「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

At the measurement test in which the belt 1 is made to run with a tension T, time t_A1 and time T_B1 are measured, based on the detection of the front reflection mark 3 and the rear reflection mark 4 due to the front optical sensor 5 and the rear optical sensor 6.例文帳に追加

また張力Ｔでベルト１を走行させる測定試験で、前光センサ５と後光センサ６による前反射マーク３と後反射マーク４の検知に基づいて時間ｔ_Ａ１と時間ｔ_Ｂ１を計測する。 - 特許庁

To provide a test device capable of observing different output values at normal time and at a failure time, improving the failure detection rate of the whole circuit, and improving the discrimination ability between a non- defective unit and a defective unit.例文帳に追加

正常時と故障時とで異なる出力値を観測することが可能で、回路全体の故障検出率を向上でき、良品／不良品の判別能力を向上できるテスト回路を得ることである。 - 特許庁

Time lapses for every first to third swallowing acts of a repetitive saliva swallowing test and the number of syllable repetitions of oral diadochokinesis are automatically and accurately measured with time without using a watch such as the stop watch.例文帳に追加

反復唾液嚥下テストの第１〜３回の嚥下ごとの経過時間や、オーラルディアドコキネシスの発音反復回数をストップウォッチ等時計を使用せずに自動的に正確な経時的な測定を行うことができる。 - 特許庁

For shortening the waiting time from voltage impression to the measurement of a current, a function of detecting a current converging state is provided in a DC measurement unit, and consequently, a minimum test time in the machine number by means of the same kind of tester can be realized.例文帳に追加

電圧を印加してから電流測定までの待ち時間を電流の収束具合を検出する機能をDC測定ユニットに負荷し、同一機種のテスターのその号機における最短のテストタイムを実現する。 - 特許庁

To provide a real time sequential test method capable of satisfying required value based on an error rate, deciding one of judgment possibilities in a brief period of time and improving efficiency and accuracy of decision.例文帳に追加

誤り率に基づいた要求値を満たし、短時間で判定可能性のうち一つを決定すると共に、決定の効率及び精度を向上させることができる実時間遂次検定方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a test method of anti-allergenic performance of an anti-allergen-processed product capable of testing anti-allergenic performance of a thick anti-allergen-processed product or a hard anti-allergen-processed product easily in a short time by using a test liquid including allergen of a quantity similar to an actual using condition, and capable of performing a test having high reproducibility and high measurement sensitivity.例文帳に追加

厚みのある抗アレルゲン加工製品や硬質の抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能を、実際の使用条件に近い量のアレルゲンを含有する試験液を用いて簡易かつ短時間に試験することができ、さらに再現性と測定感度の高い試験が可能な抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an air-conditioning equipment monitoring system which dramatically reduces labor and time required for an operation test by performing control so that a communication relaying apparatus which is a target of the operation test outputs a failure signal and stops the output with respect to an air conditioner as a target of the test, and to provide the air conditioner suitable for the system.例文帳に追加

動作試験の対象である通信中継装置が試験の対象となる空気調和機に対して故障信号の出力及び出力停止を行わせるよう制御することによって、動作試験に掛かる手間を劇的に軽減させることのできる空調機器監視システムおよびこのようなシステムに好適な空気調和機を提供する。 - 特許庁

To provide a simple test method for content of a harmful substance in soil that can simply estimate a concentration equivalent to an official test method in a shorter time period than the official test method for a lot of samples without using an organic solvent and can be used for checking of presence of contamination and searching for highly contaminated points.例文帳に追加

有機溶剤を使用することなく、多数の検体について、公定試験方法と比較して十分に短い時間で、簡易に公定試験方法に相当する濃度を推計することができ、汚染の有無の確認や高濃度汚染地点の探索などに利用することができる土壌中有害物質の含有量の簡易試験方法を提供する。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

In one example, one of these methods can be realized by; measuring an analyte with the analyte measurement device, displaying a value representative of the analyte, prompting the user to activate a test reminder and activating the test reminder to remind the user to conduct a test measurement at a different time.例文帳に追加

一例において、これらの方法のうちの１つは、検体計測装置で検体を計測すること、検体を表している値を表示すること、検査リマインダーをアクティブ状態にするようにユーザーを促すこと、および、別の時間に検査計測を行うことをユーザーに思い出させるために検査リマインダーをアクティブ状態にすること、によって実現することができる。 - 特許庁

To provide an instantaneous voltage drop generation device and an instantaneous voltage drop generation method, allowing confirmation of operation in time of instantaneous voltage generation of test supply equipment without exerting bad influence on a connected power supply or load device, without cutting off the power supply inside the test supply equipment even when the power supply is included inside the test supply equipment.例文帳に追加

供試機器内に電源が含まれている場合であっても、供試機器内の電源を切り離すことなく、かつ、接続される電源や負荷装置に悪影響を及ぼすことなく供試機器の瞬時電圧発生時の動作を確認することができる瞬時電圧低下発生装置及び瞬時電圧低下発生方法を提供する。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

After bringing the ASW 1-n into a nonconducting state by two types of OFF-state voltages Vgs with different voltage values and holding signals for test written in auxiliary capacitances 13 for a predetermined time, the written signals for test are each read, and signal waveforms obtained from the two signals for test are compared with each other to facilitate the determination of the presence or absence of off-leak failures and classification.例文帳に追加

電圧値の異なる２種類のオフ電圧ＶｇｓでそれぞれＡＳＷ１〜ｎを非導通状態とし、補助容量１３に書き込んだテスト用信号を所定時間保持した後、それぞれ書き込んだテスト用信号を読み取り、２つのテスト用信号から得られた信号波形を比較してオフリーク不良の有無や分類を容易にした。 - 特許庁

To provide a test burn-in device and a method of a burn-in test capable of conducting a burn-in test for every IC by connecting two kinds of scanning signals to each IC and controlling an access stop of every IC, and for controlling in real time the access stop by controlling the scanning signals based on the judging result whether the IC is good or bad.例文帳に追加

本発明の課題は、（１）各ＩＣに２種類のスキャン信号を接続することによってＩＣ毎のアクセスストップを制御して、ＩＣ毎にバーンイン試験を実施可能であり、（２）ＩＣの良否の判定結果に基づいてスキャン信号を制御してリアルタイムでアクセスストップを制御するテストバーンイン装置及びバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

Test writing of the same multilevel data is performed continuously at the prescribed test region so that length of a track in the tangential direction is longer than a spot diameter of a light spot formed in a track at the time of reproduction (step 407), and appropriate recording power and recording strategy are obtained based on a level of a reproduction signal from its test region (step 409-423).例文帳に追加

同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし（ステップ４０７）、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する（ステップ４０９〜４２３）。 - 特許庁

To provide a qualitative analyzer having a totally new automatic dispensing mechanism that can perform a qualitative analysis without dispensing urine to a test tube and at the same time can dispense urine from a paper cup to the test tube and can automatically stick a patient identification label to the test tube for a quantitative analysis and a sediment analysis as needed.例文帳に追加

試験管へ尿を分注せずに定性分析を行うことができ、同時に、必要に応じて、定量分析や沈査分析のためにハルンカップから試験管への尿の分注及び試験管への患者識別ラベルの自動貼付けを行うことができる全く新しい自動分注機構を備えた定性分析装置を提供すること。 - 特許庁

The test method for skin sensitization of a test substance includes: mixing a test substance with peptide or protein and reacting them for a predetermined time; and then determining presence or absence of interaction between them in the mixture by using mass spectrometry (MS), wherein the peptide or protein includes a peptide containing a cysteine residue or a lysine residue.例文帳に追加

ペプチド又はたんぱく質と被験物質を混合し一定時間反応させた後、混合物を質量分析（MS）法を用いて、それらの相互作用の有無を測定することを特徴とする被験物質の皮膚感作性の検定方法であり、ペプチド又はたんぱく質としては、システイン残基或いはリジン残基を含むペプチドが挙げられる。 - 特許庁

To solve a problem that, in a semiconductor memory test device that performs a test of a semiconductor memory divided into a plurality of regions, as fail information of each region is dispersed in a plurality of storage areas and stored in a fail memory, it is necessary to search a fail memory a plurality of times to obtain the number of fails of all regions, which makes a test time longer.例文帳に追加

複数の領域に分割された半導体メモリの試験を行う半導体メモリ試験装置において、各領域のフェイル情報が複数の記憶領域に分散してフェイルメモリに保存されていたので、全領域のフェイル数を得るためには複数回フェイルメモリをサーチしなければならず、試験時間が長くなってしまうという課題を解決する。 - 特許庁

To solve the problem that it is necessary to repeat shifts, and launches and captures equal to the number of clock systems to cause a prolonged test time when a pass exists between a plurality of clock domains of asynchronous clocks.例文帳に追加

非同期クロックの複数クロックドメイン間でパスが存在する場合、クロック系統数分のシフトとラウンチ−キャプチャを繰り返す必要があり、テスト時間が長くなる。 - 特許庁

To provide a circuit breaker operation time measurement device that performs an interlocking test of a protective relay and a circuit breaker safely, efficiently, and accurately.例文帳に追加

安全で効率的にしかも精度よく保護継電器と遮断器との連動試験を行うことができる遮断器の動作時間測定装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a common output setting circuit of an LCD driver to easily set a common output state in a short time according to a test, and a setting method therefor.例文帳に追加

短時間で容易に試験に応じたコモン出力状態を設定することのできるＬＣＤドライバのコモン出力設定回路及び設定方法を提供する。 - 特許庁

The test image is output to an image display apparatus 2 such as a PDP, and a delay time until actual image display after output is measured.例文帳に追加

このテスト映像をたとえばＰＤＰのような映像表示装置２に出力し、出力したのち実際にこれが表示されるまでの遅れ時間を測定する。 - 特許庁

Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.例文帳に追加

カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁

Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.例文帳に追加

これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a test process while reducing the cost by shortening the time required for retesting a wafer as much as possible through a simple arrangement.例文帳に追加

簡単な構成でウェハの再テストに要する時間を極力短縮してテスト工程の効率を向上させると共に、コストを低減させることができるようにする。 - 特許庁

When an external address signal Ext.A<7> is set to a H level at the time of setting a mode register in a SDRAM, it becomes in a state in which a test mode can be set.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいてモードレジスタセット時に外部アドレス信号Ｅｘｔ．Ａ＜７＞をＨレベルに設定するとアドレス信号によってテストモードを設定できる状態となる。 - 特許庁

To enhance an efficiency of analyzing a fault in a test/evaluating environment or a market in developing and product guaranteeing or testing at debugging or fault occurring time.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

To provide the initial adjusting method of a card type radio transmitter capable of reducing the labor of the test operation of a card type radio transmitter 1 and shortening the operation time.例文帳に追加

カード型無線伝送機器１のテスト作業の労力の低減と作業時間の短縮を図るようにしたカード型無線伝送機器の初期調整方法を提供する。 - 特許庁

A defocus quantity detection circuit 7 detects in advance a variation of the focus error signal generated at the time of recording start of a test signal in a recording power adjustment step.例文帳に追加

デフォーカス量検出回路７は、予め記録パワー調整の工程でテスト信号の記録開始時点で発生するフォーカス誤差信号の変化量を検出しておく。 - 特許庁

Extremely reduced pain, high possibility of blood collection and an improved total test time are achieved by integrating puncturing, collecting and analyzing operations.例文帳に追加

非常に少ない痛み、血液採取の高い可能性及び改善された全試験時間は、穿刺し、採取及び分析操作を一体化することによって達成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its inspecting method which can inspect the connecting condition of power terminals and ground terminals of an LSI under test at a low cost and for a short time.例文帳に追加

被検査ＬＳＩの電源端子と接地端子の接続状態を低コスト且つ短時間で検査可能な半導体装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration of wettability to solder on a wiring layer and bonding strength being evaluated by shear test or exfoliation, swelling, and the like, of a plating layer at the time of solder jointing.例文帳に追加

半田接合の際に、配線層への半田のヌレ性およびシェアー試験により評価される接合強度の劣化や、めっき層のハガレ・フクレ等が発生する。 - 特許庁

Thereby, even if there is electromotive force impedance under test, the arbitrary parameter can be estimated by at least one-time change in the rectangular current.例文帳に追加

こうすることにより供試インピーダンス中に起電力を有していても任意のパラメータを少なくとも１回の矩形状の電流変化で推定することができる。 - 特許庁

To solve a problem in which, in using a pressurized hydraulic or pneumatic fluid, a fastening wrench or a specially designed attachment tool is needed, and a relatively long time is required for test work.例文帳に追加

加圧された液体又は気体を使う際に、締め付けレンチや特別に設計された組み付け冶具を必要とし、テスト作業に比較的長い時間を要する。 - 特許庁

The prepared motopsin knockout mouse is a mouse having unique characteristics such that points indicating the social behavior for a long period of time are recognized in a behavioral test.例文帳に追加

作製したｍｏｔｏｐｓｉｎノックアウトマウスは、行動検査において長時間の社会行動を示す点が認められるなど、ユニークな特徴を有するマウスであった。 - 特許庁

To shorten a time required for evaluation by conducting a simple function test for evaluating a cross-point voltage of a differential output of a differential output circuit.例文帳に追加

差動出力回路の差動出力の交差点電圧を評価する際、簡単な機能テストを行うことで可能とし、評価の所要時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory integrated circuit in which the test time is shortened by making it possible to apply voltage stress to a normal signal line and a spare signal line en bloc.例文帳に追加

ノーマル信号線とスペア信号線に一括して電圧ストレス印加を可能として、テスト時間の短縮を図った半導体メモリ集積回路を提供する。 - 特許庁

The pressure converter 48 measures flow rate passing through a measuring orifice by detecting pressure difference between front and rear of the measuring orifice 59 at a leakage test time when negative pressure is induced into the system.例文帳に追加

圧力変換器48は、システムに負圧が導入される漏れテスト時に、計量オリフィス59前後の差圧を検出してこの計量オリフィスを通過する流量を計測する。 - 特許庁

This plastic artificial light-weight aggregate has a coating on at least a part of plastic crushed materials with hardened product of a hydraulic inorganic composition having 5 min to 2 hours of termination time in the coagulation test.例文帳に追加

プラスチック粉砕物の表面の少なくとも一部に、凝結試験における終結時間が５分〜２時間の水硬性無機質組成物の硬化物が被覆されている。 - 特許庁

It is prevented by inserting an insulation member 17 into the gap between the adjacent coil end parts 3a thus preventing the coil end part 3a from being damaged at the time of withstand voltage test.例文帳に追加

これを、隣接するコイル端部３ａ同士の間隙に絶縁部材１７を挿入して防止し、耐電圧試験時にコイル端部３ａが損傷を受けるのを防止する。 - 特許庁

An acceleration coefficient is found based on the internal temperature, and a burn-in time is determined based on the acceleration coefficient and a preliminarily given acceleration period to conduct the burn-in acceleration test.例文帳に追加

また、上記内部温度に基づき加速係数を求め、該加速係数と予め与えられた加速期間からバーンイン時間を定め、バーンイン加速試験を行う。 - 特許庁

To provide a method for detecting a chlorine esterase inhibitor contained in a specimen simply in a short time without being restricted by a place, and a test kit used therein.例文帳に追加

場所の制約を受けることなく短時間で、簡便に検体中に含まれるコリンエステラーゼ阻害物質を検出する方法、及びそれに使用するためのキットの提供。 - 特許庁

To reduce a circuit scale and shorten a time required for a burn-in test, in a semiconductor device mounted mixedly with a logic circuit and a memory on the same chip.例文帳に追加

同一チップ上にロジック回路とメモリが混載された半導体装置において、回路規模を縮小するとともにバーンイン試験に要する時間を短縮することを可能にする。 - 特許庁

To provide a multilayer ceramic capacitor capable of suppressing the deterioration of an insulation resistance with time variation in a high temperature load test and having a high insulation resistance after firing is performed thereon.例文帳に追加

高温負荷試験における時間変化に伴う絶縁抵抗の低下を抑制でき、かつ本焼成後も高い絶縁抵抗を有する積層セラミックコンデンサを提供する。 - 特許庁