「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test pattern evaluating device and method shortening a development TAT (turn around time) and having high developing efficiency, and to provide a semiconductor inspecting device.例文帳に追加

本発明は、開発ＴＡＴを短縮でき、開発効率の良いテストパターン評価装置及びその方法、半導体検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a three-dimensional ultrasonic diagnostic apparatus which easily detects images necessary for observing a heart before and after stressing the heart in a short period of time in a stress echo test.例文帳に追加

ストレスエコー検査において負荷前後の心臓観察に必要な画像を短時間に容易に検出することができる３元超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a discharge characteristic testing apparatus and a discharge characteristic testing method which can shorten a charge time per discharge characteristic test and reduce a unit price of the apparatus.例文帳に追加

１回の放電特性テスト当たりの充電時間を短くでき、また、装置単価を低廉にできる放電特性テスト装置、および放電特性テスト方法の提供を図る。 - 特許庁

Charges of an 'H' level are prevented from being supplied to the bit lines 2 and 3 at the retention test time, and a memory cell connected defectively is prevented from temporarily holding data of the 'H' level.例文帳に追加

それによって、リテンションテスト時に、ビット線２，３に「Ｈ」レベルの電荷が供給されないようにし、接続不良のメモリセルが一時的に「Ｈ」レベルのデータを保持するのを防ぐ。 - 特許庁

Performance evaluation is performed on the basis of comparison results of the transmission time of each of the sets measured in the load test with the expected value data corresponding to each of the sets.例文帳に追加

負荷試験において測定されたそれぞれの組の伝送時間と、それぞれの組に対応する期待値データとの比較結果に基づいて性能評価が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a bit line reference potential VBL can be stably controlled independently of the drive capability of a tester driver at the time of a device evaluation test.例文帳に追加

デバイス評価テスト時にテスタドライバの駆動能力に関係なくビット線参照電位ＶＢＬを安定して制御可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide such a composite fireproof beam that it has high fire resistance lower than 350°C of average temperature of a steel framed beam even by heating time of 216 minutes by a fire resistance test of the composite fireproof beam.例文帳に追加

合成耐火はりの耐火性能試験による２１６分の加熱時間においても、鉄骨梁の平均温度が３５０℃以下の高度の耐火性を有する。 - 特許庁

ROM4 has a HSYNC table 4a which possesses current value at the time of applying test voltage to the transfer roller 21 and a period of the horizontal synchronizing signal as a table.例文帳に追加

ＲＯＭ４は、転写ローラ２１への試験電圧印加時の電流値と水平同期信号の周期とをテーブルとして保有するＨＳＹＮＣテーブル４ａを有する。 - 特許庁

The central monitoring system 10 judges that a failure arises in the optical fiber cable 1 when there is no reply message within predetermined time after transmitting the test signal.例文帳に追加

中央監視装置１０は、試験信号を送出してから所定時間内に応答メッセージがない場合に、光ファイバケーブル１に障害が生じたと判定する。 - 特許庁

To start performance test of an engine to be tested quickly by raising inlet temperature of the engine to be tested to a predetermined temperature in a short period of time and simplify structure of a device.例文帳に追加

供試エンジンの入口温度を短時間に所定温度に昇温させて、その性能試験を速やかに開始させると共に、かつ装置の構成を簡単にする。 - 特許庁

To shorten a time required for test recording for deciding optimum recording power in a recording method of an optical disk having recording layers (11, 12, 13, 14) of three layers or more.例文帳に追加

３層以上の記録層（１１、１２、１３、１４）を有する光ディスクの記録方法において、最適記録パワーを決定するためのテスト記録のための時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an inexpensive induced test device of a transformer capable of reducing an installation space, preventing generation of a noise, reducing power consumption, and shortening a starting time.例文帳に追加

設置スペースが小さくてすみ、安価であり、騒音の発生もなく、消費電力も少なくてすみ、また、起動時間も短くなる変圧器の誘導試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide treatment test equipment in which a transit time from the completion of a treatment of bringing a material to be treated into contact with a treatment liquid to the start of water washing can be controlled to be ≤1 s.例文帳に追加

被処理材を処理液に接触させる処理を終了してから水洗を開始するまでの移行時間を１秒以下にできる処理試験設備を提供する。 - 特許庁

To provide an IC card testing technique for reducing the data transmitting time, and for speeding up test by reducing data transfer between a tester and an IC card to the minimum.例文帳に追加

テスタとＩＣカードとのデータ転送を最小限に抑えてデータ転送時間を削減し、試験の高速化を図ることができるＩＣカードの試験技術を提供する。 - 特許庁

To provide a weather resistance test method of a painting material capable of reproducing in a short time and simply a deterioration form closer to the deterioration of a coating film under the natural environment.例文帳に追加

自然環境下での塗膜の劣化により近い劣化形態を短期間でかつ簡便に再現することができる塗装材の耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁

To carry a test material of high temperature thermal insulation wall, e.g. a plasma first wall or a diverter in an empty container, into/from a reactor remotely in real time.例文帳に追加

空容器内のプラズマ第一壁あるいはダイバータ等の高温断熱壁の試験用材料の炉内への搬入、搬出を遠隔でリアルタイムに実施可能にすることにある。 - 特許庁

One test sequence can be thus finished simultaneously in the plurality of memories, so that a pause time of each memory can be accurately measured with a small scale circuit.例文帳に追加

この構成によれば、複数のメモリの１つのテストシーケンスを同時に完了させることが可能となり、各々メモリのポーズタイム測定を小規模な回路で、正確に実現できる。 - 特許庁

An oil bath device for lubricating the test pieces attached to two rotary shafts at the time of tumbling contact is provided, and the AE sensor is provided to the oil bath device.例文帳に追加

二つの回転軸に取り付けられた試験片の転がり接触時の潤滑のための油浴装置を設けて、その装置にＡＥセンサを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The recording device corrects the transfer amount at the time when the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller on the basis of the correction amount set in accordance with the result of recording of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの記録結果に応じて設定される補正量に基づいて、シート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる際の搬送量を補正する。 - 特許庁

To suppress the lowering of the surge withstand voltage of an output circuit due to an increase in the potential of a power supply line occurring at the time of ESD test of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置のＥＳＤ試験において発生する電源ラインの電位上昇に起因する出力回路のサージ耐圧の低下を抑制する。 - 特許庁

To shorten a test time of a logic circuit part for a control operation in a semiconductor device having a plurality of memory chips of the same configuration disposed in a common package.例文帳に追加

同一構成のメモリチップを共通のパッケージ内に複数個配置した半導体装置において、制御動作を行う論理回路部分のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a coverage measuring method and an apparatus therefor which can measure a coverage regarding a combination of a plurality of test inputs given in time series.例文帳に追加

時系列的に与えられた複数のテスト入力の組合せに関するカバレージを測定することが可能なカバレージ測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a water quality tester for a sewage water storage which enables a test of the water quality in the sewage water storage, simplifies a maintenance, and stably acquires data for a long time.例文帳に追加

汚水枡での水質検査を可能とし、メインテナンスも簡単で長期的に安定したデータをとることができる汚水枡用水質検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for permeability, which can continuously measure the permeability after a Lugeon test, and which quantitatively evaluates the permeability on a job site in a short period of time.例文帳に追加

ルジオン試験の後に連続して測定が可能で、短時間に現場で透水性を定量的に評価することが可能な透水性の評価方法を提供する。 - 特許庁

The simultaneous evaluation of a plurality of the lenses is made possible and the shortening of the time for evaluation is made possible by using the apparatus for evaluation and test having a plurality of the same mechanisms.例文帳に追加

また、同一の機構を複数もった評価試験装置とすることによって、複数のレンズを同時に評価することができ、評価時間の短縮が図れる。 - 特許庁

The exposure quantity calculation part 8 automatically measures the pattern rate, and optimizes the exposure time of a photoresist film according to the pattern rate to eliminate the need for test exposure.例文帳に追加

露光量算出部８で自動的にパターン率を測定し、このパターン率の大きさでフォトレジスト膜の露光時間を最適することで、試し露光を不要にできる。 - 特許庁

To simultaneously test plural pieces of high speed memories of a time when a waveform of read out data is defined is extremely short.例文帳に追加

読み出されるデータの波形が確定している時間が非常に短い高速メモリを同時に複数個試験することができる半導体メモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus able to determine an appropriate potential difference condition while reducing time and effort required for an operator to evaluate the image quality of a test toner image.例文帳に追加

テストトナー像の画質を評価する際の作業者の手間を低減しつつ、適切な電位差条件を決定することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To solve such a problem that when memory macro-cells of various kinds incorporated in a semiconductor integrated circuit are tested and a pause test is performed, it takes a long time to perform testing successively.例文帳に追加

半導体集積回路に搭載された多数の様々な種類のメモリマクロセルを検査する場合にポーズテストを行なう時、逐次的に行なうと時間を要してしまう。 - 特許庁

A second phase difference is calculated by using the same technique but a time offset is the delay expressing a relative delay of two optical transmissions in the test interferometer.例文帳に追加

第２の位相差は、同じ技法を使用して計算されるが、時間オフセットは、試験干渉計内の２つの光伝達の相対的な遅延を表す遅延である。 - 特許庁

To provide a light-emitting diode (LED) cup lamp capable of preventing failure of voltage-withstanding test due to screws and alleviating assembly time and cost.例文帳に追加

ネジによって起こる耐電圧テストの失敗を防ぐことができ、組み立ての時間および費用を削減することができる発光ダイオード（ＬＥＤ）カップ灯を提供する。 - 特許庁

To reduce hold time errors which occurs because the wiring length of a signal line for a scan test between registers is short, without increasing the area of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

レジスタ間のスキャンテスト用信号線の配線長が短いことで発生するホールドタイムエラーを、半導体集積回路の面積を増大させることなく低減させること。 - 特許庁

To shorten a test time and to reduce waste of water and pressurization gas and further to improve responsiveness of a pressure fluctuation in a method for detecting and testing the membrane damage of a filtration membrane.例文帳に追加

ろ過膜の膜損傷検知試験方法において、試験時間を短縮し、かつ水や加圧気体の浪費を低減し、さらに圧力変動の応答性を向上する。 - 特許庁

To provide a flip-flop circuit where the controllability and observability of a signal at the time of a scan test is improved by making a latch circuit a scan flip-flop circuit.例文帳に追加

ラッチ回路をスキャンフリップフロップ回路化することを可能にすることで、スキャンテスト時の信号の制御性および観測性を向上するフリップフロップ回路を得る。 - 特許庁

After inoculating a test piece on a medium supplemented with fluorescein substrate or luminescent substrate, the method performs inspection by measuring signals generated over time and comparing the signals.例文帳に追加

蛍光基質、或いは発色基質を添加した培地に試料を接種した後、経時的に生成する信号を測定し、その信号を比較することにより検査を行う。 - 特許庁

To provide a correlation and demodulation circuit for a receiver for a signal modulated with a code that can reduce a test time representing the circuit operation to the utmost.例文帳に追加

回路の動作を表す試験時間を可能な限り低減することができる、コードによって変調された信号に対する受信器の相関および復調回路を提供する。 - 特許庁

In a test mode, the sense amplifier control circuit changes a time interval from activation of word lines to the activation of the sense amplifier activation signal according to the column address.例文帳に追加

試験モード中に、センスアンプ制御回路は、ワード線が活性化されてからセンスアンプ活性化信号が活性化されるまでの時間間隔をコラムアドレスに応じて変更する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device with a test circuit capable of measuring a memory access time precisely while using a clock signal formed insides.例文帳に追加

内部で形成されたクロック信号を用いつつ、高い精度でのメモリアクセス時間の測定が可能なテスト回路を備えた半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

At the same time, support is needed to transfer the skills to younger people by utilizing the National Trade Skill Test system as well as the Monodzukuri (Manufacturing Industry) 例文帳に追加

また、技能検定や、熟練技能者が若年技能者への実技指導を行う「ものづくりマイスター制度」を活用して、若者への技能伝承を支援することも重要。 - 経済産業省

July 2, 2004: The test drive for the base line was finished (at this time, the base line was extended to Okubo Station (Kyoto Prefecture) and renamed from community bus to general line). 例文帳に追加

平成16（2004）年7月2日基幹路線の試験運行終了（この時に基幹路線は大久保駅(京都府)に延長されコミュニティバスから一般路線に変更される）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

At the time, the position of the test data on the data column of data to be inputted to a serializing driver 103 is made different between the n-th cycle and n+1th cycle of a reference clock.例文帳に追加

この際、シリアライズドライバー１０３に入力するデータのデータ列上におけるテストデータの位置を基準クロックのＮサイクル目とＮ＋１サイクル目とで異なる位置とする。 - 特許庁

To provide an eye target presentation device, an optometric apparatus and the eye test method by using the optometric apparatus capable of measuring eyesight of a subject easily by taking no time.例文帳に追加

時間を掛けることなく容易に被検者の視力を測定することができる視標呈示装置、検眼装置及び該検眼装置を用いた検眼方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fastening fixture of communication connectors allowing a port communication test to be performed in a short time and a method of testing port communication of a communication equipment using the fastening fixture.例文帳に追加

短時間でポート通信試験を行なうことのできる通信用コネクタ固定器具及びそれを用いた通信機器のポート通信試験方法を提供すること。 - 特許庁

At the same time, the compounding (S/C, S/PA, etc.) of a sample is changed to operate a surface adsorbed water ratio β_OH from an adsorbed water ratio βo calculated by the centrifugal test.例文帳に追加

同時に試料の配合（Ｓ／Ｃ、Ｓ／ＰＡ等）を変化させて、遠心試験で求めた吸着水率βｏから表面吸着水率β_ＯＨを演算する。 - 特許庁

The heat dissipating part 11 is disposed continuously to the contact part 12 in order to release heat generated therefrom at the time of electromigration test.例文帳に追加

放熱部１１は、第２の配線部１０に連続して設置され、放熱部１１によってコンタクト部１２に対するエレクトロマイグレーション試験の際に発生する熱を逃がすことができる。 - 特許庁