「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a floor heating system test running device applicable to an existing floor heating controller and capable of detecting the temperature of a plurality of warm water mats at the same time.例文帳に追加

既存の床暖房コントローラに適用可能で、かつ、複数の温水マット温度を同時に検知可能な床暖房システム試運転装置を提供する。 - 特許庁

At this time, operating states of other processors, whose operation state do not change, are changed from a normal run state into a test run states, as necessary.例文帳に追加

このとき、必要に応じて、動作状態が変化しなかった他のプロセッサの動作状態を通常走行状態から試験走行状態に遷移させる。 - 特許庁

In the example, the result of the pharmacological test is described which shows the reduction of the side effect by using the paclitaxel together with the compound X at the same time. 例文帳に追加

実施例において、パクリタキセルと化合物 Xとを併用することにより、副作用が低減されることを示す薬理試験結果が記載されている。 - 特許庁

A unit delay simulator 4 is actuated first and the gate and wires of the logic circuit are estimated to a uniform delay time to find answer output to a test pattern.例文帳に追加

当初、ユニット遅延シミュレータ４を起動し、論理回路のゲートおよび配線を一律の遅延時間に見積もってテストパタンに対する応答出力を求める。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加

本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a semiconductor device, which reduces the test time by making an apparatus for in inspecting the semiconductor device operate efficiently.例文帳に追加

半導体デバイスの検査に関する装置を効率的に稼動させて、テストの時間を短縮させることのできる半導体デバイスの検査装置を提供する。 - 特許庁

A differential magnetic susceptibility is obtained based on the waveform of a current applied to the coil 105 and time-derivative of magnetization change of the test piece 101.例文帳に追加

そこで、パルス印加コイル１０５への印加電流波形と磁性体試料１０１の磁化変化の時間微分に基づいて微分磁化率を求める。 - 特許庁

To provide a technique for avoiding test-time IR drops which occur when the frequency that adjacent FFs in a scan chain have different logical values increases.例文帳に追加

スキャンチェイン上の隣接するＦＦの異なる論理値を持つ頻度が大きくなることでテスト時のＩＲドロップを回避する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test.例文帳に追加

ウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保することが可能となる半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

A Weibull plot is formed from a change with time of the ratio of the broken accumulation capacities among the accumulation capacities to which the test voltage is applied (process S4).例文帳に追加

試験電圧を印加された蓄積容量のうち、破壊された蓄積容量の割合の経時変化からワイブルプロットを作成する（工程Ｓ４）。 - 特許庁

When time required for measurement passes, concentration of an analyte in the blood is quantified according to the degree of reaction on the test piece, and the measurement results are displayed.例文帳に追加

測定に必要な時間が経過すると、試験片上の反応度合から、血液中の分析対象物濃度を定量し、その測定結果を表示する。 - 特許庁

In this method the signal leakage test can be carried out in a short time, because taking out of the potential of the signal terminal through the boundary scan resistor is not necessary.例文帳に追加

本方法では、バウンダリスキャンレジスタを介して信号端子の電位を取り出す必要がないため、短時間で信号リーク検査を行うことができる - 特許庁

The test of electricity supply and signal detection is carried out by arranging many power clips in a row, and connecting them to the electrodes of many electronic components at one time.例文帳に追加

このような通電用クリップを多数個並設して、同時に多数の電子部品の電極に接続して、給放電、信号検出等の試験を行う。 - 特許庁

To provide a flatness anomaly detecting technique with good throughput capable of detecting anomalies of flatness by examining the test substance during short time.例文帳に追加

短時間に被検査物体の検査を行い、平坦度の異常を検出できるスループットの良好な平坦度異常検出方法を提供すること。 - 特許庁

A test signal is modulated so that the frequency varies with time and fault of the transmission/reception module is diagnosed from relation between an evaluation formula and a threshold value.例文帳に追加

試験信号を時間経過とともに周波数が変化するように変調し、評価式と閾値との関係から送受信モジュールの故障を診断する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a probe card, which enables a user to correctly know a replacement time of the probe card, based on a result of a conduction test in the probe card.例文帳に追加

プローブカードにおける導通試験の結果に基づきプローブカードの交換時期を的確に知ることのできるプローブカードの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pipe joint capable of infallibly detecting improper construction at the time of a hydraulic pressure test to allow a water leakage trouble due to improper construction to be infallibly prevented.例文帳に追加

水圧テスト時に確実に施工不良を検知することができ、施工不良による漏水事故を確実に防止することができる管継手を提供する。 - 特許庁

Compared to the BT test, the evaluation of the gate current value can be performed in a simpler manner, as the measurement of the gate current value takes short time, for example.例文帳に追加

ゲート電流値の測定は、必要となる時間が短いなど、ＢＴ試験と比較して簡便な方法によって評価を行うことが可能である。 - 特許庁

To give a battery rundown notice more accurately by performing a battery load test that reproduces the same condition at the time of an alarm indicating an abnormality, such as a fire.例文帳に追加

火災をはじめとする異常警報時と同じ条件を再現する電池負荷試験を行って電池切れ予告をより正確に報知可能とする。 - 特許庁

The operation of the passage detector is confirmed by using a test card having a light receiver output which enters the allowable range of the start time Tr3.例文帳に追加

この上記立ち上がり時間Ｔｒ３の許容範囲に入る受光器出力を有するテストカードを用いて通過検知器の動作を確認する。 - 特許庁

To shorten a time for plant construction by putting together preparations of a hydrostatic pressure test and blowout in a steam stop valve for stopping steam from a steam generator.例文帳に追加

蒸気発生器からの蒸気を止める蒸気止め弁において水圧試験及びブローアウトの準備を集約し、プラント建設の工期を短縮する。 - 特許庁

At that time, the control device 50 controls the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 according to a charging and discharging pattern of the plurality of test pieces 31 to 33.例文帳に追加

その際、複数の複数の試料３１〜３３の充放電パターンに応じて、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３を制御する。 - 特許庁

To provide a scenario forming device, a false base station, scenario forming programs, and a recording medium, wherein the test of communication terminals can be accurately carried out in a short time.例文帳に追加

通信端末の試験を正確、かつ短期間に行うことができるシナリオ生成装置、擬似基地局、シナリオ生成プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

The burn-in test is thereby carried out under the condition near to the actual operation time, and ringing is prevented from being generated in a current and a voltage in the circuit.例文帳に追加

これにより、実際に動作させた時に近い状況でバーンイン試験が行なえ、また、回路内の電流、電圧にリンギングが発生しないようにできる。 - 特許庁

To provide a VoIP(Voice over IP) system and test method of it reducing the time for data matching for the identification of sound normality to improve operability.例文帳に追加

音声正常性の確認のためのデータ照合時間の短縮と操作性を改善したＶｏＩＰシステムおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate a chip evaluation test, at the same time, to ensure security regarding information leakage, and, in addition, to prevent noise from the outside in actual operation.例文帳に追加

チップ評価テストの容易性と、情報漏洩に関するセキュリティの確保を両立させることができ、かつ実動作時に外部からノイズを受けない。 - 特許庁

To realize a load test with high accuracy by using synchronizing processing small in time deviation in a system configured of a plurality of information processors.例文帳に追加

複数の情報処理装置で構成されるシステムにおいて時間のずれが小さい同期処理を用いることで高精度な負荷試験を実現する。 - 特許庁

A system control section 100 performs timing control of adjustment, and at the time of this adjustment, a recording head 60 discharges ink to a recording medium for printing a test pattern.例文帳に追加

システム制御部１００が調整のタイミング制御を行い、この調整の際に記録ヘッド６０が記録媒体にインクを吐出してテストパターンを印字する。 - 特許庁

To provide a semiconductor measuring apparatus with a marking function of marking the results of a wafer probe test with high reliability and in a short time and a semiconductor device.例文帳に追加

短時間で高信頼性を伴うウェハプローブ試験結果のマーキングを施すマーキング機能付き半導体測定装置及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern which can determine etching condition for a wiring board having a lot of various wiring patterns in a shorter time.例文帳に追加

本発明は、より短時間に多種多様な配線パターンを有した配線板のエッチング条件を出せるテストパターンを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can discriminate easily whether each memory cell group is normal or not while shortening the test time.例文帳に追加

各メモリセルグループが正常か否かを容易に判定することができ、かつテスト時間の短縮化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet irradiator having a function which supports a work for forming a test sample for determining the optimum ultraviolet irradiation time.例文帳に追加

最適の紫外線照射条件を決めるための試験用サンプルを作成する作業を支援する機能を備えた紫外線照射装置を提供する。 - 特許庁

DIELECTRIC BREAKDOWN TEST METHOD OF SUBSTRATE MATERIAL FOR PRINTED WIRING BOARD AND PRINTED WIRING BOARD BY VOLTAGE IMPRESSION FOR LONG TIME OR REPETITIVE VOLTAGE APPLICATION例文帳に追加

プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の長時間電圧印加あるいは繰り返し電圧印加による絶縁破壊試験方法 - 特許庁

To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.例文帳に追加

ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

POSIX allows an application to test at compile or run time whether certain options are supported, or what the value is of certain configurable constants or limits. 例文帳に追加

POSIX では、アプリケーションがコンパイル時や実行時に、特定のオプションがサポートされているかや、設定可能な特定の定数や制限がどんな値かをテストすることができる。 - JM

Right-click the project node and choose Test RESTful Web Services.The server starts and the application is deployed.When deployment is complete, the browser displays your application, with a link foreach of the web services.If the output window shows an error message that one or more classes fails to exist and the project does not build, add the Jersey libraries to the compile-time libraries. 例文帳に追加

プロジェクトのノードを右クリックし、「RESTful Web サービスをテスト」を選択します。 サーバーが起動し、アプリケーションが配備されます。 - NetBeans

The improved thromboplastin is selected to maintain high sensitivity and specificity for the prothrombin time reaction while being rehydrated with a test sample.例文帳に追加

改良トロンボプラスチンは、検査サンプルで再水和する間、プロトロンビン時間反応に対して高感受性及び高特異性を維持するように選択される。 - 特許庁

A timer is started at the time of detecting the urine, and the color tone of color development of the test piece after an elapse of 30 seconds is measured and converted to obtain a urine sugar value.例文帳に追加

尿が検出したときにタイマを始動させ、３０秒経過したときの試験片の発色の色調を計測し、尿糖値に換算する。 - 特許庁

To make substantially constant a time from test start of a trip operation upto an output of a trip signal even when a set value of a trip scale is changed.例文帳に追加

トリップ動作の試験開始からトリップ信号が出力するまでの時間を、トリップ目盛の設定値を変更した場合でもほぼ一定にさせることにある。 - 特許庁

To provide a measurement apparatus which can measure an optical characteristic(wave aberration) of an optical system to be inspected with accuracy higher and in a time shorter than the prior, and a test reticle.例文帳に追加

従来よりも高精度、且つ、短時間で被検光学系の光学特性（波面収差）を測定することができる測定装置、テストレチクルを提供する。 - 特許庁

To conduct a test of an LSI provided with a plurality of input terminals in a short time and at low cost.例文帳に追加

複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a plug and a communication transmission/reception testing apparatus and method in which a communication transmission/reception test can be performed from a protector inside a building in a short time.例文帳に追加

ビル内保安器から通信発着信試験を短時間に行えるプラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法を提供する。 - 特許庁

The change at the time of the temperature acceleration test of a dielectric breakdown life distribution is adopted as the temperature change of the gradient of a distribution function in the cumulative percent defective.例文帳に追加

絶縁破壊寿命分布の温度加速試験時の変化を、その累積不良率における分布関数の傾きの温度変化として取り入れる。 - 特許庁

To provide a test traveling method and device for an inspection pig capable of running at the same speed as that at the time of running during pipeline inspection in actual work.例文帳に追加

実工事におけるパイプライン検査での走行と同等の速度での走行を可能とする検査ピグのテスト走行方法及び装置を提供する。 - 特許庁