「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test device for shortening a time required for cause search when a failure occurs by displaying information related to a test result of a semiconductor device according to need.例文帳に追加

半導体デバイスの試験結果に関連する関連情報を必要に応じて表示することで、異常が生じた場合の原因究明に要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a parallel test apparatus in which a signal for semiconductor memory apparatus can be varied at high speed when a plurality of semiconductor memory apparatuses are tested and a test time can be shortened.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置をテストする際に、これら各半導体記憶装置に対する前記信号を高速に変化させることが可能で、テスト時間を短縮することが可能な並列試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an element array apparatus for a semiconductor element test handler capable of shortening a mounting time on a test tray by arraying semiconductor elements with a constitution capable of driving separately an aligner and a lower part pushing unit.例文帳に追加

アライナと下部プッシングユニットが別に駆動するように構成して半導体素子を整列することでテストトレイに装着する時間を短縮できるようにした半導体素子のテストハンドラ用素子整列装置を提供する。 - 特許庁

The use of the plurality of stations can test different types of semiconductor devices simultaneously and concurrently to save time and cost for a test of different types of fewer semiconductor devices.例文帳に追加

複数のステーションを利用して互いに異なる種類の半導体装置を同時に並列してテストすることができるので、少量の互いに異なる種類の半導体装置をテストするのに要する時間と費用が節減できる。 - 特許庁

To provide an ice test device capable of obtaining high accuracy tire data for analyzing in short time, while maintaining a state of ice board that is close to an actual vehicle test, and to provide a method of evaluating on-ice performance of tire.例文帳に追加

実車試験に近い氷盤の状態を維持しながら、精度の高いタイヤデータを短時間で取得、解析することを可能とするタイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a balancing machine of vehicular wheels which actually, easily and functionally can position any wheel subject to balancing test by workers in a balance test spindle especially while reducing work time.例文帳に追加

作業員が釣合い試験すべきホイールを、釣合い試験スピンドルに実際に、容易に、かつ機能的方法で、とりわけ実行時間を減少させて、位置決めすることができる車両用ホイールの釣合い試験機を提供すること。 - 特許庁

At the time of memory test, and signal less quantity bits caused by the coupling noise at the time of amplifying adjacent bit lines are efficiently worsened by the starting sense amplifiers of an odd number column and sense amplifiers of an even number column with time delay.例文帳に追加

そして、メモリテスト時において、奇数列のセンスアンプと偶数列のセンスアンプとをある時間遅延させて起動させることにより、隣接するビット線の増幅時のカップリングノイズによる信号少量ビットを効率よく不良化させる。 - 特許庁

As the input signal is delayed by the delay circuit 2, signals with time difference are input to the data input terminal D of the latch circuit 1 and the timing input terminal T to perform a test to guarantee a setup time and a hold time.例文帳に追加

該入力信号は遅延回路により遅延されるため、時間差を持った信号がラッチ回路１のデータ入力端子Ｄとタイミング入力端子Ｔに入力されてセットアップ時間及びホールド時間の保証テストが実施される。 - 特許庁

Subsequently, the speed proportional position term of the amount of defocus at the time of scanning exposure, the speed proportional time term, time term and position term are calculated respectively based on the positional information of the resist image of all focus test marks thus measured (step 134).例文帳に追加

次いで、計測した全てのフォーカステストマークのレジスト像の位置情報に基づいて、走査露光時のデフォーカス量の速度比例位置項、速度比例時間項、時間項及び位置項を、それぞれ算出する（ステップ１３４）。 - 特許庁

In the case of carrying out a test of the transmission abnormal system, the maintenance engineer inputs an address value for changing the time interval of waveform, a data value, the time interval between address data, and time interval between addresses on a screen of a personal computer 9.例文帳に追加

伝送異常系の試験を実施する場合、保守員は、パーソナルコンピュータ９の画面上で、波形の時間間隔を変更するためのアドレス値、データ値、アドレス・データ間の時間間隔、アドレス・アドレス間の時間間隔を入力する。 - 特許庁

To minimize the test time, the timing generators reused in the 2nd step have programming modifications from the time plate implemented in the 1st step to the time plate implemented in the 2nd step carried out at a minimum frequency.例文帳に追加

テスト時間を最小限にするために、第２のステップで再使用されるタイミング発生器は、第１のステップの間に実施されるタイムプレートから第２のステップに対して実施されるタイムプレートへのプログラミング変更を最小限の回数だけ課す。 - 特許庁

The defect analyzing memory 7 is composed of a multi-bit memory having plural data input/output terminals, and the device is provided with a control circuit 6 in which when uncoincidence is detected by the logical comparator 4, and uncoincidence detected signal detected by a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time.例文帳に追加

不良解析メモリ７を複数のデータ入出力端子を持つ多ビットメモリで構成し、論理比較器４で不一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ７に記憶させた信号に今回のテストで検出された不一致検出信号を加える。 - 特許庁

The control circuit repeatedly detects first key operation time corresponding to the test audio, and second key operation time corresponding to the test video so as to set a delay setting value of an audio delay circuit of the delay synchronization circuit.例文帳に追加

制御回路が、リモートコントローラーから送信された遠隔送信信号に基づいて、試験音声に対応する第１キー操作時間と、試験映像に対応する第２キー操作時間と、をそれぞれ繰り返し検出し、遅延同期回路の音声遅延回路の遅延設定値を設定する。 - 特許庁

The test means is associated with the operation ratio selecting means 14 and the time delay selecting means 16 in such a manner that the minimum or reduced operation ratio and the minimum or reduced time delay are selected when the test means 31-38 are operated.例文帳に追加

テスト手段３１から３８が作動するときに、最小または小さくされた動作比率ならびに最短または短くされた時間遅延が選択されるよう、上記テスト手段が上記動作比率選択手段１４および上記時間遅延選択手段１６に関連付けられている。 - 特許庁

A test image display unit 14 outputs a test image for making the first figure appear at substantially random time intervals at the particular position on the display screen, and changing the brightness of a given second figure at the center of the display screen at substantially random time intervals.例文帳に追加

テスト用画像表示部１４は、ディスプレイ画面の特定位置に、実質的にランダムな時間間隔で第１図形を出現させるとともに、ディスプレイ画面の中央に実質的にランダムな時間間隔で所定の第２図形を輝度変化させる、テスト用画像を出力する。 - 特許庁

To enable recording and measuring even during dark time which is an active time for a nocturnal animal, reduce the contact of an experimenter to a test animal during, and before and after experiment as far as possible, reduce nociceptive stress to the test animal, and measure and evaluate memorizing and leaning ability under these conditions.例文帳に追加

夜行性動物の活動期である暗期にも記録測定できること、実験者による被験動物への接触を実験中、実験前後を通じて極力減らすこと、被験動物に対する侵害ストレスを減らすこと、及びその条件で記憶学習能力を測定評価することにある。 - 特許庁

To suppress evaluation dispersions, while shortening an evaluation test time by employing constitution, which determines and evaluates, for example, the life time of a solid lubricant film from the friction torque and the electrical resistance between the solid lubricant film and a test ball, in relation to a device for evaluating a friction life of the film.例文帳に追加

被膜の摩擦寿命評価装置に関し、例えば固体潤滑膜の寿命を固体潤滑膜と試験ボールとの間の摩擦トルク及び電気抵抗から判定評価する構成を採ることで、評価ばらつきを低く抑え、また、評価試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide an image output system with high quality for performing a defect reproduction test in a short time at a low cost and performing various detailed variation tests and a critical test in a short time at a low cost so as to sufficiently assure operations of components and to provide an operation reproduction method for the image output system.例文帳に追加

不具合再現テストを短時間に低コストで実施し、また、細かな種々のバリエーションテストや限界テストを短時間に低コストで実施して構成要素の動作を十分に保証した高品質の画像出力システムの提供および画像出力システムの動作再現方法を提供する。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

"Time of transmission request" being a time of request for transmitting OAM echo from a measuring station and "time of response receiving" being a time that the measuring station receives the OAM echo response from the station to be measured are added to a payload portion in the frame of the OAM echo request/response for use in an OAM echo test.例文帳に追加

ＯＡＭエコー試験に用いられるＯＡＭエコー要求／応答フレームのぺイロード部に、測定ステーションからのＯＡＭエコー要求送信時刻である「要求送信時刻」と、測定ステーションが被測定ステーションからＯＡＭエコー応答を受信した時刻である「応答受信時刻」を付加する。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

The time between the time of starting measurement specified by a temperature rise evaluating test in advance and the time of reaching a prescribed temperature in the device is measured to be determined, and then this duration is set in a timer 14 as a prescribed time for the start of control suppressing the temperature rise in the device.例文帳に追加

予め温度上昇評価試験によって予め指定した計測開始時機から装置内規定温度に達するまでの時間を測定して求め、この時間を装置内温度の上昇を抑制する制御開始の規定時間としてタイマ１４に設定する。 - 特許庁

To improve a data read-out rate while holding compatibility with general purpose memories without increasing the number of external terminals and to shorten a time required for a test.例文帳に追加

外部端子数を増やさず、汎用メモリとの互換性を保ちつつ、データ読み出しのレートを改善し、テストに際して所要時間を短縮する。 - 特許庁

The test manager discriminates whether it is to receive the response packet within a prescribed time, and identifies the fault occurrence location on the basis of the response packet.例文帳に追加

テストマネージャは応答パケットを所定時間内に受信するか否かを判定し、応答パケットに基づいて障害発生箇所を特定する。 - 特許庁

At the time of adjusting a registration deviation of reciprocatory printing, the printing head prints a test pattern for detecting a printing deviation amount associated with the reciprocatory printing.例文帳に追加

往復印字のレジストレーションずれの調整時に、印字ヘッドは、往復印字に伴う印字ずれ量を検出するためのテストパターンを印字する。 - 特許庁

To provide a double data rate(DDR) memory in which a normal memory tester can be used at the time of a test and circuit constitution of a data input circuit is easy.例文帳に追加

テスト時に通常のメモリテスタを使用できるデータ入力回路の回路構成が容易なダブルデータレート（ＤＤＲ）メモリを提供する。 - 特許庁

The substrate treatment equipment 10 can be set with treatment conditions for test, i.e. substrate treatment conditions at the time of mecha-run, through an operating section 104.例文帳に追加

基板処理装置１０には、操作部１０４を介してメカラン時の基板処理条件であるテスト用処理条件が設定可能である。 - 特許庁

To greatly save the time and trouble for test pattern generation.例文帳に追加

テストパタン作成の手間および時間を大幅に削減することができる半導体装置のテストパターン生成方法およびテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic diagnostic apparatus capable of reducing a time taken for a test by reducing the number of operations for image display and measurement.例文帳に追加

画像表示と計測のための操作の数を減らし、検査にかかる時間を減少させることが可能な超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To reduce test time for repair analysis of a memory device or on-chip analysis of failure diagnosis without increasing a hardware scale.例文帳に追加

ハードウェア規模を大きくすることなく、メモリデバイスの救済解析又は不良診断のオンチップ解析を含むテストの処理時間を短縮する。 - 特許庁

To obtain a control apparatus for verifying a software logic of a control apparatus along with an actual operation of the apparatus and shortening a time for preparation of a test.例文帳に追加

試験準備の時間を短縮し、制御装置のソフトウェアロジックを実際の機器の動きに合わせて確認できる制御装置を得る。 - 特許庁

To automatically read in environmental measurement data to correct material test data by the environmental measurement data in real time.例文帳に追加

環境測定データを自動的に取り込み、材料試験データを環境測定データによりリアルタイムで補正しうる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a debug supporting method which uses the display part of a memory dump and performs a test operation to reduce time needed to debug program.例文帳に追加

プログラムのデバッグに要する時間を短縮するために、メモリダンプの表示部分を使って、テスト操作を行うデバッグ支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can select a memory mat being able to reduce current consumption at the time of burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時における消費電流を低減することが可能なメモリマットの選択を行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of an inspecting object body at a time, and its manufacturing method.例文帳に追加

被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus and a program capable of reducing an overhead of a processing time caused by a test at the start of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの起動時に実行されるテストによる処理時間のオーバーヘッドを低減することができる電子機器、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

If the write-in voltage does not reach the prescribed voltage at the time of finish of the test period, the high voltage detection unit activates a disable signal.例文帳に追加

テスト期間終了時に書き込み電圧が所定の電圧に達していない場合、高電圧検出部は、ディスエーブル信号を活性化する。 - 特許庁

At the time of starting a voice test, a controller (monitor) connects a communication line, and transmits a voice request signal to a security center.例文帳に追加

コントローラ（監視装置）は、音声テストを開始すると、通信回線を接続した後、音声要求信号を警備センタに対して送出する。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

Further, a method for performing a highly accurate power supply voltage variation test by using a power supply current expressed as a function of a time is also disclosed.例文帳に追加

また、時間の関数として表した電源電流を用いて、高精度な電源電圧変動検証を行う方法についても開示する。 - 特許庁

The quantity of the saliva in the oral cavity can be measured simply, accurately in a short time with high repeatability by the saliva flow measuring test paper.例文帳に追加

本発明の唾液流量測定試験紙によれば、口腔内の唾液の量を短時間に、簡便、正確かつ高い再現性で測定できる。 - 特許庁

To provide an indicator testing device capable of performing a test optionally in a short time without dismounting indicators mounted on a monitoring board.例文帳に追加

監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.例文帳に追加

試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE EXAMINATION METHOD BY INFRARED CAMERA, STRUCTURE TEMPERATURE ENVIRONMENT MONITORING SYSTEM, STRUCTURE PHOTOGRAPHING TIME NOTIFICATION SYSTEM, AND STRUCTURE TEST BODY例文帳に追加

赤外線カメラによる構造物の調査方法、構造物の温度環境監視システム、構造物の撮影時期報知システム、構造物の試験体 - 特許庁