「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform a test under multiple temperature conditions for determining the optimum temperature condition of a glass material in a short time.例文帳に追加

ガラス材料の最適温度条件を決定するための、複数温度条件での試験を短時間で行うことを目的とする。 - 特許庁

At such a time, test voltage at two steps is set by using the voltage and current characteristic obtained in the first ATVC control.例文帳に追加

このときは、初回のＡＴＶＣ制御で求めた電圧電流特性を用いて二段階の試験電圧を設定する。 - 特許庁

To test an event that occurs in a network in normal communication without needing huge amounts of time.例文帳に追加

膨大な時間を必要とすることなく、正常な通信においてネットワーク内で発生する事象を試験することを課題とする。 - 特許庁

Each time the test is run, the input is processed, and the current output is compared to the content of Output file. 例文帳に追加

テストが実行されるそれぞれのタイミングで、入力が行われ、その時点の出力結果を Output ファイルの内容と比較します。 - NetBeans

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

To measure the optical characteristics of an optical system for test, such as a projection optical system with sufficient accuracy, without generating around dust at the time of exposure processing.例文帳に追加

露光処理時に発塵を起こすことなく投影光学系等の被検光学系の光学特性を精度よく計測する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily discriminating the operation defect of a built-in power ON detection circuit at the time of a die sort test.例文帳に追加

内蔵したパワーオン検知回路の動作不良をダイソートテストに際して容易に判別し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which a test time can be shortened while increasing operating speed and reducing power consumption.例文帳に追加

高速動作及び低消費電力化を図りつつ、テスト時間の短縮化を可能にした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A delay amount of the delay time variable delay adjusting circuit 102 is set so that a test signal may be normally transmitted and received.例文帳に追加

テスト信号が正常に送受信されるように遅延時間可変遅延調整回路１０２の遅延量が設定される。 - 特許庁

At this time, the LHRH antagonist is given to the test object, before the prostatic cancer tissue is removed or broken.例文帳に追加

ここで、ＬＨＲＨアンタゴニストを、被験体に、前立腺腫瘍組織を除去し又は破壊する手順を行なう前に投与する。 - 特許庁

The data at the time of outputted the test pattern for correction of the output condition information 128 is collated with the output history information.例文帳に追加

また、出力条件情報１２８の較正用テストパターン出力時の日時と出力履歴情報とを照合する。 - 特許庁

A delay-time shortening mode is obtained by using a fuse depending on the presence or absence of the fuse in the test state.例文帳に追加

また、ヒューズを用いて、前記テスト状態においてヒューズの有無により、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To make insulation failures hardly occur and improve failure time characteristics in a load test in a laminated ceramic capacitor.例文帳に追加

積層セラミックコンデンサにおいて、絶縁不良が生じにくくするとともに、負荷試験における故障寿命特性を改善する。 - 特許庁

To prevent wasteful disposal of a head and to reduce an excess time and labors consumed for a test until shipping.例文帳に追加

ヘッドの無駄な廃却を防止することや、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することを課題とする。 - 特許庁

To make the connection between a semiconductor chip and signal lines on a contactor confirmable with accuracy at the time of making burn-in test in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェーハ状態でバーンインを行なう際に、半導体チップとコンタクタ上の信号線の接続を精度よく確認する。 - 特許庁

To measure a one-side-drift amount of a vehicle on a bench test machine in a short time without damaging a body and a tire.例文帳に追加

車両の片流れ量を台上試験機上で車体やタイヤに傷を付けることなく短時間で計測できるようにする。 - 特許庁

Based on the test result, the decision of the degree of interest etc. of the examinee becomes possible from the ranking of the order of output time.例文帳に追加

テスト結果に基づいて、各第２画像の出力時間順位から、被験者の関心度等の判定が可能とされている。 - 特許庁

Since this test is carried out by applying a load, the flexibility of the flexible board 51 can be examined easily in a short time.例文帳に追加

荷重を印加して試験を行うため、短時間且つ容易にフレキシブル基板の耐屈曲性の試験を行うことができる。 - 特許庁

To solve such problems that a time for writing test data or the like increases and switching between different memory capacity products is complicated.例文帳に追加

テスト用データ等の書き込み時間が長くなったり、異なるメモリ容量製品間の切り替えが煩雑になることを解決する。 - 特許庁

To automatically conduct stress impression at the time of burn-in test by adding only a few circuits to a scan-designed circuit.例文帳に追加

スキャン設計された回路に対し若干の回路を追加するだけで、バーンインテスト時の適切なストレス印加を自動的に行う。 - 特許庁

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time.例文帳に追加

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields.例文帳に追加

検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a boundary scan cell circuit which reduces the inspection time for boundary scan test and facilitates the analysis obtained inspection results.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストの検査時間を短縮し、また得られた検査結果の解析を容易にするバウンダリスキャンセル回路を提供する。 - 特許庁

To provide a helium leak tester which can perform test in a short time even when the member of a specimen itself discharges a gas significantly.例文帳に追加

被試験体の部材自体からのガス放出が大きいものでも短時間に処理ができるヘリウムリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

At the time of receiving an electronic mail E0, a contents separating part 12 separates an electronic mail E0 into a test part T0 and a contents C0.例文帳に追加

電子メールＥ０を受信すると、コンテンツ分離部１２が電子メールＥ０をテキスト部分Ｔ０およびコンテンツＣ０に分離する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently manufacture a test piece which is manufactured in welding a pipe for semiconductor manufacturing gas in a short time.例文帳に追加

半導体製造用ガスの配管の溶接に際して作製されるテストピースを効率よく、短時間で作製できるようにする。 - 特許庁

To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an olfaction test card kit by which many kinds of odors are simply checked in short time without diffusing odors.例文帳に追加

臭気（ニオイ）を拡散させることなく、短時間に簡便に多種類のニオイを確認することができる嗅覚検査カードキット。 - 特許庁

To provide an accurate method for determining the acceptability of signal data collected from a prothrombin time (PT) test strip.例文帳に追加

プロトロンビン時間（ＰＴ）検査ストリップから収集した信号データのアクセプタビリティを決定するための正確な方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for improving the refresh control of a dynamic type semiconductor storage device and shortening test time.例文帳に追加

ダイナミック型半導体記憶装置のリフレッシュ制御を改良し、テスト時間の短縮を図る半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To eliminate a chip having an abnormal memory cell by a wafer test by adjusting the delay time without increasing the layout area.例文帳に追加

レイアウト面積を増加させることなく遅延時間を調整して、異常なメモリーセルを有するチップをウェハーテストで取り除く。 - 特許庁

To provide a focusing ion beam apparatus capable of establishing automatically the processing scanning condition at the time of processing a test piece.例文帳に追加

試料を加工するときの加工走査条件を自動的に設定することができる集束イオンビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can avoid false detection of a memory cell having a small cell capacitance, thereby preventing an increase in test time.例文帳に追加

セル容量が小のメモリセルの誤検出を回避可能とし、テスト時間の増大を防ぐ半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To raise screening effect by IDDQ test, and further reduce a time for testing the attainment of a target commercial defective fraction.例文帳に追加

ＩＤＤＱテストによるスクリーニング効果が上がり、さらに、目標市場不良率の達成に必要なテスト時間を短縮する。 - 特許庁

Consequently, since there is no need for measuring the loss for coupling, each time test is performed, the loss for coupling easily corrected.例文帳に追加

よって、結合における損失を試験の度に計測しなくてすむので、結合における損失を補正することが容易である。 - 特許庁

To provide a test facility system, with which all applications can be operated at arbitrary simulation time without changing a system clock.例文帳に追加

システムクロックを変更することなく、任意のシミュレーション時刻で全てのアプリケーションを動作可能な試験設備システムを提供する。 - 特許庁

An area of a test condition to be used at that time is taken as an area concentrated in a section of a matrix of power × pulse width.例文帳に追加

その際に使用されるテスト条件の領域は、パワー×パルス幅のマトリクスのある部分に集中させた領域とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which defect of an access time can be surely detected when an operation test is performed at low speed.例文帳に追加

本発明は、低速の動作テストによるデータ読み出し時に、アクセスタイム不良を検出することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a picture reader capable of automatically discriminating the aberration of a condensing lens at the time of read-scanning a test chart.例文帳に追加

テストチャートを読取走査させたときに、集光レンズの位置ズレを自動的に判別出来る画像読取装置を提供する。 - 特許庁

The tape library test device extracts an inter-cell interval that requires longer medium conveyance time than medium conveyance time required by the other inter-cell intervals on the basis of the measured medium conveyance time for each inter-cell interval, as a singular point.例文帳に追加

そして、テープライブラリ試験装置は、計測した各セル間の媒体搬送時間から、他のセル間が要した媒体移送時間より長い媒体搬送時間を要したセル間を特異点として抽出する。 - 特許庁

In an action test, when two input buttons 7a and 7c alternately receive the operation input, the control section 9 sequentially detects, as a judgment time, the time from the preceding operation input to the operation input of this time.例文帳に追加

動作テストでは、制御部９は、２つの入力ボタン７ａ，７ｃが交互に操作入力を受けたとき、前回の操作入力から今回の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

In the bit level test, a rough time stamp about transition in the signal is measured (122), and the measured rough stamp time is compared with an expected time stamp to determine whether the device satisfys a specification or not (124).例文帳に追加

ビット・レベル試験は、信号における遷移に関する粗タイムスタンプを測定し（１２２）、測定された粗タイムスタンプを期待タイムスタンプと比較してデバイスが仕様を満足するか否かを判定する（１２４）ことを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁