「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

This tester is characterized by being equipped with a separation part for separating a measured signal outputted by the device under test into two or more and the plurality of time measuring parts for performing time measurement on signals into which the signal is separated by the separation part.例文帳に追加

本装置は、被試験対象が出力する被測定信号を複数に分離する分離部と、この分離部が分離した信号の時間測定を行う複数の時間測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

After a wafer test is performed by measuring the delay time (0.25S) at (N-4) stage, fuses are blown out selectively by laser trimming and a delay time is set at a desired value among 0.25S, 0.5S, 1.0S, 2.0S and 4.0S.例文帳に追加

（Ｎ−４）段目の遅延時間（０.２５Ｓ）の測定によりウェハーテストを行った後、レーザトリミングによりヒューズを選択的に切断することにより、遅延時間を０.２５Ｓ、０.５Ｓ、１.０Ｓ、２.０Ｓ、４.０Ｓのうち、所望の値に設定する。 - 特許庁

To provide a differential pressure type micro-leak detection method and a device capable of filling gas in a short time without generating the temperature difference between a test vessel and a reference vessel, and executing leak detection by the differential pressure in a short time.例文帳に追加

試験容器と基準容器の間に温度差を生じさせることなく、短時間にガスを充填し、差圧によるリーク検出を短時間で行うことができる差圧式微少リーク検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a JTAG test system which enables even a test data collection section such as a logic analyzer whose trace quantity is not so much to collect sufficient data, by converting serial data into parallel data, and is capable of shortening a final analysis time sharply, by performing a part of analysis of trace data in real time during the data collection.例文帳に追加

シリアルデータをパラレルデータに変換することによりトレース量がそれほど多くないロジックアナライザなどのテストデータ収集部でも十分なデータを収集できるようにするとともに、トレースデータの解析の一部をデータ収集中にリアルタイムで行うことにより、最終的な解析時間を大幅に短縮できるＪＴＡＧテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁

Delivery delay time of the media data delivered to each terminal device from delivery time of test packets delivered to a plurality of terminal devices 120-1 to 120-n and from receiving time of response packets from the plurality of the terminal devices 120-1 to 120-n, and reproduction waiting time is assigned to each terminal device 120-1 to 120-n.例文帳に追加

複数の端末装置１２０−１〜１２０−ｎに配信したテストパケットの配信時刻及び複数の端末装置１２０−１〜１２０−ｎからの応答パケットの受信時刻から各端末装置に配信するメディアデータの配信遅延時間を算出し、各端末装置１２０−１〜１２０−ｎ夫々にメディアデータの再生待ち時間の割り当てを行う。 - 特許庁

When the quality of a test sequence for delay faults is evaluated in this manner, the quality of the delay fault test sequence is evaluated with a higher precision by weighting a delay value on a signal path at the time of detecting each delay fault by fault simulation.例文帳に追加

以上のようにして、遅延故障用の検査系列の品質を評価する際に、各遅延故障について、その遅延故障が故障シミュレーションによって検出された際の信号経路上の遅延値を重み付けすることによって、遅延故障検査系列の品質をより高精度に評価する。 - 特許庁

Furthermore, in special test mode to be executed as necessary or periodically, after the opening/closing valves 27 and 28 are closed and waited for a longer waiting time than in the normal test mode, a differential pressure component which linearly changes due to leak is subtracted from the detected differential pressure to obtain a differential pressure component which does not change.例文帳に追加

さらに、必要に応じてまたは周期的に実行される特殊なテストモードでは、開閉弁２７，２８を閉じた後、通常のテストモードよりも長い待ち時間だけ待った後に、上記検出差圧から、漏れに起因してリニアに変化する差圧成分を差し引いて、変化しない差圧成分を得る。 - 特許庁

The method includes steps of: performing tests, in which a test pattern is recorded on the optical disk and a write power by which a recording state of the test pattern is optimum is determined, a plurality of times by differently setting a start power each time; and determining the optimum write power of the optical disk using the optimum write power values obtained as the results of the tests.例文帳に追加

テストパターンを前記光ディスクに記録し、記録状態が最適である記録パワーを決定するテストを、開始パワーを異ならせて設定して複数回行うステップと、各テストに対する最適記録パワーを利用して、光ディスクの最適記録パワーを決定するステップとを含む。 - 特許庁

To provide a testing method by which the deterioration state of the sealing part of a double-glazing unit may be recognized with a smaller number of test specimens for a durability test for investigating such deterioration of the double-glazing unit with lapse of time that a desiccant gradually absorbs moisture and dew condensation is liable to occur in a hollow layer.例文帳に追加

乾燥剤が徐々に吸湿して、中空層が結露しやすくなるという複層ガラスの経年劣化を調べるための耐久性試験について、少ない試験体数で、耐久性試験による複層ガラスの封着部の劣化状態が把握できる試験方法を提供する。 - 特許庁

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム３０の入力部３２が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ１５をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ２５をＬＳＩテスタ２０から入力する。 - 特許庁

Therefore, even when it is required that an internal address signal is supplied to a defective data storing memory 22 and an input address signal is supplied to a defect history storing memory 24, the requirement can be realized by only one time test without performing test for two times.例文帳に追加

そのため、不良データ格納メモリ２２に内部アドレス信号を供給し、不良履歴格納メモリ２４に入力アドレス信号を供給する要求がある場合であっても、２度の試験を行うことなく、１度の試験により、上記要求を実現することが可能となる。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

ＬＳＩの入出力信号や、電源及びＧＮＤ電極が非常に多いＬＳＩをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びＧＮＤの電位変動を緩和する。 - 特許庁

To provide a shaking device which can be easily transported to a site for soil pollution investigation where soil pollution investigation is carried out, and shakes a plurality of test containers simultaneously at the side of soil pollution investigation so as to prepare many test liquids for analysis at a time.例文帳に追加

土壌汚染調査における土壌汚染調査の現場に容易に運搬することができ、更に、この土壌汚染調査における土壌汚染調査の現場で、同時に複数個の試験容器を振とうし、一度に多数の分析用検液を作製することができる振とう装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leak test method for a hollow fiber membrane type medical instrument dispensing with, after the execution of a leak test, the drying and removal of liquid remaining in a hollow fiber membrane and a periphery of the hollow fiber membrane, eliminating energy loss and time loss, and showing no performance change based on the drying and removal.例文帳に追加

リークテストの実施後、中空糸膜及び中空糸膜周辺に残存する液体を乾燥除去する必要がなく、エネルギーや時間のロスが無く、上記乾燥除去に基づく性能変化のない中空糸膜型医療用具のリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

The mask-fitting test pressure is "set" pressure at that time point, when an action mode is a manual mode, and the mask-fit test pressure is 95 percentile pressure of the last session, in the other hand, or base treatment pressure, for example, 10-12 cm H_2O, when the action mode is an automatic titration mode.例文帳に追加

作用モードがマニュアルモードの場合には、マスク装着試験圧はその時点での「設定」圧である一方、その作用モードが自動滴定モードの場合には、マスク装着試験圧は、前回のセッションの９５パーセンタイル圧であるか、さもなければ、そのベース治療圧、例えば１０−１２ｃｍＨ２Ｏである。 - 特許庁

A simulator 52 simulates the movement of a test vehicle 1 by obtaining a response to an input value of a prescribed vehicle model, and outputs the amount of bounding, pitching, and rolling in the test vehicle 1 obtained at each point of time by the simulation to a restraint device control section 53.例文帳に追加

シミュレータ５２は、所定の車両モデルの入力値に対する応答を求めることにより、試験車両１の運動をシミュレーションし、当該シミュレーションによって各時点において得られる試験車両１のバウンシング量、ピッチング量、ローリング量を、拘束装置制御部５３に出力する。 - 特許庁

When recording a second test pattern, the ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled to record by a second interval longer than the first interval of time between a plurality of scans in recording to the same recording position when the test pattern is recorded.例文帳に追加

そして、第二のテストパターンを記録する際には、テストパターンを記録するときの同一の記録位置への記録における複数回の走査の間の時間の間隔が、第一の間隔よりも長い第二の間隔で記録を行うように、記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

To provide a bearing tester which clarifies actual peeling states of a race ring and a rolling element of a test bearing while inhibiting unexpected oscillatory excitation to accurately reproduce the white peeling of a market in a short time even in a white peeling test using energization.例文帳に追加

通電による白色剥離試験にあっても、想定外の振動発生を抑制し市場の白色剥離を短時間で的確に再現させるとともに、試験軸受の軌道輪や転動体の各剥離実態を解明する軸受試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

To provide a management object heating device equipped with an IC tag which can quickly perform analysis and/or test of a sample in a frozen microtube by defrosting the frozen microtube in a short time under appropriate defrosting conditions, and especially, can immediately cope with urgent analysis and/or test.例文帳に追加

冷凍されたマイクロチューブ内の試料を、適正な解凍条件で短時間に解凍して分析や試験を迅速に行なうことができ、とくに緊急に分析や試験を行う際に即応できる、ＩＣタグを備えている管理対象物の加熱装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

You will now create the JUnit test methods for Utils.java.When you created the test class in the previous exercise, the IDE prompted you for the version of JUnit.You are not prompted to select a version this time because you already selected the JUnit version and all subsequent JUnit tests are created in that version.例文帳に追加

ここで、Utils.java の JUnit テストメソッドを作成します。 前の課題でテストクラスを作成したとき、JUnit のバージョンを確認するメッセージが表示されましたが、すでに JUnit バージョンを選択したため、以降に作成されたすべての JUnit テストはそのバージョンなので、ここではバージョンの選択を求められません。 - NetBeans

To resolve a problem that a method for detecting jitter to optimize a write strategy of an optical disk by test writing and reproducing all the combinations of the assignable write strategies in a test area cannot be carried out in a short period of time right before starting up the drive and actual recording.例文帳に追加

光ディスクのライトストラテジ最適化のために、設定可能な全てのライトストラテジの組み合わせを光ディスクのテスト領域に試し書きした後再生して、ジッタを検出する方法は、ドライブの起動時や実際に記録する直前の短時間で行うことはできない。 - 特許庁

This device is provided with a test mode switching circuit 4 in which sense amplifier circuits 5a-5d in all operation blocks 2a-2d are activated independently of block selecting signals BS1-BS4 at the time of test mode where it is tested whether an operation current of a semiconductor memory 1 satisfies a standard requirement or not.例文帳に追加

半導体記憶装置１の動作電流が規格を満足しているか否かをテストするテストモード時に、外部から入力されるブロック選択信号ＢＳ１〜ＢＳ４に関係なく、すべての動作ブロック２ａ〜２ｄにおけるセンスアンプ回路５ａ〜５ｄを活性化させるテストモード切換回路４を備えた。 - 特許庁

The fuse 12 for discrimination belonging to a chip region CHIPf specified through a pre-test SORT 1 before the fuse-cut process is cut by the fuse-cut process, after that, at the time of post test SORT 2, abnormality of the power source supply system in this specified chip region CHIPf is detected.例文帳に追加

ヒューズカット工程以前のプリテストＳＯＲＴ１を経て特定されたチップ領域ＣＨＩＰｆに属する判定用ヒューズ１２をヒューズカット工程にてカットし後のポストテストＳＯＲＴ２に際しこの特定のチップ領域ＣＨＩＰｆにおける電源供給系の異常を検出させる。 - 特許庁

A scan signal Scan 1 for controlling a stress voltage to be inputted or not to be inputted at a burn-in test time and a scan signal Scan 2 for controlling the stress voltage to be inputted or not to be inputted to an interface circuit part are inputted to the semiconductor devices 1 constituting each row on the test board 2.例文帳に追加

また、テストボード２上で各行を構成する半導体装置１には、バーンインテスト時におけるストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ１及びインタフェース回路部へのストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ２が入力される。 - 特許庁

Thus, as the test machine is informed of the start of the next variation display 1 ms after the start, which is equivalent of the time required for the determination of an input signal to the test machine, it never mistakenly takes an error caused in the previous variable display for the one caused in the following variable display.例文帳に追加

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する１ｍｓ経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

The all solid battery is formed on the substrate, and at the same time as a piling up process of at least one kind of the battery member of the battery, the test pieces of the battery members are piled up on the other portions on the same substrate, and a pair of conductive terminals are formed at both ends or up and down of the test pieces.例文帳に追加

全固体電池を基板上に形成するとともに、その電池の少なくとも１種の電池部材の堆積工程と同時に、同一基板上の他の部位に当該電池部材の試片を堆積し、これら試片の両端または上下に一対の導電端子を形成する。 - 特許庁

Since the testing method sequentially measures test items in a communication test mode and displays the result of measurement, this method can save time and trouble of the person measuring and avoid the occurrence of a defective facsimile measurement device FS, due to misoperations by the person measuring, so as to provide high user-friendliness to the measurer.例文帳に追加

通信テストモードにおける複数のテスト項目の測定が順次行われ、結果が表示されるので、測定者の手間が大幅に軽減されるとともに、測定者の操作ミス等によりファクシミリ測定装置ＦＳが破損するような事態を回避することができ、非常に便利である。 - 特許庁

After software of approved test mode contents are downloaded from a learning contents site by accessing a learning server 3 with a mobile telephone set 2 through the Internet 4, the access to the learning server 3 is quit and learning problems in an approved test mode are solved within a certain time by using the mobile telephone set 2.例文帳に追加

携帯電話２からインターネット４を介して学習サーバ３にアクセスし、学習コンテンツサイトから認定試験モードコンテンツのソフトウェアをダウンロードした後、学習サーバ３とのアクセスを切断して携帯電話２から認定試験モードの学習問題をある時間以内に実行する。 - 特許庁

As a remedy for the change with time, a correction circuit 40a saves the relation between the reproduction test signal level Vtest0 of an initial period and a reference level Vref0 and forms a correction signal Sc1 for approximating the relation between the present reproduction test signal level Vtest and the reference level Vref to the saved relation.例文帳に追加

経時的変化の対策として、補正回路４０ａは、初期の再生テスト信号レベルＶtest_0 と基準レベルＶref_0との関係を保存し、現在の再生テスト信号レベルＶtestと基準レベルＶref との関係を保存したものに近づけるための補正信号Ｓｃ_1 を生成する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that highly reliably performs a test by correcting a contact load to an appropriate one in real time even if a high-temperature test is done without preheating a probe card and the probe's needle-point position changes, and further prevents a damage to the probe card or an inspected body as well.例文帳に追加

プローブカードをプリヒートすることなく高温検査を行ってプローブの針先位置が変動しても、リアルタイムで適正な接触荷重に補正して信頼性の高い検査を行うことができ、延いてはプローブカードや被検査体の損傷を防止することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

This gummy-like food containing no gelatin comprises a gelling agent excluding gelatin, sugar alcohol and/or trehalose and tartaric acid salt, and has a measured value of ≥300 gf at the time of a twist rate of 10% in a hardness test defined by a test method (A).例文帳に追加

ゼラチン以外のゲル化剤、糖アルコール類及び／又はトレハロース、酒石酸塩からなり、試験法Ａによって定義される硬さ試験での歪み率１０％時の測定値が３００ｇｆ以上となる、ゼラチンを含まないグミ様食品とすることにより、係る課題を解決するグミ様食品が得られる。 - 特許庁

In a rinse step where the tracers are rinsed from the lung of the test animal and in a rinse step where the tracers are rinsed from the brain loaded with the tracers through the lung of the test animal, the nuclear magnetic resonance signals from the lung and the brain are detected to determine transition of time.例文帳に追加

実験動物の肺からトレーサが洗い出される洗い出し過程において、また、実験動物の肺を介して脳中にトレーサが取り込まれた脳からトレーサが洗い出される洗い出し過程において、肺及び脳からの核磁気共鳴信号を検出してその時間的遷移が測定される。 - 特許庁

To provide a switch operation tester in a vehicle interior, a switch operation test system, and a switch operation test method, being automatic, reproducing force, timing, and a time zone for a human to operate a switch, and repetitively operating a plurality of switches in a form that agrees with actual conditions.例文帳に追加

自動的に、かつ人間がスイッチを操作する力やタイミング、時間帯を再現することができ、かつ複数のスイッチをより実情に即した形で繰返し操作することのできる車室内のスイッチ操作試験装置およびスイッチ操作試験システムおよびスイッチ操作試験方法を提供する。 - 特許庁

The connection means 20 has bending load reducing mechanisms 21-23 for reducing the bending load acting on the load rod 10 of the second load means through the test piece TP by pulling the load rod 10 of the first load means in the X-axis direction at the time of breakage of the test piece TP.例文帳に追加

連結手段２０は、試験片ＴＰの破断時に第１負荷手段の負荷ロッド１０がＸ軸方向に引っ張られることにより試験片ＴＰを介して第２の負荷手段の負荷ロッド１０に作用する曲げ荷重を低減する曲げ荷重低減機構２１〜２３を有する。 - 特許庁

To provide a technique that it is possible for an operator to visually recognize to which cell the connection state has been transferred at what time, and whether the transition is a success or a failure, and for the operator to visually recognize the state of progress of the test in the case of the connection test by a virtual base station.例文帳に追加

擬似基地局による接続試験において、どの時間経過において接続状態がどのセルへ遷移し、その遷移が成功か不成功かを、視覚視認できるようにするとともに、併せて試験の進捗状況を視認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁

At a retention test time, transistors Q21 and Q22 connected respectively to bit lines 2 and 3 are brought into an off state by a retention test signal RT, and one of the bit lines 2 and 3 is turned to a high impedance by a write driver 30 while '0' is outputted to the other bit line.例文帳に追加

リテンションテスト時に、リテンションテスト信号ＲＴによりビット線２，３にそれぞれ接続されたトランジスタＱ２１，Ｑ２２をオフ状態とするとともに、書き込みドライバ３０によりビット線２，３の一方をハイインピーダンスにし、かつ他方に「０」を出力するような構成とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a misconnection monitoring system that a primary time switch of a main signal control signal inserts a test pattern, a monitor function is provided to each switch panel so as to monitor the test pattern between the switch panels, and each switch panel monitors the test pattern among them to particularize the position at which misconnection takes place.例文帳に追加

本発明は誤接続監視システムに関し、主信号制御信号の１次側時間スイッチからテストパターンの挿入を行ない、各スイッチ盤に監視機能を持たせることで、一連の接続の正当性を確認すると同時に、各スイッチ盤間でテストパターンを監視することで誤接続の発生した箇所を特定することができる誤接続監視システムを提供することを目的としている。 - 特許庁