of separate times and reduce the time and labor required for testing.例文帳に追加

多数のＬＥＤを複数回に分けて試験することを可能して、試験に要する時間及び労力を低減する。 - 特許庁

To accurately measure a leakage quantity of gas in a time-series fashion for O-ring and obtain a high-accuracy airtight test for the O-ring.例文帳に追加

Ｏリングの時系列的なガス漏れ量を正確に測定し、高精度のＯリングの気密試験を実現する。 - 特許庁

To shorten a test time for the electrical measurement of a semiconductor device at low cost without impairing the effect of noise attenuation.例文帳に追加

ノイズ減衰の効果を損なうことなく、低コストで、半導体装置の電気的測定のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

At the time of a self-refresh mode, power source voltage is supplied to only a test refresh system circuit and refresh operation is performed.例文帳に追加

セルフリフレッシュモード時テストリフレッシュ系回路に対してのみ電源電圧を供給してリフレッシュ動作を実行させる。 - 特許庁

Namely, in the test mode, the odd-numbered bit line pair BL1, BL1B and the even-numbered bit line pair BL2, BL2B are made to differ in sensing point of time.例文帳に追加

すなわち、テストモード時は、奇数番目ビットライン対BL1,BL1Bと偶数番目ビットライン対BL2,BL2Bとでセンシング時点を変える。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

The approach is applied to produce succinct representation of planar graphs in which one can test adjacency in constant time. 例文帳に追加

このアプローチは, 一定時間内に隣接性をテストできるプレーナグラフの簡潔な表現を作り出すのに応用される. - コンピューター用語辞典

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To provide a DUTIF connection system capable of connecting a DUTIF to a test head easily and automatically in a short time.例文帳に追加

ＤＵＴＩＦをテストヘッドに、短時間で、自動的に容易に接続できるＤＵＴＩＦ接続システムを実現する。 - 特許庁

TEMPERATURE COMPENSATION METHOD FOR INSPECTION DATA ERROR CAUSED BY OUTSIDE AIR TEMPERATURE GENERATED AT PRESSURE EXPANSION TEST TIME FOR COMPRESSED-GAS CYLINDER REINSPECTION例文帳に追加

高圧ガス容器再検査の耐圧膨張試験時に生ずる、外気温に起因する検査データ誤差の温度補償方法 - 特許庁

At the time of burn-in test, an external power source voltage supply line 51 and internal power source voltage supply lines 53, 55 are connected.例文帳に追加

バーンイン試験時には、外部電源電圧供給線５１と、内部電源電圧供給線５３，５５とが接続される。 - 特許庁

To provide an area-variable timer display device, employing a timer display method for efficiently arranging the test time, study time of a student at educational facilities, training time of an athlete, or the like.例文帳に追加

受験時間、教育機関での学生の勉強時間、運動選手の訓練時間などを効率的に按配するタイマー表示方法を採用した面積変動式タイマー表示装置を提供する。 - 特許庁

To accurately grasp an access time for a large number of memory cell arrays in a test for a short time and to prevent occurrence of delay of access in a representative pin at the normal time, concerning a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に関し、短時間のテストで多数のメモリセルアレイに対するアクセスタイムを正確に把握し、かつ、通常時に、代表ピンにおけるアクセスの遅延を生じさせないことを目的とする。 - 特許庁

Next, the time between the time when the shearing waves 13 are generated by the collision of the rigid body 3 and the time when the shearing waves 13 arrive the predetermined position in the test object 14 is measured.例文帳に追加

次に、剛体３の衝突によってせん断波１３が発生した時点と、せん断波１３が試験体１４中の予め定められた位置に到達した時点との間の時間を測定する。 - 特許庁

To effectively prevent generation of date faults caused by cross contamination, while shortening or eliminating the testing time of the cross contamination test time which takes a long time for reducing cost for samples, reagents, etc to be borne by customer.例文帳に追加

時間のかかるクロスコンタミネーション試験の試験時間を短縮あるいは省略し、試料，試薬などの顧客の費用負担を軽減し、クロスコンタミネーションが原因となるデータ不良を効率的に防止する。 - 特許庁

An incoming time information measurement means 13 measures a reference incoming time when the reference packet arrives and incoming times of the test packets other than the reference packet counted from the reference incoming time.例文帳に追加

着信時刻情報測定手段１３は、基準パケットが着信した時の基準着信時刻と、基準着信時刻からカウントした、基準パケット以外の試験パケットの着信時刻と、を測定する。 - 特許庁

To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.例文帳に追加

定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁